DE10229816A1 - Apparatus for generating a convergent light wave front for intereferometric measurement of convex lens surfaces using an arrangement of mirrors - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Erzeugung einer konvergenten Lichtwellenfront mit einem ersten und einem zweiten asphärischen Spiegel, die im Lichtstrahlengang aufeinanderfolgend außeraxial angeordnet sind, wobei der zweite Spiegel ein konkaver, zumindest annähernd ellipsoidförmiger Spiegel ist, sowie auf ein System zur interferometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen. Unter dem Ausdruck „zumindest annähernd ellipsoidförmig" sollen dabei, wie dem Fachmann geläufig, zum einen Spiegel mit perfekt elliptischer bzw. ellipsoidaler Form verstanden werden, zum anderen aber auch solche, die zwecks Optimierung ihrer Abbildungseigenschaften eine geringfügig von der mathematisch exakten Ellipsoidflächenform abweichende Spiegelflächengestaltung aufweisen.The invention relates to a Device for generating a convergent light wavefront with a first and a second aspherical mirror in the light beam path successive off-axis are arranged, the second mirror a concave, at least nearly ellipsoidal Mirror, as well as on a system for interferometric measurement of convex lens surfaces. Under the expression "at least nearly ellipsoidal "are said to be like familiar to the expert, on the one hand, mirror with a perfectly elliptical or ellipsoidal shape be understood, on the other hand also those that are for the purpose of optimization their mapping properties are slightly different from the mathematically exact Ellipsoid surface shape deviating Mirror surface design exhibit.
Es ist bekannt, konvexe Oberflächen von optischen Linsen während des Fertigungsprozesses standardmäßig interferometrisch zu vermessen und so hinsichtlich Einhaltung bestimmter Sollvorgaben für die Linsenoberfläche zu überprüfen. Solche Prüfoptiken werden beispielsweise zur Oberflächenprüfung von Linsen für Objektive angewandt, die in Projektionsbelichtungsanlagen bei der Halbleiterfertigung eingesetzt werden.It is known to have convex surfaces optical lenses during of the manufacturing process as a standard to be measured interferometrically and so to check for compliance with certain target specifications for the lens surface. Such test optics are used, for example, for surface inspection of Lenses for Lenses applied in projection exposure systems at the Semiconductor manufacturing can be used.
Übliche Prüfoptiken für diese Anwendung beinhalten sogenannte Aplanar-Optiken oder Fizeau-Aplanar-Optiken, die aus bis zu sechs Linsen bestehen und eine konvergente sphärische Lichtwellenfront erzeugen. Diese Optiken sind zudem so ausgelegt, dass sie ein Feld bestimmter Größe aufweisen, z.B. für bis zu 0,5° Einfallswinkel eines Parallelstrahls zur optischen Achse des Objektivs, für welches die Aberrationen einer durch die Aplanar-Optik hindurchtretenden Wellenfront unterhalb eines sinnvollen Grenzwertes, z.B. einigen Wellenlängen des verwendeten Laserlichtes, bleiben. Dieses Feldverhalten der Prüfoptik verringert den negativen Einfluss von Driften auf das Ergebnis der interferometrischen Linsenoberflächenprüfung. Neuere Generationen von Objektiven für die Halbleiterfertigung weisen zunehmend größere Durchmesser auf. Folglich müssen bei den herkömmlichen Prüfoptiken Linsen verwendet werden, die ein entsprechend hohes Öffnungsverhältnis bzw. eine entsprechend niedrige Öffnungszahl aufweisen. Deren Fertigung ist relativ aufwendig.usual test optics for this Applications include so-called aplanar optics or Fizeau aplanar optics, which consist of up to six lenses and a convergent spherical light wavefront produce. These optics are also designed to be a field of a certain size, e.g. for up at 0.5 ° angle of incidence of a parallel beam to the optical axis of the lens, for which the aberrations of one passing through the aplanar optics Wavefront below a reasonable limit, e.g. some wavelength of the laser light used. This field behavior of the test optics is reduced the negative impact of drifts on the result of interferometric Lens surface inspection. newer Generations of lenses for semiconductor manufacturing has increasingly larger diameters. consequently have to with the conventional test optics Lenses are used that have a correspondingly high aperture ratio or a correspondingly low number of openings exhibit. Their production is relatively complex.
In der Offenlegungsschrift
Zur Korrektur von sphärischer Aberration und Koma ist unter der Bezeichnung F/4-Aplanatic-Gregorian eine axiale Anordnung zweier Ellipsoidspiegel mit einander zugewandten, konkaven Spiegelflächen un terschiedlicher Größe bekannt. Ein parallel einfallendes Lichtstrahlenbündel wird vom größeren auf den kleineren Spiegel reflektiert und von diesem auf einen Ausgangsfokus fokussiert, wobei der kleinere Spiegel den größeren abschattet und der größere Spiegel eine axiale Durchtrittsöffnung im Abschattungsbereich aufweist.To correct spherical Aberration and coma is called F / 4-Aplanatic-Gregorian an axial arrangement of two ellipsoid mirrors facing one another, concave mirror surfaces known in different sizes. A parallel beam of light is reflected by the larger one reflects the smaller mirror and from it to an output focus focused, with the smaller mirror shading the larger and the larger mirror an axial passage opening has in the shading area.
Der Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung einer Vorrichtung zur Erzeugung einer konvergenten Lichtwellenfront und eines Systems zur interferometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen der eingangs genannten Art zugrunde, bei denen mit relativ geringem Aufwand eine konvergente Lichtwellenfront mit hohem Öffnungsverhältnis zur Verfügung steht, die sich insbesondere zur interferometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen großen Durchmessers eignet.The invention lies as a technical Problem of providing a device for generating a convergent light wavefront and a system for interferometric Measurement of convex lens surfaces of the type mentioned at the beginning underlying, where a convergent with relatively little effort Light wavefront with a high aperture ratio disposal stands, which is particularly for interferometric measurement of convex lens surfaces huge Diameter is suitable.
Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung einer Vorrichtung zur Erzeugung einer konvergenten Lichtwellenfront mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und eines Systems zur interterometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen mit den Merkmalen des Anspruchs 5.The invention solves this problem by providing it a device for generating a convergent light wavefront with the features of claim 1 and a system for interterometric Measurement of convex lens surfaces with the characteristics of the Claim 5.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung verwendet zwei konkave, zumindest annähernd ellipsoidförmige Spiegel in außeraxialer Anordnung, die so positioniert sind, dass der Austrittsbrennpunkt des im Lichtstrahlengang ersten Spiegels mit dem Eintrittsbrennpunkt des im Lichtstrahlengang nachfolgenden, zweiten Spiegels zusammenfällt. Wesentlich im Hinblick auf das Feldverhalten der Spiegelanordnung ist es des weiteren, dass beide Spiegel von geometrisch ähnlicher Gestalt sind, worunter vorliegend zu verstehen ist, dass sie Abschnitte von geometrisch ähnlichen Ellipsoiden darstellen, d.h. von Ellipsoiden gleicher Exzentrizität, deren Halbachsen sich um einen gleich großen Faktor unterscheiden. Das Feldverhalten des gesamten Abbildungssystems kann dabei auch über geringfügige Formänderungen der Spiegel, d.h. durch leichte Abweichungen von einer perfekten elliptischen Form, optimiert werden.The device according to the invention uses two concave, at least approximately ellipsoidal Off-axis mirror Arrangement positioned so that the exit focal point of the first mirror in the light beam path with the entry focal point of the second mirror following in the light beam path coincides. Essential with regard to the field behavior of the mirror arrangement, it is the further that both mirrors are geometrically similar in shape, including It should be understood in the present case that they are sections of geometrically similar Represent ellipsoids, i.e. of ellipsoids of equal eccentricity, whose Semi-axes differ by an equally large factor. The Field behavior of the entire imaging system can also change the shape slightly the mirror, i.e. due to slight deviations from a perfect one elliptical shape.
Es zeigt sich, dass mit dieser Spiegelanordnung das gewünschte Feldverhalten erzielt wird. Betrachtet man die Abbildung eines einzelnen Ellipsoidspiegels, so ist Koma die dominante Wellenfrontaberration im Feld. In der erfindungsgemäßen Anordnung wird diese Feldkoma durch den zweiten Ellipsoidspiegel kompensiert. Zudem ist diese Anordnung mit vergleichsweise wenig Aufwand realisierbar und ermöglicht die Bereitstellung einer konvergenten Lichtwellenfront mit hohem Öffnungsverhältnis, d.h. niedriger Öffnungszahl.It can be seen that the desired field behavior is achieved with this mirror arrangement. Looking at the image of a single ellipsoid mirror, coma is the dominant wavefront aberration in the field. In the arrangement according to the invention, this field coma is compensated for by the second ellipsoid mirror. In addition, this arrangement can be implemented with comparatively little effort and enables the provision of a convergent light wavefront with a high aperture ratio, ie low number of openings.
Eine nach Anspruch 2 weitergebildete Vorrichtung weist im Lichtstrahlengang nach dem zweiten Ellipsoidspiegel vor dessen Austrittsbrennpunkt eine Meniskuslinse auf. Mit dieser kann die Austrittsbrennweite und damit der Platzbedarf des Gesamtaufbaus niedrig gehalten werden. Gleichzeitig kann die Austrittsfläche der Meniskuslinse als Referenzfläche z.B. für interferometrische Prüfmessungen dienen. Im Fall einer Auslegung der beiden Spiegel auf eine perfekt elliptische Form ist die Meniskuslinse aplanatisch-konzentrisch ausgelegt, so dass ihre konvexe Seite eine aplanatische Abbildung bewirkt und die Lichtstrahlen der durch die Linse hindurchtretenden Wellenfront an jedem Ort der konkaven Linsenfläche senkrecht auf dieser stehen. Bei geringfügig von der exakten Ellipsoidform abweichenden Spiegeln kann eine dazu passende Variation des Radius der konvexen Seite der Meniskuslinse vorgesehen sein.A further developed according to claim 2 Device points in the light beam path after the second ellipsoid mirror a meniscus lens in front of its exit focal point. With this can the focal length of the outlet and thus the space required for the overall structure be kept low. At the same time, the exit surface of the Meniscus lens as a reference surface e.g. For interferometric test measurements serve. In the case of an interpretation of the two mirrors on one perfectly The meniscus lens is elliptical in shape and concentric designed so that its convex side is an aplanatic illustration causes and the light rays of those passing through the lens The wavefront should be perpendicular to the surface of the concave lens surface. With minor one of the mirrors deviating from the exact ellipsoid shape can do this suitable variation of the radius of the convex side of the meniscus lens is provided his.
Eine nach Anspruch 3 weitergebildete Vorrichtung beinhaltet eine eintrittsseitige Fokussierlinsenanordnung, welche das ankommende Licht auf den Eintrittsbrennpunkt des ersten konkaven Spiegels fokussiert, von wo es durch die beiden Spiegel in Richtung Ausgangsfokus des zweiten Spiegels geführt wird.A further developed according to claim 3 Device includes an entry-side focusing lens arrangement, which the incoming light onto the entry focus of the first concave mirror focused from where it is in through the two mirrors Direction of focus of the second mirror is guided.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung ist die Vorrichtung auf eine Öffnungszahl von etwa 0,8 oder weniger dimensioniert. Damit lassen sich konvergente Lichtwellenfronten bereitstellen, die sich auch zur interterometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen großen Durchmessers eignen, wie sie in modernen Projektionsbelichtungsanlagen in der Halbleitertechnologie verwendet werden.In an advantageous embodiment is the device on an opening number of about 0.8 or less. It can be used to converge Provide light wave fronts that are also interterometric Measurement of convex lens surfaces of large diameter are suitable as they are in modern projection exposure systems in semiconductor technology be used.
Das erfindungsgemäße System zur interferometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen ist mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Erzeugung einer konvergenten Lichtwellenfront einschließlich Meniskuslinse ausgerüstet, wobei die konkave Seite der Meniskuslinse als Referenzfläche für die interterometrische Vermessung einer jeweiligen konvexen Linsenoberfläche dient. Durch dieses System können auch Linsen relativ großen Durchmessers mit vergleichsweise geringem Aufwand interferometrisch vermessen werden.The system according to the invention for interferometric Measurement of convex lens surfaces is possible with the device according to the invention for generating a convergent light wavefront including a meniscus lens equipped, taking the concave side of the meniscus lens as the reference surface for the interterometric Measurement of a respective convex lens surface is used. Through this system you can also relatively large diameter lenses measured interferometrically with comparatively little effort become.
Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Hierbei zeigen:Advantageous embodiments of the invention are shown in the drawings and are described below. Here show:
Dem ersten Ellipsoidspiegel
Auf den zweiten Ellipsoidspiegel
Gleichzeitig stellt die Fizeau-Linse
Als wesentliche Eigenschaft der Anordnung sind
die beiden Ellipsoidspiegel
Es zeigt sich, dass die so konzipierte Prüfoptik die an Systeme zur interferometrischen Vermessung von konvexen Linsenoberflächen gestellten optischen Eigenschaften, insbesondere hinsichtlich Aplanasie und Feldverhalten und damit hinsichtlich Driftempfindlichkeit, mindestens so gut erfüllt wie herkömmliche Prüfoptiken, die Aplanar-Linsenanordnungen entsprechend großen Durchmessers einsetzen. Insbesondere ist durch diesen Aufbau eine komakompensierende Anordnung gegeben. Im Vergleich zu solchen herkömmlichen Optiken ist die gezeigte Prüfoptik mit deutlich geringerem Aufwand realisierbar.It can be seen that the test optics designed in this way have the optical properties of systems for the interferometric measurement of convex lens surfaces, in particular with regard to aplanasia and field behavior and thus with regard to Sensitivity to drift, at least as well fulfilled as conventional inspection optics that use Aplanar lens arrangements of a correspondingly large diameter. In particular, this structure provides a compensating arrangement. In comparison to such conventional optics, the test optics shown can be implemented with significantly less effort.
So ist anstelle von mehreren Linsen
großen Durchmessers
nur ein einziges großflächiges optisches
Element in Form des zweiten Ellipsoidspiegels
Die gezeigte Prüfoptik erlaubt einen geringen Abstand zwischen ihr und dem die Beleuchtungswelle erzeugenden Teil des Prüfsystems, wobei dieser Abstand über einen Parallelstrahl mit kleinem Durchmesser von z.B. vier Inch beliebig variiert werden kann. Herkömmliche große Aplanar-Optiken erfordern einen entsprechend großen Kollimator zur Erzeugung eines Parallelstrahls mit großem Durchmesser. Die Fertigung des Kollimators ist sehr aufwendig. Zwar kommt bei großen Aplanar-Optiken ein Verzicht auf den Kollimator in Betracht, wenn man eine divergente Eintrittswelle für die Aplanar-Optik verwendet. Dies erfordert aber für das Aplanar-Design noch größere Linsendurchmesser und man ist aufgrund des fixen großen Abstandes zwischen Eingangsfokuspunkt und Aplanar-Optik in den geometrischen Gestaltungsmöglichkeiten des Prüfaufbaus stark eingeschränkt.The test optics shown allow a low level Distance between it and the part generating the lighting wave the test system, this distance over a parallel beam with a small diameter of e.g. four inches can be varied as desired. Conventional large aplanar optics require a correspondingly large one Collimator for generating a parallel beam with a large diameter. The manufacture of the collimator is very complex. Although comes with huge Aplanar optics consider dispensing with the collimator if one uses a divergent entry wave for the aplanar optics. But this requires for the Aplanar design has even larger lens diameters and one is due to the fixed large distance between the input focus point and aplanar optics strong in the geometric design options of the test setup limited.
In einer konkreten Dimensionierung
kann die Prüfoptik
von
Es versteht sich, dass je nach Anwendungsfall
andere Dimensionierungen möglich
sind. Als Beispiel ist in
Die gegenüber dem Beispiel von
Es versteht sich, dass sich die erfindungsgemäße Vorrichtung
mit den beiden außeraxial
angeordneten, konkaven, geometrisch ähnlichen Ellipsoidspiegeln
Claims (5)
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