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DE1164573B - Method for producing semiconductor components, in particular transistors - Google Patents

Method for producing semiconductor components, in particular transistors

Info

Publication number
DE1164573B
DE1164573B DET18914A DET0018914A DE1164573B DE 1164573 B DE1164573 B DE 1164573B DE T18914 A DET18914 A DE T18914A DE T0018914 A DET0018914 A DE T0018914A DE 1164573 B DE1164573 B DE 1164573B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor component
etching
bath
semiconductor
stabilizing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DET18914A
Other languages
German (de)
Inventor
Dieter Baumann
Walter Klossika
Dipl-Ing Klaus Weimann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telefunken Patentverwertungs GmbH
Original Assignee
Telefunken Patentverwertungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefunken Patentverwertungs GmbH filed Critical Telefunken Patentverwertungs GmbH
Priority to DET18914A priority Critical patent/DE1164573B/en
Publication of DE1164573B publication Critical patent/DE1164573B/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching

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Description

Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen, insbesondere Transistoren Bekanntlich müssen Halbleiterbauelemente im Verlauf des Herstellungsverfahrens auch einem Ätzprozeß unterworfen werden, der dazu dient, Verunreinigungen auf der Halbleiteroberfläche zu beseitigen und durch Abätzen gestörter Oberflächenbereiche unerwünschte Oberflächenrekombinationen auf ein Mindestmaß herabzusetzen. Eine maximale Ätzausbeute ist jedoch nur dann zu erwarten, wenn das Ätzen erst nach Fertigstellung des Aufbaues, d. h. vor allem erst nach Anbringung der Elektrodenzuleitungen, erfolgt.Method for producing semiconductor components, in particular Transistors As is well known, semiconductor components must be used in the course of the manufacturing process also be subjected to an etching process, which serves to remove impurities on the To eliminate semiconductor surface and by etching off disturbed surface areas reduce unwanted surface recombinations to a minimum. A maximum However, the etching yield can only be expected if the etching is not carried out until after completion of the structure, d. H. especially after the electrode leads have been attached.

Es hat sich jedoch herausgestellt, daß ein Ätzen von bereits kontaktierten Halbleiterbauelementen mit bekannten Verfahren auf Schwierigkeiten stößt. Diese sind vermutlich auf unerwünschte Ablagerungen von Verunreinigungen auf der Halbleiteroberfläche zurückzuführen. Bei einem bekannten Verfahren werden organische Komponenten als Bestandteile von Ätzlösungen verwendet.However, it has been found that etching of already contacted Semiconductor components with known methods encounters difficulties. These are presumably due to undesired deposits of impurities on the semiconductor surface traced back. In a known method, organic components are used as Components of etching solutions used.

In diesem Zusammenhang ist auch die Verwendung von organischen Säuren und deren Salzen zum Ätzen von Halbleitermaterialien bekanntgeworden. Die Erfindung besteht bei einem Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen, insbesondere Transistoren, darin, daß das bereits mit Kontaktelektroden und Elektrodenzuleitungen versehene Halbleiterbauelement in eine Ätzlösung gebracht wird, welche mit Kaliumnatrium Tartrat versetzt ist, daß das Halbleiterbauelement nach dem Ätzen in einem in Bewegung gehaltenen Wasserbad gewaschen wird, daß das Halbleiterbauelement nach dem Waschen in eine die Eigenschaften des Halbleiterbauelementes stabilisierende Flüssigkeit gebracht wird, und daß beim Stabilisieren sowohl das Halbleiterbauelement als auch die stabilisierende Flüssigkeit in Ruhe gehalten werden.In this context there is also the use of organic acids and their salts for etching semiconductor materials became known. The invention consists in a method for producing semiconductor components, in particular Transistors, in that that already has contact electrodes and electrode leads provided semiconductor component is brought into an etching solution, which with potassium sodium Tartrate is offset that the semiconductor component is in motion after etching held water bath is washed that the semiconductor device after washing into a liquid that stabilizes the properties of the semiconductor component is brought, and that when stabilizing both the semiconductor component and the stabilizing fluid can be kept at rest.

Es empfiehlt sich, das Halbleiterbauelement während der Ätzbehandlung in der Ätzflüssigkeit hin-und herzubewegen. Das Waschen erfolgt zweckmäßigerweise in einem Kalt- und einem Warmbad, und zwar empfiehlt es sich, das Halbleiterbauelement nach der Ätzbehandlung zunächst gut abzuspülen, anschließend in einem heißen Waschbad mit kochendem Wasser zu waschen und nach der Wärmebehandlung nochmals mit kaltem Wasser abzuspülen. Als Stabilisierungsflüssigkeit eignet sich beispielsweise Perhydrol.It is advisable to remove the semiconductor component during the etching treatment move back and forth in the etchant. The washing is expedient in a cold and a warm bath, and it is advisable to use the semiconductor component rinse well after the etching treatment, then in a hot wash bath Wash with boiling water and after the heat treatment again with cold Rinse off with water. Perhydrol, for example, is suitable as a stabilizing liquid.

Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Zunächst soll jedoch auf die Ätzvorrichtung gemäß F i g. 1 näher eingegangen werden. Der mit 1 bezeichnete Kocher dient zur Erhitzung der Ätzlösung des Beizbades 2. Der Behälter 3 beinhaltet das Spülbad für die Kaltspülung, und der Kocher 4 sorgt für die Erhitzung des in dem Behälter 5 befindlichen Waschbades. In den Behälter 6 wird kaltes Wasser für das kalte Waschbad gegeben, während sich im Behälter? ein Stabilisierungsbad befindet. Die Öffnung 8 stellt den Ausguß für das Stabilisierungsbad dar. Das Abflußrohr 9 .dient zur Ableitung der Waschflüssigkeit, während die Rohre 10 die Zuleitungen für die einzelnen Wasserdüsen bilden, die für eine Spülung während der Waschbehandlung sorgen sollen. Das Rohr 11 schließlich stellt eine Wasserzuleitung für den Behälter 8 dar.The invention is to be explained in more detail using an exemplary embodiment. First, however, the etching device according to FIG. 1 will be discussed in more detail. The cooker labeled 1 is used to heat the etching solution of the pickling bath 2. The container 3 contains the rinsing bath for the cold rinsing, and the cooker 4 takes care of it for heating the washing bath located in the container 5. In the container 6 is cold water given for the cold wash bath while it is in the container? a Stabilization bath is located. The opening 8 represents the sink for the stabilizing bath . The drain pipe 9. Serves to discharge the washing liquid, while the pipes 10 form the supply lines for the individual water nozzles for rinsing during the washing treatment. The pipe 11 finally provides a water supply line for the container 8.

Der Atzprozeß geht nun beispielsweise so vor sich, daß die zu ätzenden Halbleiterbauelemente, im Ausführungsbeispiel Transistoren, an die in F i g. 2 dargestellten Magnete 14 gehängt und zusammen mit den Magneten in den Magnethalter 12 eingeschraubt werden. Der Magnethalter 12 wiederum wird auf die Schiebeleiste 13 gebracht, die zunächst auf das Beizbad 2 aufgesetzt wird. Nachdem man in das Beizbad die Ätzlösung, beispielsweise Perhydrol, gegeben hat, wird die Ätzlösung erhitzt, und anschließend werden die an den Magneten befestigten Transistoren unter Hin- und Herbewegung des Magnethalters geätzt. Nach Beendigung des Ätzprozesses werden die Transistoren in einem Kaltbad gut abgespült, indem der Schiebehalter 13 auf das Spülbad aufgesetzt wird. Nachdem dies geschehen ist, schließt sich die eigentliche Badbehandlung in dem heißen Waschbad 5 mit Hilfe von kochendem Wasser an, auf die dann ein nochmaliges Abspülen im kalten Waschbad 6 folgt. Schließlich wird der Schiebehalter mit den daran befindlichen Transistoren noch auf das Stabilisierungsbad 7 aufgesetzt, dem anschließend die Stabilisierungsflüssigkeit zugegeben wird. Beim Stabilisierungsprozeß, der nach ungefähr 10 Minuten beendet ist, ist darauf zu achten, daß die Transistoren während der Stabilisierung nicht bewegt werden. Nach dem Trocknen der stabilisierten Transistoren in einem Durchlauftrockenofen ist der Atzprozeß beendet. Die Trocknung erfolgt in einer genau definierten Atmosphäre.The etching process now proceeds, for example, in such a way that the Semiconductor components, in the exemplary embodiment transistors, to which in FIG. 2 shown Magnets 14 are suspended and screwed into the magnet holder 12 together with the magnets will. The magnet holder 12 in turn is brought onto the sliding bar 13, which is first placed on the pickling bath 2. After adding the etching solution to the pickling bath, for example Perhydrol, the etching solution is heated, and then the transistors attached to the magnets are moved to and fro by the Etched magnet holder. After the etching process is finished, the transistors are in rinsed well in a cold bath by placing the slide holder 13 on the rinsing bath will. After this is done, the actual bath treatment closes in the hot wash bath 5 with the help of boiling water, which is then repeated Rinsing in the cold wash bath 6 follows. Finally, the slide holder with the the transistors on it still on the stabilization bath 7th placed, to which the stabilizing liquid is then added. At the The stabilization process, which ends after about 10 minutes, must be ensured that that the transistors are not moved during stabilization. After drying of the stabilized transistors in a tunnel dryer is the etching process completed. The drying takes place in a precisely defined atmosphere.

Claims (2)

Patentansprüche: 1. Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen, insbesondere Transistoren, dadurch gekennzeichnet, daß das bereits mit Kontaktelektroden und Elektrodenzuleitungen versehene Halbleiterbauelement in eine Ätzlösung gebracht wird, welche mit Kaliumnatrium-Tartrat versetzt ist, daß das Halbleiterbauelement nach dem Atzen in einem in Bewegung gehaltenen Wasserbad gewaschen wird, daß das Halbleiterbauelement nach dem Waschen in eine die Eigenschaften des Halbleiterbauelementes stabilisierende Flüssigkeit gebracht wird und daß beim Stabilisieren sowohl das Halbleiterbauelement als auch die stabilisierende Flüssigkeit in Ruhe gehalten werden. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleiterbauelement während des Ätzens in der Ätzlösung bewegt wird. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Waschen in einem kalten und einem warmen Waschbad vorgenommen wird. 4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als stabilisierende Flüssigkeit Perhydrol verwendet wird. In Betracht gezogene Druckschriften: The Sylvania Technologist, Bd. 11, 1958, Nr.Claims: 1. Method for manufacturing semiconductor components, in particular transistors, characterized in that the already with contact electrodes and the semiconductor component provided with electrode leads is placed in an etching solution which is mixed with potassium sodium tartrate, that the semiconductor component after etching it is washed in a water bath kept in motion so that the Semiconductor component after washing into a the properties of the semiconductor component stabilizing liquid is brought and that when stabilizing both the Semiconductor component and the stabilizing liquid are kept at rest. 2. The method according to claim 1, characterized in that the semiconductor component is moved during the etching in the etching solution. 3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the washing in a cold and a warm wash bath is made. 4. The method according to any one of the preceding claims, characterized characterized in that Perhydrol is used as the stabilizing liquid. In References Considered: The Sylvania Technologist, Vol. 11, 1958, No. 2, S. 50 bis 58; Journ. of appl. Physics, Bd. 25, 1954, Nr. 5, S. 634 bis 641.2, Pp. 50 to 58; Journ. of appl. Physics, Vol. 25, 1954, No. 5, pp. 634-641.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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