DE10016453A1

DE10016453A1 - In-circuit test adaptors, includes double sleeve with optimal test spring contacts through which the test terminals of a PCB is directly connected to a test system

Info

Publication number: DE10016453A1
Application number: DE2000116453
Authority: DE
Inventors: Grant Boctor; Bruno Ratzky
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2000-04-01
Filing date: 2000-04-01
Publication date: 2001-11-15

Abstract

A printed circuit board has its test terminals directly connected to a test system via the optimal test spring contacts of a double sleeve. The PCB is prefabricated with a copper layer on which the test terminals are strategically formed.

Description

Es ist bekannt, dass InCircuit-Prüfadaptoren bereits mit direkter Adaptierung aber allerdings ohne Doppelhülse und mit einem anderen Verfahren hergestellt wurden. Hierbei wurde die Leiterplatte über manuelle Layouterstellung hergestellt und dieses Verfahren verteuerte die Prüfadapterherstellung erheblich gegenüber manuellen Drahtverbindungen.It is known that InCircuit test adapters already come with direct adaptation but made without a double sleeve and with a different process were. The circuit board was manufactured using manual layout creation and this procedure made the test adapter manufacture considerably more expensive manual wire connections.

Bei beiden bekannten Verfahren, betrug die Herstellungszeit, z. B. bei 2000 Verbindungen mehr als zwei Wochen und beinhaltete die manuelle Fehlerquote. Auch wurde keine Prüfpunktberechnung (Berechnung des strategisch besten Punktes durchgeführt). Dadurch ergaben sich längere Leitungswege, die beim Testen zu Störungen führten.In both known methods, the manufacturing time, z. B. at 2000 Connections more than two weeks and included the manual error rate. Also no checkpoint calculation (calculation of the strategically best Point). This resulted in longer conduction routes, the caused problems during testing.

Der im Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem Störungen beim Testen (kürzeste Leitungswege) zugrunde, die manuelle Fehlerherstellungs quote zu beseitigen und die Herstellungszeit sowie Kostenfrage erheblich zu reduzieren.The invention specified in claim 1 is the problem of interference when testing (shortest cable routes) based on manual error production eliminate quote and the manufacturing time and cost issue significantly to reduce.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass durch die Berechnung der kürzesten Leitungswege Störungen beim Testen entfallen, die Kontaktierung keine Fehler mehr beinhaltet und dass die Verbindungen innerhalb kürzester Zeit durch das Fräsen hergestellt werden können. Spätere Änderungen können sehr leicht durchgeführt werden.The advantages achieved with the invention are in particular that by calculating the shortest cable routes interference during testing are eliminated, the contacting no longer contains errors and that the Connections can be made in a very short time by milling can. Subsequent changes can be made very easily.

Die Anwendung von Patentanspruch 2 ermöglicht es, die Kontaktierung entsprechend den Erfordernissen zum Prüfling und zur Verbindungsleiterplatte durchzuführen. Auch verhindern die beiden Pressringe ein schräges Einschlagen der Hülsen.The application of claim 2 enables contacting according to the requirements for the device under test and the connecting circuit board perform. The two press rings also prevent slanting of the pods.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben.An embodiment of the invention is shown in the drawing and is described in more detail below.

Es zeigen:Show it:

Fig. 1 Prüfadapteraufbau. Fig. 1 test adapter structure.

Fig. 2 Platine mit sämtlichen Verbindungen, Ansicht von unten. Fig. 2 board with all connections, bottom view.

Fig. 3 Platine mit sämtlichen Verbindungen, Ansicht von oben. Fig. 3 board with all connections, top view.

Fig. 4 Doppelhülse mit zwei Pressringen ohne eingesteckte Prüffederkontakte. Fig. 4 double sleeve with two press rings without inserted test spring contacts.

Fig. 5 Doppelhülse mit zwei Pressringen mit eingesteckten Prüffederkontakten. Fig. 5 double sleeve with two press rings with inserted test spring contacts.

Erklärung zu Fig. 1:
In Fig. 1 ist der Prüfadapteraufbau ersichtlich. Die Platine (Verbindungsplatine) wurde auf der oberen Seite bereits ausgefräst und stellt nun alle benötigten Verbindungen zwischen Prüfadapter und Testsystem her.Explanation of Fig. 1:
The test adapter structure can be seen in FIG . The board (connection board) has already been milled out on the upper side and now creates all the necessary connections between the test adapter and test system.

Erklärung zu Fig. 2:
In Fig. 2 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von unten, Testsystemrichtung) ersichtlich. Auf dieser Unterseite sind alle Testerpins und Powerpins angeordnet und auf die Oberseite an die Strategiepunkte der Verbindungsplatine geführt.Explanation of Fig. 2:
In FIG. 2, the connecting board (view from below, test system direction) can be seen. All tester pins and power pins are arranged on this underside and led to the strategy points of the connection board on the top side.

Erklärung zu Fig. 3:
In Fig. 3 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von oben, Adapterrichtung) ersichtlich.
Hierbei handelt es sich um eine vorgefertigte Multilayerplatine bei der alle Testerpins auf die Oberseite der Verbindungsplatine an die Strategiepunkte geführt sind. In diesem Stadium ist die Oberfläche der Oberseite noch eine Kupferschicht, allerdings mit den vorgefertigten Strategiepunkten.
Mit Hilfe der Software ADA-Connect werden nun die Koordinaten der benötigten Prüfpunkte verifiziert und den Strategiepunkten zugeordnet (es wird der kürzeste Weg gesucht). Diese nun festgelegten Pins werden für die Prüfprogrammerstellung verwendet.
Mit Hilfe der Software ADA-CU-FREE werden nun alle nicht benötigten Kupferflächen freigefräst, d. h. am Schluss bleiben nur noch die benötigten Verbindungen stehen. Diese freigefräste Verbindungsplatte wird nun auf die Unterseite des Adapters geschraubt.Explanation of Fig. 3:
In Fig. 3 the connection board (view from above, adapter direction) can be seen.
This is a prefabricated multilayer board in which all tester pins are routed to the strategy points on the top of the connection board. At this stage the surface of the top is still a copper layer, but with the pre-made strategy points.
With the help of the ADA-Connect software, the coordinates of the required test points are now verified and assigned to the strategy points (the shortest route is sought). These now defined pins are used for the test program creation.
With the help of the ADA-CU-FREE software, all copper surfaces that are not required are now milled free, ie only the required connections remain at the end. This milled connection plate is now screwed onto the underside of the adapter.

Erklärung zu Fig. 4:
Doppelhülse mit zwei Pressringen ohne eingesteckte Prüffeder- Kontakte: Durch die Doppelhülse kann die Kontaktierung flexibel und direkt entsprechend den Bedürfnissen gestaltet werden, d. h. die Prüffederkontakte können flexibel gesteckt werde. Durch die zwei Pressringe wird ein gerades Einschlagen der Hülse gewährleistet. Auch nach grosser Beanspruchung bei längerer Prüfling bleibt die Hülse gerade und garantiert auch nach längerer Beanspruchung eine excellente Kontaktierung.Explanation of Fig. 4:
Double sleeve with two press rings without inserted test spring contacts: The contact can be designed flexibly and directly according to requirements, ie the test spring contacts can be inserted flexibly. The two press rings ensure that the sleeve is driven straight in. Even after heavy use with a longer test specimen, the sleeve remains straight and guarantees excellent contact even after extended use.

Erklärung zu Fig. 5:
Doppelhülse mit zwei Pressringe mit eingesteckten Prüffeder kontakten.Explanation of Fig. 5:
Double sleeve with two press rings with inserted test spring.

Claims

1. InCircuit test adapter with direct test spring contact of the assembled printed circuit board (via double sleeve and printed circuit board) to the InCircuit test system, characterized in that the required test point connections of the assembled printed circuit board on the InCircuit test adapter to the test system directly via double sleeve, in which the optimal test spring contacts be selected and printed circuit board that is milled. The circuit board to be milled is already prefabricated with strategy points and only has a copper layer on the top, which is processed according to the software calculation of the test points and which creates the connections

2. double sleeve with two press rings according to claim 1, characterized, that a test spring contact on both sides according to the requirements can be used and that the two press rings for a straight fit in the Provide the probe plate.