DE1007516B

DE1007516B - Facility for microscopic overview images in incident light

Info

Publication number: DE1007516B
Application number: DEL20102A
Authority: DE
Inventors: Walter Klein
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date: 1954-10-09
Filing date: 1954-10-09
Publication date: 1957-05-02

Description

Einrichtung fürmikroskopische Übersichtsbilder im Auflicht Insbesondere in der Metallmikroskopie wünscht man außer Bildern starker Vergrößerung sogenann.te übersichtsbilder zu haben., bei denen die Vergrößerung schwach ist. Will man mit der Vergrößerung bis auf 2mal und weniger heruntergehen, so läßt sich: der übliche Opak-Illuminator nicht mehr verwenden, weil das von ihm ausgeleuchtete Feld zu klein ist. Die Erfindung betrifft eine. Einrichtung, welche Objektfelder ausleuchtet, die einer Vergrößerung von lma,l und weniger entsprechen. Diese Einrichtung wird gegen den Opak-Illuminator ausgewechselt.Device for microscopic overview images in incident light in particular In metal microscopy, in addition to images of high magnification, so-called To have overview images, where the magnification is weak. Do you want to go with the magnification go down to 2 times and less, so it can be: the usual Do not use the opaque illuminator any longer because the field it illuminates is too small is. The invention relates to a. Facility that illuminates object fields, which correspond to a magnification of lma, l and less. This facility will exchanged for the opaque illuminator.

Die Erfindung besteht darin, daß dicht am Objekt eine positive Feldlinse, zwischen dem Objekt und dem schwachen Objektiv ein Strahlenteiler und in der Nähe des Strahlenteilers eine Negativlinse steht, die mit der Feldlinse ein Telesystern bildet. In der Nähe der ApeT-turblende eines Köhlerschen Beleuchtungssystems kann eine Positivlinse angeordnet sein. Die Negativblende kann dabei zwischen der Aperturble.nde und dem Strahlenteiler oder zwischen diesem und der Feldlinse stehen. In dem letztgenannten Fall nimmt die Negativlinse an der Abbildung des Objekts teil und muß der Korrektion des Objektivs angepaßt sein. Die Anordnung des Strahlenteilers in der Nähe der Negativlinse hat den Vorteil, daß er aus einer kleinen Platte bestehen kann, weil der Strahlengang hier eingeschnürt ist. Die Feldlinse richtet die Hauptstrahlen des Beleuchtungslichtes parallel und bildet nach der Reflexion der Strahlen am Objekt die Aperturblende in das Objektiv ab.The invention consists in the fact that close to the object a positive field lens, between the object and the weak lens a beam splitter and nearby the beam splitter is a negative lens, which with the field lens a telesystern forms. In the vicinity of the ApeT-turblende of a Koehler lighting system can a positive lens can be arranged. The negative diaphragm can be between the Aperturble.endes and the beam splitter or between this and the field lens. In the latter In this case, the negative lens takes part in the imaging of the object and must be corrected of the lens. The arrangement of the beam splitter near the negative lens has the advantage that it can consist of a small plate because the beam path is constricted here. The field lens directs the main rays of the illuminating light parallel and forms the aperture diaphragm after the rays are reflected on the object into the lens.

In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel dargestellt. Es zeigt Fig. 1 die Einrichtung mit Stellung der Negativlinse vor dem Strahlenteiler, Fig.2 mit deren Stellung zwischen dem Strahlenteiler und dem Objekt.An exemplary embodiment is shown in the drawing. It shows Fig. 1 the device with the position of the negative lens in front of the beam splitter, Fig.2 with their position between the beam splitter and the object.

Gemäß der Köhlerschen Anordnung wird die Lampe 1 durch den Kollektor 2 auf die Aperturblende 3 abgebildet. Der Kollektor 2 wird durch die Linse 4 und durch das aus der Negativlinse 5 und der positiven Feldlinse 6 gebildete Telesystem auf das Objekt 7 abgebildet. Nach Fig. 1 steht die Negativlinse vor dem Strahlenteiler 8, nach Fig.2 hinter demselben. Durch die Feldlinse werden die Beleuchtungshauptstrahlen parallel gerichtet, so daß auf dem Objekt ein ausgedehntes Beleuchtungsfeld entsteht, das durch den Rand der Feldlinse scharf begrenzt wird. Ferner wird durch diese die Aperturblende auf der Pupille des Objektivs 9 abgebildet.According to the Koehler arrangement, the lamp 1 is through the collector 2 mapped onto the aperture diaphragm 3. The collector 2 is through the lens 4 and by the telesystem formed from the negative lens 5 and the positive field lens 6 mapped onto object 7. According to Fig. 1, the negative lens is in front of the beam splitter 8, according to Figure 2 behind the same. The main rays of illumination are passed through the field lens directed parallel so that an extensive field of illumination is created on the object, which is sharply delimited by the edge of the field lens. Furthermore, through this the Aperture diaphragm shown on the pupil of objective 9.

Claims

PATENT CLAIMS: 1. Device for microscopic overview images in incident light, characterized in that a positive field lens, between the object and a weak lens a radiation plate and in its Near a negative lens is arranged, which forms a telesystem with the field lens.

2. Device according to claim 1, characterized in that a positive lens is arranged in the vicinity of the aperture: rblende a Koehler illumination system.

3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the negative lens stands between the aperture diaphragm and the beam splitter.

4. device 'according to claim 1 or 2, characterized in that the negative lens between the beam splitter and the positive field lens.