DE10316084A1 - Semiconductor pressure sensor has a tubular resin housing to which a ceramic substrate is glued, with the substrate in turn glued to a pressure sensor chip - Google Patents
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Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Halbleiterdrucksensor.The present invention relates a semiconductor pressure sensor.
Ein herkömmlicher Halbleiterdrucksensor weist einen Halbieiterdrucksensor-Chip auf, der durch ein Anodisierungsverfahren auf einem Glasträger angebracht ist, wobei eine Oberfläche des Glasträgers, bei der es sich nicht um eine Kontaktebene des Glasträgers mit dem Halbleiterdrucksensor-Chip handelt, durch einen Die-Bonding-Prozeß mit einem Klebstoff mit einer geringen Spannung, wie Gummi, gelförmigem Siliconharz oder Epoxidharz mit einem Hauptsubstrat verbunden worden ist.A conventional semiconductor pressure sensor has a Halbieiterdrucksensor chip, by an anodization process on a glass slide is attached, wherein a surface of the glass carrier, at it is not a contact plane of the glass carrier with the semiconductor pressure sensor chip, by a die-bonding process with an adhesive with a low stress, such as rubber, gel silicone resin or epoxy resin has been connected to a main substrate.
Der Halbleiterdrucksensor-Chip weist eine Membran zum Umwandeln eines Drucks in eine Beanspruchung mit einer Druckaufnahmefläche auf der einen Seite, einem Dehnungsmeßelement und einer Elektrode auf einem Einkristall-Siliziumsubstrat auf und wandelt infolge eines Piezo-Widerstandseffektes eine Druckänderung in eine Änderung des elektrischen Widerstandes um, vgl. die nachstehend erläuterte Druckschrift.The semiconductor pressure sensor chip has a membrane for converting a pressure into a stress with a pressure receiving surface on the one hand, a strain gauge and an electrode on a single crystal silicon substrate and converts due to a Piezo-resistance effect a pressure change into a change of the electrical resistance, cf. the following explained document.
Im folgenden wird auf die Japanische
Offenlegungsschrift Nr. Hei 10-332505 Seiten 2 und 3, sowie
Bei dem dort beschriebenen Aufbau ist ein konkaver Bereich annähernd zentral auf der unteren Oberfläche eines aus Harz geformten Harzgehäuses vorgesehen, und ein Klebstoff hält einen Glasträger in dem konkaven Bereich. Wenn das Harzgehäuse somit aufgrund von Temperaturänderungen eine geringfügige Durchbiegung erfährt, tendiert der Glasträger dazu, sich entsprechend der Durchbiegung zu verformen. Um diese Verformung zu verhindern, ist es erforderlich, den Glasträger mit einer größeren Dicke herzustellen, so daß sich insofern ein Problem ergibt, als sich die Baugröße des Halbleiterdrucksensors vergrößert.In the structure described there is a concave area approximate centrally on the lower surface a resin molded resin case provided and an adhesive stops a glass slide in the concave area. If the resin case thus due to temperature changes a minor one Deflection experiences, the glass carrier tends to deform according to the deflection. Around To prevent deformation, it is necessary to use the glass slide a larger thickness produce, so that insofar as a problem arises, as the size of the semiconductor pressure sensor increased.
Die vorliegende Erfindung dient dem Zweck, die oben genannten Probleme zu lösen, und es ist Aufgabe der Erfindung, einen Halbleiterdrucksensor anzugeben, dessen Außenabmessungen verkleinert werden können.The present invention serves the Purpose to solve the above problems, and it is up to the task Invention to provide a semiconductor pressure sensor whose outer dimensions can be downsized.
Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, einen Halbleiterdrucksensor mit einem Drucksensor-Chip anzugeben, der selbst bei einer thermischen Verformung des Harzgehäuses eine hohe Druckmeßgenauigkeit besitzt.An advantage of the invention exists to provide a semiconductor pressure sensor with a pressure sensor chip, the even at a thermal deformation of the resin housing a high pressure measuring accuracy has.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht darin, einen Halbleiterdrucksensor anzugeben, bei dem eine auf eine Klebstoffschicht einwirkende Scherkraft stark verringert ist und ein Drucksensor-Chip eine höhere nominale Ausgangsleistung besitzt.Another advantage of the invention is to provide a semiconductor pressure sensor in which a Shear force acting on an adhesive layer is greatly reduced and a pressure sensor chip has a higher nominal output power has.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht darin, einen Halbleiterdrucksensor anzugeben, bei dem die Festigkeit der Haftverbindung zwischen einem Drucksensor-Chip und einem Keramiksubstrat verbessert ist, wobei ein Effekt zum Abdichten eines Druckpfades (eines Loches, durch welches der Druck entweicht) verstärkt ist.Another advantage of the invention is to provide a semiconductor pressure sensor in which the Strength of the bond between a pressure sensor chip and a ceramic substrate improved, with an effect of sealing a printing path (a hole through which the pressure escapes) is reinforced.
Ein Halbleiterdrucksensor gemäß der vorliegenden
Erfindung weist folgendes auf:
ein tonnenförmiges oder rohrkörperförmiges Harzgehäuse mit
einer Unterseite, die an einem Bodenbereich eine Druckeinlaßbohrung
aufweist, einen auf den Bodenbereich aufgebrachten ersten Klebstoff, ein
Keramiksubstrat mit einer Verbindungsbohrung, die mit der Druckeinlaßbohrung
in Verbindung steht, wobei eine Stirnfläche durch den ersten Klebstoff
gebondet ist, und einen Drucksensor-Chip zum Umwandeln eines durch
die Verbindungsbohrung und die Druckeinlaßbohrung eingeleiteten Druckes
in eine Beanspruchung, wobei der Drucksensor-Chip durch einen zweiten
Klebstoff an das Keramiksubstrat gebondet ist.A semiconductor pressure sensor according to the present invention comprises:
a barrel-shaped or tubular body-shaped resin case having a bottom surface having a pressure inlet bore at a bottom portion, a first adhesive applied to the bottom portion, a ceramic substrate having a communicating bore communicating with the pressure inlet bore, an end surface being bonded by the first adhesive, and a pressure sensor chip for converting a pressure introduced through the communication bore and the pressure inlet bore into a stress, wherein the pressure sensor chip is bonded to the ceramic substrate by a second adhesive.
Die Erfindung wird nachstehend, auch hinsichtlich weiterer Merkmale und Vorteile, anhand der Beschreibung von Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen inThe invention will be below, too in terms of further features and advantages, based on the description of exemplary embodiments and explained in more detail with reference to the accompanying drawings. The Drawings show in
Erste AusführungsformFirst embodiment
Im nachfolgenden wird unter Bezugnahme auf
die
In diesen Figuren ist ein Harzgehäuse
Das Harzgehäuse
Ein erster Klebstoff
Dieser Drucksensor-Chip
Ein Meßdruck wird durch die Verbindungsbohrung
Bei dem oben beschriebenen Aufbau
wird ein Meßdruck
durch die Druckeinlaßbohrung
Bei einer thermischen Verformung
des Harzgehäuses
Zweite AusführungsformSecond embodiment
Im nachfolgenden wird unter Bezugnahme auf
Der konkave Bereich
Des weiteren ist der Klebstoff
Da bei dem oben beschriebenen Aufbau
der Klebstoff
Des weiteren enthält der Klebstoff
Dritte AusführungsformThird embodiment
Im nachfolgenden wird unter Bezugnahme auf
Wenn das Keramiksubstrat
Daher wird die Dicke des Klebstoffs
Andererseits besteht der Klebstoff
Vierte AusführungsformFourth embodiment
Im nachfolgenden wird unter Bezugnahme auf
Beim Bonden des Drucksensor-Chips
Mit der vorliegenden Erfindung wird gemäß der obenstehenden Beschreibung ein Halbleiterdrucksensor angegeben, welcher folgendes aufweist: ein rohrkörperförmiges Harzgehäuse mit einer Unterseite, die an einem Bodenbereich eine Druckeinlaßbohrung aufweist, wobei das eine Ende offen ist; einen auf den Bodenbereich aufgebrachten ersten Klebstoff; ein Keramiksubstrat mit einer Verbindungsbohrung, die mit der Druckeinlaßbohrung in Verbindung steht, wobei eine Stirnfläche durch den ersten Klebstoff gebondet ist; einen auf die weitere Stirnfläche des Keramiksubstrats aufgebrachten zweiten Klebstoff; einen Drucksensor-Chip zum Umwandeln eines durch die Verbindungsbohrung und die Druckeinlaßbohrung eingeleiteten Druckes in eine Beanspruchung, wobei der Drucksensor-Chip durch den zweiten Klebstoff mit dem Keramiksubstrat gebondet ist; und eine Abdeckung zum Bedecken des einen Endes des Harzgehäuses.With the present invention is according to the above Described a semiconductor pressure sensor, which is the following comprising: a tubular body-shaped resin case with a bottom, which at a bottom portion of a pressure inlet bore having one end open; one on the floor area applied first adhesive; a ceramic substrate having a connection bore, the with the pressure inlet hole communicating with an end face through the first adhesive is bonded; a second applied to the further end face of the ceramic substrate second Adhesive; a pressure sensor chip for converting one through the Connecting bore and the pressure inlet bore initiated pressure in a stress, wherein the pressure sensor chip through the second Adhesive is bonded to the ceramic substrate; and a cover for covering the one end of the resin case.
Somit wird eine thermische Beanspruchung auf das Harzgehäuse durch das Keramiksubstrat abgebaut, so daß der Drucksensor-Chip eine höhere Druckmeßgenauigkeit besitzt. Da die Dicke des Keramiksubstrats selbst verringert ist, besitzt der auf dem Bodenbereich des Harzgehäuses befindliche Drucksensor-Chip eine geringere Bauhöhe, so daß die Vorrichtung miniaturisiert wird.Thus, a thermal stress on the resin case degraded by the ceramic substrate, so that the pressure sensor chip a higher pressure measurement accuracy has. Since the thickness of the ceramic substrate itself is reduced, has the pressure sensor chip located on the bottom portion of the resin case a lower height, So that the Device is miniaturized.
Claims (4)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002-326743 | 2002-11-11 | ||
JP2002326743A JP2004163148A (en) | 2002-11-11 | 2002-11-11 | Semiconductor pressure sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10316084A1 true DE10316084A1 (en) | 2004-05-27 |
Family
ID=32211971
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10316084A Withdrawn DE10316084A1 (en) | 2002-11-11 | 2003-04-08 | Semiconductor pressure sensor has a tubular resin housing to which a ceramic substrate is glued, with the substrate in turn glued to a pressure sensor chip |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004163148A (en) |
DE (1) | DE10316084A1 (en) |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004163148A (en) | 2004-06-10 |
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Date | Code | Title | Description |
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8130 | Withdrawal |