DE102014105000B4 - Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers - Google Patents
Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers Download PDFInfo
- Publication number
- DE102014105000B4 DE102014105000B4 DE102014105000.2A DE102014105000A DE102014105000B4 DE 102014105000 B4 DE102014105000 B4 DE 102014105000B4 DE 102014105000 A DE102014105000 A DE 102014105000A DE 102014105000 B4 DE102014105000 B4 DE 102014105000B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- carrier
- partial
- partial layer
- sub
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims abstract description 37
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 15
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 12
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 7
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N ZrO2 Inorganic materials O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 claims description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 claims description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 26
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 14
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 13
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 11
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 7
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 6
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D7/00—Electroplating characterised by the article coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C24/00—Coating starting from inorganic powder
- C23C24/08—Coating starting from inorganic powder by application of heat or pressure and heat
- C23C24/10—Coating starting from inorganic powder by application of heat or pressure and heat with intermediate formation of a liquid phase in the layer
- C23C24/103—Coating with metallic material, i.e. metals or metal alloys, optionally comprising hard particles, e.g. oxides, carbides or nitrides
- C23C24/106—Coating with metal alloys or metal elements only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/30—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
- C23C28/32—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer
- C23C28/321—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer with at least one metal alloy layer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/30—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
- C23C28/32—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer
- C23C28/322—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer only coatings of metal elements only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/30—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
- C23C28/34—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates
- C23C28/345—Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/142—Metallic substrates having insulating layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
- H05K1/053—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate the metal substrate being covered by an inorganic insulating layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/44—Manufacturing insulated metal core circuits or other insulated electrically conductive core circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/291—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29101—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of less than 400°C
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29339—Silver [Ag] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29338—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/29344—Gold [Au] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29363—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
- H01L2224/29364—Palladium [Pd] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29363—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
- H01L2224/29369—Platinum [Pt] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/82—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by forming build-up interconnects at chip-level, e.g. for high density interconnects [HDI]
- H01L2224/828—Bonding techniques
- H01L2224/82801—Soldering or alloying
- H01L2224/8282—Diffusion bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/83439—Silver [Ag] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83438—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/83444—Gold [Au] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83463—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
- H01L2224/83464—Palladium [Pd] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83399—Material
- H01L2224/834—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/83463—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
- H01L2224/83469—Platinum [Pt] as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8384—Sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/91—Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
- H01L2224/92—Specific sequence of method steps
- H01L2224/922—Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
- H01L2224/9222—Sequential connecting processes
- H01L2224/92242—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
- H01L2224/92247—Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0335—Layered conductors or foils
- H05K2201/0341—Intermediate metal, e.g. before reinforcing of conductors by plating
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/03—Metal processing
- H05K2203/0315—Oxidising metal
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
- H05K2203/049—Wire bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/20—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
- H05K3/202—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern using self-supporting metal foil pattern
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers (100) mit den Schritten:Bereitstellen eines metallischen Trägers (1);Bereitstellen einer Metallfolie;Erzeugen einer dielektrischen Schicht (2) an einer metallischen Oberfläche (1t) des Trägers (1) durch Oxidation des Trägers (1);Erzeugen einer Metallisierungsschicht (3), die eine erste Teilschicht (31) und eine zweite Teilschicht (32) aufweist, auf der dem Träger (1) abgewandten Seite der dielektrischen Schicht (2), indem- auf der dem Träger (1) abgewandten Seite der dielektrischen Schicht (2) die erste Teilschicht (31) erzeugt wird; und nachfolgend- die Metallfolie als zweite Teilschicht (32) auf die dem Träger (1) abgewandte Seite der ersten Teilschicht (31) aufgebracht und unmittelbar mit dieser verbunden wird.
Description
- Die vorliegende Verbindung betrifft Schaltungsträger und deren Bestückung. Schaltungsträger benötigen häufig eine hochwertige dielektrische Schicht, die eine auf der dielektrischen Schicht befindliche Metallisierungsschicht elektrisch gegenüber anderen Elementen, beispielsweise einer weiteren Metallisierungsschicht desselben Schaltungsträgers, elektrisch isoliert. Vor allem im Bereich der Leistungselektronik wird oft auch Verlustwärme, die in einem oder mehreren auf dem Schaltungsträger montierten Bauelementen entsteht, über die dielektrische Schicht in Richtung einer Wärmesenke abgeführt. Viele herkömmliche Schaltungsträger verwenden deshalb eine dielektrische Schicht aus Keramik, da sich mit Keramiken sowohl eine gute Wärmeleitfähigkeit als auch eine hervorragende elektrische Isolation erreichen lassen. Zur Herstellung solcher Schaltungsträger werden eine oder mehrere vorgefertigte Metallfolien auf einer Keramikschicht befestigt.
- Um die Keramikschicht bei der Herstellung eines solchen Schaltungsträgers nicht zu beschädigen oder zu zerstören, muss diese eine ausreichende mechanische Stabilität und damit eine ausreichende Dicke aufweisen. Allerdings erhöht sich mit zunehmender Dicke auch der thermische Widerstand. Aus der
US 2011 /0 284 382 A1 - Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren bereitzustellen, mit dem sich auch Schaltungsträger herstellen lassen, die eine dielektrische Schicht mit geringem thermischem Widerstand aufweisen. Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zum Bestücken eines Schaltungsträgers bereitzustellen, der eine dielektrische Schicht mit geringem thermischem Widerstand aufweist.
- Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers gemäß Patentanspruch 1 bzw. durch ein Verfahren zum Bestücken eines Schaltungsträgers gemäß Patentanspruch 15 gelöst. Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand von Unteransprüchen.
- Ein erster Aspekt betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers. Hierzu werden ein metallischer Träger und eine Metallfolie bereitgestellt. An einer metallischen Oberfläche des Trägers wird durch Oxidation des Trägers eine dielektrische Schicht erzeugt. Auf der dem Träger abgewandten Seite der dielektrischen Schicht wird eine Metallisierungsschicht erzeugt, die zumindest eine erste Teilschicht und eine zweite Teilschicht aufweist. Hierzu wird auf der dem Träger abgewandten Seite der dielektrischen Schicht die erste Teilschicht erzeugt. Nachfolgend wird die Metallfolie auf die dem Träger abgewandte Seite der ersten Teilschicht als zweite Teilschicht aufgebracht und unmittelbar mit dieser verbunden.
- Gemäß einem zweiten Aspekt wird ein nach dem ersten Aspekt hergestellter Schaltungsträger mit einem elektronischen Bauteil bestückt, indem eine stoffschlüssige Verbindung zwischen der dem Träger abgewandten Seite der zweiten Teilschicht und dem elektronischen Bauteil erzeugt wird.
- Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren erläutert. Es zeigen:
-
1A bis1D verschiedene Schritte eines Verfahrens zur Herstellung eines Schaltungsträgers, bei dem die erste Teilschicht und die zweite Teilschicht durch Löten verbunden werden. -
2A bis2D verschiedene Schritte eines Verfahrens zur Herstellung eines Schaltungsträgers, bei dem die erste Teilschicht und die zweite Teilschicht durch Sintern verbunden werden. -
3A bis3C verschiedene Schritte eines Verfahrens zur Herstellung eines Schaltungsträgers, bei dem die erste Teilschicht und die zweite Teilschicht durch Walzen verbunden werden. -
4 den Schaltungsträger gemäß1D nach dem Strukturieren der Metallisierungsschicht. -
5A bis5B den mit einem elektronischen Bauteil bestückte Schaltungsträger gemäß4 . -
6 den Schaltungsträger gemäß2D nach dem Strukturieren der Metallisierungsschicht. -
7A bis7B verschiedene Schritte beim Bestücken des Schaltungsträgers gemäß6 mit einem elektronischen Bauteil. -
8A eine Draufsicht auf einen gemäß den1D ,2D oder3C ausgebildeten Schaltungsträger. -
8B eine Draufsicht auf den Schaltungsträger gemäß8A nach der Strukturierung der Metallisierungsschicht. -
8C eine Draufsicht auf den Schaltungsträger gemäß8B nach der Bestückung von der Metallisierungsschicht mit einem elektronischen Bauteil. -
8D eine Draufsicht auf den mit dem elektronischen Bauteil bestückten Schaltungsträger gemäß8C nach der Montage eines Bonddrahtes. - In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche Elemente mit gleicher oder gleichwirkender Funktion. Das Verbinden der ersten Teilschicht und der zweiten Teilschicht durch Löten gemäß den
1A bis1D bzw. durch Sintern gemäß den2A bis2D und die Querschnittsansichten gemäß den4 ,5A ,5B ,6 ,7A und7B ist nicht mehr Gegenstand der vorliegenden Erfindung. Allerdings dienen die1A bis1D und2A bis2D ,4 ,5A ,5B ,6 ,7A und7B dazu, weitere Aspekte der Erfindung zu erläutern. - Mit dem anhand der
1A bis1D erläuterten Verfahren wird ein Schaltungsträger100 hergestellt, wie er im Ergebnis in1D gezeigt ist. Der Schaltungsträger100 gemäß1D weist einen metallischen Träger1 auf, eine dielektrische Schicht2 , sowie eine Metallisierungsschicht3 , die durch die dielektrische Schicht2 von dem Träger1 elektrisch isoliert ist. Der Träger1 kann optional als ebene Schicht ausgebildet sein. Die Schichtdicke d1 des Trägers1 kann grundsätzlich beliebig gewählt werden. Sie kann beispielsweise wenigstens 100 µm und/oder höchstens 5 mm betragen. - Die Metallisierungsschicht
3 , die auf der dem Träger1 abgewandten Seite der dielektrischen Schicht2 angeordnet ist, weist zumindest eine erste Teilschicht31 und eine zweite Teilschicht32 auf. Die Schichtdicke d31 der ersten Teilschicht31 ist wesentlich dünner als die Schichtdicke d32 der zweiten Teilschicht32 . Im Sinne der vorliegenden Erfindung bezieht sich der Begriff „Teilschicht“ auf einen Bestandteil der fertigen Metallisierungsschicht3 . Gleichwohl wird der Begriff „Teilschicht“ auch zur Bezeichnung der betreffenden Bestandteile verwendet, wenn diese noch nicht zu der fertigen Metallisierungsschicht3 zusammengefügt sind. - Wie in
1A gezeigt ist, wird zur Herstellung eines solchen Schaltungsträgers100 zunächst ein metallischer Träger1 bereitgestellt. Bei dem metallischen Träger1 kann es sich beispielsweise um eine ebene Metallschicht handeln, oder um einen beliebigen anderen metallischen Körper. - Auf einer metallischen Oberfläche
1t des Trägers1 wird durch Oxidation des Trägers1 eine dielektrische Schicht2 erzeugt, was im Ergebnis in1B gezeigt dargestellt ist. Optional kann die metallische Oberfläche1t oder ein Abschnitt der metallischen Oberfläche1t , auf dem die dielektrische Schicht2 erzeugt wird, eben sein. Die Oxidation des Trägers1 kann beispielsweise durch elektrolytische Oxidation (anodische Oxidation) erfolgen. Das Ergebnis ist in jedem Fall eine dielektrische Schicht2 aus einer Oxidkeramik. - Der Träger
1 kann an der metallischen Oberfläche1t oder an einem Abschnitt der metallischen Oberfläche1t , auf dem die dielektrische Schicht2 erzeugt wird, ein oder mehrere Metalle aufweisen oder aus einem oder mehreren Metallen bestehen, die sich durch Oxidation in eine Keramik überführen lassen. Beispiele für geeignete Metalle sind Aluminium, Magnesium, Titan, Zirconium, Tantal, Beryllium, oder eine Legierung oder eine intermetallische Phase von beliebigen dieser Metalle. - Beispielsweise kann der Träger
1 aus Aluminium bestehen. Bei der durch Oxidation erzeugten dielektrischen Schicht2 handelt es sich dann um eine Aluminiumoxid-Schicht. Auf entsprechende Weise kann z. B. Zirconium des Trägers1 zu Zirconiumdioxid oxidiert werden, oder Titan des Träger1 kann zu Titanoxid oxidiert werden, oder Magnesium des Trägers1 kann zu Magnesiumoxid oxidiert werden, oder Zink des Trägers1 kann zu Zinkoxid oxidiert werden. - Die Schichtdicke d2 der dielektrischen Schicht
2 kann beliebig gewählt werden. Sie kann beispielsweise größer sein als 10 µm und/oder keiner als 150 µm. - In jedem Fall wird nach der Herstellung der dielektrischen Schicht
2 auf deren dem Träger1 abgewandter Seite2t die Metallisierungsschicht3 mit mindestens einer ersten Teilschicht31 und einer zweiten Teilschicht32 erzeugt. Hierzu wird zunächst die erste Teilschicht31 auf der dem Träger1 abgewandten Seite2t der dielektrischen Schicht2 erzeugt, was im Ergebnis in1C gezeigt ist. Die erste Teilschicht31 kann optional unmittelbar auf der dem Träger1 abgewandten Seite2t der dielektrischen Schicht2 erzeugt werden. Die erste Teilschicht31 wird lediglich als Saatschicht (engl.: „seed layer“) verwendet, um darauf die vergleichsweise dicke zweite Teilschicht32 sowie optional noch eine oder mehrere weitere jeweils elektrisch leitende, beispielsweise metallische, Teilschichten zu erzeugen. Aufgrund der geringen Schichtdicke d31 der ersten Teilschicht31 lassen sich zu deren Herstellung auch an sich langsame Abscheideverfahren einsetzen, mit denen sich nur geringe Abscheide- und damit Wachstumsraten erzielen lassen. So lässt sich die erste Teilschicht31 beispielsweise durch galvanisches Abscheiden, durch Sputtern, durch Aufdampfen oder durch eine beliebige Kombination hiervon erzeugen. - Unabhängig vom Verfahren ihrer Herstellung kann die fertige erste Teilschicht
31 eine beispielsweise Schichtdicke d31 von mindestens 0,2 µm und/oder von höchstens 7 µm aufweisen. Schichtdicken d31 von weniger als 0,2 µm oder von mehr als 7 µm sind jedoch ebenfalls möglich. - Unabhängig von der gewünschten Schichtdicke d31 und dem gewählten Herstellungsverfahren eignen sich als Materialien zur Herstellung der ersten Teilschicht
31 beispielsweise Aluminium, Silber, Nickel, Palladium, Titan, Kupfer, oder Legierungen aus zwei oder mehr dieser Metalle, Legierungen mit wenigstens einem dieser Metalle, oder Schichtfolgen mit Schichten aus zwei oder mehr dieser Metalle. - Nach der Herstellung der ersten Teilschicht
31 wird unmittelbar oder - wie in dem vorliegenden Beispiel mittelbar - auf der dem Träger1 abgewandten Seite31t der ersten Teilschicht31 die dicke zweite Teilschicht32 erzeugt. Die zweite Teilschicht32 dient dazu, die Stromtragfähigkeit der vergleichsweise dünnen ersten Teilschicht31 zu erhöhen. Daher ist es vorteilhaft, wenn die zweite Teilschicht32 eine gute elektrische Leitfähigkeit aufweist. Beispielsweise kann die zweite Teilschicht32 bei einer Temperatur von 300 K eine elektrische Leitfähigkeit von wenigstens 36 S/m aufweisen. Die zweite Teilschicht32 kann zum Beispiel aus Silber, Kupfer, Gold, Aluminium oder einer Legierung mit zumindest einem dieser Metalle bestehen, oder eines der genannten Metalle oder eine der genannten Legierungen aufweisen. - Die Schichtdicke d32 der zweiten Teilschicht
32 kann grundsätzlich beliebig gewählt werden. Sie kann beispielsweise wenigstens 70 µm und/oder höchstens 600 µm betragen. Alternativ oder zusätzlich kann die Schichtdicke d32 der zweiten Teilschicht32 mindestens das 10-fache der Schichtdicke d31 der ersten Teilschicht31 betragen. - Wie das Ergebnis in
1E zeigt, ist die zweite Teilschicht32 bei dem vorliegenden Beispiel mittels einer als Lotschicht ausgebildeten dritten Teilschicht33 stoffschlüssig mit der ersten Teilschicht31 verbunden. Die dritte Teilschicht33 befindet sich auf der dem Träger1 abgewandten Seite31t der ersten Teilschicht31 zwischen der ersten Teilschicht31 und der zweiten Teilschicht32 .. - Bei der Lotschicht kann es sich um eine herkömmliche Lotschicht handeln, oder um eine Diffusionslotschicht. Die Dicke d33 einer solchen dritten Teilschicht
33 kann beispielsweise im Bereich von 4 µm bis 600 µm liegen. Im Fall einer herkömmlichen Lotschicht kann die Dicke d33 z. B. im Bereich von 100 µm bis 600 µm liegen, im Fall einer Diffusionslotschicht z. B. im Bereich von 4 µm bis 20 µm. - Die Schichtdicke d33 der dritten Teilschicht
33 kann aber prinzipiell beliebig gewählt werden. Sie kann optional größer sein als die Schichtdicke d31 der ersten Teilschicht31 und/oder kleiner als die Schichtdicke d32 der zweiten Teilschicht32 . - Die dritte Teilschicht
33 kann zum Beispiel Kupfer oder Zinn oder Blei oder Silber oder eine Legierung mit einem oder mehreren dieser Metalle aufweisen. - Unabhängig vom konkreten Aufbau des Schaltungsträgers
100 kann die zweite Teilschicht32 mittelbar oder - wie bei dem vorliegenden Beispiel unmittelbar - auf der dem Träger1 abgewandten Seite33t der dritten Teilschicht33 mittelbar angeordnet sein. Hierzu ist die zweite Teilschicht32 als vorgefertigte Metallfolie ausgebildet, die stoffschlüssig mit der ersten Teilschicht31 verlötet wird. - Bei dem fertigen Schaltungsträger
100 sind also (jeweils mittelbar oder unmittelbar) aufeinanderfolgend angeordnet (in1D von unten nach oben): Der Träger1 , die dielektrische Schicht2 , die erste Teilschicht31 , die dritte Teilschicht33 , und die zweite Teilschicht32 . - Anhand der
2A bis2D wird noch ein weiteres Beispiel für ein Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers100 erläutert. Während zur Herstellung des anhand der1A bis1D erläuterten Schaltungsträgers100 die zweite Teilschicht32 mittels einer als Lotschicht ausgebildeten dritten Teilschicht33 an dem mit der dielektrischen Schicht2 versehenen Träger1 befestigt wurde, wird hierzu bei dem anhand der2A bis2D erläuterten Verfahren eine gesinterte Verbindung verwendet. - Zunächst wird eine Anordnung hergestellt, wie sie in
2A gezeigt ist. Diese Anordnung, die identisch ist mit der Anordnung gemäß1C , kann ebenso hergestellt werden, wie dies anhand der1A bis1C beschrieben wurde. - Zur Herstellung der gesinterten Verbindung wird eine Edelmetallpaste verwendet, die ein Edelmetallpulver und ein Lösemittel enthält. Die Paste wird auf einen ersten Oberflächenabschnitt eines der zu verbindenden Fügepartner aufgetragen. Danach wird die Paste getrocknet, so dass zumindest ein Großteil des Lösemittels entweicht und eine im Wesentlichen trockene Edelmetallpulverschicht zurückbleibt. Die Edelmetallpulverpulverschicht wird dann gesintert, während die zu verbindenden Fügepartner derart aneinander gepresst werden, dass die Edelmetallpulverschicht am ersten Oberflächenabschnitt des einen Fügepartners sowie an einem zweiten Oberflächenabschnitt des zweiten Fügepartners anliegt. Durch das Sintern entsteht eine hochfeste, stoffschlüssige Fügeverbindung zwischen den Fügepartnern.
- Das Sintern kann beispielsweise erfolgen, indem die zu verbindenden Fügepartner einem Druckbereich von 50 bis 400 bar für eine Zeit von wenigstens 30 sec aneinander gepresst werden, während die zwischen ihnen befindliche Edelmetallpulverschicht simultan auf Temperaturen im Bereich von wenigstens 150°C gehalten wird.
- Um besonders hohe Festigkeiten der Fügestelle zwischen der gesinterten Edelmetallpulverpulverschicht und einem Oberflächenabschnitt zu erzielen, kann der Oberflächenabschnitt optional durch ein Edelmetall gebildet werden. Als Edelmetalle eignen sich beispielsweise Silber, aber auch Gold, Palladium, Platin.
- Bei dem vorliegenden Verfahren wird hierzu, wie im Ergebnis in
2B gezeigt ist, auf der dem Träger1 abgewandten Seite31t der ersten Teilschicht31 eine optionale dünne fünfte Teilschicht35 aus einem Edelmetall oder einer Edelmetalllegierung erzeugt, was beispielsweise durch galvanisches Abscheiden, durch Sputtern, durch Aufdampfen oder durch eine beliebige Kombination hiervon erfolgen kann. Die fünfte Teilschicht35 kann wie gezeigt unmittelbar oder alternativ mittelbar auf der dem Träger1 abgewandten Seite31t der ersten Teilschicht31 erzeugt werden. - Danach wird, wie im Ergebnis in
2C gezeigt ist, eine Edelmetallpaste34' , wie sie vorangehend beschrieben wurde, auf die dem Träger1 abgewandte Seite35t der fünften Teilschicht35 aufgetragen und zu einer Edelmetallpulverschicht getrocknet. Sofern die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht durch ein Edelmetall oder eine Edelmetalllegierung gebildet wird (also die Eigenschaften aufweist, die durch die fünfte Teilschicht35 erreicht werden sollen), ist die fünfte Teilschicht35 nicht zwingend erforderlich. - Allerdings kann eine fünfte Teilschicht
35 auch dann eingesetzt werden, wenn die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht31 bereits durch ein Edelmetall oder eine Edelmetalllegierung gebildet wird, wenn sich aber die Festigkeit der herzustellenden Sinterverbindung durch eine fünfte Teilschicht35 erhöhen lässt. Dies kann zum Beispiel dann der Fall sein, wenn die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht31 durch eine Edelmetalllegierung mit hohem Edelmetallanteil (kleiner als 100 Atom%) gebildet wird, wenn aber die Festigkeit der herzustellenden Fügeverbindung erhöht werden soll. - Andererseits kann von der Verwendung einer fünften Teilschicht
35 auch dann abgesehen werden, wenn auch ohne sie eine ausreichende Festigkeit der herzustellenden gesinterten Fügeverbindung erzielt werden kann. Sofern keine fünfte Teilschicht35 eingesetzt wird, kann die Edelmetallpaste34' unmittelbar auf die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht31 aufgetragen werden. - Unabhängig davon, ob eine fünfte Teilschicht
35 verwendet wird oder nicht, wird, wie im Ergebnis in2C gezeigt ist, eine als Metallfolie ausgebildete dicke zweite Teilschicht32 bereitgestellt. Die zweite Teilschicht32 kann dieselben Eigenschaften aufweisen wie die zweite Teilschicht32 gemäß1D . - Wie ebenfalls in
2C gezeigt ist, kann auf eine Seite32b der bereitgestellten zweiten Teilschicht32 optional eine dünne sechste Teilschicht36 aus einem Edelmetall oder einer Edelmetalllegierung aufgebracht sein, um die Festigkeit der herzustellenden Sinterverbindung zu erhöhen. Das Aufbringen einer solchen sechsten Teilschicht36 kann beispielsweise durch galvanisches Abscheiden, durch Sputtern, durch Aufdampfen oder durch eine beliebige Kombination erfolgen. Die sechste Teilschicht36 kann Eigenschaften aufweisen, wie sie bereits für die fünfte Teilschicht35 beschrieben wurden. - In
2C ist gezeigt, dass die Edelmetallpaste34' auf den Verbund mit dem Träger1 , der dielektrischen Schicht2 und der ersten Teilschicht31 aufgebracht werden kann, d.h. auf die dem Träger1 abgewandte Seite35t der fünften Teilschicht35 , oder (falls keine fünfte Teilschicht35 vorhanden ist) auf die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht31 . Alternativ oder zusätzlich kann die Edelmetallpaste34' oder eine weitere solche Edelmetallpaste auch auf die der zweiten Teilschicht32 abgewandte Seite36b der sechsten Teilschicht36 aufgetragen werden bzw. (falls keine sechste Teilschicht36 verwendet wird) auf eine Seite32b der zweiten Teilschicht32 . In jedem Fall werden die Edelmetallpaste34' und/oder die weitere solche Edelmetallpaste nach ihrem Auftragen wie bereits erläutert getrocknet. - Nach dem Auftragen und Trocknen der Edelmetallpaste
34' und/oder der weiteren Edelmetallpaste wird diese bzw. werden diese derart zwischen einem ersten Fügepartner, der zumindest den Träger1 , die dielektrische Schicht2 und die erste Teilschicht31 umfasst, und einem zweiten Fügepartner, der zumindest die zweite Teilschicht32 umfasst, angeordnet und der erste Fügepartner und der zweite Fügepartner aneinander gepresst, so dass sich eine (ggf. getrocknete) Edelmetallpulverschicht durchgehend zwischen dem ersten Fügepartner und dem zweiten Fügepartner erstreckt. Im aneinandergepressten Zustand wird die durchgehende Edelmetallpulverschicht dann gesintert, so dass aus dieser eine gesinterte Edelmetallpulverschicht34 entsteht, die den ersten Fügepartner und den zweiten Fügepartner stoffschlüssig fest miteinander verbindet, was im Ergebnis in2D gezeigt ist. Das Sintern kann dabei nach dem bereits beschrieben Sinterverfahren erfolgen. - Statt sintern und Diffusionslöten kann auch Walzplattieren angewendet werden. Dabei werden z. B. saubere Al und Cu Schichten unter Druck und Wärme mit Hilfe von Walzen aufeinander gedrückt. Anschließend wird in einem Ausheizprozess eine Diffusionszone zwischen den Metallen für eine Verbindung sorgen.
- Bei dem fertigen Schaltungsträger
100 sind also (jeweils mittelbar oder unmittelbar) aufeinanderfolgend angeordnet (in2D von unten nach oben): Der Träger1 , die dielektrische Schicht2 , die erste Teilschicht31 , die fünfte Teilschicht35 (optional), die gesinterte Edelmetallpulverschicht34 , die sechste Teilschicht36 (optional), und die zweite Teilschicht32 , wobei die einzelnen Optionen unabhängig voneinander gewählt werden können. - Anhand der
3A bis3C wird nun noch ein weiteres Beispiel für ein Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers100 erläutert. Während bei den Schaltungsträgern100 gemäß den1D bzw.2D eine stoffschlüssige Verbindung zwischen der ersten Teilschicht31 und der zweiten Teilschicht32 mittels einer Lotschicht33 bzw. mittels einer gesinterten Schicht34 besteht, werden bei dem Beispiel gemäß den3A bis3C die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 durch Walzplattieren unmittelbar stoffschlüssig miteinander verbunden. - Hierzu wird eine Anordnung hergestellt, wie sie in
3A gezeigt ist. Diese Anordnung, die identisch ist mit der Anordnung gemäß1C , kann ebenso hergestellt werden, wie dies anhand der1A bis1C beschrieben wurde. Weiterhin wird eine als Metallfolie ausgebildete dicke zweite Teilschicht32 bereitgestellt. Die zweite Teilschicht32 kann dieselben Eigenschaften aufweisen wie die zweite Teilschicht32 gemäß1D . Die zweite Teilschicht32 wird unmittelbar auf die dem Träger1 abgewandte Seite31t der ersten Teilschicht31 aufgelegt. Danach werden der Träger1 mit der dielektrischen Schicht2 und der ersten Teilschicht31 und die auf die erste Teilschicht31 aufgelegte zweite Teilschicht32 zwischen zwei gegeneinander gepresste Walzen201 ,202 eingespannt und durch diese miteinander verwalzt, so dass im Ergebnis die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 unmittelbar miteinander verbunden sind. - Während des Verwalzens und/oder nach dem Verwalzen werden die erste Teilschicht
31 und die zweite Teilschicht32 in einem Bereich (gegenüber Raumtemperatur von 20°C) moderat erhöhter Temperatur, beispielsweise von wenigstens 50°C oder wenigstens 100°C, gehalten. Nach dem Verwalzen folgt noch ein Temperschritt, bei dem der Verbund zwischen der ersten Teilschicht31 und der zweiten Teilschicht32 gefestigt wird. Hierzu werden die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 für eine bestimmte Dauer, z. B. wenigstens 2 Stunden, erwärmt, beispielsweise auf Temperaturen von wenigstens 150°C oder von wenigstens 200°C. Optional können die Temperaturen auch so gewählt werden, dass sie während des Temperns kleiner sind als 400°C oder gar kleiner als 300°C. Während des Verwalzens und durch den Temperschritt kommt es an der Grenzfläche zwischen der ersten Teilschicht31 und der zweiten Teilschicht32 zu einer Interdiffusion der Metalle der ersten Teilschicht31 und der zweiten Teilschicht32 , durch die die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 diffusionsverschweißt werden. Damit einhergehend bilden sich aus diesen Metallen eine oder mehrere intermetallische Phasen, durch die die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 fest und stoffschlüssig miteinander verbunden sind.3C zeigt den fertigen Schaltungsträger100 . Bei dem gezeigten Beispiel besteht die erste Teilschicht31 aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung und die zweite Teilschicht32 aus Kupfer oder einer Kupferlegierung. Alternativ dazu können für die erste Teilschicht31 und/oder die zweite Teilschicht32 auch die bei den vorangehenden Ausführungsbeispielen jeweils genannten Materialien eingesetzt werden. - Durch das Verwalzen werden die erste Teilschicht
31 und die zweite Teilschicht32 miteinander verpresst. Grundsätzlich kann das Verpressen aber auch auf beliebige andere Weise erfolgen, beispielsweise indem die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 unmittelbar aufeinander gelegt und so in einer Presse verpresst werden. - Unabhängig von der konkreten Ausgestaltung des Verfahrens zur Herstellung eines Schaltungsträgers
100 kann die Seite32t der zweiten Teilschicht32 , die sich bei dem fertigen Schaltungsträger100 auf der dem Träger1 abgewandten Seite der zweiten Teilschicht32 befindet, mit einer oder mehreren weiteren Teilschichten versehen werden, und zwar bevor und/oder nachdem die zweite Teilschicht32 stoffschlüssig mit dem Träger1 verbunden wurde. Bei einer solchen weiteren Schicht kann es sich beispielsweise um eine dünne Nickelschicht handeln, um die Lötbarkeit bei der Montage der elektrischen Bauelemente zu verbessern und/oder um eine Oxidation der zweiten Teilschicht32 an der Seite32t zu verhindern. Ein anderes Beispiel für eine solche weitere Teilschicht ist eine Edelmetallschicht (z. B. aus Silber), um die Qualität einer herzustellenden Sinterverbindung zwischen einem auf dem Schaltungsträger100 zu montierenden elektrischen Bauelement und dem Schaltungsträger100 zu erhöhen. - Unabhängig von der konkreten Ausgestaltung des Verfahrens zur Herstellung eines Schaltungsträgers
100 kann dessen Metallisierungsschicht3 , nachdem die zweite Teilschicht32 stoffschlüssig mit dem Träger1 verbunden wurde, optional strukturiert werden. Dies wird beispielhaft unter Bezugnahme auf4 anhand des in1D gezeigten Schaltungsträgers100 sowie unter Bezugnahme auf6 anhand des in2D gezeigten Schaltungsträgers100 erläutert.8A zeigt eine Draufsicht auf den Schaltungsträger100 , die sowohl für den Schaltungsträger100 gemäß1D als auch für den Schaltungsträger100 gemäß2D gilt. - Die Beschreibung der
4 ,5A und5B sowie der Draufsichten gemäß den8A bis8D gilt in gleicher Weise auch für den bezugnehmend auf die3A bis3C erläuterten Schaltungsträger100 . Der einzige Unterschied besteht darin, dass in diesem Fall die erste Teilschicht31 und die zweite Teilschicht32 unmittelbar stoffschlüssig miteinander verbunden sind, dass zwischen diesen also keine als Lotschicht ausgebildete dritte Teilschicht33 angeordnet ist. - Zum Strukturieren wird in der Metallisierungsschicht
3 jeweils eine Grabenstruktur9 erzeugt, die sich von der dem Träger1 abgewandten Seite32t der zweiten Teilschicht32 durchgehend bis zur dielektrischen Schicht2 erstreckt. Optional kann die Grabenstruktur9 so ausgebildet sein, dass sie die (ursprüngliche) Metallisierung3 in zwei oder mehr galvanisch voneinander getrennte Metallisierungsabschnitte3-1 ,3-2 aufteilt.8B zeigt eine Draufsicht auf den Schaltungsträger100 gemäß8A nach der Herstellung der Grabenstruktur9 . Das Herstellen der Grabenstruktur9 kann beispielsweise durch maskiertes selektives Ätzen der ursprünglichen Metallisierungsschicht3 erfolgen. Ebenso kann das Herstellen der Grabenstruktur9 auch durch Fräsen oder durch Laserablation erfolgen. - Unabhängig davon, ob ein Schaltungsträger
100 eine Grabenstruktur9 aufweist oder nicht, kann der zunächst unbestückte, also nicht mit elektronischen Bauelementen versehene Schaltungsträger100 auf der dem Träger1 abgewandten Seite32t der zweiten Teilschicht32 (unmittelbar, oder - sofern auf dessen dem Träger1 abgewandter Seite32t eine oder mehrere weitere Teilschichten der Metallisierungsschicht3 angeordnet sind - mittelbar) mit einem oder mehreren aktiven und/oder passiven elektronischen Bauelementen bestückt werden. Dies wird nachfolgend beispielhaft anhand eines Bauelements5 erläutert, welches als vertikales Halbleiterbauelement ausgebildet ist, das einen Halbleiterkörper50 aufweist, der an einander entgegengesetzten Seiten mit Elektroden51 und52 versehen ist. Bei dem Bauelement kann es sich z. B. um eine Diode, einen MOSFET, einen IGBT, einen JFET, einen Thyristor handeln. Unabhängig von der Art des Bauelements5 und unabhängig davon, ob es sich bei dem Bauelement5 um ein aktives oder ein passives elektronisches Bauelement handelt, weist es zumindest eine Elektrode52 auf, an der es mit der Metallisierungsschicht3 oder einem Abschnitt3-1 ,3-2 (im Beispiel der Abschnitt3-1 ) der Metallisierungsschicht3 stoffschlüssig und elektrisch leitend verbunden werden soll. - Die elektrisch leitende Verbindung zwischen der Elektrode
52 und der Metallisierungsschicht3 bzw. einem ihrer Abschnitte3-1 ,3-2 kann zum Beispiel mittels einer Lotschicht4 erfolgen, was in5A für den Schaltungsträger gemäß4 gezeigt ist. - Ebenso kann die elektrisch leitende Verbindung zwischen der Elektrode
52 und der Metallisierungsschicht3 bzw. einem ihrer Abschnitte3-1 ,3-2 auch mittels einer gesinterten Edelmetallpulverschicht6 erfolgen, was im Ergebnis in7A für den Schaltungsträger100 gemäß6 gezeigt ist. Das Herstellen der gesinterten Edelmetallpulverschicht6 kann nach demselben Verfahren erfolgen wie das Herstellen der gesinterten Edelmetallpulverschicht34 gemäß6 -
8C zeigt eine Draufsicht auf den mit dem Bauelement5 bestückten Schaltungsträger100 gemäß den5A oder7A . - Grundsätzlich können optional beliebige weitere aktive und/oder passive elektronische Bauelemente auf der Metallisierungsschicht
3 oder einem Abschnitt3-1 ,3-2 hiervon montiert und elektrisch verschaltet werden. - Ein Beispiel für eine elektrische Verschaltung des bereits erläuterten Bauelements
5 zeigen5B für die Anordnung gemäß5A bzw.7B für die Anordnung gemäß7A . Eine Draufsicht der Anordnungen gemäß den5B und7B zeigt8D . Dargestellt ist ein elektrischer Verbindungsleiter7 , der eine elektrisch leitende Verbindung zwischen der Elektrode51 und einem weiteren Abschnitt3-2 der Metallisierungsschicht3 herstellt. Der mit der Elektrode52 elektrisch leitend verbundene Metallisierungsabschnitt3-1 ist von dem Abschnitt3-2 beabstandet. Zwischen den Metallisierungsabschnitten3-1 und3-2 besteht keine dauerhaft durchgehende metallische und elektrisch leitende Verbindung. - Generell kann die Größe der Grundfläche
A2 (siehe die8A und8B) der dielektrischen Schicht2 eines Schaltungsträgers100 beliebig gewählt werden. Die dielektrische Schicht2 kann die Metallisierungsschicht3 optional in seitlicher Richtung umlaufend überragen, um die Isolationsfestigkeit zischen der metallischen Oberfläche1t des Trägers1 und der Metallisierungsschicht3 sicherzustellen. Die GrundflächeA2 der dielektrischen Schicht2 kann beispielsweise wenigstens 10 mm x 10 mm betragen. Alternativ oder zusätzlich kann eine GrundflächeA3 der Metallisierungsschicht3 größer sein als das-0,9-fache einer GrundflächeA2 der dielektrischen Schicht2 . Das bedeutet, dass sich die Metallisierungsschicht3 optional über einen sehr großen Bereich der dielektrischen Schicht2 erstrecken kann. Sofern die Metallisierungsschicht3 zwei oder mehr voneinander getrennte Abschnitte3-1 ,3-2 aufweist, errechnet sich die GrundflächeA3 der Metallisierungsschicht3 aus der Summe der GrundflächenA3-1 ,A3-2 von sämtlichen ihrer Abschnitte3-1 ,3-2 . Als Grundflächen werden jeweils die größtmöglichen Projektionsflächen angesehen, die durch eine Orthogonalprojektion der betreffenden Schicht bzw. des betreffenden Abschnitts auf eine Ebene erzielt werden kann. - Die bei der vorliegenden Beschreibung und in den Patentansprüchen zur Unterscheidung der Teilschichten
31 bis36 verwendeten Bezeichnungen „erste“, „zweite“... „sechste“ Teilschicht dient lediglich dazu, verschiedenartige Teilschichten voneinander zu unterscheiden. Diese Bezeichnungen beziehen sich weder auf eine Herstellungsreihenfolge der Teilschichten31 bis36 , noch auf die Reihenfolge, in der sie angeordnet sind. Diese Bezeichnungen stellen außerdem keine Angabe über die Gesamtzahl der Teilschichten der Metallisierungsschicht3 dar.
Claims (15)
- Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsträgers (100) mit den Schritten: Bereitstellen eines metallischen Trägers (1); Bereitstellen einer Metallfolie; Erzeugen einer dielektrischen Schicht (2) an einer metallischen Oberfläche (1t) des Trägers (1) durch Oxidation des Trägers (1); Erzeugen einer Metallisierungsschicht (3), die eine erste Teilschicht (31) und eine zweite Teilschicht (32) aufweist, auf der dem Träger (1) abgewandten Seite der dielektrischen Schicht (2), indem - auf der dem Träger (1) abgewandten Seite der dielektrischen Schicht (2) die erste Teilschicht (31) erzeugt wird; und nachfolgend - die Metallfolie als zweite Teilschicht (32) auf die dem Träger (1) abgewandte Seite der ersten Teilschicht (31) aufgebracht und unmittelbar mit dieser verbunden wird.
- Verfahren nach
Anspruch 1 , bei dem die dielektrische Schicht (2) durch eine Oxidkeramik gebildet ist. - Verfahren nach
Anspruch 2 , bei dem die dielektrische Schicht (2) als Aluminiumoxid-Schicht oder als Zirconiumdioxid-Schicht oder als TitanoxidSchicht oder als Magnesiumoxid-Schicht oder als Zinkoxid-Schicht ausgebildet ist. - Verfahren nach
Anspruch 2 oder3 , bei dem die dielektrische Schicht (2) eine Schichtdicke (d2) von wenigstens 10 µm und/oder von höchstens 150 µm aufweist. - Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die erste Teilschicht (31) eine Schichtdicke (d31) von mindestens 0,2 µm und/oder von höchstens 7 µm aufweist.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die erste Teilschicht (31) durch galvanisches Abscheiden, durch Sputtern, durch Aufdampfen, oder durch eine Kombination hiervon erzeugt wird.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die erste Teilschicht (31) aus Aluminium oder Silber oder Nickel oder Palladium oder Titan oder Kupfer besteht oder zumindest eines dieser Metalle aufweist.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die zweite Teilschicht (32) aus Kupfer oder Aluminium oder Silber oder Gold oder einer Legierung mit zumindest einem dieser Metalle besteht.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die zweite Teilschicht (32) eine Schichtdicke (d32) aufweist, die mindestens 70 µm und/oder von höchstens 600 µm beträgt; und/oder mindestens das 10-fache der Schichtdicke (d31) der ersten Teilschicht beträgt.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die dielektrische Schicht (2) eine erste Grundfläche (A2) aufweist, die wenigstens 10 mm x 10 mm beträgt; und/oder die Metallisierungsschicht (3) eine zweite Grundfläche (A3) aufweist, die im Bereich zwischen dem 0,9-fachem und 1,0-fachen der ersten Grundfläche (A2) liegt.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das unmittelbare miteinander Verbinden der ersten Teilschicht (31) und der Metallfolie dadurch erfolgt, dass die Metallfolie und die dem Träger (1) abgewandte Seite (31t) der ersten Teilschicht (31) unmittelbar aneinander gelegt und so miteinander verpresst werden; und die erste Teilschicht (31) und die Metallfolie im miteinander verpressten Zustand für wenigstens 2 Stunden auf Temperaturen von wenigstens 150°C erwärmt und dadurch miteinander diffusionsverschweißt werden.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Erzeugen der dielektrischen Schicht (2) durch elektrolytische Oxidation des Trägers (1) erfolgt.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem die erzeugte Metallisierungsschicht (3) strukturiert wird.
- Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem der hergestellte Schaltungsträger (100) unbestückt ist.
- Verfahren zum Bestücken eines Schaltungsträgers (100) mit einem elektronischen Bauteil (5) mit den Schritten: Herstellen eines Schaltungsträgers (100) nach einem der vorangehenden Ansprüche; Bereitstellen eines elektronischen Bauteils (5); Herstellen einer stoffschlüssigen Verbindung zwischen der dem Träger (1) abgewandten Seite der zweiten Teilschicht (32) und dem elektronischen Bauteil (5).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014105000.2A DE102014105000B4 (de) | 2014-04-08 | 2014-04-08 | Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014105000.2A DE102014105000B4 (de) | 2014-04-08 | 2014-04-08 | Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102014105000A1 DE102014105000A1 (de) | 2015-10-08 |
DE102014105000B4 true DE102014105000B4 (de) | 2021-02-25 |
Family
ID=54146274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102014105000.2A Active DE102014105000B4 (de) | 2014-04-08 | 2014-04-08 | Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102014105000B4 (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107604353A (zh) * | 2017-09-13 | 2018-01-19 | 中国兵器工业第五九研究所 | 保护层制备方法及钢铁构件 |
DE102018104521B4 (de) | 2018-02-28 | 2022-11-17 | Rogers Germany Gmbh | Metall-Keramik-Substrate |
JP7147502B2 (ja) | 2018-11-19 | 2022-10-05 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置、電力変換装置および半導体装置の製造方法 |
DE102019129675A1 (de) | 2018-12-11 | 2020-06-18 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zum Herstellen eines Leistungshalbleitermoduls |
CN109930147B (zh) * | 2019-04-04 | 2021-02-26 | 中国船舶重工集团公司第七二五研究所 | 一种铅双极板及其制备方法 |
DE102022207525A1 (de) | 2022-07-22 | 2024-01-25 | Vitesco Technologies Germany Gmbh | Leistungsmodul und Verfahren zur Herstellung desselben, Stromrichter mit einem Leistungsmodul |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0242626A2 (de) * | 1986-04-22 | 1987-10-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Befestigung von elektronischen Bauelementen auf einem Substrat |
US5807626A (en) * | 1995-07-21 | 1998-09-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ceramic circuit board |
DE10339692A1 (de) * | 2003-08-28 | 2005-03-31 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH | Entwärmende Isolationsschicht |
DE102005054393A1 (de) * | 2004-11-25 | 2006-06-01 | Fuji Electric Holdings Co., Ltd. | Isolierendes Substrat und Halbleiterbauelement |
DE60113337T2 (de) * | 2000-06-23 | 2006-06-22 | Alstom | Elektronisches Leistungsmodul mit elektronischen Hochleistungsbauteilen und zugehöriges Herstellungsverfahren |
DE102007022337A1 (de) * | 2007-05-12 | 2008-11-20 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Gesintertes Leistungshalbleitersubstrat sowie Herstellungsverfahren hierzu |
US20110079418A1 (en) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic wiring board and method of manufacturing thereof |
US20110284382A1 (en) * | 2010-05-24 | 2011-11-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
-
2014
- 2014-04-08 DE DE102014105000.2A patent/DE102014105000B4/de active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0242626A2 (de) * | 1986-04-22 | 1987-10-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Befestigung von elektronischen Bauelementen auf einem Substrat |
US5807626A (en) * | 1995-07-21 | 1998-09-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ceramic circuit board |
DE60113337T2 (de) * | 2000-06-23 | 2006-06-22 | Alstom | Elektronisches Leistungsmodul mit elektronischen Hochleistungsbauteilen und zugehöriges Herstellungsverfahren |
DE10339692A1 (de) * | 2003-08-28 | 2005-03-31 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH | Entwärmende Isolationsschicht |
DE102005054393A1 (de) * | 2004-11-25 | 2006-06-01 | Fuji Electric Holdings Co., Ltd. | Isolierendes Substrat und Halbleiterbauelement |
DE102007022337A1 (de) * | 2007-05-12 | 2008-11-20 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Gesintertes Leistungshalbleitersubstrat sowie Herstellungsverfahren hierzu |
US20110079418A1 (en) * | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Ibiden Co., Ltd. | Ceramic wiring board and method of manufacturing thereof |
US20110284382A1 (en) * | 2010-05-24 | 2011-11-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102014105000A1 (de) | 2015-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102014105000B4 (de) | Verfahren zur Herstellung und zum Bestücken eines Schaltungsträgers | |
DE102009029577B3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines hochtemperaturfesten Leistungshalbleitermoduls | |
AT512525B1 (de) | Leiterplatte, insbesondere für ein Leistungselektronikmodul, umfassend ein elektrisch leitfähiges Substrat | |
EP1989741B1 (de) | Verfahren zum herstellen von peltier-modulen | |
WO2013013964A1 (de) | Trägervorrichtung, elektrische vorrichtung mit einer trägervorrichtung und verfahren zur herstellung dieser | |
DE102013102540B4 (de) | Metall-Keramik-Substrat, Modulanordnung sowie Verfahren zum Herstellen eines Metall-Keramik-Substrates | |
WO2019011456A1 (de) | Optoelektronische vorrichtung mit auf einer rahmen-tragstruktur oberflächenmontiertem bauelement sowie reflektierendes verbundmaterial für eine derartige vorrichtung | |
DE102013200868B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung und einer elektrischen Verbindung | |
DE102012216546B4 (de) | Verfahren zum verlöten eines halbleiterchips mit einem träger | |
DE102015114521B4 (de) | Verfahren zum Auflöten eines Isoliersubstrats auf einen Träger | |
DE102006011743A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Peltier-Modulen sowie Peltier-Modul | |
DE102006060899A1 (de) | Anschlussdraht, Verfahren zur Herstellung eines solchen und Baugruppe | |
DE102008044354A1 (de) | Solarzellensystem, Solarzellenmodul und Verfahren zur Herstellung eines Solarzellensystems | |
DE102009040627B4 (de) | Halbleiterbauelement und Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Systems | |
DE102014206606A1 (de) | Verfahren zum Montieren eines elektrischen Bauelements auf einem Substrat | |
DE102009044933B4 (de) | Leistungshalbleitermodul mit mindestens zwei verbundenen Schaltungsträgern und Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls mit mindestens zwei verbundenen Schaltungsträgern | |
DE19758452C2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Metall-Keramik-Substrates und Metall-Keramik-Substrat | |
DE102015121775B3 (de) | Verfahren zum Verbinden eines Halbleiterchips mit einer metallischen Oberfläche eines Substrats mittels zweier Kontaktmetallisierungsschichten und Verfahren zur Herstellung einer Elektronikbaugruppe | |
DE102005006281A1 (de) | Halbleiterbauteil mit Goldbeschichtungen und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102019124954A1 (de) | Verfahren zum Verbinden eines ersten elektronischen Bauteils mit einem zweiten elektronischen Bauteil | |
DE102012213555A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Substrats für ein Leistungshalbleiterbauelement und Substrat | |
WO2013045367A2 (de) | Elektronische baugruppe mit hochtemperaturstabilem substratgrundwerkstoff | |
EP4080564A1 (de) | Elektrischer kontakt eines auf einen schaltungsträger aufbringbaren schaltungselements oder eines elektrischen verbinders sowie verfahren zum herstellen einer elektrisch leitenden verbindung | |
EP2804228B1 (de) | Thermoelektrisches Modul | |
EP1085792A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Leiterplatte sowie Leiterplatte |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R082 | Change of representative |