DE1072045B - Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Flüssigkeitsströmung beim elektrolytischen Ätzen, oder Galvanisieren - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Flüssigkeitsströmung beim elektrolytischen Ätzen, oder GalvanisierenInfo
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 title claims description 6
- 238000000866 electrolytic etching Methods 0.000 title claims description 5
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 title claims description 4
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 20
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 16
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 6
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001417524 Pomacanthidae Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 150000001447 alkali salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000009172 bursting Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011255 nonaqueous electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 235000010333 potassium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004323 potassium nitrate Substances 0.000 description 1
- UOVHNSMBKKMHHP-UHFFFAOYSA-L potassium;sodium;sulfate Chemical compound [Na+].[K+].[O-]S([O-])(=O)=O UOVHNSMBKKMHHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/3063—Electrolytic etching
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25F—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
- C25F3/00—Electrolytic etching or polishing
- C25F3/02—Etching
- C25F3/12—Etching of semiconducting materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25F—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
- C25F3/00—Electrolytic etching or polishing
- C25F3/02—Etching
- C25F3/14—Etching locally
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
- H01L21/283—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
- H01L21/288—Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
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Description
DEUTSCHES
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Regelung der Flüssigkeitsströmung an
einer Werkstückoberfläche, insbesondere von Halbleiterkörpern, beim elektrolytischen Ätzen oder Galvanisieren.
Die elektrolytische Bearbeitung von Werkstücken ist bekanntlich im Zuge der Entwicklung der Halbleitertechnik
zu besonderer Bedeutung gelangt. Bei der Halbleiterherstellung müssen bekanntlich Halbleiterkörper
mit sehr kleinen Abmessungen innerhalb geringer Toleranzen hergestellt werden, wobei sich
elektrolytische Formgebungsverfahren als besonders einfach, wirksam und zur Massenherstellung geeignet
erwiesen haben.
Man hat bereits zur Formgebung und zum Aufplattieren bestimmter Materialien ein ,elektrolytisches
Strahlverfahren vorgeschlagen, wobei hinsichtlich des Leitfähigkeitstyps des Halbleiters, des verwendeten
Elektrolyten, der Widerstände des Halbleiters und des Strahles, der verwendeten Potentiale zwischen
Halbleiterkörper und Elektrolytstrahl sowie der Ätzbzw. Abscheidungsgeschwindigkeit verschiedene Zusammenhänge
bestehen.
Man hat ferner bereits vorgeschlagen, zur möglichst genauen Lokalisierung der Ätzwirkung beim
elektrolytischen Strahlätzen den zu bearbeitenden Körper mit einem Metallüberzug zu versehen, wobei
durch Verwendung geeigneter elektrischer Potentiale zwischen dem Elektrolyten und dem Körper eine gute
Lokalisierung der Ätzung erzielt werden kann. Ein derartiges Verfahren ist in der USA.-Patentschrift
2J799 63Z1 beschrieben. " ~
Ferner hat man bereits vorgeschlagen, durch Um^
kehr des zwischen Elektrolyt und_jIaliLLpi1"':'r angelegten Potentials mit
der selben Verrichtung und dem
gleichen Elektrolytstrahl aufeinanderfolgend zunächst eine Formätzung und anschließend eine Galvanisierung
vorzunehmen.
Bei diesen sämtlichen bisher vorgeschlagenen Verfahren zur Formgebung von Werkstücken im elektrolytischen
Strahlverfahren ist zur genauen Lokalisierung der Ätzwirkung und zur möglichst genauen
Formgebung sowie auch zur Erzielung guter Abscheidungen erwünscht, daß der zwischen dem
Elektrolyten und dem Halbleiter fließende elektrolytische Strom im Zentrum des Strahlauftreffbereiches
größer als an radial entfernten Punkten ist.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß eine Vorbedingung hierfür ein möglichst glattes und
gleichmäßiges Abfließen der Flüssigkeit vom Auftreffpunkt weg ist, daß also eine Ansammlung oder
Zusammenstellung der Flüssigkeit an der Auftreffstelle verhindert werden muß.
Diese Forderung nach möglichst glattem, unge-Verfahren und Vorrichtung
zur Regelung der Flüssigkeitsströmung
beim elektrolytischen Ätzen
oder Galvanisieren
Anmelder:
Philco Corporation,
Philadelphia, Pa. (V. St. A.)
Vertreter: Dipl.-Ing. C. Wallach, Patentanwalt,
München 2, Kaufingerstr. 8
München 2, Kaufingerstr. 8
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 23. Juni 1955
V. St. v. Amerika vom 23. Juni 1955
Robert Thoma Vaughan, Cheltenham, Pa. (V. St. Α.),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
störtem Abfluß des Elektrolyten ist neben der erwähnten Bedeutung für die Lokalisierung der Wirkung
neuerdings noch insofern wichtig geworden, als nach einem vorgeschlagenen Verfahren die Dickenkontrolle
beim Strahlätzen mittels elektromagnetischer Strahlung erfolgt, die durch den Elektrolytstrahl in
Längsrichtung hindurch auf den Halbleiterkörper gerichtet wird. Jede Ansammlung oder Zusammenballung
der Elektrolytflüssigkeit an der Strahlauftreffstelle und die damit verbundene Unregelmäßigkeit
der Strömungsverteilung würde eine unkontrollierbare Beeinflussung der Absorption der Meßstrahlung
und damit eine Verfälschung der Dickenmessung ergeben.
Während anfänglich bei der Herstellung von Transistoren und sonstigen Halbleiteranordnungen mittels
elektrolytischer Strahlbehandlung solche relativ großen Strahldurchmesser verwendet werden konnten, daß
sich durch die Masse der Flüssigkeitsstrahlen eine natürliche Strömungsform mit glattem Abfluß an der
Auftreffstelle ergab, hat die neuere Entwicklung mit ihrer Richtung immer kleineren Abmessungen und
dementsprechend höheren Anforderungen an die Genauigkeit der Lokalisierung der Formgebung zur
Verwendung immer geringerer Strahldurchmesser gezwungen. Dabei ergibt sich die Erscheinung, daß bei
derartig feinen Strahlen die Elektrolytflüssigkeit beim Auftreffen auf die Werkstückoberfläche infolge der
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Oberflächenspannung und von Adhäsionskräften sich im Auftreffpunkt ansammelt und zusammenballt und
erst nach Ausbildung eines genügend großen Tropfens, der zur Durchbrechung der Oberflächenspannung ausreicht,
abfließt. An der Auftreffstelle findet somit ein periodisch sich wiederholender Aufbau von Flüssigkeitszusammenballungen
bis zu einer bestimmten, durch die jeweilige Oberflächenspannung bestimmten Größe mit nachfolgendem Platzen des Tropfens und
Abfließen statt. Die Erfindung betrifft somit ein Verfahren zur Regelung der Flüssigkeitsströmung an
einer Werkstückoberfläche, insbesondere aus halbleitendem Material, beim elektrolytischen Ätzen oder
Galvanisieren, wobei der Elektrolyt in Form eines Strahles mit einem Durchmesser von etwa 0,2 mm
oder weniger gegen die zu bearbeitende Fläche des Werkstückes gerichtet wird.
Zur Vermeidung der angeführten Nachteile und zur Erzielung eines glatten Abflusses der Elektrolytflüssigkeit
an der Auftreffstelle ohne Bildung von Zusammenballungen wird eine derartiges Verfahren gemäß
der Erfindung so ausgeführt, daß an der oder den zu behandelnden Flächen des Werkstückes ein
Bereich geringeren Druckes erzeugt wird.
Durch diese Maßnahme wird auch bei Verwendung feinster Flüssigkeitsstrahlen, wie sie zur genauen,
exakt lokalisierten Formgebung erforderlich ist, die gewünschte glatte, regelmäßige, dünne Strömungsschicht des Elektrolyten an der Oberfläche des Werkstückes
aufrechterhalten.
Die Erfindung ist dabei auch in solchen Fällen anwendbar, wo der Strahl mit nur einem geringen oder
überhaupt ohne Druck austritt.
Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung besteht darin, daß der Strahl unter einem rechten
Winkel auf die zu bearbeitende Fläche des Werkstückes auftrifft.
Nach einer vorteilhaften Ausführungsform kann eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
gemäß der Erfindung so ausgebildet sein, daß an der zu behandelnden Fläche des Werkstückes in gleichmäßiger
Winkelstellung um den Flüssigkeitsstrahl Sauggebläse mit je einem auf den Auftreffbereich des
Strahles gerichteten, unter geringerem Druck stehenden Saugmundstück angeordnet sind.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die Vorrichtung so ausgebildet, daß bei gleichzeitiger
Bearbeitung des flächenförmigen Werkstückes auf den gegenüberliegenden Seiten die Sauggebläse so
in der Ebene des Werkstückes und senkrecht zu der Richtung der Flüssigkeitsstrahlen angeordnet sind,
daß gleichzeitig an beiden Seiten Bereiche geringeren Druckes in der Nähe der Auftreffstellen der Flüssigkeitsstrahlen
erzeugt werden.
Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung an Hand der Zeichnung.
In dieser zeigt
Fig. 1 schematisch ein zur Ausübung des Verfahrens nach der Erfindung geeignetes Gerät,
Fig. 2 die erwünschte, durch Düsen mit verhältnismäßig großem Durchmesser erzielte Strömungsform,
Fig. 3 den bei Verwendung äußerst feiner Strahlen und ohne Anwendung des Verfahrens nach der Erfindung
erzielten unerwünschten Zusammenballungszustand,
Fig. 4 in stark vergrößerter Ansicht die bei dem Verfahren nach der Erfindung erzielte Strömungsform des Elektrolyten und
Fig. 5 einen Schnitt durch einen fertigen Transistorrohling.
Da die Erfindung insbesondere auf dem Halbleitergebiet Anwendung findet und sich besonders, jedoch
nicht ausschließlich auf Ätzverfahren bezieht, ist in der Beschreibung und den Zeichnungen die Anwendung
der Erfindung auf das Ätzen von Halbleitern, insbesondere auf die als Transistoren bezeichnete Art
von Halbleitern, beschrieben und dargestellt.
In Fig. 2 der Zeichnung ist der gewünschte glatte, dünne Fluß der Ätzflüssigkeit an den einander gegenüberliegenden
Oberflächen des Transistorrohlings oder Plättchens 10 dargestellt. Diese Strömungsform ergibt
sich als Folge bei der \^erwendung von Strahlen 11 und 12 von verhältnismäßig großem Durchmesser,
z. B. 0,23 mm oder mehr. Wie oben erklärt, erzeugt diese laminare Strömung den stärksten Ätzstrom an
den Auftreffpunkten 13 und 14 an den einander gegenüberliegenden Seiten des Transistors, wo Mulden 15
und 16 entstehen, die nur durch einen sehr dünnen Bereich 17 (Fig. 5) getrennt sein sollen. Die Erfindung
ist selbstverständlich ebenfalls anwendbar auf das Ätzen mit einem einzigen Strahl.
Bei der Verwendung von Strahlen mit einem Durchmesser von 0,23 mm oder mehr läßt sich die
gewünschte Strömung erzielen, während mit Strahlen zwischen 0,23 und 0,077 mm Durchmesser die Ätzflüssigkeit
häufig Zusammenballungen 18 (Fig. 3) bildet. Bei der Verwendung von Strahlen mit
0,077 mm oder weniger bildet sich fast immer dieser Zustand aus. Die Folge ist, daß der Ätzstrom nicht
seinen größten Wert am Auftreffpunkt hat, sondern über einen großen Bereich und in solchem Maße verteilt
ist, daß seine Fähigkeit, die Oberfläche des Transistors durch Ätzen in die gewünschte, in Fig. 5 dargestellte
Form zu bringen, stark beeinträchtigt wird.
Nach der Erfindung werden solche Zusammenballungen vollständig beseitigt. Außerdem wird erreicht,
daß die Ätzflüssigkeit von ihrem Auftreffbereich an dem Plättchen glatt hinwegfließt. Dies
wird durch Erzeugung eines Bereiches geringeren Druckes neben den Strahlen und an deren Auftreffflächen
erzielt, wodurch über die Oberflächen des Transistors ein Luftstrom hinwegstreicht. Zwischen
dem Auftreffpunkt des Strahles und dem Umfang des zu ätzenden Bereiches wird also ein Druckabfall aufrechterhalten,
so daß der Bereich höheren Druckes den Flüssigkeitsball umgibt, wodurch der Ball flachgedrückt
wird.
Zur Erzeugung eines solchen Bereiches geringeren Druckes kann das in Fig. 1 und 4 schematisch dargestellte
Gerät benutzt werden.
Fig. 1 zeigt, daß das Transistorbasisplättchen 10 zwischen gegeneinandergerichteten Strahlen 19 und
20 angeordnet ist, die von einem durch eine Pumpe über Düsen 21 und 22 aufrechterhaltenen Elektrolytkreislauf
erzeugt werden. Diese vorzugsweise identischen Düsen 21 und 22 weisen jede eine nicht abgebildete
kreisförmige öffnung von äußerst kleinem Durchmesser, z. B. von der Größenordnung 0,08 mm,
auf. Die Düsen werden von Leitungen 23 bzw. 24 gespeist. Diese bilden Abzweigungen einer Leitung 25,
in der eine Flüssigkeitspumpe 26 beliebiger Art angeordnet ist und Elektrolyt 27 aus einem Behälter 28
ansaugt. Vorzugsweise sind alle Teile des Gerätes, die mit der Ätzflüssigkeit in Berührung kommen, aus
einem Werkstoff hergestellt, der im wesentlichen nicht mit der Ätzflüssigkeit reagiert, so daß eine Verunreinigung
der Lösung verhindert wird.
Soll z. B. Germanium elektrolytisch geätzt werden, so kann der Elektrolyt 27 eines bzw. eine von vielen
leicht ionisierbaren Alkalisalzen bzw. -säuren ent-
halten. Obwohl wäßrige oder nicht wäßrige Elektrolyten verwendet werden können, wird eine wäßrige
Lösung, z. B. von Natriumnitrat, Natriumchlorid, Kaliumnitrat, Natriumkaliumsulfat, Salpetersäure.
oder einem von vielen anderen ElekTrolyten verwendet.
Den Strahlen 19 und 20 und dem Plättchen 10 wird von einer Spannungsquelle 29 unter Zwischenschaltung
eines stromregulierenden Widerstandes 30 und eines Schalters 31 über Leitungen 32 und 33 elektrischer Strom zugeführt Die Leitung 33 ist hierbei
an einer Elektrode 34 befestigt, die innerhalb der Leitung 25 angeordnet ist und aus einem Werkstoff besteht,
der mit dem Elektrolyten nicht reagiert. Diese Elektrode kann z. B. aus einem Stück Blech aus nichtrostendem
Stahl bestehen.
Werden bei dem beschriebenen Gerät stärkere Strahlen verwendet, so kann hierdurch aus dem
Plättchen 10 ein Transistorrohling wie der in Fig. 5 dargestellte hergestellt werden. Bei genauer Untersuchung
der Form der in der Transistoroberfläche ausgebildete" MnIrWi hat sich jedoch die Verwendung
besonders feiner Strahlen als vorteilhaft herausgestellt. Die Strahlen 19 und 20 haben die Größenordnung
von 0,08 mm, und es sind daher, wie oben erklärt, Mittel vorgesehen, die eine Zusammenballung
des Ätzmittels nach Fig. 3 verhindern und dafür sorgen, daß die Ätzflüssigkeit glatt über die Oberfläche
des Plättchens strömt.
Zur Erzeugung eines Bereiches geringeren Druckes in der Umfangsgegend der Stellen, an denen die
Strahlen 19 und 20 auf die Oberfläche des Plättchens 10 auftreffen, sind zwei Saugmundstücke 35 und 36
angeordnet, die mit Abzweigungen 37 bzw. 38 einer Leitung 39 verbunden sind, deren Ende 40 in ein Gefäß
41 mündet, das einen Vakuumbehälter und gleichzeitig eine Ätzmittelfalle darstellt. Der Behälter wird
mittels einer Vakuumpumpe 42 auf einem Druck unterhalb des Atmosphärendruckes gehalten. Eine
ventilgesteuerte Leitung 43 dient zur Rückführung des Ätzmittels 27 aus dem Behälter 41 in den Behälter
28. Die Pumpen 26 und 42 werden aus einer Stromquelle 44 über die Leitungen 45, 46 und 47 gespeist,
wenn der Schalter 48 geschlossen ist.
Zur Inbetriebnahme der Vorrichtung wird der Schalter 48 geschlossen, wodurch die Pumpen 26 und
42 gleichzeitig gespeist werden. Die Pumpe 26 drückt die Ätzflüssigkeit 27 durch die Düsen 21 und 22, so
daß Strahlen 19 und 20 entstehen, die vorzugsweise in Richtung der Normalen auf gegenüberliegenden
Flächen gegen das Plättchen gerichtet sind. Gleichzeitig verringert die Vakuumpumpe 42 den Druck
innerhalb des Behälters 41 und erzeugt dabei einen Bereich geringeren Druckes in der Nachbarschaft der
Saugmundstücke 35 und 36. Der Bereich geringen Druckes liegt so dicht bei den Strahlen 19 und 20,
daß er einen Luftstrom erzeugt, der im allgemeinen parallel zu den Strahlen gerichtet ist und dann über
die Flächen des Transistorplättchens streicht, was durch die Pfeile in Fig. 4 dargestellt ist. Hierdurch
wird eine glatte, dünne, strömende Schicht des Elektrolyten auf den Transistorflächen erzeugt. Nach
Verlassen des Plättchens fließt der Elektrolyt in die Saugmundstücke 35 und 36 und von dort durch die
Leitung 39 in den Behälter 41. Wenn die Strahlen gut ausgebildet sind, wird der Schalter 31 und dadurch
der Stromkreis geschlossen.
Die dem Transistorplättchen benachbarte Vorrichtung ist deutlicher in Fig. 4 dargestellt. Es ist ersichtlich, daß das Ätzmittel über die Flächen des Plätt-
chens und in die Mundstücke 35 und 36 hineinfließt.
Zur Beschreibung wurde ein für Trioden geeigneter
Transistorrohling mit gegenüberliegenden Mulden 15 und 16 herangezogen. Jedoch kann das Verfahren und
die Vorrichtung auch zur Herstellung von Dioden verwendet werden, wobei dann nur einer der Strahlen
und 20 benötigt wird.
Claims (5)
1. Verfahren zur Regelung der Flüssigkeitsströmung an einer Werkstückoberfläche, insbesondere
aus halbleitendem Material, beim elektrolytischen Ätzen oder Galvanisieren, wobei der
Elektrolyt in Form eines Strahles mit einem Durchmesser von etwa 0,2 mm oder weniger gegen
die zu bearbeitende Fläche des Werkstückes gerichtet wird, dadurch gekennzeichnet, daß an der
oder den zu behandelnden Flächen des Werkstückes ein Bereich geringeren Druckes erzeugt
wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahl unter einem rechten
Winkel auf die zu bearbeitende Fläche des Werkstückes gerichtet wird.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß an der zu behandelnden Fläche des Werkstückes in gleichmäßiger
Winkelverteilung um den Flüssigkeitsstrahl_Sauggebläse mit je einem auf den Äuftreffbereich des
Strahles gerichteten, unter geringerem Druck stehendeniSaugmundstück (35,36) angeordnet sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß an der zu bearbeitenden Werkstückoberfläche
zwei hinsichtlich des Flüssigkeitsstrahles einander gegenüberliegende, unter einem
Winkel von 90° zu diesem angeordnete Sauggebläse mit je einem Mundstück (35, 36) vorgesehen
sind.
5. Vorrichtung nach Ansprüchen 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß bei gleichzeitiger Bearbeitung
des flächenförmigen Werkstückes auf den beiden gegenüberliegenden Seiten die Sauggebläse
so in der Ebene des Werkstückes (10, Fig. 4) und senkrecht zu der Richtung der Flüssigkeitsstrahlen
(19, 20) angeordnet sind, daß gleichzeitig an beiden Seiten Bereiche geringeren Druckes in der Nähe der Auftreffstellen der
Flüssigkeitsstrahlen erzeugt werden.
In Betracht gezogene Druckschriften:
»Proceedings of the I. R. Ε.«, 1953, S. 1707.
»Proceedings of the I. R. Ε.«, 1953, S. 1707.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 909 690/495 12.59
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US51745355A | 1955-06-23 | 1955-06-23 | |
US55969556A | 1956-01-17 | 1956-01-17 | |
US637972A US2937124A (en) | 1955-06-23 | 1957-02-04 | Method of fabricating semiconductive devices and the like |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1072045B true DE1072045B (de) | 1959-12-24 |
Family
ID=27414665
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DENDAT1072045D Pending DE1072045B (de) | 1955-06-23 | Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Flüssigkeitsströmung beim elektrolytischen Ätzen, oder Galvanisieren |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2937124A (de) |
BE (1) | BE564480A (de) |
DE (1) | DE1072045B (de) |
FR (1) | FR1153749A (de) |
GB (1) | GB834821A (de) |
NL (2) | NL104994C (de) |
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- NL NL208297D patent/NL208297A/xx unknown
- NL NL104994D patent/NL104994C/xx active
- DE DENDAT1072045D patent/DE1072045B/de active Pending
- BE BE564480D patent/BE564480A/xx unknown
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