DE10331522A1 - Reduction of phantom artifacts in digital radiographs produced with a digital detector by maintaining planar substrate, reading matrix and scintillator at a constant raised temperature using a temperature regulating heater element - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Detektor zur digitalen Aufnahme eines Röntgenbilds mit einer auf einem flächigen Substrat aufgebrachten Auslesematrix sowie auf eine mit dem genannten Detektor ausgestattete Röntgenvorrichtung. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf ein Verfahren zur Reduzierung von Geistbildartefakten bei einem digitalen Detektor für Röntgenbilder.The The invention relates to a detector for digital recording an X-ray image with one on a plane Substrate applied readout matrix as well as one with said Detector-equipped X-ray device. The invention further relates to a method for reduction of ghost artifacts in a digital x-ray detector.
Die meisten in der Medizintechnik verwendeten bildgebenden Untersuchungsverfahren beruhen seit Jahren auf Röntgenaufnahmen. Anstelle der herkömmlichen, auf fotografischen Filmen beruhenden Radiografie haben sich in den letzten Jahren zunehmend digitale Aufnahmetechniken etabliert. Diese besitzen den erheblichen Vorteil, dass keine zeitaufwendige Filmentwicklung erforderlich ist. Die Bildaufbereitung geschieht vielmehr mittels elektronischer Bildverarbeitung. Das Bild ist daher direkt nach der Aufnahme verfügbar. Digitale Röntgenaufnahmetechniken bieten zudem den Vorteil einer besseren Bildqualität, Möglichkeiten zur elektronischen Bildnachbearbeitung sowie die Möglichkeit einer dynamischen Untersuchung, d.h. der Aufnahme von bewegten Röntgenbildern.The Most imaging techniques used in medical technology have been based on x-rays for years. Instead of the conventional, Based on photographic films, radiography has evolved in the recent years increasingly established digital recording techniques. Own this the considerable advantage that no time-consuming film development is required. The image processing is done by means of electronic image processing. The picture is therefore directly after the recording available. Digital radiography techniques also offer the advantage of better picture quality, possibilities for electronic image post-processing as well as the possibility a dynamic examination, i. the recording of moving X-ray images.
Zu den verwendeten digitalen Röntgenaufnahmetechniken gehören so genannte Bildverstärker-Kamerasysteme, die auf Fernseh- oder CCD-Kameras basieren, Speicherfoliensysteme mit integrierter oder externer Ausleseeinheit, Systeme mit optischer Ankopplung einer Konverterfolie an CCD-Kameras oder CMOS-Chip, Selen-basierte Detektoren mit elektrostatischer Auslesung und Festkörperdetektoren mit aktiven Auslesematritzen mit direkter oder indirekter Konversion der Röntgenstrahlung.To the digital radiographic techniques used belong so-called image intensifier camera systems, the on television or CCD cameras based, imaging systems with integrated or external readout unit, systems with optical coupling of a Converter film to CCD cameras or CMOS chip, using selenium-based detectors electrostatic readout and solid state detectors with active Read-out matrix with direct or indirect conversion of X-radiation.
Insbesondere sind seit einigen Jahren Festkörperdetektoren für die digitale Röntgenbildgebung in Entwicklung. Diese Detektoren basieren auf aktiven Auslesematritzen z.B. aus amorphem Silizium (a-Si), denen eine Szintillatorschicht oder Szintilatorschicht, z.B. aus Cäsiumjodid (CsI) vorgeschichtet ist. Die auftreffende Röntgenstrahlung wird in der Szintillatorschicht in sichtbares Licht gewandelt, in Photodioden der Auslesematrix in elektrische Ladung umgewandelt und ortsaufgelöst gespeichert. Verwandte Technologien verwenden ebenfalls eine aktive Auslesematrix aus amorphem Silizium, jedoch kombiniert mit einem Röntgenkonverter (z.B. Selen), der die auftreffende Röntgenstrahlung direkt in elektrische Ladung umwandelt. Diese wird dann auf einer Elektrode der Auslesematrix ortsaufgelöst gespeichert. Die gespeicherte Ladung wird anschließend über ein aktives Schaltelement elektronisch ausgelesen, in digitale Signale umgewandelt und an ein elektronisches Bildverarbeitungssystem weitergeleitet.Especially have been solid state detectors for several years for the digital x-ray imaging in Development. These detectors are based on active readout matrices e.g. of amorphous silicon (a-Si), which has a scintillator layer or scintillator layer, e.g. from cesium iodide (CsI). The incident X-rays is converted into visible light in the scintillator layer, in photodiodes the readout matrix converted into electrical charge and stored spatially resolved. relative Technologies also use an active readout matrix of amorphous Silicon, but combined with an x-ray converter (e.g., selenium), the the incident X-rays converted directly into electrical charge. This will then be on an electrode the readout matrix spatially resolved saved. The stored charge is then over active switching element electronically read, into digital signals converted and forwarded to an electronic image processing system.
Eine für die Bildqualität entscheidende physikalische Eigenschaft des amorphen Siliziums ist die Existenz von tief gelegenen Energieniveaus („Traps"), die bei der Bildaufnahme mit elektrischer Ladung aufgefüllt werden. In diesen Traps ist die elektrische Ladung aufgrund der besonders niedrigen Energie vergleichsweise stabil gebunden, so dass bei dem der Bildaufnahme folgenden Ausleseprozess nicht die gesamte, im Trap enthaltene Ladung ausgelesen werden kann. Vielmehr „überlebt" ein gewisser Teil des Signals latent in den Traps und wird erst nach dem Ausleseprozess allmählich freigesetzt. Dies kann dazu führen, dass bei einer nachfolgenden Aufnahme immer noch ein Restsignal vorhanden ist und im dazu gehörigen Ausleseprozess mit ausgelesen wird. Das zuletzt aufgenommene Röntgenbild enthält somit ein Restsignal der vorangegangenen Aufnahme. Mitunter erscheinen dadurch Konturen der vorangegangenen Aufnahme als Schatten auf dem nachfolgenden Röntgenbild. Dieser Effekt wird als Geistbildartefakt bezeichnet.A for the picture quality is the crucial physical property of amorphous silicon the existence of low-lying energy levels ("traps") when taking pictures with electric charge filled become. In these traps the electric charge is due to the particularly low energy bound comparatively stable, so that in the reading process following the image acquisition not the entire, Trapped charge can be read out. Rather, a certain part "survives" of the signal is latent in the traps and only after the readout process gradually released. This can cause that in a subsequent recording still a residual signal exists and in the associated Readout process is read out. The last recorded X-ray image contains thus a residual signal of the previous recording. Occasionally appear thereby contours of the previous shot as a shadow on the subsequent X-ray image. This effect is called Spirit picture artifact.
Um Geistbildartefakte nach Möglichkeit zu reduzieren, wird üblicherweise nur amorphes Silizium von bester Qualität zur Herstellung von Röntgendetektoren verwendet, da dieses eine besonders geringe Anzahl von Störstellen, und damit eine besonders geringe Anzahl von Traps aufweist. Höchstqualitatives amorphes Silizium ist jedoch entsprechend teuer und führt dennoch nicht zu einer befriedigenden Reduzierung der Geistbildartefakte. Zur weiteren Reduzierung dieser Effekte wird mitunter Rücksetzlicht verwendet. Hierbei ist ein flächig ausgebildetes Board oder eine Folie vorgesehen, welche Licht emittieren kann, um das amorphe Silizium zu stabilisieren oder zu homogenisieren. Dies führt aber ebenfalls nicht zu einer vollständigen Reduktion der Geistbildartefakte. Alternativ wird versucht, die Geistbildartefakte auf dem Wege elektronischer Bildverarbeitung im Röntgenbild nachträglich zu korrigieren. Solche Kompensierungsverfahren sind aber vergleichsweise aufwändig und häufig dennoch nicht in der Lage, Geistbildartefakte in befriedigender Weise zu beseitigen.Around Spirit image artifacts if possible to reduce, is usually only top quality amorphous silicon for the production of X-ray detectors used because this is a particularly small number of impurities, and thus has a particularly low number of traps. highest quality However, amorphous silicon is correspondingly expensive and still leads not to a satisfactory reduction of the mental image artifacts. To further reduce these effects, sometimes reset light is used. Here is a surface formed board or a film, which emit light can stabilize or homogenize the amorphous silicon. this leads to but also not to a complete reduction of the spirit image artifacts. Alternatively, mental image artifacts are attempted by electronic means Image processing in the X-ray image later to correct. Such compensation methods are however comparatively complicated and often nevertheless not able to render ghost image artifacts more satisfying Way to eliminate.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Röntgendetektor anzugeben, bei dem Geistbildartefakte von Haus aus nicht oder nur in sehr geringem Maße auftreten. Es ist weiterhin Aufgabe der Erfindung, eine mit dem genannten Detektor ausgestattete Röntgenvorrichtung anzugeben. Der Erfindung liegt außerdem die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Reduzierung von Geistbildartefakten bei einem digitalen Detektor für Röntgenbilder anzugeben.Of the The invention is therefore based on the object, an X-ray detector to specify in the mental image artifacts from home not or only to a very small extent occur. It is also an object of the invention, one with the specify said detector equipped X-ray device. Of the Invention is also The task is based on a method for reducing mental image artifacts in a digital detector for radiographs specify.
Bezüglich des Detektors wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 1. Danach umfasst der Detektor ein flächiges Substrat, auf dem eine Auslesematrix aufgebracht ist. In thermisch leitender Verbindung mit dem Substrat ist dabei ein als Heizelement ausgebildetes Temperaturregulierungselement vorgesehen, mit dem das Substrat auf einer vorgegebenen Soll-Temperatur gehalten werden kann.Regarding the Detector, the object is achieved by the features of the claim 1. Thereafter, the detector comprises a flat substrate on which a Readout matrix is applied. In thermally conductive connection with the substrate is designed as a heating element temperature regulating element provided with which the substrate at a predetermined target temperature can be held.
Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, dass die Entleerung der Traps um so schneller vonstatten geht, je höher die Temperatur des Substrats, und damit auch die Temperatur der Auslesematrix ist. Durch gezielte Erhöhung der Substrattemperatur wird somit eine beschleunigte Entladung der Traps erreicht, so dass ein Großteil des in der Auslesematrix gespeicherten Signals bereits beim ersten Auslesevorgang ausgelesen. Die in den Traps nach diesem Ausleseprozess gegebenenfalls noch verbleibende Ladung ist so gering, dass Geistbildartefakte allenfalls noch in geringem Maße auftreten.The Invention is based on the recognition that the emptying of the traps the faster the temperature of the substrate, and the faster it is done so that the temperature of the readout matrix is. Through targeted increase The substrate temperature is thus an accelerated discharge of the Traps reached, so much of it of the signal stored in the read-out matrix already at the first Read out read. Those in the traps after this selection process any remaining charge is so low that mental image artifacts at best still to a small extent occur.
Die Erfindung führt insbesondere zu einer Verbesserung eines Detektors, dessen Auslesematrix im Wesentlichen aus amorphem Silizium besteht. Sie erlaubt somit die Verwendung dieses ansonsten besonders gut zur Realisierung der Auslesematrix geeigneten Materials, ohne dass eine Verschlechterung der Bildqualität durch Geistbildartefakte in Kauf genommen werden müsste.The Invention leads in particular to an improvement of a detector whose readout matrix consists essentially of amorphous silicon. It allows thus the use of this otherwise particularly good for the realization of Readout matrix of suitable material without causing deterioration the picture quality by mental image artifacts would have to be accepted.
Zweckmäßigerweise ist das Temperaturregulierungselement an der Rückseite des Substrats angebracht, zumal es auf diese Weise die Röntgenaufnahme nicht behindert. Als Rückseite wird diejenige Seite des Substrats bezeichnet, die der mit Röntgenstrahlung zu belichtenden Seite des Substrats entgegengesetzt ist. Diese Anordnung hat den zusätzlichen Vorteil, dass das Temperaturregulierungselement nahe an der Auslesematrix angeordnet ist und somit in besonders guter Wärmekopplung mit der Auslesematrix steht. Für eine effektive Temperaturregulierung bei gleichzeitig geringem Platzbedarf ist insbesondere vorgesehen, dass das Temperaturregulierungselement schichtartig aufgebaut ist.Conveniently, the temperature regulating element is attached to the back of the substrate, especially since it is the X-ray not disabled. As the back is that side of the substrate referred to that with X-rays opposite side of the substrate to be exposed. This arrangement has the extra Advantage that the temperature regulating element close to the readout matrix is arranged and thus in particularly good thermal coupling with the readout matrix stands. For an effective temperature control with a small footprint is in particular provided that the temperature regulating element is layered.
In zwei vorteilhaften Realisierungsvarianten ist das Temperaturregulierungselement wahlweise als flächiger Heizwiderstand oder als Peltierelement ausgeführt. Ein Peltierelement hat den zusätzlichen Vorteil, dass man mit ihm wahlweise das Substrat kühlen oder heizen kann. Es sind hierdurch insbesondere auch schnelle Änderungen der Substrattemperatur möglich.In two advantageous implementation variants is the temperature regulating element optionally as a flat surface Heating resistor or designed as a Peltier element. A Peltier element has the added benefit that you can either cool or heat the substrate with it. There are This in particular also rapid changes in the substrate temperature possible.
Eine besonders präzise Temperatureinstellung wird durch eine Regeleinheit erreicht, die einerseits mit einem in thermischem Kontakt mit dem Substrat und/oder dem Temperaturregulierungselement stehenden Temperaturfühler verbunden ist, und die andererseits das Temperaturregulierungselement ansteuert. Zur weiteren Verbesserung der Temperatureinstellung sind bevorzugt mehrere mit der Regeleinheit verbundene Temperaturfühler vorgesehen, die über die Detektorfläche verteilt sind.A very precise Temperature adjustment is achieved by a control unit that on the one hand with a in thermal contact with the substrate and / or connected to the temperature regulating element temperature sensor on the other hand drives the temperature regulating element. To further improve the temperature setting are preferred provided with the control unit temperature sensor connected via the detector surface are distributed.
Zweckmäßigerweise ist der Auslesematrix in Belichtungsrichtung eine Szintillatorschicht vorgeschaltet, die die auftreffende Röntgenstrahlung je nach Ausprägung in sichtbares Licht oder direkt in elektrische Ladung umwandelt. Ein besonders geeignetes Material hierfür ist Cäsiumjodid.Conveniently, the readout matrix in the exposure direction is a scintillator layer upstream, the incident X-rays depending on the expression in visible light or converted directly into electrical charge. One particularly suitable material for this is cesium iodide.
Bezüglich der Röntgenvorrichtung wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Patentanspruchs 11. Danach enthält die Röntgenvorrichtung einen digitalen Detektor nach einem der Ansprüche 1 bis 10.Regarding the X-ray device the object is achieved by The features of claim 11. Thereafter, the X-ray device includes a digital Detector according to one of the claims 1 to 10.
Bezüglich des Verfahrens wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 12. Danach ist vorgesehen, dass ein zur Aufnahme eines Röntgenbilds vorgesehener digitaler Detektor mittels eines Temperaturregulierungselements auf eine vorgegebene, gegenüber Raumtemperatur erhöhte Soll-Temperatur eingestellt wird.Regarding the Method, the object is achieved by the features of the claim 12. Thereafter, it is envisaged that a for taking an X-ray image provided digital detector by means of a temperature regulating element to a given, opposite Room temperature increased Set temperature is set.
Der Detektor wird dabei entweder konstant auf der erhöhten Soll-Temperatur gehalten. Die Soll-Temperatur ist dabei derart hoch einzustellen, dass die in einem Trap gespeicherte Ladung so schnell abklingt, dass sie in der nächstfolgenden Aufnahme zu keinem störenden Artefakt führt. Andererseits ist die Soll-Temperatur nicht zu hoch einzustellen, damit andere, ebenfalls durch die Temperatur beeinflusste Störgrößen, wie z.B. Dunkelstrom oder Rauschen unterhalb einer tolerierbaren Schwelle bleiben.Of the Detector is either constant at the elevated target temperature held. The target temperature is to be set so high that the charge stored in a trap dies off so fast that you in the next Recording to no disturbing Artifact leads. On the other hand, the target temperature is not too high, so that other, also influenced by the temperature disturbances, such as. Dark current or noise remain below a tolerable threshold.
Alternativ ist es vorteilhaft, die Soll-Temperatur für eine vorgegebene Zeitspanne auf eine vergleichsweise hohe Temperatur einzuregeln, wenn gerade keine Aufnahme vorgenommen wird. Die in einem Trap gefangene Ladung wird damit sozusagen „ausgeheizt". Für die nächstfolgende Bildaufnahme wird die Substrattemperatur dann wiederum auf eine Aufnahmetemperatur erniedrigt, um während der Bildaufnahme die sonstigen temperaturabhängigen Störgrößen klein zu halten. Vorteilhafterweise wird im Anschluss an eine solche pulsartige Erhöhung der Soll-Temperatur die Auslesematrix „im Leerlauf", d.h. ohne vorangegangene Belichtung des Detektors, ausgelesen, um die durch die pulsartige Erhöhung der Solltemperatur aus den Traps „ausgeheizten" Ladungen von der Auslesematrix zu entfernen.alternative it is advantageous to set the target temperature for a predetermined period of time to regulate to a comparatively high temperature, if just no recording is made. The charge caught in a trap is "burned out", so to speak, for the next Image acquisition, the substrate temperature then turn to a recording temperature humbled to while the image recording to keep the other temperature-dependent disturbances small. advantageously, is following such a pulse-like increase in the target temperature the Readout matrix "im Idle ", i.e. without preceding exposure of the detector, read out to the by the pulse-like increase in the Target temperature from the traps "burned out" charges from the Remove readout matrix.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand einer Zeichnung näher erläutert. Darin zeigen:Hereinafter, embodiments of the invention explained in more detail with reference to a drawing. Show:
Einander entsprechende Teile und Größen sind in den Figuren stets mit den gleichen Bezugszeichen versehen.each other corresponding parts and sizes are always provided in the figures with the same reference numerals.
Die
in
Der
Röntgenstrahler
Das
Steuer- und Auswertesystem
Der
in
In
Das
Temperaturregulierungselement
Die
Regeleinheit
In
einem ersten Betriebsmodus wird die Substrattemperatur Ts von der
Regeleinheit
In
einem alternativen Betriebsmodus ist vorgesehen, die Soll-Temperatur T0 vor
oder nach Aufnahme eines Röntgenbilds
für eine
vorgegebene Zeitspanne pulsartig auf einen vergleichsweise hohen
Wert zu setzen. Hierdurch wird die in den Traps angesammelte Ladung
besonders effektiv „ausgeheizt". Nach dem Ausheizpuls
wird zweckmäßigerweise
ein Ausleseprozess initiiert, um die ausgeheizte Ladung aus der
Auslesematrix
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Country Status (1)
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DE (1) | DE10331522B4 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007054893A3 (en) * | 2005-11-09 | 2007-08-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | Method for reducing 3d ghost artefacts in an x-ray detector |
WO2014058501A1 (en) | 2012-10-11 | 2014-04-17 | Laird Technologies, Inc. | Systems and methods for cooling x-ray tubes and detectors |
US9526468B2 (en) | 2014-09-09 | 2016-12-27 | General Electric Company | Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008046289B3 (en) * | 2008-09-08 | 2009-10-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Digital X-ray detector's temperature determining method for producing temperature-corrected X-ray, involves determining temperature of digital X-ray detector at photodiode from reverse-current |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030010925A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Control of temperature of flat panel type of radiation detector |
DE10139234A1 (en) * | 2001-08-09 | 2003-02-27 | Philips Corp Intellectual Pty | X-ray detector with heating device |
DE10138913A1 (en) * | 2001-08-08 | 2003-03-06 | Siemens Ag | Detector module for X-ray computed tomography apparatus, has sensor array and heating element for sensor array that are mounted on front side and back side of printed circuit board, respectively |
-
2003
- 2003-07-11 DE DE10331522A patent/DE10331522B4/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030010925A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Control of temperature of flat panel type of radiation detector |
DE10138913A1 (en) * | 2001-08-08 | 2003-03-06 | Siemens Ag | Detector module for X-ray computed tomography apparatus, has sensor array and heating element for sensor array that are mounted on front side and back side of printed circuit board, respectively |
DE10139234A1 (en) * | 2001-08-09 | 2003-02-27 | Philips Corp Intellectual Pty | X-ray detector with heating device |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007054893A3 (en) * | 2005-11-09 | 2007-08-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | Method for reducing 3d ghost artefacts in an x-ray detector |
US7657001B2 (en) | 2005-11-09 | 2010-02-02 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method for reducing 3D ghost artefacts in an x-ray detector |
WO2014058501A1 (en) | 2012-10-11 | 2014-04-17 | Laird Technologies, Inc. | Systems and methods for cooling x-ray tubes and detectors |
EP2891170A4 (en) * | 2012-10-11 | 2016-01-27 | Laird Technologies Inc | Systems and methods for cooling x-ray tubes and detectors |
US9724059B2 (en) | 2012-10-11 | 2017-08-08 | Laird Technologies, Inc. | Systems and methods for cooling X-ray tubes and detectors |
US10092259B2 (en) | 2012-10-11 | 2018-10-09 | Laird Technologies, Inc. | Systems and methods for cooling X-ray tubes and detectors |
US10327722B2 (en) | 2012-10-11 | 2019-06-25 | Laird Technologies, Inc. | Systems and methods for cooling X-ray tubes and detectors |
US9526468B2 (en) | 2014-09-09 | 2016-12-27 | General Electric Company | Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers |
Also Published As
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