DE10036387A1 - Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung - Google Patents

Abstract

Es ist eine Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung offenbart, zu welcher Daten in bezug auf ein Paket, das zur Paketübertragungs-Speichervorrichtung eingegeben und von dieser ausgegeben wird, zugeführt wird, und welche einen Teil entsprechend dem Paket von Daten, die zur Speichervorrichtung eingegeben und von dieser ausgegeben werden, in Antwort auf ein Testsignal, das durch einen Testersimulator erzeugt wird, extrahiert und die Details des Teils anzeigt.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Halbleitertestprogramm- Diagnosevorrichtung, die einen Betrieb bzw. eine Operation einer Halbleitertest­ vorrichtung zum Verifizieren eines Testprogramms simuliert, und insbesondere die Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung zum Ermöglichen einer Verifizierung eines Testprogramms für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung.

Es sind Halbleitertestvorrichtungen bekannt gewesen, die für Gleichstrom- bzw. DC-Tests und Funktionstests verschiedener Halbleitervorrichtungen, wie beispiels­ weise von Logik-ICs und eines Halbleiterspeichers, vor einer Auslieferung von ih­ nen verwendet werden. Die mittels der Halbleitertestvorrichtungen durchgeführten Tests werden allgemein als Funktionstest und als Gleichstrom- bzw. DC-Test klassifiziert. Ein Funktionstest wird durch Liefern eines vorbestimmten Testmuster­ signals zu einem Meßobjekt (das hierin nachfolgend "DUT" genannt wird) durchge­ führt, um zu bestimmen, ob das DUT eine vorbestimmte Operation in Antwort auf das Testmuster durchführt. Ein DC-Test wird durchgeführt, um zu bestimmen, ob die Gleichstrom- bzw. DC-Charakteristiken von Anschlüssen eines DUT vorbe­ stimmte Charakteristiken erfüllen. Die DC-Tests enthalten beispielsweise einen Strom-Meßtest bei angelegter Spannung zum Bestimmen, ob ein vorbestimmter Strom von einem Anschluß ausgegeben wird, wenn eine bekannte Spannung an ein DUT angelegt ist, und einen Spannungs-Meßtest bei angelegtem Strom, um zu bestimmen, ob eine vorbestimmte Spannung bei einem Anschluß erscheint, wenn ein bekannter Strom zu einem DUT zugeführt oder von ihm genommen wird. Ebenso ist es bei den Funktionstests oft der Fall, daß eine Spannung und Ströme, die an ein DUT angelegt werden, zum Testen geändert werden: beispielsweise wird eine Spannung, die niedriger als eine vorbestimmte Spannung ist, als Span­ nung hohen Pegels eingestellt (beispielsweise wird 4 Volt, was niedriger als norma­ le 5 Volt ist, als die Spannung hohen Pegels eingestellt), oder wird eine Spannung, die höher als eine vorbestimmte Spannung ist, als Spannung niedrigen Pegels ein­ gestellt (beispielsweise wird 0,5 Volt, was höher als normale 0 Volt ist, als die Spannung niedrigen Pegels eingestellt).

Weil die Details eines Funktionstests oder eines DC-Tests, wie beispielsweise diesbezüglich, welche Testpunkte unter welchen Bedingungen durchgeführt wer­ den, durch ein Halbleitertestprogramm im voraus spezifiziert werden, können ver­ schiedene Tests an einem DUT durch Ausführen des Halbleitertestprogramms durchgeführt werden. Das Halbleitertestprogramm muß eine breite Vielfalt von Operationen steuern, wie beispielsweise ein Einstellen eines Testpunkts und einer Bedingung, ein Ausführen eines Tests und eine Beurteilung des Testergebnisses, und besteht daher aus einer äußerst großen Anzahl von Schritten. Wenn der Typ oder die Logik eines DUT geändert wird, müssen dementsprechend verschiedene Änderungen am Halbleitertestprogramm durchgeführt werden. Wenn ein Halbleiter­ testprogramm neu geschrieben oder modifiziert wird, muß das Programm bewertet bzw. ausgewertet werden, um zu sehen, ob das Programm selbst richtig arbeitet oder nicht.

Herkömmlicherweise wird ein Halbleitertestprogramm durch Ausführen des Pro­ gramms bei der Verwendung realer Halbleitertestvorrichtungen bewertet. Jedoch ist es nicht wünschenswert, die realen Halbleitertestvorrichtungen zu verwenden, um eine Auswertung durchzuführen, um zu sehen, ob das Halbleitertestprogramm richtig arbeitet oder nicht, weil die Anzahl von eingebauten Halbleitertestvorrichtun­ gen aufgrund ihres hohen Preises gering ist und die Fertigungsstraße für das Te­ sten eines Halbleiters durch die Bewertung bzw. Auswertung angehalten wird. Zum Fertigwerden mit diesem Problem wird heutzutage, eher als daß eine reale Halblei­ tertestvorrichtung für die Bewertung eines Halbleitertestprogramms verwendet wird, der Betrieb der Halbleitertestvorrichtung mittels eines Computers für allge­ meine Zwecke, wie beispielsweise einer Workstation, simuliert, um zu bestimmen, ob ein Halbleitertestprogramm arbeitet oder nicht.

Jedoch dann, wenn ein Halbleitertestprogramm für einen neuen Typ einer Vorrich­ tung, die Paketübertragungs-Speichervorrichtung genannt wird, durch Konfigurie­ ren und Verwenden einer virtuellen Halbleitertestvorrichtung wie bisher verifiziert wird, entstehen Probleme, wie sie nachfolgend beschrieben sind. Ungleich her­ kömmlicher Speichervorrichtungen hat die Paketübertragungs-Speichervorrichtung keine vorbestimmten Adressenpins oder Datenpins und sie extrahiert statt dessen eine Adresse und Daten basierend auf zu einer vorbestimmten Anzahl von Pins eingegebenen Paketdaten und liest/schreibt Daten basierend auf der extrahierten Adresse und den extrahierten Daten.

Die Paketübertragungs-Speichervorrichtung kann daher nicht durch einfaches An­ legen von gemäß einem Halbleitertestprogramm erzeugten Daten an die Pins der Vorrichtung, wie die Adressenpins und Datenpins herkömmlicher Speichervorrich­ tungen getestet werden. Ein Anwender muß ein Halbleitertestprogramm schreiben, während er dafür Sorge trägt, sicherzustellen, daß Daten gemäß der Konfiguration von Paketdaten erzeugt werden, die spezifisch für die Paketübertragungs- Speichervorrichtung sind. Zusätzlich ist es erforderlich, daß verifiziert wird, daß durch das geschriebene Halbleitertestprogramm erzeugte Daten den Paketdaten entsprechen, die spezifisch für die Paketübertragungs-Speichervorrichtung sind. Bislang wird diese Verifizierung durch den Anwender manuell durchgeführt, der die durch die Ausführung des Halbleitertestprogramms ausgegebenen Daten druckt oder auf einer CRT anzeigt.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung ist angesichts der oben angegebenen Probleme ge­ macht, und es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Halbleitertestpro­ gramm-Diagnosevorrichtung zu schaffen, die zuläßt, daß ein Halbleitertestpro­ gramm für eine Halbleitervorrichtung, wie beispielsweise eine Paketübertragungs- Speichervorrichtung, die basierend auf Paketdaten arbeitet, auf einfache Weise diagnostiziert bzw. ausgetestet wird.

Die Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung bzw. -Austestvorrichtung der vor­ liegenden Erfindung weist eine Testersimulationseinheit zum Simulieren des Be­ triebs einer Halbleitertestvorrichtung durch Erzeugen eines Testsignals auf eine Simulationsart basierend auf einem für eine Paketübertragungs- Speichervorrichtung vorgesehenen Testprogramm auf, eine Datenzuführeinheit zum Zuführen von Daten, die eine Paketeingabe zu und eine Paketausgabe von der Paketübertragungs-Speichervorrichtung betreffen und eine Paketextraktions- und -anzeigeeinheit, um basierend auf den durch die Datenzuführeinheit zugeführ­ ten Daten einen Teil entsprechend dem Paket vom durch die Testersimulationsein­ heit erzeugten Testsignal zu extrahieren und den Inhalt davon anzuzeigen.

Die Testersimulationseinheit läßt das auszutestende Testprogramm unter dem Be­ triebssystem eines Computers für allgemeine Zwecke laufen und bildet eine Halb­ leitertestvorrichtung auf eine Simulationsart. Die Datenzuführeinheit führt als die Daten, die ein Paket betreffen, Informationen über eine Paketdatenkonfiguration, die spezifisch für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung ist, und Pins, durch welche das Paket eingegeben oder ausgegeben wird, zu. Die Paketextraktions- und -anzeigeeinheit extrahiert basierend auf Daten, die das Paket betreffen, einen Teil entsprechend dem Paket von Daten, die ein von der Testsimulationseinheit ausgegebenes Testsignal sind und durch ein vorbestimmtes Pin eingege­ ben/ausgegeben werden, und zeigt die detaillierte Konfiguration des Pakets an, das dem Teil entspricht. Der Anwender kann das Halbleitertestprogramm durch Verifizieren, ob die angezeigten Details des Pakets mit erwünschten Details über­ einstimmen oder nicht, austesten bzw. diagnostizieren.

Die oben angegebene Datenzuführeinheit führt vorzugsweise Informationen über vordefinierte Pinzustände der Paketübertragungs-Speichervorrichtung, wobei eine Pingruppe das Paket bildet, die Konfiguration des Pakets und die Anfangsposition des Pakets als die Daten, die das Paket betreffen, zu. Diese Daten sind durch die Datenzuführeinheit zuzuführende vorgeschriebene Daten, die das Paket betreffen. Durch Verwendung dieser detaillierten Daten kann der Teil entsprechend dem Pa­ ket auf einfache Weise von einem durch die Testersimulationseinheit erzeugten Testsignal extrahiert werden.

Die oben angegebene Datenzuführeinheit nimmt vorzugsweise verschiedene Ein­ gaben über einen Bildschirm mit graphischer Benutzeroberfläche (GUI) an, um die Daten zu erzeugen, die das Paket betreffen. Weil der Anwender Informationen, wie beispielsweise Pinzustände, durch einfaches Auswählen oder Eingeben geeigneter Informationen durch einen Bildschirm mit vorbestimmter Definition eingeben kann, kann die Arbeit für ein Eingeben von Daten über das Paket reduziert werden.

Die oben angegebene Paketextraktions- und -anzeigeeinheit zeigt vorzugsweise den Teil entsprechend dem Paket in einem Zeitdiagrammbild unter Verwendung von Stufenwerten des Simulationsbetriebs durch die Testersimulationseinheit für die Zeitachse an. Dieses Zeitdiagrammbild spezifiziert, wie die Paketextraktions- und -anzeigeeinheit Pakete anzeigt. Dies läßt zu, daß der Anwender die Position eines Pakets in Daten auf einfache Weise kennenlernt, die sequentiell zur Pa­ ketübertragungs-Speichervorrichtung eingegeben und von dieser ausgegeben werden.

Die oben angegebene Paketextraktions- und -anzeigeeinheit zeigt vorzugsweise Ausgangswerte während jedes Zyklus für jedes Pin auf eine Weise an, daß Kom­ ponenten, die im Paket enthalten sind, auf einfache Weise identifiziert werden kön­ nen, wenn befohlen wird, Details des Teils entsprechend dem Paket anzuzeigen, das im Zeitdiagrammbild angezeigt wird. Dies läßt zu, daß der Anwender die spe­ zifischen Details des Pakets auf einfache Weise kennenlernt.

Die oben angegebene Paketextraktions- und -anzeigeeinheit zeigt vorzugsweise einen Paketkomponenten-Anzeigebereich an, in welchem die Datenkonfiguration jeder Komponente im selben Anzeigebildschirm wie dem Paketdatenkonfigurati­ ons-Anzeigebereich, in welchem Ausgangswerte angezeigt werden, angezeigt wird. Diese läßt zu, daß der Anwender die spezifischen Details der Daten für jedes Pin entsprechend dem Paket auf einfache Weise kennenlernt.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1 zeigt ein Beispiel eines Paketanzeigefunktions-Operationsprozesses.

Fig. 2 zeigt die Gesamtkonfiguration einer Halbleitertestprogramm- Diagnosevorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung.

Fig. 3 zeigt die Gesamtkonfiguration einer tatsächlichen Halbleitertestvor­ richtung.

Fig. 4 zeigt ein Beispiel eines Anzeigebildschirms in bezug auf die Einstel­ lung eines Treiberzustands in einem Pin-Definitionsdialog.

Fig. 5 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms in bezug auf einen Pingrup­ pen-Definitionsdialog.

Fig. 6 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms in bezug auf einen Paket- Definitionsdialog.

Fig. 7 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms eines Paketfensters, das ein Paket in der Form eines Zeitdiagrammbilds anzeigt.

Fig. 8 zeigt ein Beispiel eines Paketanzeigefensters, das den Inhalt des im in Fig. 7 gezeigten Zeitdiagramm ausgewählten Pakets detailliert an­ zeigt.

BESCHREIBUNG DES BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELS

Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel einer Halbleitertestprogramm- Diagnosevorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben. Fig. 2 zeigt die Gesamtkonfiguration der Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung. Die Diagnosevorrichtung 100 verifi­ ziert, ob ein Halbleitertestprogramm richtig arbeitet, durch Simulieren einer Halblei­ tertestvorrichtung und ist mit einem allgemeinen Computer, wie beispielsweise ei­ ner Workstation, implementiert.

Weil die Diagnosevorrichtung 100 gemäß dem Ausführungsbeispiel die tatsächli­ che Halbleitertestvorrichtung simuliert, wird die allgemeine Konfiguration der simu­ lierten Halbleitertestvorrichtung beschrieben, bevor die detaillierte Beschreibung der Diagnosevorrichtung 100 geliefert wird.

Fig. 3 zeigt die Gesamtkonfiguration einer tatsächlichen Halbleitertestvorrichtung. In Fig. 3 ist die Halbleitertestvorrichtung 200 gezeigt. Die Halbleitertestvorrichtung 200 führt verschiedene DC- bzw. Gleichstromtests (DC-Parametertests) und Funk­ tionstests an einem DUT durch. Die Halbleitertestvorrichtung 200 weist eine Te­ stersteuerung 210, einen Testerbus 230, einen Tester 240 und einen Sockelab­ schnitt (nicht gezeigt) zum Montieren bzw. Anbringen des DUT auf.

Die Testersteuerung 210 steuert den Betrieb des Testers 240 und weist ein Halblei­ tertestprogramm (ein Vorrichtungstestprogramm) 212, eine Sprachzerlegungs- Ausführungseinheit 216, eine Testerbibliothek 218 und einen Testerbustreiber 220 auf.

Das Vorrichtungstestprogramm 212 beschreibt, welche Tests an einem DUT durch einen Anwender unter Verwendung einer Halbleitertestvorrichtung 200 durchge­ führt werden, und ihre Verfahren und Methoden. Das Vorrichtungstestprogramm 212 enthält ein Testplanprogramm zum Einstellen von Testbedingungen bzw. Testzuständen und anderen Werten zum Steuern einer Testsequenz und ein Mu­ sterprogramm zum Einstellen von Mustern, die durch einen ALPG (einen Algorith­ mus-Mustergenerator) erzeugt werden. Typischerweise ist das Vorrichtungstest­ programm durch den Anwender der Halbleitertestvorrichtung 200 entwickelt und geschrieben. Der Anwender kann daher verifizieren, ob das Vorrichtungstestpro­ gramm 212, das durch den Anwender geschrieben ist, richtig arbeitet, indem die Diagnosevorrichtung 100 des Ausführungsbeispiels verwendet wird, um dadurch die Genauigkeit des Vorrichtungstestprogramms zu erhöhen, ohne die tatsächliche Halbleitertestvorrichtung 200 zu verwenden. Die Sprachzerlegungs- Ausführungseinheit 16 zerlegt das Vorrichtungstestprogramm 212 und spielt eine dominante Rolle beim Sicherstellen, daß die Halbleitertestvorrichtung 200 gemäß dem Vorrichtungstestprogramm 212 exakt arbeitet.

Die Testerbibliothek 218 wandelt Befehle des Vorrichtungstestprogramms 212, die durch Zerlegen durch die Sprachzerlegungs-Ausführungseinheit 216 erhalten wor­ den sind, in Registerpegelbefehle (Daten in bezug auf einen Datenschreibbefehl zu einem Register 242 und einen Datenlesebefehl vom Register 242, was nachfol­ gend beschrieben wird) um, um für den Betrieb der Halbleitertestvorrichtung 200 erforderliche Daten zu erzeugen und einzustellen, und dirigiert den Tester 240, ei­ nen Meßbetrieb durchzuführen. Der Testerbustreiber 220 überträgt die durch die Testerbibliothek 218 erzeugten Daten zum Register 242 im Tester 240 über den Testerbus 230.

Der Tester 240 führt verschiedene Tests am DUT basierend auf den von der Te­ stersteuerung 210 über den Testerbus 230 empfangenen Daten durch. Der Tester 240 weist das Register 242, einen Speicher 244 und eine Test-Ausführungseinheit 246 auf. Das Register 242 speichert von der Testerbibliothek 218 über den Tester­ bus 230 gelieferte Daten. Die im Register 242 gespeicherten Daten werden direkt oder über den Speicher 244 zur Test-Ausführungseinheit 246 ausgegeben.

Die Test-Ausführungseinheit 246 enthält eine Ausführungseinheit 247 für einen Funktionstest und eine Ausführungseinheit 248 für einen DC-Parametertest. Die Test-Ausführungseinheit 246 führt einen Funktionstest oder einen DC- Parametertest am DUT basierend auf den von der Testerbibliothek 218 gelieferten im Register 242 und im Speicher 244 gespeicherten Daten durch.

Die in Fig. 2 gezeigte Diagnosevorrichtung 100 simuliert den gesamten Betrieb der oben beschriebenen Halbleitertestvorrichtung 200. Somit kann, ob der Betrieb bzw. die Operation des Vorrichtungstestprogramms 112 mit dem Betrieb bzw. der Ope­ ration übereinstimmt, der bzw. die vom Anwender beabsichtigt ist, durch Ausführen eines für die Halbleitertestvorrichtung 200 geschriebenen Vorrichtungstestpro­ gramms 112 mittels der in Fig. 2 gezeigten Diagnosevorrichtung 100 bestimmt werden. Die Konfiguration der Diagnosevorrichtung 100 gemäß dem Ausführungs­ beispiel wird nachfolgend beschrieben.

Eine in Fig. 2 gezeigte Simulatorsteuerung 110 weist das Vorrichtungstestpro­ gramm 112, eine Sprachzerlegungs-Ausführungseinheit 116, einen Testerbiblio­ thekssimulator 118 und einen Testerbussimulator 120 auf. Die Simulatorsteuerung 110 steuert die Operation bzw. den Betrieb eines Testersimulators 140 und führt im wesentlichen dieselbe Operation wie diejenige der Testersteuerung 210 in der in Fig. 2 gezeigten Halbleitertestvorrichtung 200 durch.

Das Vorrichtungstestprogramm 112 beschreibt, welche Tests am DUT unter Ver­ wendung einer Halbleitertestvorrichtung 200 durchgeführt werden, und ihre Verfah­ ren und Methoden, und ist das durch die Diagnosevorrichtung 100 zu diagnostizie­ rende Programm. Daher ist das in Fig. 3 gezeigte Vorrichtungstestprogramm 212 als das Vorrichtungstestprogramm 112 portiert, und das Vorrichtungstestprogramm 112 ist konfiguriert, um Operationen durchzuführen, die gleich denjenigen des Vor­ richtungstestprogramms 212 sind. Gleichermaßen sind die Sprachzerlegungs- Ausführungseinheit 216 und die Testbibliothek 218, die in Fig. 3 gezeigt sind, als die Sprachzerlegungs-Ausführungseinheit 116 und der Testerbibliothekssimulator 118 portiert, und sie sind konfiguriert, um auf gleiche Weise zu arbeiten. Der Te­ sterbussimulator 120 treibt den virtuellen Testerbus 130, der die Simulatorsteue­ rung 110 virtuell mit dem Testersimulator 140 verbindet, um die Kommunikation von Daten zwischen dem Testerbibliothekssimulator 118 und dem Testersimulator 140 über den virtuellen Testerbus 130 zu steuern.

Der Testersimulator 140 ist eine Softwareimplementierung des Betriebs des in Fig. 3 gezeigten Testers 240 und führt einen simulierten Test an einer virtuellen Vorrich­ tung gemäß den Betriebsbefehlen vom Testerbibliothekssimulator 118 in der Simu­ latorsteuerung 118 durch. Der Testersimulator 140 weist ein virtuelles Register 142, einen virtuellen Speicher 144 und eine virtuelle Test-Ausführungseinheit 146 auf. Das virtelle Register 142 speichert Daten vom Testerbibliothekssimulator 118. Die im virtuellen Register 142 gespeicherten Daten werden direkt oder über den virtuellen Speicher 144 zur virtuellen Test-Ausführungseinheit 146 geliefert.

Die virtuelle Test-Ausführungseinheit 146 enthält eine Ausführungseinheit 147 für einen Funktionstest und eine Ausführungseinheit 148 für einen DC-Parametertest. Die virtuelle Test-Ausführungseinheit 146 gibt vorbestimmte Daten, die an die vir­ tuelle Vorrichtung anzulegen sind, basierend auf den vom Testerbibliothekssimula­ tor 118 gelieferten im virtuellen Register 142 gespeicherten Daten zum Durchfüh­ ren eines Funktionstests durch die Ausführungseinheit 147 für einen Funktionstest oder eines DC-Parametertests durch die Ausführungseinheit 148 für einen DC- Parametertest aus.

Für eine gemeinsame Speichervorrichtung kann die Verifizierung eines richtigen Betriebs des Vorrichtungstestprogramms 112 auf diese Weise durchgeführt wer­ den. Jedoch sollte für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung eine Verifizie­ rung diesbezüglich im voraus durchgeführt werden, ob die Konfiguration von durch das Vorrichtungstestprogramm 112 erzeugten Paketdaten mit der Konfiguration übereinstimmt, die spezifisch für die Paketübertragungs-Speichervorrichtung ist.

Ein in Fig. 2 gezeigter Paketanzeigefunktionsprozessor 150 stellt Parameter in be­ zug auf die Struktur der Paketdaten ein, die spezifisch für eine Paketübertragungs- Speichervorrichtung sind, und führt einen Prozeß zum Wiedergewinnen bzw. Aus­ lesen eines Teils entsprechend dem Paket aus einer sehr großen Menge von Da­ ten durch, die durch die Ausführung eines vorbestimmten Diagnoseprozesses er­ halten werden, und zum Anzeigen von ihm in einem vorbestimmten Format. Mit dem Paketanzeigefunktionsprozessor 150 ist eine Anzeigeeinheit 160 zum Anzei­ gen des Ergebnisses des Prozesses und zum Liefern einer GUI zum Anwender, eine Maus 162 als Zeigevorrichtung, die zum Zeigen irgendeiner Position auf dem Bildschirm der Anzeigeeinheit 160 verwendet wird, und eine Tastatur 164, die durch den Anwender zum Eingeben von Daten, wie beispielsweise von Textdaten, verwendet wird, verbunden.

Fig. 1 zeigt ein Beispiel eines Paketanzeigefunktionsprozesses zum Ermöglichen einer Verifizierung, ob durch die Ausführung des Vorrichtungstestprogramms 112 erzeugte Paketdaten Daten für die Paketübertragungs-Speichervorrichtung ent­ sprechen. Der Paketanzeigefunktionsprozeß weist Prozeßschritte von Schritten S1 bis S4 auf, die durch den Anwender mit der GUI durchgeführt werden, um Parame­ ter in bezug auf die Konfiguration von Paketdaten einzustellen, die spezifisch für die Paketübertragungs-Speichervorrichtung sind, und Prozeßschritte S5, S6 zum Anzeigen der Position eines Pakets und der Details des Pakets in Antwort auf die Ergebnisse einer tatsächlichen Diagnose durch den Testersimulator 140 in der Diagnosevorrichtung 100. Operationen vom Schritt S1 bis zum Schritt S4 werden erreicht durch Verwenden des Paketanzeigefunktionsprozessors 160, der Maus 162 und der Tastatur 164 zum Eingeben von Daten in einem vorbestimmten Be­ reich innerhalb verschiedener Definitionsdialoge (von welchen die spezifischen Beispiele nachfolgend beschrieben werden), die angezeigt werden, und zum Aus­ wählen eines von Auswahltasten, wie es die Situation erfordert. Operationen bei den Schritten S5, S6 werden erreicht durch Verwenden des Paketanzeigefunkti­ onsprozessors 160, der Maus 162 und der Tastatur 164 zum Anzeigen der Position eines Pakets und der Details des Pakets in Antwort auf die Ergebnisse einer Dia­ gnose, die durch den Testsimulator 140 unter der Steuerung der Simulatorsteue­ rung 110 durchgeführt wird.

Beim Schritt S1 stellt der Anwender den Pinzustand einer Paketübertragungs- Speichervorrichtung durch Folgen eines in Fig. 4 gezeigten Pin-Definitionsdialogs ein. Im Pin-Definitionsdialog können ein Treiberzustand, ein Komparatorzustand und ein gemeinsames I/O-Pin eingestellt werden, können DNRZ,/DNRZ spezifi­ ziert werden, kann das ALPG- oder DBM-(Datenpufferspeicher-)Muster ausgewählt werden, kann PSM oder SDM spezifiziert werden, und können andere Einstellun­ gen durchgeführt werden.

Fig. 4 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms in bezug auf das Einstellen eines Treiberzustands im Pin-Definitionsdialog. Am oberen Ende des Pin- Definitionsdialogs ist ein Titelbalken, auf welchem der Titel "Pin Definieren" ange­ zeigt wird. Die Liste von Pinnamen wird im linken Bereich dieses Dialogs ange­ zeigt, um zuzulassen, daß der Anwender einen registrierten Pinnamen anzeigt und auswählt. Pinnamen "COL0", "COL1", "COL2". . . "ROW1" und "ROW2" werden angezeigt, und in Fig. 4 wird der Pinname "COL1" ausgewählt. Tasten "Neu", "Kopieren", "Anwenden" und "Löschen", die unter dieser Pinnamensliste angezeigt werden, sind Pinnamenslisten-Manipulationstasten. Die "Neu"-Taste wird zum Edi­ tieren eines neuen Pin-Zustands verwendet. Die "Kopieren"-Taste wird zum An­ wenden des Pin-Zustandes eines ausgewählten Pins aus der Pinnamensliste auf ein neues Pin oder ein weiteres Pin verwendet. Die "Anwenden"-Taste wird zum Registrieren jedes Inhalts zum Einstellen von Elementen innerhalb des Pin- Zustands-Einstellanzeigebereichs zur Pinnamensliste verwendet. Die "Löschen"- Taste wird zum Löschen eines ausgewählten Pins aus der Pinnamensliste verwen­ det.

Rechts von der Pinnamensliste und der Pinnamenslisten-Manipulationstaste ist ein Pin-Zustandseinstell-Anzeigebereich zum Einstellen und Anzeigen von Pin- Zuständen. Der Pin-Zustandseinstell-Anzeigebereich enthält einen Pinnamensan­ zeigebereich, der mit "Pinname" betitelt ist, ein Pin-Typenauswahlmenü, das mit "Pin-Typ" betitelt ist, ein Wellenformmoden-Auswahlmenü, das mit "Wellenform" betitelt ist, einen Musterzustands-Auswahlbereich, der mit "Musterzustand" betitelt ist, einen Einstellelementen-Auswahlbereich "Einstellen" und einen Zustandsein­ stellbereich, der mit "Treiberzustand" betitelt ist.

Ein Pinname wird im Pinnamensanzeigebereich "Pinname" angezeigt. Das Pin- Typenauswahlmenü "Pin-Typ" ist ein Menü, aus welchem ein Pin-Typ durch den Anwender ausgewählt werden kann. Ein Klicken auf sein Menüfenster veranlaßt, daß eine Menüoption vom unteren Bildrand nach oben aufgerollt wird, wie bei­ spielsweise "I/O:P", was ein I/O-Pin anzeigt, "DR:PD", was ein Treiber-Pin anzeigt, und "CP:PC", was ein Komparator-Pin anzeigt. Das I/O-Pin wird in Fig. 4 ausge­ wählt. Das Wellenformmoden-Auswahlmenü "Wellenform" ist ein Menü, aus wel­ chem ein Wellenformmode ausgewählt werden kann. Ein Klicken auf sein Menü­ fenster veranlaßt, daß eine Menüoption vom unteren Bildrand nach oben aufgerollt wird, wie beispielsweise "DNRZ", "/DNRZ", "Andere" und "/Andere". "/DNRZ" stellt das inverse Muster des "DNRZ"-Musters dar, "Andere" stellt Muster dar, die andere als ein "DNRZ"-Muster sind, und "/Andere" stellt ihr inverses Muster dar. In Fig. 4 wird "DNRZ" ausgewählt.

Im Musterzustands-Auswahlbereich "Musterzustand" kann ein auf ein Pin und ei­ nen Verbindungszustand für das Pin anzuwendendes Muster ausgewählt werden. Der Musterzustands-Auswahlbereich besteht aus einem Muster-Auswahlbereich "Musterauswahl", in welchem ein auf das Pin anzuwendendes Muster ausgewählt werden kann, und einem Muster-Steuerbereich "Mustersteuerung", in welchem ein Verbindungszustand für das Pin ausgewählt werden kann. Der Muster- Auswahlbereich enthält eine "ALPG-Muster"-Taste zum Spezifizieren der Verwen­ dung eines durch den ALPG erzeugten Musters als das auf das Pin anzuwenden­ de Muster, und eine "DBM-Muster"-Taste zum Spezifizieren der Verwendung eines DBM-Musters als das auf das Pin anzuwendende Muster. Der Muster- Steuerbereich enthält "Swap-Mode"-, "RDSM"- und "RINV"-Tasten zum Auswählen eines Verbindungszustands für das Pin. Die "Swap-Mode"-Taste enthält "PSM"- und "SDM"-Tasten. Eine detaillierte Beschreibung dieser Tasten für Pin- Verbindungszustände ist hier weggelassen.

Der Einstellelementen-Auswahlbereich "Einstellen" wird zum Auswählen eines Elements aus Treiber, Komparator und Datenzuordnung verwendet, wofür ein Zu­ stand eingestellt wird. Der Einstellelementen-Auswahlbereich enthält eine Treiber- Auswahltaste "Treiber" zum Einstellen von Treiberzuständen, eine Komparator- Auswahltaste "Komparator" zum Einstellen von Komparatorzuständen und eine Datenzuordnungs-Auswahltaste "Datenzuordnung" zum Zuordnen von Daten zum ALPG- oder zum DBM-Muster. Wenn eine dieser Tasten ausgewählt ist, wird ein Zustands-Einstellbereich entsprechend der ausgewählten Taste angezeigt. In Fig. 4 wird der Treiberzustands-Einstellbereich "Treiberzustand" angezeigt, nachdem die Treiber-Auswahltaste "Treiber" ausgewählt ist. Hierin sind Beispiele für eine Anzeige in dem Fall weggelassen, in welchem eine Komparator-Auswahltaste "Komparator" und eine Datenzuordnungs-Auswahltaste "Datenzuordnung" ausge­ wählt sind.

Der Treiberzustands-Einstellbereich "Treiberzustand" besteht aus einer IOC- Auswahltaste "IOC", einem DRE-Auswahlmenü "DRE", einer PDRE-Auswahltaste "PDRE" und einem Verzögerungszykluszahl-Einstellbereich "Vorrichtungsverzögerungszyklus". Die IOC-Auswahltaste "IOC" wird zum Auswäh­ len einer EIN/AUS-Steuerung des Treibers verwendet. Das DRE-Auswahlmenü "DRE" wird dann verwendet, wenn ein DRE-Signal vom ALPG als der Zustand (das DRE-Muster) zum Anzeigen eines Treibermusters zum I/O-Pin verwendet wird. Ein Klicken auf sein Menüfenster veranlaßt, daß zwei Menüoptionen vom unteren Bild­ rand nach oben aufgerollt werden: "DRE1" spezifiziert, daß ein vom ALPG ausge­ gebenes DRE1-Signal verwendet wird, und "DRE2" spezifiziert, daß ein vom ALPG ausgegebenes DRE2-Signal verwendet wird. Die PDRE-Auswahltaste "PDRE" wird verwendet, um zu spezifizieren, daß DRE-Daten vom DBM als das DRE-Muster verwendet werden. Der Verzögerungszykluszahl-Einstellbereich "Vor­ richtungsverzögerungszyklus" wird zum Einstellen von Zyklen zum Verzögern des Treibers und der DRE-Muster verwendet.

Die am unteren Rand des Pin-Definitionsdialogs angezeigte "OK"-Taste wird zum Einstellen der Einstellinhalte im Dialog verwendet, und dann zum Schließen des Dialogs. Die "Löschen"-Taste wird zum Löschen des Dialogs ohne Einstellen der Einstellinhalte im Dialog verwendet.

Beim Schritt S2 stellt der Anwender eine Pin-Gruppe ein, die ein Paket bildet, in­ dem er einem in Fig. 5 gezeigten Pingruppen-Definitionsdialog folgt. Im Pingrup­ pen-Definitionsdialog wird eine Pingruppe aus den im in Fig. 4 gezeigten Pin-Defi­ nitionsdialog definierten Pins definiert, und werden Einstellungen, wie beispielswei­ se eine Anordnung der Pins in einer Pingruppe (Bitposition), spezifiziert.

Fig. 5 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms in bezug auf den Pingruppen- Definitionsdialog. Am oberen Ende des Pingruppen-Definitionsdialogs ist ein Titel­ balken, auf welchem der Titel "Definieren einer Pingruppe" angezeigt wird. Im lin­ ken Bereich der Figur ist ein Bereich, wo die Liste definierter Pingruppen "ROW', "COL", "DQA" und "DQB" angezeigt wird, in welcher eine Pingruppe ausgewählt werden kann. Tasten "Neu", "Anwenden" und "Löschen", die unter der Pingrup­ pennamensliste angezeigt werden, sind Pingruppennamenslisten-Manipulations­ tasten. Die "Neu"-Taste wird zum Editieren einer neuen Pingruppe verwendet. Die "Anwenden"-Taste wird zum Registrieren von Einstellinhalten innerhalb des Pin­ gruppeneinstell-Anzeigebereichs zur Pingruppennamensliste verwendet. Die "Löschen"-Taste wird zum Löschen einer ausgewählten Pingruppe aus der Pin­ gruppennamensliste verwendet. In Fig. 5 wird ein Pingruppenname "COL" ausge­ wählt und in invertierter Darstellung hervorgehoben.

Rechts von der Pingruppennamensliste und den Pinnamenslisten- Manipulationstasten ist ein Pingruppeneinstell-Anzeigebereich, wo Einstellungen für eine Pingruppe definiert und angezeigt werden. Der Pingruppeneinstell- Anzeigebereich besteht aus einem Pingruppennamens-Anzeigebereich mit dem Titel "Pingruppenname", einer ersten Pinliste mit dem Titel "Enthalten" und einer zweiten Pinliste mit dem Titel "Nicht enthalten". Ein Pingruppenname wird im Pin­ gruppennamens-Anzeigebereich "Pingruppenname" angezeigt. Pins, die in der Pingruppe enthalten sind, werden in der ersten Pinliste "Enthalten" angezeigt und ausgewählt. Pins, die nicht in der Pingruppe enthalten sind, werden in der zweiten Pinliste "Nicht enthalten" angezeigt und ausgewählt. Zwischen der ersten Pinliste "Enthalten" und der zweiten Pinliste "Nicht enthalten" sind zwei Tasten zum Ändern der Liste, zu welcher ein Pins gehört. Eine Taste, auf welcher ein Pfeil nach links angezeigt ist, wird zum Bewegen eines ausgewählten Pins in der zweiten Pinliste "Nicht enthalten" zur ersten Pinliste verwendet. Die andere Taste, auf welcher ein Pfeil nach rechts angezeigt ist, wird zum Bewegen eines ausgewählten Pins in der ersten Pinliste zur zweiten Liste verwendet. In Fig. 5 ist angenommen, daß der Pinname "COL4" in der zweiten Pinliste ausgewählt und in umgekehrter Darstel­ lung hervorgehoben ist und in der ersten Pinliste durch Betätigen der Taste mit Pfeil nach rechts enthalten ist. Die Taste nach oben "AUFWÄRTS" und die Taste nach unten "ABWÄRTS" unter der ersten Pinliste werden zum Bewegen der Positi­ on eines ausgewählten Pins in der ersten Pinliste nach oben und nach unten ver­ wendet. Die am unteren Rand des Pingruppen-Definitionsdialogs angezeigte "OK"- Taste wird zum Einstellen der Einstellinhalte im Dialog verwendet, und dann zum Schließen des Dialogs. Die "Löschen"-Taste wird zum Schließen des Dialogs ohne Einstellen der Einstellinhalte im Dialog verwendet.

Beim Schritt S3 definiert der Anwender eine Konfiguration der Paketdaten durch Verfolgen eines in Fig. 6 gezeigten Paket-Definitionsdialogs. Im Paket- Definitionsdialog werden Paketdaten für die im in Fig. 5 gezeigten Pingruppen- Definitionsdialog definierte Pingruppe konfiguriert.

Fig. 6 zeigt ein Beispiel einer Anzeige in bezug auf den Paket = Definitionsdialog. Am oberen Ende des Paket-Definitionsdialogs ist ein Titelbalken, auf welchem "Definieren eines Pakets" angezeigt wird. Auf der linken Seite in der Figur ist der Bereich, in welchem "COLC-M", "COLC-X", "ROWA" und "ROWA" angezeigt wer­ den, ein Bereich, in welchem die Liste von Paketnamen zum Anzeigen und Aus­ wählen der registrierten Paketnamen angezeigt wird. In Fig. 6 wird der Paketname "COLC-X" ausgewählt.

Rechts von der Paketnamensliste und der Paketnamenslisten-Manipulationstaste ist ein Paketeinstell-Anzeigebereich zum Definieren und Anzeigen einer Paketda­ tenkonfiguration. Der Paketeinstell-Anzeigebereich besteht aus einem Paketna­ mens-Anzeigebereich mit dem Titel "Paketname", einem Pingruppen- Anzeigebereich mit dem Titel "Pingruppe", einem Zyklus-Anzeigebereich mit dem Titel "Zykluszahl", einem Paketkonfigurations-Anzeigebereich mit dem Titel "Konfiguration" und einem Komponenteneinstell-Anzeigebereich mit dem Titel "Komponenten".

Ein Paketname wird im Paketnamens-Anzeigebereich "Paketname" angezeigt. Ein Pingruppenname, der ein Paket bildet, wird im Pingruppen-Anzeigebereich "Pingruppe" angezeigt. Die Zykluszahl des Pakets wird im Zyklus-Anzeigebereich "Zykluszahl" angezeigt. Die Pingruppe "COL", die in der Fig. 5 eingestellt wird, wird in Fig. 6 angezeigt.

Die Konfiguration des Pakets wird im Paketkonfigurations-Anzeigebereich "Konfiguration" angezeigt, welcher einen Achseninformations-Anzeigebereich ent­ hält, in welchem "Zyklus", "Pin" angezeigt werden, einen Zeilenelementen- Anzeigebereich, in welchem "COL0" bis "COL4" angezeigt werden, einen Spal­ tenelementen-Anzeigebereich, in welchem "1-ter" bis "8-ter" angezeigt werden, einen Paketmatrizen-ID-Anzeigebereich, in welchem eine Position in der Matrix durch eine Zahl von 1 bis 40 angezeigt wird, Achsenumkehrtasten, die mit "H:Zyklus V:Pin", "H:Pin V:Zyklus" bezeichnet sind, eine Horizontalachsen- Umkehrtaste, die mit "Horizontalumkehr" bezeichnet ist, und eine Vertikalachsen- Umkehrtaste", die mit "Vertikalumkehr" bezeichnet ist.

Der Achseninformations-Anzeigebereich zeigt an, was von dem Pinnamen und der Zyklusnummer der horizontalen Achse (einem Spaltenelement) und der vertikalen Achse (einem Zeilenelement) im Paketkonfigurations-Anzeigebereich (Konfiguration) entspricht. Der Elementenname (Pinname oder Zyklusnummer) je­ der Zeile und jeder Spalte wird im Zeilenelementen-Anzeigebereich und im Spal­ tenelementen-Anzeigebereich angezeigt. Nummern (Paketmatrizen-IDs), die Bits zuzuordnen sind, die das Paket bilden, werden im Paketmatrizen-ID- Anzeigebereich angezeigt. Die Achsenumkehrtasten werden zum Umschalten von Elementen zwischen einer horizontalen und einer vertikalen Achse verwendet. Eine Taste, die mit "H:Zyklus V:Pin" bezeichnet ist, ist eine erste Achseneinstelltaste, und dann, wenn sie ausgewählt ist, werden Zykluszahlen entlang der horizontalen Achse angezeigt und werden Pinnamen entlang der vertikalen Achse im Paketkon­ figurations-Anzeigebereich angezeigt. In Fig. 6 ist die erste Achseneinstelltaste ausgewählt. Die andere Taste, die mit "H:Pin V:Zyklus" bezeichnet ist, ist eine zweite Achseneinstelltaste, und dann, wenn sie ausgewählt ist, werden Pinnamen entlang der horizontalen Achse angezeigt und werden Zykluszahlen entlang der vertikalen Achse im Paketkonfigurations-Anzeigebereich angezeigt. Die Horizonta­ lumkehrtaste und die Vertikalumkehrtaste werden zum Umkehren der Reihenfolge der Elemente entlang der horizontalen bzw. der vertikalen Achse verwendet.

Komponenten, die im Paket enthalten sind, werden im Komponenteneinstell- Anzeigebereich "Komponenten" angezeigt oder eingestellt. Der Ausdruck "Komponente" bezieht sich hierin auf eine Gruppe von einem oder mehreren Bits, die in einem Paket enthalten sind. Die Komponenten sind gemäß der Konfiguration des DUT definiert, welches eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung ist. Der Komponenteneinstell-Anzeigebereich "Komponenten" besteht aus einem Kompo­ nentennameneinstell-Bereich, der mit "START", "DC" und "COP" bezeichnet ist, und einem Komponentenbiteinstell-Anzeigebereich, der mit den Nummern ange­ zeigt ist, die zur Rechten des Komponentennamen-Einstellbereichs angezeigt sind. Durch den Anwender eingegebene Komponentennamen werden im Komponen­ tennamen-Einstellbereich eingestellt oder angezeigt, und Werte entsprechend Ma­ trizen-IDs von Bits, die eine Komponente bilden, werden im Komponentenbitein­ stell-Anzeigebereich eingegeben. In Fig. 6 ist "6" als Matrizen-ID im Komponenten­ namen "START" eingestellt, "1-5" sind im Bereich "DC" eingestellt, "25, 10, 8, 9" sind im Bereich "COP" eingestellt, "33-35, 30" sind im Bereich "BANK" eingestellt und "32, 36-40" sind im Bereich "SPALTE" eingestellt. Hier stellt "1-5" "1, 2, 3, 4, 5" dar, stellt "33-35" "33, 34, 35" dar und stellt "36-40" "36, 37, 38, 39, 40" dar. Dies­ bezüglich stellt "5-1" "5, 4, 3, 2, 1" dar.

Die Tasten, die mit "Neu", "Anwenden" und "Löschen" bezeichnet sind, die unter der Paketnamensliste angezeigt sind, sind Paketnamenslisten- Manipulationstasten. Die "Neu"-Taste wird zum Hinzufügen eines neuen Pakets verwendet. Die "Anwenden"-Taste wird zum Anwenden der Einstellinhalte im Pa­ keteinstell-Anzeigebereich auf die Paketnamensliste verwendet. Die "Löschen"- Taste wird zum Löschen eines ausgewählten Pakets von der Paketnamensliste verwendet. Die am unteren Ende des Paket-Definitionsdialogs angezeigte "OK"- Taste wird zum Einstellen der Einstellinhalte im Dialog verwendet, und dann zum Schließen des Dialogs. Die "Löschen"-Taste wird zum Schließen des Dialogs ohne Einstellen der Einstellinhalte verwendet.

Beim Schritt S4 gibt der Anwender Informationen über die Startposition des Pakets getrennt vom Prozeß von den Schritten S1 bis S3 in das Musterprogramm ein. Das bedeutet, daß der Anwender, der ein Musterprogramm schrieb, die Startposition eines Pakets im Musterprogramm kennt, und daher einen PKT-Befehl als die Startpositionsinformationen des Pakets im Musterprogramm einfügt. Beispielswei­ se dann, wenn der Paketname "COLC-X" im Paket-Definitionsdialog in Fig. 6 defi­ niert ist, fügt der Anwender eine Beschreibung, wie beispielsweise "PKT(COLC-X, C0)", als den PKT-Befehl in das Musterprogramm ein.

Beim Schritt S5 wird der Betrieb der Halbleitertestvorrichtung durch die in Fig. 2 gezeigte Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung simuliert, um Pakete in ei­ nem Zeitdiagrammbild, wie es in Fig. 7 gezeigt ist, basierend auf den bei den oben angegebenen Schritten S1 bis S4 definierten Informationen anzuzeigen. Insbeson­ dere dann, wenn ein Paketname, der in einem PKT-Befehl beschrieben ist, der in dem Musterprogramm eingefügt ist, wie es oben beschrieben ist, im Paket- Definitionsdialog definiert ist, extrahiert die Halbleitertestprogramm- Diagnosevorrichtung als Paketdaten sequentiell ausgegebene Daten synchron mit der Zeit, bei welcher das Startbit des PKT-Befehls von einem Pin während einer Simulation ausgegeben wird, und zeigt die extrahierten Paketdaten in Pingruppen­ feldern in einem Paketdiagramm-Anzeigebereich an, wie es in Fig. 7 gezeigt ist.

Fig. 7 zeigt ein Beispiel eines Anzeigeschirms eines Paketfensters, in welchem Pakete im Zeitdiagrammbild angezeigt werden. Das Paketfenster wird zum Anzei­ gen von Paketen für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung entlang der Zei­ tachse zum Prüfen des Betriebs eines Musterprogramms verwendet. Am oberen Ende des Paketfensters ist ein Titelbalken, auf welchem der Titel "Paketfenster" angezeigt ist. Am unteren Ende des Paketfensters mit dem Titel "Nachricht:" ist ein Nachrichten-Anzeigebereich, in welchem Warn- und Informationsnachrichten, die während einer Operation erzeugt werden, angezeigt werden. Ein Menübalken wird unter dem Titelbalken angezeigt, auf welchem Menüs "Datei", "Zustand", "Diagramm" und "Befehl" angezeigt werden. Ein Pop-up-Menü erscheint dann, wenn ein jeweiliges Menü mit einem Mauszeiger angeklickt wird.

Pfeil- und Quadrat-Bildschirmsymbole unter dem Menübalken sind Paketdia­ gramm-Manipulationsbildschirmsymbole bzw. -cursor. Das Pfeil-Bildschirmsymbol ist eine "Auswahl"-Taste, die eine Verkürzung bzw. ein Shortcut zu einem "Auswahl"-Menü im "Diagramm"-Menü ist. Wenn diese Taste aktiviert wird, schaltet das Paketfenster zu einem Mode zum Auswählen eines Pakets und zum Bewegen eines Frames. Das Quadrat-Bildschirmsymbol ist eine Taste für einen "Neuen Frame", welche ein Shortcut zu einem Menü für einen "Neuen Frame" im "Diagramm"-Menü ist. Wenn diese Taste aktiviert wird, schaltet das Paketfenster zu einem Mode zum Erzeugen eines neuen Frames.

Zur Rechten der oben angegebenen Paketdiagramm-Manipulations­ bildschirmsymbole ist ein Zustands-Anzeigebereich zum Anzeigen von Zuständen, die im Paketfenster eingestellt sind. Der Zustands-Anzeigebereich besteht aus ei­ nem Zustandsdateinamens-Anzeigebereich mit dem Titel "Zustandsdatei:" und ei­ nem DBM-Objektdateinamens-Anzeigebereich mit dem Titel "DBM-Muster:". Ein Paketzustandsdateiname wird im Zustandsdateinamens-Anzeigebereich angezeigt.

Ein Paketzustandsdateiname "sample.pkt" wird in Fig. 7 angezeigt. Der Name ei­ ner Objektdatei, die für DBM verwendet wird, und ihre Übertragungsstart-PC- (Programmzähler-)Adresse werden im DBM-Objektdateiennamens-Anzeigebereich angezeigt. "sample.mpa (PC = #0)" wird als der Name der Objektdatei und seine Übertragungsstart-PC-Adresse in Fig. 7 angezeigt.

Ein Paketdiagramm wird zwischen dem Paketdiagramm-Manipula­ tionsbildschirmsymbol-/Zustandsanzeigebereich und dem Nachrichten- Anzeigebereich am unteren Ende angezeigt. Das Paketdiagramm ist ein Dia­ gramm, in welchem die Positionen von Paketen für jede Pingruppe durch Verwen­ den von Stufenwerten des Musterprogramms als die horizontale Achse angezeigt werden. Am oberen linken Ende des Diagramms ist ein Anzeigebereich für eine aktuelle Stufe, der mit "Aktuelle Stufe:" bezeichnet ist und der den Wert der aktuel­ len Stufe enthält, die gerade simuliert wird. Der Stufenwert "47" wird in Fig. 7 ange­ zeigt. Am oberen Ende des Paketdiagramms ist ein Stufeninformations- Anzeigebereich, der mit "Stufe" bezeichnet ist und in welchem Stufeninformationen angezeigt werden. Eine Spaltmarkierung, die aus linken und rechten durchgezoge­ nen Pfeilen besteht, wird in diesem Stufen-Anzeigebereich angezeigt, um einen Pfeil anzuzeigen, bei welchem Stufenwerte auf irgendeiner Seite im Paketdia­ gramm nicht kontinuierlich sind. Der Anwender kann die Position erkennen, bei welcher Stufen diskontinuierlich sind. Auf der linken Seite ist ein Pingruppenna­ mens-Anzeigebereich, der mit "Pingruppe" bezeichnet ist, zum Anzeigen von Pin­ gruppennamen entsprechend jeder Zeile. Pingruppennamen "ROW', "COL", "DQA" und "DQB" werden von oben nach unten in Fig. 7 angezeigt.

Zur Rechten dieses Pingruppen-Anzeigebereichs ist ein Paketdiagramm- Anzeigebereich, in welchem die Positionen von Paketen entlang der "Stufen"- Achse angezeigt werden. Zwei Pakete "ROWA", "ROWR" werden in der Zeile für den Pingruppennamen "ROW' angezeigt. Zwei Pakete "COLC-M", "COLC-X" wer­ den in der Zeile für den Pingruppennamen "COL" angezeigt, ein Paket "DATEN1" wird in der Zeile für den Pingruppennamen "DQA" angezeigt und ein Paket "DATEN2" wird in der Zeile für den Pingruppennamen "DQB" angezeigt. Am unte­ ren Endes Paketdiagramms ist ein Diagrammregel-Anzeigebereich zum Anzeigen von Koordinaten entlang der Achse der horizontalen Achse des Paketdiagramm- Anzeigebereichs. Der Ursprung des Diagrammregel-Anzeigebereichs ist am rech­ ten Ende, und ein in 1/2 Stufen durch durchgezogene Linien und unterbrochene Linien markierter Regler wird von diesem Ursprung aus angezeigt. Wenn ein Paket bei einem in der letzteren Hälfte einer Stufe ausgegebenen Muster bei einem Pin startet, bei welchem zwei Muster in einer Stufe ausgegeben werden, wird das Pa­ ket mit einer gestrichelten Linie der letzteren Hälfte der Stufe ausgerichtet.

Beim Schritt S6 aktiviert der Anwender die "Auswahl"-Taste in Fig. 7 und wählt ir­ gendein Paket mit dem Mauszeiger aus und klickt es an, um einen rechteckigen Frame bzw. Rahmen anzuzeigen, der um das Paket angezeigt wird, welcher ein Paket-Anzeigefenster umgibt, das die Details des Pakets enthält, wie es in Fig. 8 gezeigt ist. In Fig. 7 wird das Paket "COLC-M" mit dem Mauszeiger angeklickt, während ein Rahmen bzw. Frame um das Paket "ROWA" angezeigt wird, und dann wird ein Frame um das Paket "COLC-M" angezeigt.

Fig. 8 zeigt ein Beispiel des Paket-Anzeigefensters, das die Details des ausgewähl­ ten Pakets anzeigt. Das Paket-Anzeigefenster wird zum Prüfen der Inhalte von Pa­ ketdaten verwendet, die gemäß einem Musterprogramm während eines Simulie­ rens des Betriebs einer Halbleitertestvorrichtung mit dem Einsatz der in Fig. 2 ge­ zeigten Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung erzeugt werden und die durch Auswählen eines in Fig. 7 gezeigten Pakets mit dem Mauszeiger angezeigt wer­ den. Am oberen Ende des Paket-Anzeigefensters ist ein Titelbalken, der den Titel "Paketanzeiger" enthält. Unter dem Titelbalken ist ein Menübalken, der Menüs "Datei", "Ansicht" und "Befehl" enthält. Ein Klicken auf ein jeweiliges Menü mit dem Mauszeiger zeigt ein Pop-up-Menü an.

Unter dem Menübalken ist ein Framepositions-Anzeigebereich, der mit "Frameposition" bezeichnet ist, und ein Bereich, der mit "Paketname" bezeichnet ist, zum Anzeigen eines Paketnamens. Die Position eines in dem in Fig. 7 gezeig­ ten Paketfenster angezeigten Frames ist im Framepositions-Anzeigebereich mit einem Pingruppennamen und einem Bereich auf dem Diagrammregler angezeigt. Ein Pingruppenname "COL", der im in Fig. 5 gezeigten Pingruppen- Definitionsdialog definiert ist, und ein Bereich auf dem Diagrammregler "34-41" werden in Fig. 8 angezeigt. Ein Paketname "COLC-M", der im in Fig. 6 gezeigten Paket-Definitionsdialog definiert ist, wird im Paketnamens-Anzeigebereich ange­ zeigt.

Unter dem Framepositions-Anzeigebereich und dem Paketnamens-Anzeigebereich ist ein Paketdatenkonfigurations-Anzeigebereich und ein Paketkomponenten- Anzeigebereich. Der Paketdatenkonfigurations-Anzeigebereich wird in der Form einer Tabelle entsprechend dem Paketkonfigurations-Anzeigebereich "Konfiguration" im in Fig. 6 gezeigten Paket-Definitionsdialog angezeigt und zeigt Ausgangswerte während jedes Zyklus für jedes Pin als Paketdaten an, um einem jeweiligen der in Fig. 6 gezeigten Paketmatrizen-ID-Anzeigebereiche zu entspre­ chen. Der Paketkomponenten-Anzeigebereich zeigt die Datenkonfiguration jeder Komponente an, die im Komponenteneinstell-Anzeigebereich "Komponenten" im in Fig. 6 gezeigten Paket-Definitionsdialog definiert ist. Der Paketkomponenten- Anzeigebereich besteht aus einem Komponentennamens-Anzeigebereich und ei­ nem Komponentendaten-Anzeigebereich. Jedes Feld des Komponentennamen- Anzeigebereichs wird in einer anderen Farbe angezeigt, und Daten in jedem Pa­ ketdatenkonfigurationsbereich entsprechend jeder Komponente werden in dersel­ ben Farbe wie der Komponentenname angezeigt. Das bedeutet, daß der Kompo­ nentenname "START" und die Daten des entsprechenden Matrizen-IDs "6" (Daten im zweiten Zyklus "2-te" in der Pinnamens-"COL0"-Zeile) in derselben Farbe ange­ zeigt werden. Gleichermaßen werden Daten der Matrizen-IDs "1-5", "25, 10, 8, 9", "33-35, 30" und "32, 36-40" in derselben Farbe wie derjenigen der jeweils entspre­ chenden Komponentennamen "DC", "COP", "BANK" und "COLUMN" angezeigt. In Fig. 8 ist der Farbunterschied durch Verwenden unterschiedlicher Typen von Schraffierungen anstelle von Farben angezeigt.

Matrizen-ID-Daten, die den Komponenten entsprechen, werden im Komponenten­ daten-Anzeigebereich sowohl in Bits als auch hexadezimal angezeigt. Daten in Bits werden mit einer Kombination von "0", "1", "L", "H" und "X" angezeigt und "#" wird zum Anfang von hexadezimalen Daten hinzugefügt. Wenn Bitdaten "X" enthalten, sind ihre hexadezimalen Notationen weggelassen. In Fig. 8 werden die Daten der Komponente "START" als "1(#1)" angezeigt, "DC" als "00111 (#7)", "COP" als "0110(#6)", "BANK" als "0101(#5)" und "COLUMN" bzw. "SPALTE" als "100100 (#24)".

Am unteren linken Ende des Paketdatenkonfigurations-Anzeigebereichs ist eine Anzeige-Wipptaste, die mit "Verriegelung" bezeichnet ist. Die Anzeige-Wipptaste vermeidet ein Erneuern der Anzeige eines Paketdaten-Anzeigebereichs und eines Komponenten-Anzeigebereichs. Zusätzlich ist am unteren rechten Ende eines Pa­ ketdatenkonfigurations-Anzeigebereichs eine Komponentenanzeige-Steuertaste, die mit "Verstecken einer Komponente" bezeichnet ist. Die Komponentenanzeige- Steuertaste wird dazu verwendet, zu spezifizieren, ob die Komponenten auf dem Paketanzeigefenster anzuzeigen sind oder nicht. Wenn die Komponenten nicht auf dem Fenster angezeigt werden, ist die Komponentenanzeigetaste mit "Zeigen ei­ ner Komponente" bezeichnet.

Wie es oben beschrieben ist, wird gemäß dem Ausführungsbeispiel eine Paket­ konfiguration für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung gemäß einem vor­ bestimmten Format durch den Prozeß von einem Schritt S1 bis zu einem Schritt S3 definiert, und die Startposition des Pakets wird in einem Musterprogramm bei ei­ nem Schritt S4 spezifiziert, um dadurch zuzulassen, daß das Paket in einem Zeit­ diagrammbild bei einem Schritt S5 angezeigt wird, und Paketdaten unter Daten, die kontinuierlich ausgegeben werden, bei einem Schritt S6 auf einfache Weise identi­ fiziert werden. Somit kann ein Halbleitertestprogramm für eine Halbleitervorrich­ tung, wie beispielsweise die Paketübertragungs-Speichervorrichtung, die basierend auf Paketdaten arbeitet, auf einfache Weise diagnostiziert werden.

Die Simulatorsteuerung 110 und der Testersimulator 140, die oben beschrieben sind, entsprechen einer Testersimulationseinheit, der Paketanzeigefunktionspro­ zessor 150, die Anzeigeeinheit 160, die Maus 162 und die Tastatur 154, die die Operationen vom Schritt S1 bis zum Schritt S4 implementieren, entsprechen einer Datenzuführeinheit, und der Paketanzeigefunktionsprozesse 150, die Anzeigeein­ heit 160, die Maus 162 und die Tastatur 154, die die Operationsschritte S5, S6 im­ plementieren, entsprechen einer Paketextraktions- und -anzeigeeinheit.

Die vorliegende Erfindung ist nicht auf das oben beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt. Viele Variationen können innerhalb des Schutzumfangs der vorliegen­ den Erfindung durchgeführt werden. Beispielsweise gibt es, während beim oben beschriebenen Ausführungsbeispiel der Fall beschrieben ist, bei dem die Paket­ konfiguration einer Paketübertragungs-Speichervorrichtung durch den Anwender definiert wird, eine Datei, in welcher die Paketkonfiguration für jede Paketübertra­ gungs-Speichervorrichtung im voraus vorgesehen ist, und die Paketkonfiguration für eine relevante Paketübertragungs-Speichervorrichtung von der Datei gelesen werden kann.

Wie es oben beschrieben ist, ist es vorteilhaft, daß gemäß der vorliegenden Erfin­ dung ein Halbleitertestprogramm für eine Halbleitervorrichtung, die basierend auf Paketdaten arbeitet, wie beispielsweise eine Paketübertragungs-Speicher­ vorrichtung, auf einfache Weise diagnostiziert werden kann.

Claims (6)

1. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung, die folgendes aufweist:
eine Testersimulationseinheit zum Simulieren des Betriebs einer Halblei­ tertestvorrichtung durch Erzeugen eines Testsignals auf eine Simulationsart basierend auf einem für eine Paketübertragungs-Speichervorrichtung vorge­ sehenen Testprogramm;
eine Datenzuführeinheit zum Zuführen von Daten in bezug auf ein Paket, das zur Paketübertragungs-Speichervorrichtung eingegeben und von dieser ausgegeben wird; und
eine Paketextraktions- und -anzeigeeinheit, um basierend auf den durch die Datenzuführeinheit zugeführten Daten einen Teil entsprechend dem Paket von dem durch die Testersimulationseinheit erzeugten Testsignal zu extrahie­ ren und den Inhalt davon anzuzeigen.

2. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Datenzuführeinheit Informationen über die vordefinierten Pinzustände der Pa­ ketübertragungs-Speichervorrichtung, eine Pingruppe, die das Paket bildet, die Konfiguration des Pakets und die Anfangsposition des Pakets als die Da­ ten in bezug auf das Paket zuführt.

3. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung nach Anspruch 2, wobei die Datenzuführeinheit verschiedene Eingaben durch einen GUI-Schirm annimmt, um die Daten in bezug auf das Paket zu erzeugen.

4. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Pa­ ketextraktions- und -anzeigeeinheit den Teil entsprechend dem Paket in ei­ nem Zeitdiagrammbild unter Verwendung von Stufenwerten der Simulation­ soperation durch die Testersimulationseinheit für die Zeitachse anzeigt.

5. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Pa­ ketextraktions- und -anzeigeeinheit Ausgangswerte während jedes Zyklus für jedes Pin auf eine Weise anzeigt, daß Komponenten, die im Paket enthalten sind, auf einfache Weise identifiziert werden können, wenn befohlen wird, Details des Teils entsprechend dem Paket anzuzeigen, das im Zeitdia­ grammbild angezeigt wird.

6. Halbleitertestprogramm-Diagnosevorrichtung nach Anspruch 5, wobei die Pa­ ketextraktions- und -anzeigeeinheit einen Paketkomponenten-Anzeigebereich anzeigt, in welchem die Datenkonfiguration jeder der Komponenten im selben Anzeigeschirm wie der Paketdatenkonfigurationsbereich angezeigt wird, in welchem die Ausgangswerte angezeigt werden.