DE10139645C2 - Goniometer - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Goniometer zur winkelaufgelösten
berührungslosen ellipsometrischen Untersuchung einer Probe,
bei dem zwei bewegliche Elemente des Ellipsometers auf kon
zentrischen Kreisbahnen um die Probe bewegbar sind.
In der Ellipsometrie tritt häufig die Aufgabe auf, ein Mess
gerät auf einer konzentrischen Kreisbahn um eine Probe herum
zubewegen, um eine winkelaufgelöste Messung durchzuführen.
Bei Ellipsometern, wie sie insbesondere zur Bestimmung der
Dicke von Stoffschichten eingesetzt werden, wird beispiels
weise der Einfallswinkel einer Lichtquelle auf die Probe va
riiert, während gleichzeitig ein Detektor das von der Ober
fläche der Probe reflektierte Licht aufnimmt und bezüglich
seines Polarisationszustandes analysiert.
Dazu ist es dem Prospekt "Imaging Ellipsometry, An introduc
tion to the I-Elli 2000 Imaging Ellipsometers" mit Stand vom
Sept. 1999 der NFT-Nanofilm Technologie GmbH in D-37081 Göt
tingen, bekannt, die Lichtquelle und den Detektor drehbar zu
lagern, so dass eine konzentrische Drehachse in der Proben
fläche liegt. Bei diesen Konstruktionen befindet sich ein me
chanisches Drehlager vor oder hinter der Probe, wodurch die
Probengröße limitiert wird. Diese Limitation wirkt sich
nachteilig auf die Einsatzbreite einer derartigen Messvor
richtung aus.
Weiterhin sind Goniometer bekannt, die ein oder mehrere Ele
mente, z. B. optische Systeme, durch die Verwendung von Kreis
segmentführungen um eine virtuelle Drehachse führen. Diese
Systeme limitieren prinzipiell die Probengröße nicht, haben
aber einen geringen Verstellbereich des Winkels und sind in
ihrer Konstruktion, insbesondere wenn mehrere Elemente ge
führt werden sollen, aufwendig und teuer. Für ellipsometri
sche Untersuchungen ist es jedoch vorteilhaft, einen großen
Winkelverstellbereich und eine möglichst flexible Elementfüh
rung zu haben. Wünschenswert ist es auch, ein möglichst kos
tengünstiges und flexibel einsetzbares Ellipsometer, das für
einen weiten Anwenderkreis, d. h. für wissenschaftliche Unter
suchungen in Forschungslabors bis hin zum industriellen Ein
satz geeignet ist, zur Verfügung stellen zu können. Dies ist
jedoch bei den zum Aufbau der ellipsometrischen Elemente bis
her verwendeten Goniometern nur unzureichend möglich.
Aus der US 3 892 967 ist eine Vorrichtung für radiologische
Untersuchungen bekannt. An einem um eine zentrale Achse dreh
baren Rotor sind zwei Querarme mittig drehbar gelagert. Die
Enden der Arme sind jeweils mit einem weiteren Seitenarm pa
rallel zur Zentralachse über Drehachsen verbunden. Die vier
verbundenen Arme bilden ein winkelverstellbares Parallelo
gramm. An den von dem Rotor entfernt liegenden Enden der Sei
tenarme ist jeweils ein Strahlungselement, insbesondere eine
Strahlungsquelle und ein Strahlungsempfänger drehbar gela
gert. Zwei weitere parallel zu den Seitenarmen liegende Ver
bindungen zwischen der Strahlungsquelle und dem nächstliegen
den Querarm bzw. zwischen dem Strahlungsempfänger und diesem
Querarm, führen die Strahlungselemente bei einer
Winkelverstellung der Arme in ihre Winkelposition.
Über Gegengewichte und Seilzüge sind die Strahlungselemente
derart miteinander gekoppelt, dass sie sich stets auf einer
gemeinsamen Strahlungsachse gegenüber stehen und die Strah
lungsachse im Mittelpunkt die Zentralachse schneidet. Auf
diesen Schnittpunkt ist das Untersuchungssubjekt, z. B. ein
menschliches Herz ausgerichtet. Durch Verfahren des Paralle
logramms in eine bestimmte Winkelposition und Drehen des Ro
tors lassen sich die Strahlungselemente auf einer konzentri
schen Kugeloberfläche bewegen.
Der Fachmann für Ellipsometrie erhält aus dieser Entgegenhal
tung keinen Hinweis zur Anwendung bezüglich ellipsometrischer
Messungen.
Die bekannte Vorrichtung für radiologische Untersuchungen er
möglicht zwar durch das winkelverstellbare Parallelogramm die
Bewegung eines Elementes auf einer Kreisbahn. Nachteilig
wirkt sich aber die koaxiale Kopplung dieses Elementes mit
einem zweiten Element für die Verwendungsmöglichkeit bei ana
lytischen Oberflächenuntersuchungen aus. Die Vorrichtung ist
für Messtechniken einsetzbar, bei denen die Untersuchungspro
be durchstrahlt wird, wie beispielsweise bei Tomographiegerä
ten, nicht hingegen, wenn z. B. eine Probe mit einer Strah
lungsquelle winkelaufgelöst bestrahlt werden und mit einem
von der Strahlungsquelle unabhängig verstellbaren Detektor
das reflektierte Licht gemessen werden soll. Die Kopplung der
Strahlungselemente auf einer Achse machen diese Art von Mes
sungen unmöglich. Zudem ist der um die Zentralachse drehbare
Rotor konstruktiv sehr aufwendig und für analytische Oberflä
chenuntersuchungen eher hinderlich. Auch hat die Anlage ins
gesamt einen hohen Raumbedarf, da sie vorzugsweise für die
Untersuchung des menschlichen Körpers ausgelegt ist. Für ana
lytische Oberflächenuntersuchungen an kleinen Proben, z. B. an
dünnen Stoffschichten, ist die bekannte Vorrichtung daher
nicht geeignet.
Weiterhin ist aus der DE 693 10 085 T2 ein ferngesteuerter,
um einen Zentralpunkt bewegbarer Roboter für Chirurgie be
kannt. Zweck des Roboters ist es, ein chirurgisches Instru
ment, beispielsweise ein Laparoskop, im Körper eines Patien
ten neu positionieren zu können, ohne dass sich ein proxima
les, d. h. der Mitte des Roboters zugelegenes, Teil des Robo
ters im Arbeitsbereich des Chirurgen oberhalb des Patienten
befindet. Das chirurgische Instrument, das sich an dem dista
len Teil des Roboters befindet, wird von einem Manipulator
gehalten, der an einem Gestänge angeordnet ist. Das Gestänge
besteht aus einer Anzahl starrer Gestängeelemente, die unter
einander mittels Zapfen oder Drehgelenken verbunden sind.
Durch Drehung der Gestängeelemente um die Zapfen wird eine
Bewegung des Instrumentes um einen in einer bestimmten Ent
fernung zu dem Roboter gelegenen Arbeitspunkt beschrieben.
Bei dem Roboter für chirurgische Eingriffe am Menschen, han
delt es sich um ein medizinisches Gerät zur Positionierung
eines chirurgischen Instrumentes. Hier wird die Aufgabe ge
löst, um zwischen Bedienungsteilen bzw. Bediener und Objekt
(Patient) einen großen Abstand herzustellen. Für die Durch
führung ellipsometrischer Messungen erhält der Fachmann keine
Hinweise. Nachteilig wirkt sich aus, dass die einzelnen Kom
ponenten des Roboters, die Verstellmöglichkeiten und deren
Steuerung für die Ausübung von Kräften auf den Patienten aus
gelegt sind, hingegen ist der Roboter nicht auf eine mög
lichst hohe Winkelauflösung optimiert. Weiterhin sind relativ
aufwendige mechanische Vorrichtungen für Grobeinstellungen
vorgesehen. Zudem sind die relativ großen Abmessungen des Ro
boters (und des Objektes) nicht für ellipsometrische Vorrich
tungen geeignet. Auch ist die Auslegung der einzelnen Kompo
nenten des Roboters, bei dem es u. a. auf eine besondere e
lektrische Isolation, Abbaumöglichkeiten und Eignung bestimm
ter Teile zur Sterilisation, Anbaumöglichkeiten von Verlänge
rungsgestängen u. a., nicht ohne Weiteres an die Anforderungen
für ein Goniometer für die Ellipsometrie, bei dem es u. a. auf
eine hohe Winkelauflösung und Winkeleinstellung, eine gute
Schwingungsisolation, geringe Materialausdehnung bei Tempera
turschwankungen und eine kompakte Bauweise ankommt, anpass
bar.
Aus der DE 198 16 974 C1 ist eine Vorrichtung zur automati
schen relativen Justierung von Proben bezüglich eines El
lipsometers bekannt. Zweck ist es, durch die automatische
Justierung wiederholte Eichmessungen überflüssig zu machen.
Dadurch soll das Ellipsometer insbesondere für Anwendungen
mit häufigem Probenwechsel über lange Zeiträume praktikabler
handhabbar werden. Dafür ist ein speziell ausgebildetes opti
sches Proben-Lage-Erkennungssystem und eine Verstelleinrichtung,
die auf das Erkennungssystem und/oder auf einen Pro
bentisch einwirkt, vorgesehen.
Zur winkelaufgelösten Bewegung der ellipsometrischen Untersu
chungselemente um die Probe herum, findet der Fachmann in
dieser keine Hinweise.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, die bekann
ten Goniometer für ellipsometrische Untersuchungen so zu
verbessern, dass sie mit relativ geringem Konstruktions- und
Kostenaufwand die Führung von Elementen auf einer konzentri
schen Kreisbahn um eine Probe in einem großen Winkelverstell
bereich und ohne Limitation der Probengröße ermöglichen, und
dass sie in ihren Anwendungsmöglichkeiten flexibler sind.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß in Verbindung mit dem O
berbegriff des Anspruches 1 dadurch gelöst, dass vier drehbar
verbundene Arme ein aus zwei gekoppelten Parallelogrammen be
stehendes winkelverstellbares Doppelparallelogramm bilden,
das an einer Längsseite eines mit seiner Längsachse senkrecht
zu einer Probenebene ausgerichteten Halters angeordnet ist,
bei dem ein Hauptarm an einer ersten Drehachse und ein Füh
rungsarm an einer zweiten Drehachse an dem Halter gelagert
sind, bei dem ein erster Verbindungsarm an einer dritten
Drehachse an dem Führungsarm und an einer vierten Drehachse
an dem Hauptarm gelagert ist, bei dem ein zweiter Verbin
dungsarm an einer fünften Drehachse an dem Hauptarm gelagert
ist, und bei dem das Element an einer sechsten Drehachse an
dem zweiten Verbindungsarm und an einer siebten Drehachse an
dem ersten Verbindungsarm gelagert ist, so dass das Element
durch eine Drehung des Hauptarms oder des Führungsarms mit
einer vorgebbaren Winkelauflösung um eine virtuelle Drehachse
führbar ist, und das spiegelsymmetrisch zu dem ersten Doppel
parallelogramm ein zweites Doppelparallelogramm gleicher Bau
weise an einer der ersten Längsseite gegenüberliegenden zwei
ten Längsseite des Halters angeordnet ist, und dass das zwei
te Doppelparallelogramm ein als Strahlungsquelle ausgebildetes
Element trägt, und das Element des ersten Doppelparalle
logramms als ein Strahlungsdetektor ausgebildet ist.
Das an einer Längsseite des Halters drehbar gelagerte Doppel
parallelogramm ermöglicht auf einfache Weise die Führung ei
nes an ihm drehbar gelagerten Elements auf einer konzentri
schen Kreisbahn um eine zu untersuchende Probe. Statt vor o
der hinter der Probe, ist das Goniometer oberhalb der Probe
an dem Halter gelagert. Hingegen liegt in der Probenebene die
virtuelle Drehachse, so dass es keine Behinderung der Probe
durch eine reale physische Drehachse in der Probenebene und
damit keine durch eine Drehachse verursachte Limitation der
Probengröße gibt.
Die Probe kann mit dem Goniometer in einem weiten Winkelbe
reich umfahren werden. Ein unterer Anschlag ist durch die
Achsen und Arme gegeben und kann nahe bei einem Winkel von
180° liegen. Insbesondere können dadurch auch Transmissions
messungen vorgenommen werden, z. B. an Proben in Messzellen.
Dabei ist es mit Hilfe des Goniometers möglich, nicht nur das
von der Probenoberfläche reflektierte Licht, sondern auch
transmittierte Strahlung, zu erfassen.
Durch die spiegelsymmetrische Anordnung mit zwei Doppelparal
lelogrammen können sowohl die Strahlungsquelle als auch der
Strahlungsdetektor jeweils mit einer hohen Winkelauflösung
unabhängig voneinander um die Probe geführt werden. Dies
macht das Goniometer zu einem sehr flexibel einsetzbaren El
lipsometer, mit dem günstige Winkeleinstellungen sowohl für
die Strahlungsquelle als auch für den Strahlungsdetektor für
alle gängigen ellipsometrischen Untersuchungsverfahren frei
wählbar vorgenommen werden können. Typische Anwendungsberei
che in denen das Goniometer besonders vorteilhaft in einer
ellipsometrischen Messvorrichtung eingesetzt werden kann sind
Schichtdickenmessungen, Oberflächengrenzschichtuntersuchun
gen, Oberflächenmorphologieuntersuchungen und Oberflächenkon
taminationsmessungen, an verschiedensten organischen und anorganischen
Probenschichten mit verschieden großer räumlicher
Ausdehnung.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfin
dung sind die beiden Doppelparallelogramme wahlweise gekop
pelt oder unabhängig voneinander verstellbar.
Durch die Kopplung oder Entkopplung der beiden Doppelparalle
logramme kann das Goniometer besser an die jeweilige Messauf
gabe angepasst werden. So kann durch die Kopplung Quelle und
Detektor bei einem festen Winkel zueinander um die Probe ver
fahren werden. Bei einem entkoppelten Betrieb ist es aber
auch möglich, dass nur ein Element verfahren wird, während
das zweite feststeht.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
ist der Antrieb als mindestens eine an einer geeigneten Dreh
achse angeordnete rotatorische Antriebseinheit ausgebildet.
Der Antrieb kann auch als mindestens eine zwischen zwei ge
eigneten Drehachsen zweier Arme angeordnete lineare Antriebs
einheit ausgebildet sein.
Der motorische Antrieb mit einer Steuereinheit über eine ro
tatorische oder eine lineare Antriebseinheit erlaubt ein sehr
genaues elektronisch gesteuertes Verfahren der Elemente. Da
durch kann ein vollautomatisches Messprogramm durchgeführt
werden, wodurch die Handhabung des Goniometers komfortabler
wird. Weiterhin ist eine sehr genaue Winkeleinstellung der
Elemente möglich, wodurch sich eine sehr hohe Winkelauflö
sung, etwa in einer Größenordnung von 0,01° erzielen lässt.
Grundsätzlich ist jedoch auch ein manueller Antrieb möglich.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfin
dung ist der Halter in einer zu der Probenebene senkrechten
Richtung verstellbar. Der Halter kann auch in mindestens ei
ner zu der Probenebene parallelen Richtung verstellbar sein.
Durch die Verstellmöglichkeiten des Halters kann die relative
Lage zwischen Goniometer und Probenoberfläche variiert wer
den, wodurch sich die Verwendungsmöglichkeiten weiter verbes
sern.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
ist ein die Probe tragender Probentisch vorgesehen. Der Pro
bentisch kann in mindestens einer Richtung senkrecht zu der
Längsachse des Halters verstellbar sein. Der Probentisch kann
auch in einer Richtung parallel zu der Längsachse des Halters
verstellbar sein.
Ein spezieller Probentisch erleichtert die Handhabung des Go
niometers. Durch die Verstellbarkeit des Probentisches werden
seine Verwendungsmöglichkeiten erhöht.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfin
dung weist der Halter mindestens eine motorische Verstellein
heit auf. Auch der Probentisch kann mindestens eine motori
sche Verstelleinheit aufweisen.
Die Verstellung von Halter oder Probentisch kann z. B. über
elektrische Mikrometerantriebe erfolgen, wodurch die Handha
bung des Goniometers weiter verbessert wird. Grundsätzlich
kann die Verstellung aber auch kostengünstig manuell z. B. ü
ber Mikrometerschrauben erfolgen.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
ist der Probentisch um mindestens eine Drehachse verstellbar.
Durch eine Drehachsenverstellung des Probentischs können die
Möglichkeiten zur Ausrichtung der Probe weiter verbessert
werden.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfin
dung weist mindestens ein Arm eine einstellbare Länge auf. Es
kann auch mindestens eine Drehachse in Längsrichtung eines
ihr zugehörigen Armes verschiebbar ausgebildet sein.
Durch eine Justage der Drehachsen, z. B. mit Hilfe von Langlö
chern, oder verstellen der Länge eines oder mehrerer Arme,
können mechanische Fertigungstoleranzen, insbesondere zwi
schen den an beiden Längsseiten des Halters angebrachten ent
sprechenden Bauteilen der Doppelparallelogramme, ausgeglichen
werden.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
sind Mittel zum ausbalancieren des Doppelparallelogramms vor
gesehen. Die Mittel zum ausbalancieren des Doppelparallelo
gramms können als mindestens ein Gegengewicht an mindestens
einem der Arme ausgebildet sein, sie können auch als mindes
tens eine an mindestens einer Drehachse angeordnete Feder
ausgebildet sein. Die Feder kann als Torsionsfeder ausgebil
det sein.
Durch die Anbringung eines Gegengewichts, z. B. an einer Ver
längerung des Führungsarms über den Halter hinaus, kann das
System ausbalanciert werden. Dadurch wird der motorische An
trieb vereinfacht. Dies kann auch durch Federn, z. B. Torsi
onsfedern, die an einer oder mehreren Achsen ein der Schwer
kraft entgegenwirkendes Drehmoment erzeugen, realisiert wer
den.
Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nach
folgenden ausführlichen Beschreibung und den beigefügten
Zeichnungen, in denen bevorzugte Ausführungsformen der Erfin
dung beispielsweise veranschaulicht sind.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 Eine schematische Frontansicht eines Goniometer
mit einem Doppelparallelogramm und,
Fig. 2 das Goniometer von Fig. 1 zusätzlich mit einem
zweiten Doppelparallelogramm.
Ein Goniometer besteht im Wesentlichen aus vier drehbar ver
bundenen Armen 8, 9, 10, 11, die ein an einem Halter 15 gela
gertes, winkelverstellbares Doppelparallelogramm 14 bilden,
mit dem ein Element 23 auf einer konzentrischen Kreisbahn um
eine in einer Probenebene 19 liegende virtuelle Drehachse 22
um eine Probe 21 führbar ist.
An einer Längsseite 16 des Halters 15 ist das Doppelparalle
logramm 14 angeordnet. Der Halter 15 ist mit seiner Längsach
se 17 senkrecht zu der Probenebene 19 ausgerichtet und in
zwei Richtungen senkrecht 28 und parallel 27 zu der Proben
ebene 19 mit einer (nicht dargestellten) Verstelleinheit ver
stellbar. Die Probe 21 befindet sich auf einem Probentisch
20, der in zwei Richtungen parallel 25 und senkrecht 26 zu
der Längsachse 17 des Halters 15 mit einer weiteren (nicht
dargestellten) Verstelleinheit verstellbar ist, sowie eine
horizontale Ausrichtung der Probe durch zwei senkrechte Dreh
achsen 30, 31 erlaubt. Durch seitliches Verfahren des Proben
tisches 20 in Richtung 26 kann ein Verstellweg mit einem un
teren Anschlag, diametral zu dem Halter 15 liegend, d. h. nahe
bei 180°, für das Goniometer freigegeben werden. Dadurch sind
auch Messungen möglich, bei denen eine durch die Probe 21
transmittierte Strahlung untersucht werden soll. Der Proben
tisch 20 kann dazu aus einem für bestimmte Strahlung durch
lässigen Material ausgebildet sein, oder durch eine (nicht
dargestellte) entsprechende Messzelle ersetzt werden.
Die vier Arme sind als ein lasttragender Hauptarm 8, ein Füh
rungsarm 9, ein erster Verbindungsarm 10 und ein zweiter Ver
bindungsarm 11 ausgebildet. Insgesamt sind sieben als mecha
nische Drehlager ausgebildete Drehachsen 1 bis 7 vorgesehen.
Das Doppelparallelogramm 14 besteht aus zwei gekoppelten Pa
rallelogrammen 12 und 13 die durch die Drehachsen 1/2/3/4
bzw. 4/5/6/7 gebildet werden. Der Hauptarm 8 wird durch die
Drehachsenverbindung 1-4-5 bestimmt. Er ist mit seinem einen
Ende in der ersten Drehachse 1 gelagert. Der Führungsarm 9
wird durch die Drehachsenverbindung 2-3 bestimmt. Er ist mit
seinem einen Ende in der zweiten Drehachse 2 an dem Halter 15
gelagert. Der Führungsarm 9 gewährleistet die streng vertika
le Bewegung des ersten Verbindungsarms 10, der durch die
Drehachsenverbindung 3-4-7 bestimmt wird. Dieser Verbindungs
arm 10 ist an der dritten Drehachse 3 an dem Führungsarm 9
und an der vierten Drehachse 4 an dem Hauptarm 8 gelagert.
Der zweite Verbindungsarm 11 ist an der fünften Drehachse 5
an dem Hauptarm 8 gelagert. Er ist bestimmt durch die Dreh
achsenverbindung 5-6. Das Element 23 ist an der sechsten
Drehachse 6 an dem zweiten Verbindungsarm 11 und an der sieb
ten Drehachse 7 an dem ersten Verbindungsarm 10 drehbar auf
gehängt.
Eine Drehung des Hauptarms 8 oder des Führungsarms 9, vor
teilhaft mittels eines (nicht dargestellten) motorischen An
triebs bewirkt eine Drehung des Elements 23. Dabei bildet ein
Winkel 18 den momentanen Winkel des Elements 23 bzgl. der
Längsachse 17, d. h. des Lots auf die Probenebene 19. Das Ele
ment 23 kann innerhalb des durch die Längsachse 17 des Hal
ters 15 und die Probenebene 19 begrenzten Winkelbereichs um
die virtuelle Drehachse 22 geführt werden. Zur Durchführung
eines Messprogramms wird vorteilhaft eine (nicht dargestell
te) Steuereinheit eingesetzt, die den motorischen Antrieb an
steuert, so dass das Element 23 beispielsweise eine bestimmte
Winkelposition anfährt, oder sich mit einer vorgebbaren Win
kelauflösung schrittweise oder kontinuierlich auf einer kon
zentrischen Kreisbahn um die Probe bewegt.
Die Verstellmöglichkeiten von Halter 15 und Probentisch 20
erlauben eine genaue Ausrichtung des Elements 23 (und ggf.
weiterer Elemente) bzgl. einer Probenoberfläche 29.
Der Aufbau kann durch ein aus zwei gekoppelten Parallelogram
men 12', 13' (gebildet durch die Drehachsen 1/2/3'/4', bzw.
4'/5'/6'/7') bestehendes zweites Doppelparallelogramm 14' er
gänzt werden, so dass sich zusätzlich eine konzentrische Be
wegung eines zweiten Elements 24 realisieren lässt (Fig. 2).
Die Bauweise des zweiten Doppelparallelogramms 14' entspricht
der des ersten Doppelparallelogramms 14. Dazu sind Drehachsen
3' bis 7' vorgesehen. Es ist spiegelsymmetrisch an einer
Längsseite 16' des Halters 15 angeordnet und durch einen
Hauptarm 8' (aus der Drehachsenverbindung 1-4'-5'), einen
Führungsarm 9'(aus der Drehachsenverbindung 2-3') sowie zwei
Verbindungsarme 10', 11' (aus den Drehachsenverbindungen 3'-
4'-7', bzw. 5'-6') bestimmt. Das Doppelparallelogramm 14' ist
wie das Doppelparallelogramm 14 an den Drehachsen 1 und 2 ge
lagert und vorteilhaft von diesem unabhängig mit einem eige
nen Antrieb verstellbar. Die Arme 8', 9', 10', 11' sind durch
die Drehachsen 3', 4' und 5' verbunden. Das Element 24 ist an
den Drehachsen 6' und 7' aufgehängt. Eine jeweilige Winkelpo
sition des Elements 24 ist durch einen Winkel 18' bestimmt.
Beispielsweise kann das Goniometer so zur Führung eines Null-
Ellipsometers für eine Schichtdickenmessung einer Stoff
schicht eingesetzt werden. Dabei ist das Element 24 als Laser
mit einem vorgelagerten Polarisator sowie einem Polarisati
onskompensator und das Element 23 als CCD-Kamera mit einer
Abbildungsoptik sowie mit einem vorgelagerten Polarisations
analysator ausgebildet. Für eine Messung wird der Einfalls
winkel des Elements 24 auf die Probenoberfläche 29 variiert,
während gleichzeitig das Element 23, d. h. der Detektor das
von der Probenoberfläche 29 reflektierte Licht aufnimmt.
1
Drehachse
2
Drehachse
3
,
3
' Drehachse
4
,
4
' Drehachse
5
,
5
' Drehachse
6
,
6
' Drehachse
7
,
7
' Drehachse
8
,
8
' Hauptarm
1-4-5
, bzw.
1-4
'-
5
'
9
,
9
' Führungsarm
2-3
, bzw.
2-3
'
10
,
10
' Verbindungsarm
3-4-7
, bzw.
3
'-
4
'-
7
'
11
,
11
' Verbindungsarm
5-6
, bzw.
5
'-
6
'
12
,
12
' Parallelogramm
1
/
2
/
3
/
4
, bzw.
1
/
2
/
3
'/
4
'
13
,
13
' Parallelogramm
4
/
5
/
6
/
7
, bzw.
4
'/
5
'/
6
'/
7
'
14
,
14
' Doppelparallelogramm
15
Halter
16
,
16
' Längsseite des Halters
15
17
Längsachse des Halters
15
18
,
18
' Winkel zwischen Längsachse
17
und Element
23
,
bzw.
24
19
Probenebene
20
Probentisch
21
Probe
22
Virtuelle Drehachse
23
Element
24
Element
25
Verstellrichtung
26
Verstellrichtung
27
Verstellrichtung
28
Verstellrichtung
29
Probenoberfläche
30
Drehachse des Probentischs
20
31
Drehachse des Probentischs
20
Claims (19)
1. Goniometer zur winkelaufgelösten berührungslosen ellipso
metrischen Untersuchung einer Probe, bei dem zwei bewegliche
Elemente des Ellipsometers auf konzentrischen Kreisbahnen um die
Probe bewegbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass vier drehbar
verbundene Arme (8, 9, 10, 11) ein aus zwei gekoppelten Paralle
logrammen (12, 13) bestehendes winkelverstellbares Doppelparal
lelogramm (14) bilden, das an einer Längsseite (16) eines mit
seiner Längsachse (17) senkrecht zu einer Probenebene (19) aus
gerichteten Halters (15) angeordnet ist, bei dem ein Hauptarm
(8) an einer ersten Drehachse (1) und ein Führungsarm (9) an ei
ner zweiten Drehachse (2) an dem Halter (15) gelagert sind, bei
dem ein erster Verbindungsarm (10) an einer dritten Drehachse
(3) an dem Führungsarm (9) und an einer vierten Drehachse (4) an
dem Hauptarm (8) gelagert ist, bei dem ein zweiter Verbindungs
arm (11) an einer fünften Drehachse (5) an dem Hauptarm (8) ge
lagert ist, und bei dem das Element (23) an einer sechsten Dreh
achse (6) an dem zweiten Verbindungsarm (11) und an einer sieb
ten Drehachse (7) an dem ersten Verbindungsarm (10) gelagert
ist, so dass das Element (23) durch eine Drehung des Hauptarms
(8) oder des Führungsarms (9) mit einer vorgebbaren Winkelauf
lösung um eine virtuelle Drehachse (22) führbar ist und dass
spiegelsymmetrisch zu dem ersten Doppelparallelogramm (14) ein
zweites Doppelparallelogramm (14') gleicher Bauweise an einer
der ersten Längsseite (16) gegenüberliegenden zweiten Längsseite
(16') des Halters (15) angeordnet ist, und dass das zweite Dop
pelparallelogramm (14') ein als Strahlungsquelle ausgebildetes
Element (24) trägt, und das Element (23) des ersten Doppelparal
lelogramms (14) als ein Strahlungsdetektor ausgebildet ist.
2. Goniometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die
beiden Doppelparallelogramme (14, 14') wahlweise gekoppelt oder
unabhängig voneinander verstellbar sind.
3. Goniometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
dass mindestens ein motorischer Antrieb mit mindestens einer
winkelauflösenden elektronischen Steuereinheit vorgesehen ist.
4. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Antrieb als mindestens eine an einer geeigne
ten Drehachse angeordnete rotatorische Antriebseinheit ausgebil
det ist.
5. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Antrieb als mindestens eine zwischen zwei ge
eigneten Drehachsen zweier Arme angeordnete lineare Antriebsein
heit ausgebildet ist.
6. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Halter (15) in einer zu der Probenebene (19)
senkrechten Richtung (28) verstellbar ist.
7. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Halter (15) in mindestens einer zu der Pro
benebene (19) parallelen Richtung (27) verstellbar ist.
8. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet, dass ein die Probe (21) tragender Probentisch (20)
vorgesehen ist.
9. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Probentisch (20) in mindestens einer Richtung
(26) senkrecht zu der Längsachse (17) des Halters (15) verstell
bar ist.
10. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekenn
zeichnet, dass der Probentisch (20) in einer Richtung (25) pa
rallel zu der Längsachse (17) des Halters (15) verstellbar ist.
11. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch ge
kennzeichnet, dass der Halter (15) mindestens eine motorische
Verstelleinheit aufweist.
12. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge
kennzeichnet, dass der Probentisch (20) mindestens eine motori
sche Verstelleinheit aufweist.
13. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch ge
kennzeichnet, dass der Probentisch (20) um mindestens eine Dreh
achse (30, 31) verstellbar ist.
14. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch ge
kennzeichnet, dass mindestens ein Arm (8, 8', 9, 9', 10, 10',
11, 11') eine einstellbare Länge aufweist.
15. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch ge
kennzeichnet, dass mindestens eine Drehachse (1, 2, 3, 3', 4,
4', 5, 5', 6, 6', 7, 7') in Längsrichtung eines ihr zugehörigen
Armes (8, 8', 9, 9', 10, 10', 11, 11') verschiebbar ausgebildet
ist.
16. Goniometer nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch ge
kennzeichnet, dass Mittel zum ausbalancieren des Doppelparalle
logramms (14, 14') vorgesehen sind.
17. Goniometer nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass
die Mittel zum ausbalancieren des Doppelparallelogramms (14,
14') als mindestens ein Gegengewicht an mindestens einem der Ar
me (8, 8', 9, 9') ausgebildet sind.
18. Goniometer nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass
die Mittel zum ausbalancieren als mindestens eine an mindestens
einer Drehachse (1, 2, 3, 3', 4, 4', 5, 5', 6, 6', 7, 7') ange
ordnete Feder ausgebildet sind.
19. Goniometer nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass
die Feder als Torsionsfeder ausgebildet ist.
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