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DE10002639B4 - Bandträger für ein BGA und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt - Google Patents

Bandträger für ein BGA und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt Download PDF

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DE10002639B4 DE10002639A DE10002639A DE10002639B4 DE 10002639 B4 DE10002639 B4 DE 10002639B4 DE 10002639 A DE10002639 A DE 10002639A DE 10002639 A DE10002639 A DE 10002639A DE 10002639 B4 DE10002639 B4 DE 10002639B4
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Abstract

Ein Bandträger ist so aufgebaut, daß er Ansätze für Lötmitteltröpfchen aufweist, die in einem vorbestimmten Muster auf dem isolierenden Film angeordnet sind, welcher in der Mitte ein Vorrichtungsloch ausgebildet hat, Leitungen, die mit einem Halbleiterchip verbunden werden, eine plattierende energieführende Leitung, deren eines Ende mit der Leitung verbunden ist und auf dem isolierenden Film ausgebildet ist, und ein leicht wegzubrechendes Teil, das in der Mitte der energieführenden Leitungen vorgesehen ist. Eine Halbleitervorrichtung wird aufgebaut, bei der der Bandträger mit der plattierenden energieführenden Leitung versehen wird, die auf dem isolierenden Film gebildet ist, deren eines Ende aus dem isolierenden Film hinausgezogen wird, deren anderes Ende mit den Leitungen verbunden wird, und die plattierende energieführende Leitung wird von den Leitungen getrennt, wenn der Halbleiterchip eingebaut ist. Somit werden ein Bandträger für eine BGA, der leicht hergestellt wird, in der Lage ist, eine höhere Dichte bei der Verdrahtung im Verdrahtungsmuster zu erreichen, im Wasserwiderstand und in der Zuverlässigkeit verbessert ist, und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt, zur Verfügung gestellt.

Description

  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Diese Erfindung betrifft einen Bandträger für ein BGA (Ball Grid Array, Kugelgitteranordnung) und eine Halbleitervorrichtung, die dieses benutzt, und genauer einen Bandträger für ein BGA, der in der Verdrahtungsdichte und im Feuchtigkeitsverhalten verbessert ist, und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Jüngst, in Antwort auf die Anforderungen nach Kompaktheit der Baugruppen und hoher Dichte der aufgebauten Baugruppen ist eine Baugruppe (Halbleitervorrichtung) geringer Größe, CSP (Chipgrößenbaugruppe) vorgeschlagen worden, mit einer BGA-Struktur, die einen Bandträger benutzt, was das hochdichte Verdrahten vereinfacht. Insbesondere sind mehrere Arten von Baugruppen, die in der Größe gleich den Halbleiterchips sind, entwickelt worden. Unter ihnen ist eine Mikro-BGA-Baugruppe, die von TESSERA COMPANY entwickelt worden ist, als eine hochgradig zuverlässige Halbleiterbaugruppe bemerkt worden.
  • Der Aufbau des Hauptanteils dieser Halbleitervorrichtungen geschieht in einem Stil, wobei ein Halbleiterchip vom Mittelstreifentyp, bei dem Elektroden so gebildet sind, daß sie entlang der Mittellinie des Chip angeordnet sind, auf einer Silikon-Harzschicht angebracht wird, die auf einer Oberfläche eines Bandträgers mit einer Öffnung vorgesehen ist. Die Elektrodenabschnitte des Halbleiterchips, Leitungen, die mit auf dem Bandträger gebildeten Lötkugeln verbunden sind, und die Öffnung des Bandträgers werden eingebettet, so daß sie durch isolierendes Dichtmaterial geschützt sind.
  • 1 und 2 zeigen die Struktur eines Verdrahtungsmusters bei einem herkömmlichen Bandträger mit dem isolierenden Film 7, der ein in der Mitte gebildetes Vorrichtungsloch 10 und Durchgangslöcher 11 aufweist, sowie plattierende Energie zuführende Leitungen 13, um eine elektroplattierte Schicht 14 aus Gold auf dem Verdrahtungsmuster der Leiterschicht 8 einschließlich der Leitungen 9 und Ansätze 12 zu bilden. Unterhalb des Bandträgers 2 ist ein Elastomer 3 zum Anbringen eines Halbleiterchips vorgesehen. Die äußeren Endender plattierenden energieführenden Leitungen 13 werden abgeschnitten und durch äußere Stanzwerkzeuge 17 oder dergleichen entfernt, nachdem die mit Gold elektroplattierte Schicht 14 gebildet ist.
  • Zum Herstellen des Bandträgers wird der isolierende Film 7, der aus Polyimid oder dergleichen hergestellt ist, gestanzt, um das Vorrichtungsloch 10 und die Durchgangslöcher 11 zu bilden, dann wird das Verdrahtungsmuster der leitenden Schicht 8 aus Leitungen 9, Ansätzen 12 und energieführenden Leitungen 13 auf dem isolierenden Film mittels Fotoätzens gebildet. Die mit Gold elektroplattierte Schicht 14 wird auf das Verdrahtungsmuster gebracht, die energieführenden Leitungen 13, die nach außen frei liegen, werden abgeschnitten und mittels äußerer Stanzwerkzeuge 7 entfernt. Danach wird ein elastischer Körper (Elastomer) 3 auf die Leiterschicht 8 gebracht, so daß er nicht von dem Umfang des isolierenden Films 7 nach außen vorsteht.
  • 3 zeigt die Struktur einer herkömmlichen Halbleitervorrichtung vom BGA-Typ. 4 zeigt eine Draufsicht auf die Halbleitervorrichtung (von der Seite der Lötkugeln her). 5 zeigt die Unterseite der Halbleitervorrichtung (Seite des Halbleiterchips).
  • Die Halbleitervorrichtung ist mit dem Halbleiterchip 1, dem Bandträger 2, dem Elastomer 3, das sowohl den Halbleiterchip 1 als auch den Bandträger 2 festlegt, dem Dichtmittel 5 zum Schützen des Elektrodenabschnittes 4 des Halbleiterchips 1 und der Lötkugel 6, die als Elektrode für die Halbleitervorrichtung dient, in ihrer Struktur gebildet.
  • Wegen der Struktur dieser Halbleitervorrichtung ist der Halbleiterchip 1 auf der Seite des Elastomers 3 des Bandträgers angebracht und befestigt, wobei die Elektrode 4 des Halbleiterchips 1 und die Leitung 9 des Bandträgers elektrisch verbunden sind. Weiter sind die Elektrode 4 des Halbleiterchips 1 und die Leitung 9, wie sie so verbunden sind, und das Vorrichtungsloch 10 luftdicht durch ein isolierendes Dichtmittel 9 versiegelt. Dann wird die Lötkugel 6 auf den Ansatz 12 des Bandträgers gebracht, und schließlich wird, durch Schneiden entlang der Teilschneidelinie 21 (2), die Halbleitervorrichtung fertiggestellt.
  • Bei dem herkömmlichen Bandträger jedoch ist das Verdrahtungsmuster ausgedehnt, und es ist nicht leicht, eine hochdichte Verdrahtung zu bilden, da die energieführenden Leitungen 13 für jede Leitung 9 gezogen werden. Somit ist es schwierig, auf Anforderungen nach Kompaktheit und Zuwachs in der Anzahl der Anschlußstifte zu antworten. Darüber hinaus, wenn eine Halbleitervorrichtung, die einen herkömmlichen Bandträger benutzt, dem PCT (Dampfdrucktest) unterworfen wird, um den Feuchtigkeitswiderstand nach dem Fertigstellen des Gehäuses zu bewerten, dringt Wasser von der Anschlußoberfläche energieführender Leitungen 13, die nach außerhalb des Gehäuses frei liegen (3), ein und erreicht die Leitung 9, die mit dem Elektrodenabschnitt 4 des Halbleiterchips verbundenen ist, so daß Korrosion an dem Elektrodenabschnitt 4 des Halbleiterchips auftritt.
  • Aus US 6,342,728 B2 ist eine Halbleitervorrichtung vom BGA-Typ bekannt, bei der die Bonding-Stärke zwischen der Verdrahtung und dem Substratmaterial verbessert wird und eine stabile Funktion des Schneidens der Kerbe erreicht wird, indem sich die beiden Leitungen zweier nebeneinander liegender Ansätze über die Öffnung für das Bonden erstrecken. Auf der gegenüberliegenden Seite sind sie miteinander verbunden. Von jedem der Ansätze führt des weiteren eine einzelne Leitung zum Längsrand des Substrats, wo jede einzelne dieser Leitungen offen liegt für die elektrische Kontaktierung für das Plattieren.
  • Aus JP 5-136212 A ist ein Verfahren für das Herstellen eines Bandträgers für automatisches Folienbonden bekannt, bei dem zum Zwecke des Zuführens der Energie für das Plattieren eine leitfähige Membran auf die voneinander unabhängigen elektrischen Leitungen des Substrats gelegt wird, welche dadurch die elektrischen Leitungen des Substrats elektrisch miteinander verbindet.
  • JP 2-192135 A offenbart einen Folienträger, bei dem das Lösen einer Verdrahtung für das Plattieren erleichtert wird durch ein Verfahren, bei dem eine Kerbe zuvor in einen Verbindungsteil einer Verdrahtung für das Plattieren einem Raster aus Leitungen geschnitten ist.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Demgemäß ist es die Aufgabe der Erfindung, einen Bandträger für ein BGA zur Verfügung zu stellen, der leicht hergestellt werden kann und in der Lage ist, Verdrahtungsmuster mit höherer Dichte zu tragen, und eine Halbleitervorrichtung zur Verfügung zu stellen, die diesen benutzt.
  • Die weitere Aufgabe der Erfindung ist es, einen Bandträger für ein BGA zur Verfügung zu stellen, der bezüglich des Feuchtigkeitswiderstandes des Verdrahtungsmusters des Bandträgers und der Zuverlässigkeit der Baugruppe verbessert ist, und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt.
  • Gemäß der Erfindung weist ein Bandträger für ein BGA, der ein vorbestimmtes Muster an Ansätzen für Lötkugeln, Leitungen, die mit einem Halbleiterchip zu verbinden sind, und Verdrahtungen zum Verbinden der Ansätze und der Leitungen, die auf einem isolierenden Film gebildet sind, umfaßt, auf:
    eine plattierende energieführende Leitung, die auf dem isolierenden Film gebildet ist, wobei ein Ende der plattierenden energieführenden Leitung sich nach außerhalb des isolierenden Films erstreckt, wobei das andere Ende der plattierenden energieführenden Leitung mit den Leitungen oder den Verdrahtungen verbunden ist, und wobei ein vorbestimmter Punkt der plattierenden energieführenden Leitung mit einem leicht zu schneidenen Abschnitt ausgebildet ist, wobei die Leitungen aus einer Vielzahl von Leitungen bestehen, die miteinander verbunden sind, und bei dem die plattierende energieführende Leitung aus einer einzelnen plattierenden energieführenden Leitung besteht, die mit der Vielzahl der Leitungen gemeinsam verbunden ist.
  • Gemäß dem weiteren Merkmal der Erfindung umfaßt eine Halbleitervorrichtung, einen Halbleiterchip mit einer Vielzahl von Elektroden, und einen Bandträger für ein BGA, der ein vorbestimmtes Muster von Ansätzen für Lötkugeln, Leitungen, die mit der Vielzahl der Elektro den verbunden sind, und Verdrahtungen zum Verbinden der Ansätze und der Leitungen, die auf einem isolierenden Film gebildet sind, aufweist, wobei der Bandträger aufweist:
    eine plattierende energieführende Leitung, die auf dem isolierenden Film gebildet ist, wobei ein Ende der plattierenden energieführenden Leitung sich nach außerhalb des isolierenden Films erstreckt, wobei das andere Ende der plattierenden energieführenden Leitungen mit den Leitungen oder den Verdrahtungen verbunden ist, und wobei ein vorbestimmter Punkt auf der plattierenden energieführenden Leitung mit einem leicht zu schneidenden Abschnitt ausgebildet ist, wobei die Leitungen aus einer Vielzahl von Leitungen, die miteinander verbunden sind, bestehen, und wobei die plattierende energieführende Leitung aus einer einzelnen energieführenden Leitung besteht, die mit der Vielzahl der Leitungen gemeinsam verbunden ist.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird in weiteren Einzelheiten im Zusammenhang mit den beigefügten Zeichnungen erläutert werden, in denen:
  • 1 eine erläuternde Querschnittsansicht ist, die einen herkömmlichen Bandträger zeigt;
  • 2 eine erläuternde Draufsicht ist, die das Verdrahtungsmuster bei einem herkömmlichen Bandträger zeigt;
  • 3 eine erläuternde Ansicht einer herkömmlichen Halbleitervorrichtung ist;
  • 4 eine Draufsicht auf die Halbleitervorrichtung ist, die in 3 gezeigt ist (Lötkugelseite);
  • 5 eine Ansicht der Halbleitervorrichtung von unten ist, die in 3 gezeigt ist (Halbleiterchipseite);
  • 6 eine erläuternde Draufsicht ist, die das Verdrahtungsmuster bei einem Bandträger für ein BGA gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 7 eine erläuternde Ansicht der Halbleitervorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist;
  • 8 eine erläuternde Ansicht ist, die die Form einer gekerbten Leitung zeigt, die für die Halbleitervorrrichtung, die in 7 gezeigt ist, verwendet wird.
  • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • 6 zeigt den Aufbau eines Bandträgers für ein BGA gemäß einer Ausführungsform der Erfindung. Der Bandträger ist mit einem isolierenden Film 7 aus Polyimid oder dergleichen versehen, mit einem Vorrichtungsloch 10, das in der Mitte gebildet ist, und einem Durchgangsloch 11, und Ansätzen 12 für Lötkugeln, Leitungen 9, die mit dem Elektrodenabschnitt 4 eines Halbleiterchips elektrisch verbunden werden sollen, und einer plattierenden energieführenden Leitung 13, die mit der Leitung 9 verbunden ist, die jeweils auf dem isolierenden Film 7 in einem vorbestimmten Muster gebildet sind. Ein leicht zu schneidender Abschnitt (in 8 und 9 gezeigt) ist in der Mitte der plattierenden energieführenden Leitung 13 vorgesehen.
  • Da sich ein Ende der plattierenden energieführenden Leitung 13 nach außerhalb des isolierenden Films erstreckt und das andere Ende mit der Leitung 9 verbunden ist, wird der Schaltkreis, der durch Verbinden der Leitung 9 und der plattierenden energieführenden Leitung 13 gebildet wird, als ein Leistungsschaltkreis benutzt, wenn die mit Gold elektroplattierte Schicht 14 gebildet wird. Auf der unteren Seite des Bandträgers ist ein Elastomer 3 zum Anbringen eines Halbleiterchips vorgesehen.
  • Da der äußere Abschnitt der energieführenden Leitungen 13, der sich nach außerhalb des isoliernden Films 7 erstreckt, keinen Nutzen hat, nachdem die mit Gold elektroplattierte Schicht 14 gebildet ist, wird er mittels eines Werkzeugs abgeschnitten und entfernt. In dieser Verbindung wird der Bandträger, der kontinuierlich hergestellt wird, nachdem er schließlich mit dem Elastomer 3 versehen ist, entlang der Teilschneidelinie 21 des Bandträgers 2 geschnitten und fertiggestellt, so daß er einen Bandträger für ein BGA darstellt.
  • 7 zeigt den Aufbau einer Halbleitervorrichtung vom BGA-Typ gemäß einer Ausführungsform der Erfindung. Die Halbleitervorrichtung ist mit dem Halbleiterchip 1, den Leitungen 9, welche mit einer Vielzahl von Elektroden 4 des Halbleiterchips 2 verbunden sind, dem Bandträger 2, der auf dem isolierenden Film 7 eine Vielzahl von Lötkugeln 6 zum Verbinden der Leitungen 9 mit einer äußeren Schaltung trägt, und der plattierenden energieführenden Leitung 13, die auf dem isolierenden Film 7 gebildet ist, versehen, deren eines Ende sich über den isolierenden Film 7 hinaus erstreckt und deren anderes Ende mit einer Vielzahl von Leitungen 9 verbunden ist.
  • Der Halbleiterchip 1 ist auf einem Elastomer 3 angebracht, das auf dem Bandträger 2 befestigt ist. Die Lötkugel 6, die als Elektrode für die Halbleitervorrichtung dient, ist auf dem Ansatz 12 über ein Durchgangsloch 11, das in dem isolierenden Film 7 gebildet ist, angebracht. Die Leitungen 9 und die Elektroden 4 des Halbleiterchips 1 sind an der Lage des in der Mitte des isolierenden Films gebildeten Vorrichtungsloches 10 verbunden, und sind geschützt, indem sie mit einem isolierenden Dichtmittel 5 eingebettet wurden.
  • Bei der Struktur der Halbleitervorrichtung, wie sie in 7 gemäß der Ausführungsform gezeigt ist, wird die plattierende energieführende Leitung 13 mittels einer mechanischen Einrichtung von den Leitungen 9 getrennt, um einen Ankerabschnitt 23 auf dem distalen Ende der Leitung zu bilden, wenn der Halbleiterchip 1 angebracht ist. Die Verbindung der plattierenden energieführenden Leitung 13, der Leitungen 9 und des Ankerabschnittes 23 auf dem distalen Ende der Leitung wird aufgebrochen und in einem Abschnitt der plattierenden ener gieführenden Leitung 13 anschließend an den Zusammenbau des Gehäuses getrennt. Die Verbindung zwischen den Leitungen 9 und der plattierenden energieführenden Leitung 13 wird an dem Ende der Leitung aufgebrochen und getrennt zu dem Zeitpunkt, wenn die Halbleitervorrichtung zusammengebaut ist, nachdem die mit Gold elektroplattierte Schicht 14 gebildet worden ist, somit, selbst wenn es geschieht, daß Wasser von der plattierenden energieführenden Leitung 13 her eindringt, wie es durch einen Pfeil angegeben wird, wird das Eindringen von Wasser an die Stelle verhindert, wo die Leitungen 9 und der Verankerungsabschnitt 23 an dem Ende der Leitung getrennt sind, so daß das Wassereindringen in den Elktrodenabschnitt 4 des Halbleiterchips verhindert wird. Weiterhin wird er Feuchtigkeitswiderstand des Gehäuses ausreichend sichergestellt, da die plattierende energieführende Leitung 13 einzeln ist, der Halbleiterchip 1 an dem Bandträger auf der Seite des Elastomers 3 angebracht und befestigt ist und der angeschlossene Teil des Elektrodenabschnittes 4 des Halbleiterchips mit den Leitungen 9 luftdicht mittels des isolierenden Dichtmittels 5 versiegelt ist, zusammen mit dem Vorrichtungsloch 10. Weiter wird die hohe Dichte des Verdrahtungsmusters erreicht, da es nur eine einzelne plattierende energieführende Leitung 13 gibt.
  • 8 zeigt die Form der gekerbten Leitung, die bei der Halbleitervorrichtung (7) verwendet wird. Die plattierende energieführende Leitung 13, welche in das Vorrichtungsloch 10 des Bandträgers ragt, wobei sie an einem Ende gehalten wird und mit anderen verbunden wird, ist so angeordnet, daß sie das Vorrichtungsloch 10 überbrückt. Die plattierende energieführende Leitung 13 ist mit einem Abschnitt versehen, der leicht abgeschnitten werden kann, der aus einer Einprägung (gekerbt) 19 besteht, so daß nach dem Zusammenbau des Gehäuses leicht abgeschnitten werden kann, wobei die gekerbte Leitung 20 gebildet wird. Der endnahe Abschnitt 22 der Leitung und der dazu benachbarte Ankerabschnitt 23 an dem Ende der Leitung werden im verbundenen Zustand gebildet und sind somit so aufgebaut, daß sie in der Lage sind, die Leitung 3 mit Elektrizität zu versorgen. Die Energiezufuhr von der plattierenden energieführenden Leitung 13 kann beim Elektroplattieren durch nur die plattierende energieführende Leitung 13 geliefert werden, die einzeln vorliegt, da die Schaltung nur durch Verbinden mit dem Ankerabschnitt 23 an einem Ende jeder der Leitungen 9 gebildet wird, die sich über dem Vorrichtungsloch 10 befinden.
  • Jede der Leitungen 9, die miteinander verbunden sind, ist mit einem Abschnitt versehen, der leicht aufgebrochen werden kann, der aus der Einprägung (gekerbt) 19 besteht, so daß sie leicht beim Zusammenbau des Gehäuses weggeschnitten werden kann, wodurch die gekerbte Leitung 20 gebildet ist. Diese Kerbe 19 wird durch eine mechanische Einrichtung anschließend an den Zusammenbau der Halbleitervorrichtung aufgebrochen und weg gebogen, bevor das isolierende Dichtmittel 5 eingespritzt wird, somit, selbst wenn Wasser von der plattierenden energieführenden Leitung 13 her eindringen könnte, die frei liegt, wird das Eindringen von Wasser an der aufgebrochenen Stelle an der Kerbe 19 verhindert.
  • Bei dem Bandträger für ein BGA und der Halbleitervorrichtung gemäß der Erfindung mit einer plattierenden energieführenden Leitung, die nach außerhalb des Gehäuses frei liegt, wird eine gekerbte Leitung, die mit einem Abschnitt versehen ist, welcher leicht aufgebrochen werden kann und aus einer Einprägung besteht, die das Schneiden erleichtert, zwischen den Leitungen und den energieführenden Leitungen zum Plattieren benutzt, so daß die Einprägung anschließend an den Zusammenbau der Halbleitervorrichtung aufgebrochen und weg gebogen wird. Daher, selbst wenn Wasser von der energieführenden Leitung zum Plattieren her eindringen könnte, die nach außen frei liegt, wird das Eindringen von Wasser an der Stelle des eingeprägten Abschnittes verhindert, so daß Wasser nicht in die Elektrodenabschnitte des Halbleiterchips eindringen kann, die sich im Mittelteil befinden. Demgemäß werden solche Wirkungen erreicht, daß die Korrosion des Elektrodenabschnittes aufgrund des Eindringens von Wasser verhindert wird, der Wasserwiderstand der Halbleitervorrichtung beträchtlich verbessert wird, ebenso können ein Bandträger für eine BGA, der die Zuverlässigkeit der Halbleitervorrichtung beträchtlich verbessert, und eine Halbleitervorrichtung, die diesen benutzt, zur Verfügung gestellt werden.

Claims (2)

  1. Bandträger für ein BGA, welcher ein vorbestimmtes Muster von Ansätzen (12) für Lötkugeln (6), Leitungen (9), die mit einem Halbleiterchip (1) zu verbinden sind, und Verdrahtungen zum Verbinden der Ansätze (12) und der Leitungen (9), die auf einem isolierenden Film (7) gebildet sind, umfaßt, wobei der Bandträger aufweist: eine plattierende energieführende Leitung (13) die auf dem isolierenden Film (7) gebildet ist, wobei ein Ende der plattierenden energieführenden Leitung (13) sich nach außerhalb des isolierenden Films (7) erstreckt, wobei das andere Ende der plattierenden energieführenden Leitung (13) mit den Leitungen (9) oder der Verdrahtung verbunden ist, und wobei ein vorbestimmter Punkt der plattierenden energieführenden Leitung (13) mit einem leicht zu schneidenden Abschnitt (19) ausgebildet ist, wobei die Leitungen (9) aus einer Vielzahl von Leitungen bestehen, die miteinander verbunden sind, und bei dem die plattierende energieführende Leitung (13) aus einer einzelnen plattierenden energieführenden Leitung besteht, die mit der Vielzahl der Leitungen (9) gemeinsam verbunden ist.
  2. Halbleitervorrichtung, die einen Halbleiterchip (1) mit einer Vielzahl von Elektroden (4), und einen Bandträger für ein BGA umfaßt, der ein vorbestimmtes Muster von Ansätzen (12) für Lötkugeln (6), Leitungen (9), die mit der Vielzahl der Elektroden (4) verbunden sind, und Verdrahtungen zum Verbinden der Ansätze (12) und der Leitungen (9), die auf einem isolierenden Film (7) gebildet sind, umfaßt, wobei der Bandträger aufweist: eine auf dem isolierenden Film (7) gebildete plattierende energieführende Leitung (13), wobei ein Ende der plattierenden energieführenden Leitung (13) sich nach außerhalb des isolierenden Films (7) erstreckt, wobei das andere Ende der plattierenden energieführenden Leitung mit den Leitungen (9) oder den Verdrahtungen verbunden ist, und wobei ein vorbestimmter Punkt der plattierenden energieführenden Leitung (13) mit einem leicht zu schneidenden Abschnitt (19) ausgebildet ist, wobei die Leitungen aus einer Vielzahl von Leitungen, die miteinander verbunden sind, bestehen, und wobei die plattierende energieführende Leitung (13) aus einer einzelnen energieführenden Leitung besteht, die mit der Vielzahl der Leitungen (9) gemeinsam verbunden ist.
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