DE10248964A1 - Production of aluminum nitride crystals comprises embedding an arrangement of heating elements in a highly pure aluminum nitride powder, heating in an atmosphere of nitrogen or a mixture of nitrogen and hydrogen, and further processing - Google Patents
Production of aluminum nitride crystals comprises embedding an arrangement of heating elements in a highly pure aluminum nitride powder, heating in an atmosphere of nitrogen or a mixture of nitrogen and hydrogen, and further processing Download PDFInfo
- Publication number
- DE10248964A1 DE10248964A1 DE10248964A DE10248964A DE10248964A1 DE 10248964 A1 DE10248964 A1 DE 10248964A1 DE 10248964 A DE10248964 A DE 10248964A DE 10248964 A DE10248964 A DE 10248964A DE 10248964 A1 DE10248964 A1 DE 10248964A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- aluminum nitride
- heating elements
- heating
- ain
- cavity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/40—AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung von Kristallen aus Aluminiumnitrid AIN durch Sublimation und teilweiser Zersetzung von Aluminiumnitrid-Pulver. Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf die Herstellung von Aluminiumnitrid-Volumeneinkristallen mit hoher Reinheit, die für die Anwendung in der Halbleitertechnik geeignet sind.The invention relates to a Process for the production of crystals from aluminum nitride AIN by sublimation and partial decomposition of aluminum nitride powder. In particular The invention relates to the production of aluminum nitride bulk single crystals with high purity, for those Application in semiconductor technology are suitable.
Kristalle aus Aluminiumnitrid AIN besitzen aufgrund ihrer physikalischen und elektrischen Eigenschaften Einsatzmöglichkeiten in vielen Anwendungsgebieten der Elektronik und Halbleitertechnik. AIN besitzt eine große Bandlücke von etwa 6,2 eV, eine hohe Durchbruchfeldstärke von etwa 1,5 MV/cm und eine hohe Wärmeleitfähigkeit von etwa 2,85 W/m·K und ist somit sehr gut als Halbleitermaterial für Hochspannungs- und Hochleistungsbauelemente geeignet. Die Bandbreite von Oberflächenwellenfiltern aus Lithiumtantalat LiTaO3 kann durch den Einsatz des Werkstoffes AIN aufgrund dessen hoher piezoelektrischen Konstante und dessen hoher Schallgeschwindigkeit wesentlich erweitert werden. Mit AIN entsteht somit die Möglichkeit, verbesserte Frequenzfilter einzusetzen, wie sie für die Informationstechnologie benötigt werden.Due to their physical and electrical properties, crystals made of aluminum nitride AIN can be used in many areas of application in electronics and semiconductor technology. AIN has a large band gap of approximately 6.2 eV, a high breakdown field strength of approximately 1.5 MV / cm and a high thermal conductivity of approximately 2.85 W / m · K and is therefore very well suited as a semiconductor material for high-voltage and high-performance components , The range of surface wave filters made of lithium tantalate LiTaO 3 can be significantly expanded by using the material AIN due to its high piezoelectric constant and its high speed of sound. AIN thus creates the possibility of using improved frequency filters, as are required for information technology.
Aufgrund seiner hohen Wärmeleitfähigkeit, Transparenz im sichtbaren und im nahen ultravioletten Wellenlängenbereich sowie der Möglichkeit, sowohl n- als auch p-leitendes AIN durch Dotierung herzustellen, kann AIN als vorteilhaftes Substratmaterial für Halbleiterbauelemente auf der Basis von Gruppe-III-Nitriden (Aluminiumnitrid AIN, Galliumnitrid GaN und Indiumnitrid InN sowie deren Legierungen wie z.B. GaxAl1–xN, GaxIn1–xN und AlxIn1–xN) gelten. Diese Gruppe-III-Nitride werden benutzt oder erforscht für die Herstellung von Leuchtdioden (LEDs), optischen Detektoren für den ultravioletten Wellenlängenbereich sowie blauen oder ultravioletten LASERn zur Verwendung für optische Speichermedien mit hoher Aufzeichnungsdichte wie CD (Compact Disc) und DVD (Digital Versatile Disc), in der Medizintechnik und in der Projektions- und Anzeigetechnik. Weitere Anwendungsmöglichkeiten für AIN-Kristalle mit hohem Marktpotenzial bestehen in der Hochleistungs-, Hochfrequenz- und Hochtemperaturelektronik, in der Optoelektronik sowie bei Filtern in der optischen Datenübertragung und für Funk-, Mikrowellen- und Radarfrequenzen.Due to its high thermal conductivity, transparency in the visible and near ultraviolet wavelength range and the possibility of producing both n- and p-type AIN by doping, AIN can be used as an advantageous substrate material for semiconductor components based on group III nitrides (aluminum nitride AIN, Gallium nitride GaN and indium nitride InN and their alloys such as Ga x Al 1 – x N, Ga x In 1 – x N and Al x In 1 – x N) apply. These Group III nitrides are used or researched for the manufacture of light emitting diodes (LEDs), optical detectors for the ultraviolet wavelength range and blue or ultraviolet LASERs for use in optical storage media with high recording density such as CD (Compact Disc) and DVD (Digital Versatile Disc) ), in medical technology and in projection and display technology. Other possible uses for AIN crystals with high market potential are in high-performance, high-frequency and high-temperature electronics, in optoelectronics and in filters in optical data transmission and for radio, microwave and radar frequencies.
Nach dem Stand der Technik werden Gruppe-III-Nitride auf einkristallinen Substraten zumeist aus Siliziumkarbid SiC oder Aluminiumoxid (Saphir) Al2O3 epitaktisch aufgebracht. Aufgrund der unterschiedlichen Gitterkonstanten und dem unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten zwischen Substrat und Schichtmaterial sowie der schlechten Wärmeleitfähigkeit des Substrates im Falle des Saphirs besitzen die aufgebrachten Schichten zumeist hohe innere Spannungen und damit eine hohe Defektdichte. Die Verwendung von AIN-Substraten kann zu einer Verbesserung der kristallinen Qualität der aufgebrachten Schichten führen. Der Unterschied in den Gitterkonstanten geeigneter kristallographischer Flächen, bezogen auf GaN als Schichtmaterial, ist im Falle des AIN deutlich geringer als derjenige bei Verwendung von SiC bzw. Al2O3. Er nimmt weiter ab, wenn an Stelle von GaN Legierungen von Gruppe-III-Nitriden mit höherem Aluminiumgehalt als Schichtmaterial eingesetzt werden.According to the prior art, group III nitrides are applied epitaxially to monocrystalline substrates, usually made of silicon carbide SiC or aluminum oxide (sapphire) Al 2 O 3 . Due to the different lattice constants and the different coefficient of thermal expansion between the substrate and the layer material and the poor thermal conductivity of the substrate in the case of sapphire, the layers applied mostly have high internal stresses and thus a high defect density. The use of AIN substrates can lead to an improvement in the crystalline quality of the applied layers. The difference in the lattice constants of suitable crystallographic surfaces, based on GaN as layer material, is significantly smaller in the case of AIN than that when using SiC or Al 2 O 3 . It continues to decrease if, instead of GaN, alloys of group III nitrides with a higher aluminum content are used as the layer material.
Unter Bezugnahme auf das wohlbekannte Herstellungsverfahren
von Siliziumkarbid SiC (beschrieben durch Jan Anthony Lely, Deutsches
Patent
Es ist bekannt, dass AIN erst bei Temperaturen von mehr als etwa 2000°C durch Dissoziation in gasförmiges Aluminium und gasförmigen Stickstoff einen für die Sublimation ausreichenden Partialdampfdruck besitzt. Deshalb ist es schwierig, ein geeignetes Tiegelmaterial für die Sublimationszüchtung von AIN zu finden. Dieses Problem wird ausführlich von G. A. Slack und T. F. McNelly beschrieben (G. A. Slack und T. F. McNelly, Journal of Crystal Growth, Band 34 (1976), Seiten 263 bis 279; G. A. Slack und T. F. McNelly, Journal of Crystal Growth, Band 42 (1977), Seiten 560 bis 563; G. A. Slack, Materials Research Society Symposium Proceedings, Band 512 (1998), Seiten 35 bis 40), die Wolfram W als das einzige Material beschreiben, das den bei der Sublimation von AIN entstehenden Spezies für die Dauer eines Züchtungsvorganges von etwa 100 Stunden widerstehen kann. G. A. Slack und T. F. McNelly beschreiben jedoch, dass auch Wolfram als Tiegelmaterial während der Sublimationszüchtung von AIN einer spezifischen intergranularen Erosion unterliegt, die die Gasdichtheit und die Integrität des Wolframtiegels beeinträchtigen und zum Austritt von Aluminiumdampf aus dem Tiegel führen kann. Deshalb können AlN-Einkristalle auf diesem Wege nur mit einer sehr geringen Wachstumsrate hergestellt werden.It is known that AIN has a partial vapor pressure sufficient for sublimation only at temperatures of more than about 2000 ° C. by dissociation in gaseous aluminum and gaseous nitrogen. It is therefore difficult to find a suitable crucible material for the sublimation cultivation of AIN. This problem is described in detail by GA Slack and TF McNelly (GA Slack and TF McNelly, Journal of Crystal Growth, Volume 34 (1976), pages 263 to 279; GA Slack and TF McNelly, Journal of Crystal Growth, Volume 42 (1977) , Pages 560 to 563; GA Slack, Materials Research Society Symposium Proceedings, volume 512 (1998), pages 35 to 40), which describe Wolfram W as the only material that the species formed in the sublimation of AIN for the duration of a breeding process of around 100 hours. However, GA Slack and TF McNelly describe that also tungsten as crucible material during the sublimation growth of AIN egg It is subject to specific intergranular erosion that affects the gas tightness and integrity of the tungsten crucible and can lead to the escape of aluminum vapor from the crucible. Therefore, AlN single crystals can only be produced in this way with a very low growth rate.
Es sind weiter Versuche bekannt,
einen zur Sublimation von AIN geeigneten Tiegel aus den Werkstoffen
Graphit, Siliziumkarbid SiC bzw. Bornitrid BN oder Kombinationen
dieser Werkstoffe herzustellen und einzusetzen (beschrieben durch
C. M. Balkas, Z. Sitar, T. Zheleva, L. Bergman, R. Nemanich und
R. F. Davis, Journal of Crystal Growth, Band 179 (1997), Seiten
363 bis 370; R. Schlesser und Z. Sitar, Journal of Crystal Growth,
Band 234 (2002) Seiten 349 bis 353; C. E. Hunter, US-amerikanisches Patent
Mit den bekannten Verfahren ist es also nicht möglich, AIN-Kristalle mit großen Abmessungen und einer für die Halbleitertechnik ausreichenden Reinheit bzw. geeigneten Zusammensetzung effektiv herzustellen.With the known methods it is so not possible AIN crystals with large Dimensions and one for the semiconductor technology of sufficient purity or suitable composition to manufacture effectively.
Das oben beschriebene Problem wird nun erfindungsgemäß gelöst, indem die Sublimation in einem Züchtungsraum erfolgt, der von Aluminiumnitrid selbst begrenzt und abgeschlossen wird, d.h. die Züchtung von AIN-Kristallen erfolgt ohne Benutzung eines Tiegels (Behälters) aus einem anderen Material als AIN.The problem described above will now solved according to the invention by sublimation in a breeding room done, which is limited and completed by aluminum nitride itself will, i.e. the breeding AIN crystals are made without the use of a crucible (container) a material other than AIN.
Aluminiumnitrid in ausreichend hoher
Reinheit ist kommerziell ausschließlich in Form eines feinen,
losen Pulvers mit Korngrößen zwischen
1 μm und
50 μm verfügbar. AIN-basierte
Keramik, aus der gasdichte Bauteile wie z.B. Tiegel und Röhren hergestellt
werden können
(F. Aldinger und andere, Deutsches Patent
Zur Erläuterung der Erfindung wird
auf
In der in
Nach der Bildung eines ausreichenden
Hohlraumes
Im nächsten Schritt wird der Behälter mit dem
innenliegenden Züchtungsraum
und der Keimscheibe auf die gewünschte
Züchtungstemperatur gebracht.
Durch die Erzeugung geeigneter Temperaturgradienten für den Sublimationsvorgang
von AIN wächst
mindestens ein AIN-Volumenkristall
Es ist bekannt, dass die Verdampfung
bzw. Zersetzung von Pulvern aus Gruppe-III-Nitriden durch die Anwesenheit von Sauerstoff,
Kohlenstoff oder beiden Elementen unterstützt wird, und dass hierdurch
der Gastransport im Züchtungssystem
beschleunigt werden kann (M. Tanaka und K. Sogabe, Europäisches Patent
In einer weiteren, besonders vorteilhaften Anordnung
zur Durchführung
der Erfindung wird anstelle einer Anordnung von Heizelementen
In einer weiteren, besonders vorteilhaften Anordnung
zur Durchführung
der Erfindung wird der Behälter
mit dem innenliegenden Züchtungsraum
In einer weiteren, besonders vorteilhaften Anordnung
zur Durchführung
der Erfindung wird anstelle des hochreinen AIN-Pulvers
Die Durchführung der Erfindung kann in einem wohlbekannten Standardsystem zur Sublimationszüchtung von Hochtemperaturwerkstoffen erfolgen. Solch ein System beinhaltet eine vakuumdichte, z.B. mit Wasser gekühlten Kammer, in der sich der Behälter mit einer Anordnung von mindestens einem Heizelement, mindestens einem Kühlungskanal und weiteren Strukturen, die die Steuerung und die Kontrolle der Temperaturen und Temperaturgradienten im Hohlraum, im Züchtungsraum sowie im wachsenden Kristall ermöglichen, befindet. Diesem Aufbau kann Heizleistung über die Heizelemente sowohl durch resistive (widerstandsbasierte) Heizung als auch durch induktive Heizung zugeführt werden.The implementation of the invention can in a well known standard system for sublimation cultivation of High temperature materials are made. Such a system includes a vacuum tight, e.g. water-cooled chamber in which the container with an arrangement of at least one heating element, at least one cooling channel and other structures that control and control the Temperatures and temperature gradients in the cavity, in the growing room as well as in the growing crystal, located. This build-up can be achieved both through heating power through the heating elements resistive (resistance based) heating as well as inductive Heating supplied become.
Der Gesamtdruck in der Kammer wird von einem Regelventil, das zwischen der Kammer und einem Vakuum-Pumpensystem angebracht ist, gesteuert. Das Vakuum-Pumpensystem besteht dabei aus einer mechanischen Pumpe und einer Turbomolekularpumpe und ermöglicht es, den Systemdruck in der Kammer auf bis zu 106 mbar abzusenken. Der Gasfluss durch die Gaszuleitungen und somit auch die Zusammensetzung der Atmosphäre in der Kammer wird durch Massenfluss-Steuergeräte gesteuert und kontrolliert. Das Gaszuleitungssystem kann dabei Gase, die als Trägergas wirken wie z.B. Argon Ar, Wasserstoff H2 und Helium He, oder Gase, die zusätzlich als Materialquelle für die Sublimationszüchtung von AIN wirken, wie z.B. Stickstoff N2 und Ammoniak NH3, bereitstellen. In letzterem Fall entsteht durch thermische Zersetzung von Ammoniak NH3 aktiver atomarer Stickstoff, der mit den bei der Sublimationszüchtung gebildeten gasförmigen Al-Spezies reagieren und AIN bilden kann.The total pressure in the chamber is controlled by a control valve located between the chamber and a vacuum pump system. The vacuum pump system consists of a mechanical pump and a turbomolecular pump and enables the system pressure in the chamber to be reduced to up to 10 6 mbar. The gas flow through the gas supply lines and thus also the The composition of the atmosphere in the chamber is controlled and monitored by mass flow controllers. The gas supply system can provide gases that act as carrier gas, such as argon Ar, hydrogen H 2 and helium He, or gases that additionally act as a material source for the sublimation growth of AIN, such as nitrogen N 2 and ammonia NH 3 . In the latter case, thermal decomposition of ammonia produces NH 3 active atomic nitrogen, which can react with the gaseous Al species formed during sublimation growth and form AIN.
Es folgen weitere Anwendungsbeispiele von besonders vorteilhaften Anordnungen zur Durchführung der Erfindung.Further application examples follow of particularly advantageous arrangements for performing the Invention.
Beispiel 1:Example 1:
In der in
Danach wird der Behälter in
zwei Teile
In einer Atmosphäre aus hochreinem Stickstoff
wird der Behälter
auf die Züchtungstemperatur, die
zwischen 1900°C
und 2500°C
liegen kann, gebracht. Hier beginnt das Wachstum eines AIN-Kristalls
Schließlich wird der Behälter wiederum
in zwei Teile entlang der Linie
Beispiel 2:Example 2:
In der in
Danach wird der Behälter in
zwei Teile
Anschließend werden, ebenfalls in analoger Weise
zu Beispiel
- – G. A. Slack und T. F. McNelly, „Growth of High Purity AIN Crystals" Journal of Crystal Growth, Band 34 (1976), Seiten 263 bis 279- G. A. Slack and T. F. McNelly, "Growth of High Purity AIN Crystals "Journal of Crystal Growth, Volume 34 (1976), pages 263 to 279
- – G. A. Slack und T. F. McNelly, „AIN Single Crystals" Journal of Crystal Growth, Band 42 (1977), Seiten 560 bis 563 - G. A. Slack and T. F. McNelly, "AIN Single Crystals "Journal of Crystal Growth, Volume 42 (1977), pages 560 to 563
- – G. A. Slack, „Growth of AIN Single Crystals" Materials Research Society Symposium Proceedings, Band 512 (1998), Seiten 35 bis 40- G. A. Slack, "Growth of AIN Single Crystals "Materials Research Society Symposium Proceedings, Volume 512 (1998), pages 35 to 40
- – C. M. Balkas, Z. Sitar, T. Zheleva, L. Bergman, R. Nemanich und R. F. Davis „Sublimation Growth and Characterization of Bulk Aluminum Nitride Single Crystals" Journal of Crystal Growth, Band 179 (1997), Seiten 363 bis 370- C. M. Balkas, Z. Sitar, T. Zheleva, L. Bergman, R. Nemanich and R. F. Davis “Sublimation Growth and Characterization of Bulk Aluminum Nitride Single Crystals "Journal of Crystal Growth, Vol. 179 (1997), pages 363 to 370
- – R. Schlesser und Z. Sitar, „Growth of Bulk AIN Crystals by Vaporization of Aluminum in a Nitrogen Atmosphere" Journal of Crystal Growth, Band 234 (2002) Seiten 349 bis 353- R. Schlesser and Z. Sitar, "Growth of Bulk AIN Crystals by Vaporization of Aluminum in a Nitrogen Atmosphere "Journal of Crystal Growth, Volume 234 (2002) pages 349 to 353
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10248964A DE10248964B4 (en) | 2002-10-14 | 2002-10-14 | Process for sublimation growth of aluminum nitride single crystals |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10248964A DE10248964B4 (en) | 2002-10-14 | 2002-10-14 | Process for sublimation growth of aluminum nitride single crystals |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10248964A1 true DE10248964A1 (en) | 2004-04-22 |
DE10248964B4 DE10248964B4 (en) | 2011-12-01 |
Family
ID=32038787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10248964A Expired - Fee Related DE10248964B4 (en) | 2002-10-14 | 2002-10-14 | Process for sublimation growth of aluminum nitride single crystals |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10248964B4 (en) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007123735A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-11-01 | Crystal Is, Inc. | Methods for controllable doping of aluminum nitride bulk crystals |
EP1887109A2 (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-13 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride single crystal |
WO2008088838A1 (en) * | 2007-01-17 | 2008-07-24 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US7638346B2 (en) | 2001-12-24 | 2009-12-29 | Crystal Is, Inc. | Nitride semiconductor heterostructures and related methods |
US7641735B2 (en) | 2005-12-02 | 2010-01-05 | Crystal Is, Inc. | Doped aluminum nitride crystals and methods of making them |
US7776153B2 (en) | 2001-12-24 | 2010-08-17 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US8545629B2 (en) | 2001-12-24 | 2013-10-01 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US8580035B2 (en) | 2005-11-28 | 2013-11-12 | Crystal Is, Inc. | Large aluminum nitride crystals with reduced defects and methods of making them |
US9299880B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-03-29 | Crystal Is, Inc. | Pseudomorphic electronic and optoelectronic devices having planar contacts |
DE102014017021A1 (en) | 2014-11-19 | 2016-05-19 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Seed holder of a single crystal growing apparatus, single crystal growing apparatus and composite material |
US9437430B2 (en) | 2007-01-26 | 2016-09-06 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
US9447519B2 (en) | 2006-03-30 | 2016-09-20 | Crystal Is, Inc. | Aluminum nitride bulk crystals having high transparency to untraviolet light and methods of forming them |
US9580833B2 (en) | 2010-06-30 | 2017-02-28 | Crystal Is, Inc. | Growth of large aluminum nitride single crystals with thermal-gradient control |
US9771666B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-09-26 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US10074784B2 (en) | 2011-07-19 | 2018-09-11 | Crystal Is, Inc. | Photon extraction from nitride ultraviolet light-emitting devices |
US10446391B2 (en) | 2007-01-26 | 2019-10-15 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3248103C1 (en) * | 1982-12-24 | 1987-11-12 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Crucible for pulling single crystals |
JP3876473B2 (en) * | 1996-06-04 | 2007-01-31 | 住友電気工業株式会社 | Nitride single crystal and manufacturing method thereof |
-
2002
- 2002-10-14 DE DE10248964A patent/DE10248964B4/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7776153B2 (en) | 2001-12-24 | 2010-08-17 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US9447521B2 (en) | 2001-12-24 | 2016-09-20 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US8545629B2 (en) | 2001-12-24 | 2013-10-01 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US8222650B2 (en) | 2001-12-24 | 2012-07-17 | Crystal Is, Inc. | Nitride semiconductor heterostructures and related methods |
US7638346B2 (en) | 2001-12-24 | 2009-12-29 | Crystal Is, Inc. | Nitride semiconductor heterostructures and related methods |
US8580035B2 (en) | 2005-11-28 | 2013-11-12 | Crystal Is, Inc. | Large aluminum nitride crystals with reduced defects and methods of making them |
US7641735B2 (en) | 2005-12-02 | 2010-01-05 | Crystal Is, Inc. | Doped aluminum nitride crystals and methods of making them |
US9525032B2 (en) | 2005-12-02 | 2016-12-20 | Crystal Is, Inc. | Doped aluminum nitride crystals and methods of making them |
US8747552B2 (en) | 2005-12-02 | 2014-06-10 | Crystal Is, Inc. | Doped aluminum nitride crystals and methods of making them |
US8012257B2 (en) | 2006-03-30 | 2011-09-06 | Crystal Is, Inc. | Methods for controllable doping of aluminum nitride bulk crystals |
CN101454487B (en) * | 2006-03-30 | 2013-01-23 | 晶体公司 | Methods for controllable doping of aluminum nitride bulk crystals |
WO2007123735A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-11-01 | Crystal Is, Inc. | Methods for controllable doping of aluminum nitride bulk crystals |
US9447519B2 (en) | 2006-03-30 | 2016-09-20 | Crystal Is, Inc. | Aluminum nitride bulk crystals having high transparency to untraviolet light and methods of forming them |
EP1887109A2 (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-13 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride single crystal |
EP1887109A3 (en) * | 2006-08-01 | 2009-02-11 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride single crystal |
US9624601B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-04-18 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
WO2008088838A1 (en) * | 2007-01-17 | 2008-07-24 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US8323406B2 (en) | 2007-01-17 | 2012-12-04 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US9670591B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-06-06 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US9771666B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-09-26 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US9437430B2 (en) | 2007-01-26 | 2016-09-06 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
US10446391B2 (en) | 2007-01-26 | 2019-10-15 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
US9580833B2 (en) | 2010-06-30 | 2017-02-28 | Crystal Is, Inc. | Growth of large aluminum nitride single crystals with thermal-gradient control |
US10074784B2 (en) | 2011-07-19 | 2018-09-11 | Crystal Is, Inc. | Photon extraction from nitride ultraviolet light-emitting devices |
US9299880B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-03-29 | Crystal Is, Inc. | Pseudomorphic electronic and optoelectronic devices having planar contacts |
DE102014017021A1 (en) | 2014-11-19 | 2016-05-19 | Forschungsverbund Berlin E.V. | Seed holder of a single crystal growing apparatus, single crystal growing apparatus and composite material |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10248964B4 (en) | 2011-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10248964B4 (en) | Process for sublimation growth of aluminum nitride single crystals | |
JP5304793B2 (en) | Method for producing silicon carbide single crystal | |
DE3855539T2 (en) | SUBLIMATION GROWTH OF SILICON CARBIDE CRYSTALS | |
EP1567696B1 (en) | Method and device for aln single crystal production with gas-permeable crucible walls | |
US5433167A (en) | Method of producing silicon-carbide single crystals by sublimation recrystallization process using a seed crystal | |
DE112019003108B4 (en) | Method for improving the ultraviolet (UV) transparency of a single-crystal AlN bulk crystal, single-crystal AlN bulk crystal with improved ultraviolet (UV) transparency, method for producing single-crystal aluminum nitride (AlN), single-crystal aluminum nitride (AlN), AlN single crystal, use of an AlN single crystal for the production of a light-emitting diode (LED) and polycrystalline AlN ceramic | |
US5746827A (en) | Method of producing large diameter silicon carbide crystals | |
JP4122548B2 (en) | Method for producing silicon carbide single crystal | |
DE3230727C2 (en) | Process for producing single crystals of silicon carbide SiC | |
DE60125689T2 (en) | Method and apparatus for producing silicon carbide crystals using source gases | |
DE112018005414T5 (en) | Large, UV-transparent aluminum nitride single crystals and process for their production | |
EP1852527A1 (en) | Silicon carbide single crystal, silicon carbide single crystal wafer, and process for producing the same | |
CN102051589B (en) | Method for preparing amorphous silicon carbide film and epitaxial film at low temperature | |
DE10320133A1 (en) | Single crystal diamond layer and process for its production | |
DE69712520T2 (en) | BREEDING OF SILICON CARBIDE CRYSTALS | |
DE112020003863T5 (en) | DIAMETER EXPANSION OF ALUMINUM NITRIDE CRYSTALS | |
DE69705545T2 (en) | DEVICE FOR GROWING LARGE SILICON CARBIDE CRYSTALS | |
JPH1067600A (en) | Single crystal silicon carbide ingot and method for producing the same | |
DE3514294A1 (en) | SEMI-INSULATING GALLIUM ARSENIDE CRYSTALS DOPED WITH INDIUM AND METHOD FOR THEIR PRODUCTION | |
DE102009048868B4 (en) | Production method of SiC bulk single crystal by a thermal treatment and low-resistance SiC single-crystal substrate | |
DE68901735T2 (en) | METHOD FOR PRODUCING SEMI-CONDUCTING CRYSTALS. | |
DE102022119343B4 (en) | Crystal growing device, method for growing a semiconductor, semiconductor and its use and semiconductor substrate | |
JP5636353B2 (en) | Method for producing SiC single crystal | |
DE60024667T2 (en) | SIC-EINKRISTALL AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR | |
DE102009016131B4 (en) | Production method of a SiC bulk single crystal by means of a gas barrier and low-dislocation monocrystalline SiC substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BICKERMANN, MATTHIAS, DR., 90522 OBERASBACH, DE |
|
8141 | Disposal/no request for examination | ||
8170 | Reinstatement of the former position | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: CRYSTAL-N GMBH, 91058 ERLANGEN, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: CRYSTAL-N GMBH, DE Free format text: FORMER OWNER: BICKERMANN, MATTHIAS, DR., 90522 OBERASBACH, DE Effective date: 20110225 |
|
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20120302 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |