DE1140625B

DE1140625B - Device for controlling a machine in which continuously fed goods are removed, checked and sorted out in batches

Info

Publication number: DE1140625B
Application number: DES63431A
Authority: DE
Inventors: Dipl-Ing Hilde Schaufler
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1959-06-12
Filing date: 1959-06-12
Publication date: 1962-12-06

Description

Einrichtung zur Steuerung einer Maschine, bei der kontinuierlich zugeführtes Gut absatzweise entnommen, geprüft und aussortiert wird Bei Blechschneide- und -stapelmaschinen liegt folgendes Problem vor: In der noch ungeschnittener Blechbahn wird die Blechdicke gemessen. Fällt die Dicke zu groß aus, so soll die geschnittene Blechtafel, die mit diesem Fehler behaftet ist, durch eine Sortiereinrichtung ausgeschieden werden. Das Messen der Dicke bereits geschnittener Blechtafeln ist deswegen unvorteilhaft, weil die gebräuchlichen Dickenmeßgeräte mit einem radioaktiven Präparat nicht trägheitslos arbeiten und die mit einem gewissen Abstand aufeinanderfolgenden, geschnittenen Blechtafeln zu großen Schwankungen des Meßwertes führen würden, denen unter Umständen das Dickenmeßgerät nicht folgen kann.Device for controlling a machine in which continuously fed It is well removed, checked and sorted out in batches In sheet metal cutting and stacking machines there is the following problem: The sheet thickness is in the still uncut sheet metal sheet measured. If the thickness is too great, the cut sheet metal should be is afflicted with this error, be eliminated by a sorting device. Measuring the thickness of already cut sheet metal is therefore disadvantageous, because the conventional thickness gauges with a radioactive preparation are not inertial work and the cut ones that follow one another with a certain distance Metal sheets would lead to large fluctuations in the measured value, which under certain circumstances the thickness gauge cannot follow.

Die Meldung einer zu großen Dicke der ungeschnittenen Blechbahn muß nun so verarbeitet werden, daß die fehlerhafte Blechtafel an einer vom Meßort verhältnismäßig weit entfernten Stelle ausgeschieden werden kann. Dies kann etwa dadurch erfolgen, daß die Dickenmeßwerte absatzweise in ein Schieberegister eingegeben werden, dessen Stufenzahl der Zahl der Blechtafellängen bis zur Sortierstelle entspricht. Die Weiterschaltung des Schiebe registers kann auf fotoelektnschem Wege durch die Blechtafeln selbst erfolgen. The message that the uncut sheet metal sheet is too thick must are now processed in such a way that the defective sheet metal at one of the measuring location is proportionate distant body can be excreted. This can be done, for example, by that the measured thickness values are entered intermittently in a shift register whose The number of stages corresponds to the number of sheet metal lengths up to the sorting point. The forwarding of the sliding register can be done photoelectnschem through the metal panels themselves take place.

Bei einer solchen Einrichtung ist nun die Schwierigkeit gegeben, daß in der Zeit, in der keine Blechtafel an der Fotozelle vorbeigeführt wird (Abstand zweier Blechtafeln), diese volles Signal abgibt und eine Eingabe eines in dieser Zeit gemessenen Dickenwertes in das Schieberegister nicht möglich ist. Diese Eingabe kann jeweils nur dann erfolgen, wenn der Strahlengang für die Fotozelle durch eine Blechtafel unterbrochen ist. Je nach der Schaltung der Gesamtanordnung können sich diese Verhältnisse auch umkehren, jedoch bleibt in jedem Fall für eine gewisse Zeit die Eingabe in das Schieberegister gesperrt. With such an arrangement the difficulty arises that in the time in which no sheet metal is moved past the photocell (distance two metal sheets), this emits a full signal and an input of one in this Time measured thickness value in the shift register is not possible. This input can only take place if the beam path for the photocell is through a Sheet metal is interrupted. Depending on the circuit of the overall arrangement can reverse these relationships, but in each case remains for a certain time the entry in the shift register is blocked.

Dieses Problem läßt sich verallgemeinern, da es auch bei einer Reihe anderer industrieller Anlagen auftritt. Als Beispiel seien Zerteileinrichtungen bei Papiermaschinen, Textilmaschinen u. dgl. genannt. In allen diesen Fällen wird ein bestimmter Grenzwert des zugeführten Gutes kontinuierlich gemessen, der später absatzweise verarbeitet werden muß, etwa das Gewicht des Tabakstranges bei einer Zigarettenmaschine. Neben Gewicht und Dicke des Gutes können auch noch andere Materialeigenschaften, insbesondere auch Fehler oder Lochstellen, zu messen sein. This problem can be generalized as it applies to a number of other industrial plants occurs. An example are dividing devices called for paper machines, textile machines and the like. In all of these cases it will a certain limit value of the supplied goods is continuously measured, which is later must be processed intermittently, about the weight of the tobacco rod in a Cigarette machine. In addition to the weight and thickness of the goods, other material properties, in particular, defects or holes must also be measured.

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Steuerung einer Arbeitsmaschine, der zu verarbeitendes Gut kontinuierlich zugeführt und absatzweise in Teilmengen entnommen wird und der Gutfohlerprüfmittel zur Aussortierung fehlerbehafteter Gutteile zugeordnet sind. Die Erfindung wird darin gesehen, daß die der Zufuhrseite der Maschine zugeordüeten Gutfehlerprüfmittel beim Überschreiten eines Fehlergrenzwertes ein Steuersignal auf eine von zwei im Wechsel bereitstehende, das Signal speichernde Gedächtnisschaltungen geben, deren Informationsinhalt in Abhängigkeit von einem durch jede Teilmenge an einem Fühler ausgelösten Impuls wechselweise abgefragt und gelöscht und einem die Sortiervorrichtung beeinflussenden Schieberegister mit einer der Anzahl der bis zur Sortierstelle anfallenden Teilmengen entsprechenden Stufenzahl zugeleitet wird. Den beiden Gedächtnisschaltungen sind Schaltmittel zugeordnet, die in Abhängigkeit von einem aus dem Verarbeitungs- (Taktgeber-) Kreis abgeleiteten Rückmelde signal die Speicherung eines von den Gutfehlerprüfmitteln abgegebenen Fehlersignals abwechselnd entweder in der einen oder der anderen der beiden Gedächtnisschaltungen sichern. The invention relates to a device for controlling a work machine, the goods to be processed are continuously fed in and in partial quantities is removed and the Gutfohlerprüfmittel for sorting out faulty good parts assigned. The invention is seen as that of the feed side of the machine assigned good error checking means when an error limit value is exceeded Control signal to one of two alternately available and storing the signal Memory circuits give whose information content depends on a alternately queried and deleted and a shift register influencing the sorting device with a the number of sub-quantities occurring up to the sorting point corresponding to the number of stages is forwarded. Switching means are assigned to the two memory circuits, which are derived as a function of one from the processing (clock) circuit Feedback signal the storage of a given by the good error checking means Error signal alternately either in one or the other of the two memory circuits to back up.

Das Fehler- bzw. Grenzdatensignal kann den Gedächtnisschaltungen über je ein Undgatter zugeführt werden, wobei zur Öffnung der Undgatter die beiden komplementären Signale einer bistabilen Kippschaltung dienen, die vom Rückmeldesignal ange stoßen wird. Das Rückmeldesignal kann insbesondere aus der ersten Stufe eines Schieberegisters entnommen werden. The error or limit data signal can the memory circuits are supplied via an AND gate each, with the two to open the AND gate complementary signals of a bistable flip-flop are used by the feedback signal is triggered. The feedback signal can in particular from the first stage Shift register can be taken.

Nähere Einzelheiten der Erfindung werden im folgenden an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert, das in der Zeichnung schematisch dargestellt ist. Das Ausführungsbeispiel bezieht sich auf die eingangs erwähnte Anwendung der Erfindung bei einer Blechschneide- und -stapeleinrichtung. Further details of the invention are given below with reference to a Embodiment closer explains that in the drawing schematically is shown. The exemplary embodiment relates to the one mentioned at the beginning Application of the invention to a sheet metal cutting and stacking device.

Der Grundaufbau einer solchen Einrichtung ist in Fig. 1 angedeutet. Das Blechband BB läuft über nicht näher bezeichnete Rollen durch eine Dickenmeßeinrichtung DM, bei der die Durchstrahlungsintensität eines radioaktiven Präparates gemessen und in ein entsprechendes Dickensignal umgeformt wird. Eine rotierende Blechschere Sch zerteilt das Band in einzelne Bleclnafeln BT, die der SortiereinrichtungSE zugeführt werden. Die Sortiereinrichtung kann mit einem Elektromagneten M ausgerüstet sein, der bei fehlerhaften Tafeln von der Erregung abgeschaltet wird, so daß die Tafel nach unten abläuft. Einwandfreie Tafeln werden durch Magneten angehoben und nach rechts weiterbefördert. The basic structure of such a device is indicated in FIG. The sheet metal strip BB runs over unspecified rollers through a thickness measuring device DM, at which the radiation intensity of a radioactive preparation is measured and is converted into a corresponding thickness signal. Rotating tin snips Sch divides the strip into individual sheet metal sheets BT, which are fed to the sorting device SE will. The sorting device can be equipped with an electromagnet M, which is switched off by the excitation in defective panels, so that the panel runs down. Impeccable boards are lifted up and down by magnets conveyed on to the right.

Zur Taktgabe für das Schieberegister dient eine Fotozelle Ph im Strahlengang einer Lampe La, deren Fotostrom in Abhängigkeit von den vorüberlaufenden Blechtafeln und ihrem jeweiligen Abstand zwischen zwei Werten schwankt. Zum Transport der Blechtafeln dienen nicht näher bezeichnete Bandförderanlagen, deren Geschwindigkeit etwas höher ist als die Zufuhrgeschwindigkeit der Blechbahn. A photocell Ph in the beam path is used to generate the clock for the shift register a lamp La whose photocurrent depends on the metal sheets passing by and their respective distance between two values fluctuates. For transporting the sheet metal unspecified belt conveyor systems are used, the speed of which is slightly higher is than the feeding speed of the sheet metal sheet.

In Fig. 2 ist schematisch der Fotostrom Ipg in Abhängigkeit von der Zeit dargestellt. Dabei ist zwischen einer DunkelzeittD und einer Hellzeittn zu unterscheiden. Die Dunkelzeit entspricht der Zeit, die die Blechtafeln zum Durchlaufen durch den Strahlengang benötigen. In Fig. 2, the photocurrent Ipg is schematically dependent on the Time shown. There is between a dark time tD and a light time tn differentiate. The dark time corresponds to the time that the metal panels have to pass through need through the beam path.

Aus dem Fotostrom werden mit Hilfe eines Taktgebers Impulse erzeugt, deren Spannung mit U,T (Haupttakt) und UVT (Vortakt) bezeichnet ist. Für die Zeit des Vortaktes ist eine Eingabe eines gemessenen Dickenfehlers in das Schieberegister nicht möglich. With the help of a clock, pulses are generated from the photocurrent, whose voltage is labeled U, T (main cycle) and UVT (pre cycle). For the time of the pre-cycle is an input of a measured thickness error into the shift register not possible.

Fig. 3 zeigt das Blockschaltbild eines Ausführungsbeispieles der Erfindung, in dem wieder mit DM das Dickenmeßgerät bezeichnet ist. Dieses Meßgerät gibt bei zu großer Dicke des Blechbandes ein Signal, das gegebenenfalls über Impulsformer geleitet werden kann. Das Fehlersignal wird je einem Eingang zweier Undgatter Uf und U2 zugeführt. Von den beiden anderen Eingängen der Undgatter wird der eine vom Signals, der andere vom komplementären Signal einer bistabilen Kippschaltung BK1 besetzt. Die Ausgänge der Undgatter sind mit den Setzeingängen 5 zweier Gedächtnisschaltungen M1 und M2 verbunden. Fig. 3 shows the block diagram of an embodiment of the Invention, in which the thickness gauge is again designated by DM. This meter gives a signal if the sheet metal strip is too thick, which may be sent via a pulse shaper can be directed. The error signal is sent to an input of two AND gates Uf and U2 supplied. One of the two other inputs of the and gates is from Signal, the other from the complementary signal of a bistable multivibrator BK1 occupied. The outputs of the AND gates are connected to the set inputs 5 of two memory circuits M1 and M2 connected.

Die Löscheingänge L sind an die Ausgänge der bistabilen Kippschaltung BK1 geführt. Über ein Odergatter 0 werden die Ausgangssignale der beiden Gedächtnisschaltungen einem Eingang eines Undgatters U3 zugeführt, das Bestandteil der ersten Stufe Sj des Schieberegisters ist. Der zweite Eingang des Undgatters U5 erhält vom Taktgeber TG, der an die Fotozelle Ph angeschlossen ist, die Vortaktimpulse VT.The reset inputs L are connected to the outputs of the bistable multivibrator BK1 led. The output signals of the two memory circuits are sent via an OR gate 0 fed to an input of an AND gate U3, which is part of the first stage Sj of the shift register is. The second input of the AND gate U5 receives from the clock TG, which is connected to the photocell Ph, the pre-clock pulses VT.

Das Ausgangssignal des Undgatters setzt eine bistabile KippschaRtungBK2, deren Ausgangs signal einem Eingang eines Undgatters U4 zugeführt wird. An den anderen Eingang dieses Undgatters kommen vom Taktgeber TG die HaupttaktimpulseHT. Das Ausgangssignal des Undgatters U4 stößt eine bistabile Kippschaltung BK3 an, deren Ausgangssignal den übrigen nicht dargestellten Stufen des Schieberegisters und außerdem dem Löscheingang L der KippschaltungBK2 zugeführt wird. Ferner wird das Ausgangssignal dieser Kippschaltung an den binären Eingang der Kippschaltung BK, geführt. Aufeinanderfolgende Impulse gleicher Polarität an einem binären Eingang einer Kippschaltung bewirken bekanntlich ein Umkippen der Schaltung in den jeweils anderen Zustand.The output signal of the AND gate sets a bistable toggle switch BK2, whose output signal is fed to an input of an AND gate U4. To the other The main clock pulses HT come from the clock generator TG at the input of this AND gate. The output signal of the AND gate U4 triggers a bistable flip-flop BK3, the output signal of which the other stages of the shift register, not shown, and also the clear input L is supplied to flip-flop BK2. Furthermore, the Output signal of this flip-flop to the binary input of the flip-flop BK. Successive impulses It is well known that the same polarity at a binary input of a flip-flop the circuit tipping over into the other state.

Die Wirkungsweise der Einrichtung nach Fig. 3 ergibt sich wie folgt: Bei Auftreten eines Dickenfehlers erhalten beide Undgatter U, und U2 Signal. Je nach dem Schaltzustand der Kippschaltung BK1 wird eines der beiden Undgatter geöffnet, so daß die zugeordnete Gedächtnisschaltung gesetzt wird. Es sei angenommen, daß der Ausgang A der Kippschaltung BK1 Signal führt, so daß das Undgatter Ul geöffnet und die GedächtnisschaltungM, gesetzt wird. Das Ausgangssignal der Gedächtnis schaltung wird über das Odergatter O an das Undgatter U3 geführt. Arbeitet die Einrichtung gerade in einer Hellzeit tH, so liegt der Vortaktimpuls VT vor, das Undgatter U8 wird geöffnet und die Kippschaltung BK2 gesetzt. Ihr Ausgangssignal kippt die Schaltung BK1, so daß nunmehr am Ausgang X Signal entsteht. Dieses Signal löscht die Gedächtnisschaltung Mi und besetzt den unteren Eingang des Undgatters U2. The operation of the device according to Fig. 3 results as follows: If a thickness error occurs, both AND gates U 1 and U2 receive a signal. Ever after the switching state of the flip-flop BK1 one of the two AND gates is opened, so that the assigned memory circuit is set. Assume that the output A of the flip-flop BK1 carries a signal, so that the AND gate Ul opens and the memory circuit M i is set. The output of the memory circuit is passed via the OR gate O to the AND gate U3. The facility works just in a light time tH, the pre-clock pulse VT is present, the AND gate U8 is opened and the toggle switch BK2 is set. Your output signal flips the circuit BK1, so that a signal is now produced at output X. This signal clears the memory circuit Wed and occupies the lower entrance of Undgatters U2.

Am Ausgang der Kippschaltung BK2 steht das Signal so lange an, bis der Haupttaktimpuls HT am Undgatter U4 eintrifft. Erst dann wird die Kippschaltung BK3 gesetzt und damit das Fehlersignal in das Schieberegister eingegeben. At the output of the flip-flop BK2, the signal is available until the main clock pulse HT arrives at AND gate U4. Only then does the toggle switch work BK3 is set and the error signal is entered in the shift register.

Trifft in der Zeit des Haupttaktimpulses ein weiteres Fehlersignal vom Dickenmeßgerät DM ein, so wird das Undgatter U2 geöffnet und die Gedächtnisschaltung M2 gesetzt. Ihr Ausgangssignal kann je doch das Undgatter U3 noch nicht passieren, da kein Vortaktimpuls VT vorliegt. Erst in der nächsten Hellzeit wird die Gedächtnisschaltung M2 abgerufen und kann die Kippschaltung BK2 setzen, so daß beim nächsten Haupttaktimpuls die Kippschaltung BK3 ge setzt wird und neuerlich ein Fehlersignal in das Register eingegeben wird. Die Einrichtung nach der Erfindung sorgt dafür, daß das eben erwähnte Fehlersignal nicht verlorengeht. Another error signal hits in the time of the main clock pulse from the thickness measuring device DM, the AND gate U2 is opened and the memory circuit is opened M2 set. However, your output signal cannot yet pass the und gate U3, since there is no pre-clock pulse VT. The memory circuit is only activated in the next light period M2 retrieved and can set the flip-flop BK2 so that at the next main clock pulse the flip-flop BK3 is set and again an error signal is entered in the register is entered. The device according to the invention ensures that the aforementioned Error signal is not lost.

Die praktische Ausbildung der für die Erfindung erforderlichen logischen Elemente (Gatter, Kipp schaltungen und Gedächtnisschaltungen) ist an sich beliebig. Vorteilhaft wird man die bekannten, mit Dioden bzw. Transistoren aufgebauten Einheiten verwenden. The practical training of the logic required for the invention Elements (gates, flip-flops and memory circuits) is arbitrary. The known units constructed with diodes or transistors are advantageous use.

Claims

PATENT CLAIMS: 1. Device for controlling a working machine, the goods to be processed are continuously fed in and in partial quantities is removed, with good defect checking equipment for sorting out defective good parts, characterized in that the good defect checking means assigned to the feed side of the machine if an error limit is exceeded, a control signal is sent to one of two im Change ready, the signal storing memory circuits give their Information content as a function of one through each subset of a leader triggered pulse alternately queried and deleted and one the sorting device influencing shift register with one of the number of those up to the sorting point Subsets corresponding to the number of stages is fed.

2. Device according to claim 1, characterized by the two memories switching means assigned to circuits, which, depending on one of the processing (Clock) circuit derived feedback signal the storage of one of the good error checking means output error signal alternately either in one or the other of the secure both memory circuits.

3. Device according to claim 2, characterized by two AND gates, Via which the limit data signal is fed to the memory circuits, and a bistable flip-flop, which is triggered by the feedback signal and for opening tion the AND gate is used by its two output signals.

4. Device according to claim 3, characterized in that the output signals the bistable flip-flop at the same time to delete the previously evaluated memory circuit to serve.

5. Device according to claim 1, characterized in that the output signals the memory circuits are fed to a shift register via an OR gate, at the first stage of which the feedback signal is taken.

6. Device according to claim 1, characterized in that the clock pulse train for the shift register is generated photoelectrically.