DE10310837B4 - Method and device for automatic measurement of stress birefringence on transparent bodies - Google Patents
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Abstract
Verfahren
zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Körpern (5)
mit folgenden Schritten:
1.1 Beleuchten einer Fläche des
transparenten Körpers
(5) mit linear polarisiertem Licht (L1),
1.2 Umwandeln des
aus der Fläche
austretenden, ggf. elliptisch polarisierten, Lichts in linear polarisiertes
Licht (L2),
1.3 Abbilden der Fläche unter Zwischenschaltung
eines um eine z-Achse (z) drehbaren Analysators (7) auf einen im Strahlengang
nachgeordneten relativ zu einer x/y-Ebene feststehenden Flächendetektor
(10) mit einer Vielzahl von in der x/y-Ebene angeordneten Detektorelementen,
1.4
Messen von Intensitäten
des Lichts mit jedem der Detektorelemente ausgehend von einer Nullstellung
unter zunehmenden Drehwinkeln des Analysators (7) und Speichern
desjenigen Drehwinkels des Analysators (7), bei dessen Erreichen
die Intensität
erstmals minimal ist und
1.5 Bestimmung des Gangunterschieds
des Lichts aus dem Drehwinkel des Analysators (7) und Ermittlung
einer die Spannung im Material wiedergebenden Kenngröße. Method for the automatic measurement of stress birefringence on transparent bodies (5), comprising the following steps:
1.1 illuminating a surface of the transparent body (5) with linearly polarized light (L1),
1.2 conversion of light emerging from the surface, possibly elliptically polarized, into linearly polarized light (L2),
1.3 imaging of the surface with the interposition of an about a z-axis (z) rotatable analyzer (7) on a downstream in the beam path relative to an x / y plane surface detector (10) having a plurality of arranged in the x / y-plane detector elements,
1.4 measuring intensities of the light with each of the detector elements starting from a zero position under increasing angles of rotation of the analyzer (7) and storing that angle of rotation of the analyzer (7) at which the intensity is at first minimal and
1.5 Determination of the path difference of the light from the rotation angle of the analyzer (7) and determination of a voltage reproducing the material in the characteristic.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Körpern.The The invention relates to a method and a device for automatic Measurement of stress birefringence on transparent bodies.
Spannungen verursachen in transparenten Körpern, z. B. Gläsern, Kunststoffen und dgl., eine Spannungsdoppelbrechung. Durch die Spannungsdoppelbrechung wird linear polarisiertes Licht, das um 45 Grad zu den Hauptspannungsrichtungen geneigt ist, in elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt. Das elliptisch polarisierte Licht kann mit einer Viertelwellenplatte, deren optische Hauptachse parallel zur Polarisationsachse steht, wieder in linear polarisiertes Licht umgewandelt werden. Die Polarisationsrichtung dieses umgewandelten linear polarisierten Lichts ist in einem Winkel α gegenüber der ursprünglichen Richtung verdreht. Mittels eines Analysators kann der Winkel α bestimmt werden. Der Analysator wird dazu solange gedreht, bis eine maximale Abdunklung des beobachteten Punkts erreicht wird. Aus dem gemessenen Winkel α kann dann nach der spannungsoptischen Grundgleichung die Spannung bestimmt werden. Das beschriebene Verfahren wird auch als Senarmont-Verfahren bezeichnet.tensions cause in transparent bodies, z. Glasses, Plastics and the like, a stress birefringence. By the stress birefringence becomes linearly polarized light that is 45 degrees to the main stress directions tilted, converted into elliptically polarized light. The elliptically polarized light can be used with a quarter wave plate, whose main optical axis is parallel to the polarization axis, be converted back into linearly polarized light. The polarization direction This converted linearly polarized light is at an angle α to the original Direction twisted. By means of an analyzer, the angle α can be determined become. The analyzer is rotated until a maximum Darkening of the observed point is achieved. From the measured Angle α can then determines the voltage according to the voltage-optical basic equation become. The described method is also called Senarmont method designated.
Aus
der
Aus
der
Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile nach dem Stand der Technik zu beseitigen. Es sollen insbesondere ein Verfahren und eine Vorrichtung angegeben werden, mit denen einfach und schnell ortsaufgelöst die Spannungen oder dazu korrespondierende Kenngrößen gemessen werden können. Nach einem weiteren Ziel der Erfindung soll bei bekannter Körpergeometrie und bei Verwendung von Erfahrungswissen auch eine Unterscheidung zwischen Druck- und Zugspannungen möglich sein.task The invention is to the disadvantages of the prior art remove. It is intended in particular a method and a device be specified, with which easily and quickly spatially resolved the voltages or corresponding characteristic quantities can be measured. After one Another object of the invention is known body geometry and use of experience also a distinction between printing and Tensile stresses possible be.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale der Ansprüche 1 und 22 gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen ergeben sich aus den Merkmalen der Ansprüche 2 bis 21 und 23 bis 34.These The object is solved by the features of claims 1 and 22. Advantageous embodiments result from the features of claims 2 to 21 and 23 to 34th
Unter "Licht" wird vorliegend nicht nur Licht im sichtbaren Bereich, sondern auch elektromagnetische Strahlung im Infrarotbereich verstanden.Under "light" is present not only light in the visible range, but also electromagnetic Understood radiation in the infrared range.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird nicht nur ein Punkt des transparenten Körpers, sondern eine Fläche oder ein Flächenabschnitt untersucht. Der transparente Körper wird insgesamt, zumindest aber im Bereich der zu untersuchenden Fläche, mit linear polarisiertem Licht durchstrahlt. Das Licht wird im Körper durch darin enthaltene Spannungen in elliptisch po larisiertes Licht umgewandelt. Das Licht durchläuft dann eine Einrichtung zur Umwandlung des elliptisch polarisierten Lichts in linear polarisiertes Licht. Das aus der Einrichtung austretende linear polarisierte Licht durchläuft einen Analysator und trifft schließlich auf einen Flächendetektor auf. Es wird die gesamte zu untersuchende Fläche auf den Flächendetektor abgebildet. Zur Abbildung kann ein Objektiv vorgesehen sein. Der Flächendetektor ist in x/y-Richtung fest angeordnet und weist in der x/y-Richtung eine Vielzahl von Detektorelementen auf. Mittels der Detektorelemente wird die Intensität des Lichts in der Fläche ortsaufgelöst gemessen, und zwar in Abhängigkeit des Drehwinkels des Analysators. Es wird für jedes Detektorelement der Drehwinkel des Analysators bei Erreichen der minimalen Intensität bestimmt.at the method according to the invention is not just a point of the transparent body, but a surface or a surface section examined. The transparent body is considered in total, or at least in the field of investigation Area, irradiated with linearly polarized light. The light gets through in the body it contained voltages converted into elliptical po larisiert light. The light goes through then a means for converting the elliptically polarized Light in linearly polarized light. The exiting from the institution passes through linearly polarized light an analyzer and finally hits an area detector on. It becomes the entire area to be examined on the area detector displayed. For imaging, a lens may be provided. Of the Area detector is fixed in the x / y direction and has in the x / y direction one Variety of detector elements. By means of the detector elements will the intensity of the Light in the area spatially resolved measured, depending on the angle of rotation of the analyzer. It is for each detector element of Angle of rotation of the analyzer determined on reaching the minimum intensity.
Aus dem Drehwinkel kann der Gangunterschied des Lichts bestimmt werden. Aus dem Gangunterschied wiederum können Kenngrößen wie die Doppelbrechung und damit die Spannung im Material ermittelt werden. Die ermittelten Werte können sodann grafisch als Verteilung der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender Kenngrößen in der Fläche dargestellt werden. Dabei kann der für ein Detektorelement bestimmte Drehwinkel bzw. die daraus ermittelte Kenngröße grafisch als Bildpunkt dargestellt werden.From the angle of rotation, the path difference of the light can be determined. From the path difference in turn, parameters such as birefringence and thus the stress in the material can be determined. The determined values can then be displayed graphically as a distribution of the path differences or corresponding characteristic quantities in the area. In this case, the rotational angle determined for a detector element or the thereof determined characteristic graphically represented as a pixel.
Das linear polarisierte Licht kann durch Einschalten eines Polarisators in den Strahlengang erzeugt werden. Zur Umwandlung des elliptisch polarisierten Lichts in linear polarisiertes Licht wird vorteilhafterweise eine in den Strahlengang eingeschaltete λ/4-Schicht verwendet. Der Analysator ist in Nullstellung zweckmäßigerweise zur Ebene des linear polarisierten Lichts gekreuzt. Die Nullstellung kann vor der Messung automatisch mittels eines geeigneten Algorithmus ermittelt und eingestellt werden.The Linear polarized light can be achieved by switching on a polarizer be generated in the beam path. To convert the elliptical polarized light in linearly polarized light is advantageously used in the beam path λ / 4-layer used. The analyzer is in zero position expediently crossed to the plane of linearly polarized light. The zero position can be measured automatically by means of a suitable algorithm before the measurement be determined and set.
Zur Messung werden zweckmäßigerweise nacheinander eine Mehrzahl an Messsequenzen durchgeführt, wobei während jeder der Messsequenzen der Analysator, ausgehend von der Nullstellung, vorzugsweise schrittweise, um einen vorgegebenen Winkelbetrag, in eine Richtung gedreht wird. Der Analysator kann auch ausgehend von der Nullstellung vorzugsweise schrittweise, um einen vorgegebenen Winkelbetrag in die andere Richtung gedreht werden. Zwei Messsequenzen unterscheiden sich, indem der transparente Körper relativ zum Polarisator bzw. der λ/4-Schicht um einem vorgegebenen Winkel verdreht ist.to Measurement are expediently successively performed a plurality of measurement sequences, wherein during each the measuring sequences of the analyzer, starting from the zero position, preferably gradually, by a predetermined angle, in one direction is turned. The analyzer can also start from the zero position preferably gradually, to a predetermined angle in the other way to be turned. Two measurement sequences differ itself by the transparent body relative to the polarizer or the λ / 4-layer around a given angle is twisted.
Messtechnisch ist es von Vorteil, den von jedem der Detektorelemente gemessenen Intensitätswert und den jeweiligen Drehwinkel des Analysators zu speichern. Für jedes Detektorelement kann ein damit gemessener Intensitätswert verglichen werden und die Messsequenz wird vorteilhafterweise beendet, sobald der für jedes Detektorelement gemessene Intensitätswert erstmals größer ist als der damit vorhergehend gemessene Intensitätswert. Das beschleunigt die Messung.Metrologically it is advantageous to measure that of each of the detector elements intensity value and to store the respective angle of rotation of the analyzer. For each Detector element can be compared with a measured intensity value and the measurement sequence is advantageously terminated as soon as possible the for each detector element measured intensity value is greater for the first time as the previously measured intensity value. That speeds up the Measurement.
Nach einer Ausgestaltung kann/können zwischen zwei Messsequenzen
- a) die λ/4-Schicht und der Polarisator oder
- b) der Körper
- a) the λ / 4 layer and the polarizer or
- b) the body
Durch Vergleich der bei den Messsequenzen für jedes der Detektorelemente gespeicherten Drehwinkel kann ein dem Absolutbetrag nach maximaler Drehwinkel ermittelt werden. Die gemes senen Drehwinkel, insbesondere die maximalen Drehwinkel, können unter Berücksichtigung einer vorgegebenen Dicke des transparenten Körpers korrigiert werden. Anschließend werden zweckmäßigerweise aus dem für jedes der Detektorelemente ermittelten, ggf. maximalen Drehwinkel, der Gangunterschied die Spannungsdoppelbrechung und/oder dazu korrespondierende Kenngrößen errechnet. Der für ein Detektorelement bestimmte, ggf. maximale Drehwinkel, der Gangunterschied, die Spannungsdoppelbrechung und/oder dazu korrespondierende Kenngrößen können grafisch als Bildpunkt dargestellt werden. Jeder von einem Detektorelement gelieferte Wert kann ein Pixel bilden.By Comparison of the measurement sequences for each of the detector elements stored rotation angle can be the absolute amount of maximum rotation angle be determined. The gemes senen rotation angle, in particular the maximum Rotation angle, can considering a predetermined thickness of the transparent body can be corrected. Then be expediently from the for each of the detector elements determined, possibly maximum rotation angle, the path difference the stress birefringence and / or corresponding thereto Characteristics calculated. The for a detector element determined, possibly maximum rotation angle, the path difference, the stress birefringence and / or corresponding parameters can be graphically be represented as a pixel. Each one of a detector element delivered value can make a pixel.
Bei der Verfahrensvariante lit. a) wird der zu untersuchende Körper während der Messung vorteilhafterweise relativ zum Flächendetektor nicht bewegt. Bei dieser Verfahrensvariante werden zwischen den Messsequenzen die λ/4-Schicht und den Polarisator zweckmäßigerweise gleichzeitig und synchron um denselben Winkelbetrag gedreht.at the process variant lit. a) the body to be examined during the Measurement advantageously not moved relative to the area detector. In this process variant, between the measuring sequences the λ / 4 layer and the polarizer expediently simultaneously and synchronously rotated by the same angular amount.
Bei der Verfahrensvariante lit. b) wird der zu untersuchende transparente Körper rotiert. Im Gegensatz zu herkömmlichen Verfahren ist es auch dabei nicht mehr erforderlich, den transparenten Körper zur Bestimmung einer Verteilung der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender Kenngrößen in einem Sektor linear in x- oder y-Richtung zu bewegen. Es wird der Analysator rotiert. Gleichwohl ist es auch möglich, nacheinander benachbarte Sektoren durch eine Rotation des Körpers zu vermessen und dann eine ortsaufgelöste Verteilung der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender Kenngrößen der gesamten vermessenen Fläche grafisch darzustellen.at the process variant lit. b) becomes transparent body rotates. Unlike traditional ones It is also no longer necessary to process the transparent Body to Determination of a distribution of gait differences or corresponding ones Characteristics in one Move sector linearly in the x or y direction. It becomes the analyzer rotates. However, it is also possible to successively adjacent Measure sectors by rotation of the body and then a spatially resolved Distribution of gait differences or corresponding characteristics of the total measured area graphically.
Bei der Verfahrensvariante lit. b) ist die auf den Flächendetektor abgebildete Fläche zweckmäßigerweise ein aus einer Vielzahl von Flächenelementen gebildeter Sektor. Dabei kann der Sektor ein Kreis- oder Ellipsensektor mit einem Sektoren winkel im Bereich größer 0° und kleiner oder gleich 90° sein. Eine solche Sektorgeometrie eignet sich insbesondere zur Bestimmung der Spannungsdoppelbrechung von Böden von Glas- oder Kunststoffbehältern. Der Sektor kann aber auch andere Formen, z.B. rechteckige Formen, annehmen.at the process variant lit. b) is the on the area detector imaged area expediently one of a plurality of surface elements educated sector. The sector may be a circular or elliptical sector with a sector angle in the range greater than 0 ° and less than or equal to 90 °. A Such sector geometry is particularly suitable for determining the Stress birefringence of soils of glass or plastic containers. However, the sector may also have other shapes, e.g. rectangular shapes, accept.
Der Sektor kann in vorgegebene jeweils eine Vielzahl von Flächenelementen aufweisende Sektorabschnitte gegliedert sein, und aus dem für jedes der Flächenelemente gemessenen Gangunterschied kann ein gewichteter Mittelwert der Gangunterschiede für jeden der Sektorabschnitte ermittelt werden. Eine solche Mittelwertbildung beschleunigt die Messung.Of the Sector can be specified in each case a large number of surface elements sector sections, and for each of them surface elements measured retardation can be a weighted average of the gait differences for each the sector sections are determined. Such averaging accelerates the measurement.
Zweckmäßigerweise handelt es sich bei den Sektorabschnitten um Ringabschnitte. Die Intensitätsverteilung kann gleichzeitig in vier Sektoren gemessen werden, wobei die Halbierenden zweier radial benachbarter Sektoren jeweils senkrecht aufeinander stehen. Die Halbierenden der Sektoren schneiden sich zweckmäßigerweise in einer Achse, vorzugsweise der Rotationsachse, des Körpers. Mit den vorgenannten Merkmalen kann besonders schnell ein kreisrunder Boden eines Behälters, beispielsweise einer Flasche, vermessen werden.Expediently, the sector sections are ring sections. The intensity distribution can be measured simultaneously in four sectors, the halves of two radially adjacent sectors each perpendicular to each other. The halves of the sectors expediently intersect in one axis preferably the axis of rotation, of the body. With the aforementioned features, a circular bottom of a container, for example a bottle, can be measured very quickly.
Nach einer weiteren Ausgestaltung wird der Körper nach der ortsaufgelösten Ermittlung der Gangunterschiede im Sektor um einen vorgegebenen Winkel um die z-Achse gedreht und die vorbeschriebene Messung wird für einen angrenzenden Sektor des Körpers wiederholt.To In another embodiment, the body is after the spatially resolved determination the path differences in the sector by a given angle around the rotated z-axis and the above measurement is for a adjacent sector of the body repeated.
Aus der Verteilung der Gangunterschiede aneinander angrenzender Sektoren kann mittels Interpolation eine grafische Darstellung der Verteilung der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender Werte in einer aus sämtlichen Sektoren gebildeten Fläche ausgegeben werden. Zur Korrektur kann z. B. ein Dickenprofil entlang einer Halbierenden des Sektors vorgege ben werden. Die im Sektor gemessenen Werte können dann anhand des Dickenprofils entsprechend der spannungsoptischen Grundgleichung korrigiert werden. Der Mittelwert wird insbesondere auf eine vorgegebene Dicke, z. B. 1 cm, normiert.Out the distribution of the path differences of adjacent sectors can use a graphical representation of the distribution of the Gait differences or corresponding values in one all Sectors formed area be issued. To correct z. B. along a thickness profile be given to a halving of the sector. The in the sector measured values then on the basis of the thickness profile corresponding to the stress-optical Corrected basic equation. The mean will be particular to a predetermined thickness, z. B. 1 cm, normalized.
Nach weiterer Maßgabe der Erfindung ist eine Vorrichtung zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Körpern mit den Merkmalen des Anspruchs 22 vorgesehen.To further requirement The invention relates to a device for the automatic measurement of stress birefringence on transparent bodies provided with the features of claim 22.
Die Vorrichtung ist mit einem relativ in einer x/y-Ebene feststehenden Flächendetektor mit einer Vielzahl in x/y-Richtung angeordneten Detektorelementen zur ortsaufgelösten Messung der Intensitätswerte des aus dem Analysator austretenden Lichts versehen. Ein solcher Flächendetektor ermöglicht eine rasche ortsaufgelöste Darstellung der Spannungen in transparenten Körpern. Ferner umfasst die Vorrichtung einen Computer zum Speichern, Vergleichen und Auswerten der gemessenen Intensitäten und Drehwinkel des Analysators gemäß einem vorgegebenen Programm.The Device is fixed with a relatively fixed in an x / y plane area detector with a multiplicity in the x / y direction arranged detector elements for spatially resolved measurement of the intensity values of the light exiting the analyzer. Such a area detector allows one rapid spatially resolved Representation of the stresses in transparent bodies. Furthermore, the device comprises a computer for storing, comparing and evaluating the measured Intensities and Angle of rotation of the analyzer according to a predetermined program.
Die Einrichtung zur Erzeugung linear polarisierten Lichts kann eine im Wesentlichen monochromatische Lichtquelle und einen nachgeschalteten Polarisator aufweisen. Bei der monochromatischen Lichtquelle kann es sich beispielsweise um ein Leuchtdiodenfeld oder auch Laser handeln, die Strahlung im sichtbaren oder infraroten Wellenlängenbereich abgeben.The Device for generating linearly polarized light can be a essentially monochromatic light source and a downstream polarizer exhibit. For example, the monochromatic light source may be to a light emitting diode field or also laser, the radiation in the emit visible or infrared wavelength range.
Die Einrichtung zur Aufnahme des Körpers kann eine Einrichtung zum Rotieren des Körpers um einen vorgegebenen Winkelbetrag um die z-Achse sein. Die Einrichtung zur Aufnahme kann einen, vorzugsweise mit einem ersten Schrittmotor drehbaren, transparenten Probenteller aufweisen.The Device for receiving the body can means for rotating the body by a predetermined amount Be angular amount about the z-axis. The device for recording can a, preferably rotatable with a first stepper motor, transparent Have sample tray.
Bei dem Probenteller handelt es sich zweckmäßigerweise um eine im Wesentlichen spannungsfreie Scheibe. Es kann ferner ein zweiter Schrittmotor zum Drehen des Analysators vorgesehen sein. Mit dem zweiten Schrittmotor kann der Analysator um vorgegebene Winkelbeträge, z. B. 0,5°, gedreht werden.at The sample tray is expediently essentially one tension-free disc. It can also be a second stepper motor for Turning the analyzer may be provided. With the second stepper motor the analyzer can by predetermined angle amounts, z. B. 0.5 °, rotated become.
Die Einrichtung zum Umwandeln ist zweckmäßigerweise eine, vorzugsweise um die z-Achse drehbare, λ/4-Schicht. Nach einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung ist ein dritter Schrittmotor zum Drehen der λ/4-Schicht vorgesehen. Auch der Polarisator kann um die z-Achse drehbar sein. In diesem Fall kann ein vierter Schrittmotor zum Drehen des Polarisators vorgesehen sein. Zweckmäßigerweise ist dann eine Einrichtung zum synchronen Drehen der λ/4-Schicht und des Polarisators um einen vorgegebenen Winkel vorgesehen. In diesem Fall muss der zu untersuchende Körper nicht bewegt werden. Vor der Aufnahme einer Messsequenz genügt es, die λ/4-Schicht und einen Polarisator vorzugsweise gleichzeitig um einen identischen Winkelbetrag in die gleiche Richtung zu drehen.The Device for converting is expediently one, preferably rotatable about the z-axis, λ / 4-layer. According to a particularly advantageous embodiment is a third Stepping motor for turning the λ / 4-layer intended. Also, the polarizer may be rotatable about the z-axis. In this case, a fourth stepper motor can be used to rotate the polarizer be provided. Appropriately, is then means for synchronously rotating the λ / 4 layer and the polarizer provided by a predetermined angle. In this case, the must body to be examined not to be moved. Before taking a measurement sequence, it is sufficient to use the λ / 4 layer and a polarizer, preferably one identical at a time Angle amount to turn in the same direction.
Bei dem Flächendetektor kann es sich um eine im sichtbaren oder infraroten Wellenlängenbereich empfindliche CCD- oder CMOS-Kamera handeln. In diesem Fall entspricht ein Pixel einem Detektorelement.at the area detector it can be one in the visible or infrared wavelength range sensitive CCD or CMOS camera. In this case corresponds a pixel to a detector element.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist ein elektrischer Antrieb zum Bewegen des Flächenelements parallel zur z-Achse vorgesehen. Ein solcher Antrieb ermöglicht ein automatisches Einstellen der auf den Flächendetektor abgebildeten läche.To A further advantageous embodiment is an electrical Drive for moving the surface element provided parallel to the z-axis. Such a drive allows a automatic adjustment of the area imaged on the area detector.
Nach einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung ist der Computer zur automatischen Steuerung der Schrittmotoren vorgesehen.To a particularly advantageous embodiment of the computer is the automatic control of the stepper motors provided.
Der Computer ist ferner mit einem Bildschirm ausgestattet, auf dem die ortsaufgelöste Messung der Drehwinkel, der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender Kenngrößen sofort dargestellt werden kann.Of the Computer is also equipped with a screen on which the spatially resolved Measurement of the angles of rotation, the path differences or corresponding ones Characteristics immediately can be represented.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:following Be exemplary embodiments of Invention with reference to the drawing explained. It demonstrate:
Eine
z-Achse ist mit dem Bezugszeichen z bezeichnet. Die CCD-Kamera
Zur
Beschleunigung der Messung hat es sich als zweckmäßiger erwiesen,
die Sektoren a, b, c, d – wie
in
Nach
einem Ausgestaltungsmerkmal der Erfindung ist es möglich, den
transparenten Körper
Zur
Darstellung der Verteilung der Gangunterschiede oder dazu korrespondierender
Kenngrößen über die
gesamte vermessene Fläche
kann zwischen den in
Die
Funktion der beschrieben Vorrichtung ist folgende: Im Wesentlichen
monochromatisches Licht durchdringt den unter 45° zu den Hauptspannungsrichtungen
stehenden Polarisator
Zu
Beginn der Messung ist der Analysator
Nach
der Durchführung
einer Messsequenz können
die Messwerte unter Berücksichtigung
des Rotationswinkels des Körpers
korrigiert werden. Es liegen nun für den jeweiligen Sektor a,
b, c, d sämtliche
minimalen Intensitätswerte
und dazu die korrespondierenden Drehwinkel des Analysators
Nach
einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung wird vor der Messung
ein Dickenprofil des durchstrahlten transparenten Körpers
Des
Weiteren ist es vorteilhaft, vor der eigentlichen Vermessung des
transparenten Körpers
Die
Funktion der Vorrichtung ist folgende:
Vor dem Beginn einer
Messsequenz wird die Vorrichtung kalibriert. Dazu wird mittels eines
geeigneten Algorithmus die λ/4-Schicht
Before starting a measurement sequence, the device is calibrated. For this purpose, by means of a suitable algorithm, the λ / 4-layer
Anschließend erfolgt
eine Hintergrundmessung. Dabei werden die Eigenspannungen des Probentellers
Zur
ortsaufgelösten
Messung der Spannungen in einem transparenten Körper
Zwischen
zwei Messsequenzen werden die λ/4-Schicht
Anschließend können die
ermittelten Drehwinkel jeder Messsequenz für jedes Detektorelement durch Überlagerungen
der Einzelwerte ausgewertet werden. Es wird für jedes Detektorelement zweckmäßigerweise
ein Maximalwert des gemessenen Drehwinkels des Analysators
Selbstverständlich können die Drehwinkel unter Berücksichtigung des Hintergrundes korrigiert und weiterhin unter Berücksichtigung der Dicke bzw. der Verteilung der Dicke des transparenten Körpers normiert werden.Of course, the Turning angle under consideration the background corrected and continue considering the thickness or the distribution of the thickness of the transparent body normalized become.
Die ermittelten Ergebnisse können als farbcodierte zweidimensionale Darstellung auf einem Bildschirm oder einem Drucker ausgegeben werden.The determined results can as a color-coded two-dimensional representation on a screen or a printer.
- 11
- Lichtquellelight source
- 22
- Polarisatorpolarizer
- 33
- Probentellersample tray
- 44
- erster Schrittmotorfirst stepper motor
- 55
- transparenter Körpertransparent body
- 66
- λ/4-Schichtλ / 4 layer
- 77
- Analysatoranalyzer
- 88th
- zweiter Schrittmotorsecond stepper motor
- 99
- Objektivlens
- 1010
- CCD-KameraCCD camera
- 1111
- Computercomputer
- 1212
- dritter Schrittmotorthird stepper motor
- 1313
- vierter Schrittmotorfourth stepper motor
- a, b, c, da, b, c, d
- Sektorsector
- a1, b1, c1, d1a1, b1, c1, d1
- Halbierendebisector
- zz
- z-Achsez-axis
- ff
- Flächenelementsurface element
- ss
- Sektorabschnittsector section
- MM
- Mittelwert-FlächenelementMean surface element
- L1, L2L1, L2
- linear polarisiertes Lichtlinear polarized light
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Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004051247B3 (en) * | 2004-10-20 | 2006-04-06 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Fast measurement of high path differences of birefringent media with and without false colors by simultaneous combination of the multicolor Senarmont method with discrete Fourier analysis |
AT515523B1 (en) * | 2014-04-07 | 2015-10-15 | Hans Höllwart Forschungszentrum Für Integrales Bauwesen Ag | Method and device for characterizing stresses in a flat, transparent article |
CN104089728A (en) * | 2014-06-26 | 2014-10-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | Stress detection device and method of light-transmitting structure |
DE102015220307A1 (en) * | 2015-10-19 | 2017-04-20 | MTU Aero Engines AG | Method for the additive production of a component, in particular a component for an aircraft engine |
DE102016218390B3 (en) * | 2016-09-23 | 2018-02-01 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Measuring arrangement and method for measuring mechanical stresses |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4123936A1 (en) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Automatic, non-contact filament prodn. test - has continuous laser monitoring of cross=section and quality, measuring thread double diffraction by phase difference |
DE19529899A1 (en) * | 1995-08-14 | 1996-03-07 | Thueringisches Inst Textil | Measuring birefringence of filament yarns |
DE19819670A1 (en) * | 1998-05-02 | 1998-11-26 | Thueringisches Inst Textil | Measuring high phase differences in samples |
US6157448A (en) * | 1999-10-08 | 2000-12-05 | Uniopt Co., Ltd. | Birefringence measurement optical system and high spatial resolution polarimetric apparatus |
DE19953527A1 (en) * | 1999-11-05 | 2001-05-10 | Schott Rohrglas Gmbh | Process for automatically measuring the birefringence of transparent bodies, e.g., glass, comprises radiating sample with polarized light beam, receiving the intensity of the transmitted light of the sample and determining the phase shift |
JP2001228034A (en) * | 2000-02-14 | 2001-08-24 | Fuji Electric Co Ltd | Measurement method of internal stress state of disk substrate |
-
2003
- 2003-03-11 DE DE10310837A patent/DE10310837B4/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4123936A1 (en) * | 1991-07-19 | 1993-01-21 | Thueringische Faser Ag Schwarz | Automatic, non-contact filament prodn. test - has continuous laser monitoring of cross=section and quality, measuring thread double diffraction by phase difference |
DE19529899A1 (en) * | 1995-08-14 | 1996-03-07 | Thueringisches Inst Textil | Measuring birefringence of filament yarns |
DE19819670A1 (en) * | 1998-05-02 | 1998-11-26 | Thueringisches Inst Textil | Measuring high phase differences in samples |
US6157448A (en) * | 1999-10-08 | 2000-12-05 | Uniopt Co., Ltd. | Birefringence measurement optical system and high spatial resolution polarimetric apparatus |
DE19953527A1 (en) * | 1999-11-05 | 2001-05-10 | Schott Rohrglas Gmbh | Process for automatically measuring the birefringence of transparent bodies, e.g., glass, comprises radiating sample with polarized light beam, receiving the intensity of the transmitted light of the sample and determining the phase shift |
JP2001228034A (en) * | 2000-02-14 | 2001-08-24 | Fuji Electric Co Ltd | Measurement method of internal stress state of disk substrate |
Also Published As
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