[go: up one dir, main page]

CN221993342U - 光学检测系统 - Google Patents

光学检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN221993342U
CN221993342U CN202323238801.5U CN202323238801U CN221993342U CN 221993342 U CN221993342 U CN 221993342U CN 202323238801 U CN202323238801 U CN 202323238801U CN 221993342 U CN221993342 U CN 221993342U
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
detection system
signal
light source
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202323238801.5U
Other languages
English (en)
Inventor
泽田雄作
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Corning Inc
Original Assignee
Corning Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Corning Inc filed Critical Corning Inc
Priority to CN202323238801.5U priority Critical patent/CN221993342U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN221993342U publication Critical patent/CN221993342U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本新型提供一种光学检测系统,其特征在于,光学检测系统包含光源,光反射器以及光检测器。所述光源设置于所述光学检测系统的一第一侧,且用以发射光束。所述光反射器设置于与所述第一侧相对的所述光学检测系统的一第二侧,且用以反射所述光束。所述光检测器设置于所述第一侧,其中所述光检测器检测出由所述光反射器所反射的所述光束的第一信号,并检测出由物体所反射的所述光束的第二信号,所述物体设置于所述光源与所述光反射器之间;其中所述光检测器基于所述第一信号和所述第二信号的比较来发送警讯。

Description

光学检测系统
技术领域
本新型关于一种光学检测系统;具体来说,本新型关于一种检测输送带夹具上的玻璃碎片的光学检测系统。
背景技术
在玻璃制造领域,玻璃板的运输对玻璃质量的影响至关重要。图1A~图1D示出玻璃碎片如何粘附在玻璃板高架输送机100中而装载入容器中的示意图。如图1A所示在输送(从上游到下游路径)过程中输送带夹具102上的玻璃板106已破碎而残留在夹具102上,以致不期望的玻璃碎片104附着在夹具上(如图1B所示),继而玻璃碎片104粘附在下一块玻璃108的表面上(如图1C所示)而装载入容器中(如图1D所示),导致出产的玻璃质量有瑕疵。因此,需要一种检测系统,来检测玻璃板输送带夹具尖端的玻璃碎片,并发出警讯,防止不期望的玻璃碎片粘附在下一块玻璃板上。
实用新型内容
本新型的第一态样提供一种光学检测系统,其特征在于:光源,所述光源设置于所述光学检测系统的一第一侧且被构造成发射光束;光反射器,所述光反射器设置于与所述第一侧相对的所述光学检测系统的第二侧且被构造成反射所述光束;以及光检测器,所述光检测器设置于所述第一侧,其中所述光检测器检测出由所述光反射器所反射的所述光束的第一信号,并检测出设置于所述光源与所述光反射器之间的物体所反射的所述光束的第二信号;其中所述光检测器基于所述第一信号和所述第二信号的比较来发送警讯。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,所述光源包含激光源。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,所述光检测器包括互补金属氧化物半导体传感器阵列,所述互补金属氧化物半导体传感器阵列包含多个检测点,所述多个检测点被配置为检测所述第一信号的第一强度和所述第二信号的第二强度。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,检测所述第二信号的所述第二强度的所述多个检测点中的第二检测点比检测所述第一信号的所述第一强度的所述多个检测点中的第一检测点更靠近所述光源。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,所述第二个信号的第二峰值强度高于所述第一信号的第一峰值强度。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,所述光源位于所述光检测器的最外侧。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于:所述光束以相对于所述光反射器的入射角来发射。
在一些实施例中,光学检测系统,其特征在于,所述入射角为约7度至约9度。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于:所述光源与所述光反射器之间的距离包含480mm。
在一些实施例中,光学检测系统的特征在于,所述物体是残留在夹具尖端的玻璃碎片。
应当理解,以上实用新型内容的概述和以下具体实施方式的详述仅为示例性的,并且旨在提供用于理解权利要求的性质和特征的概述或框架。本实用新型包括附图,以提供对实施方式的进一步理解,并且附图并入说明书中和构成说明书的一部分。附图示出一或多个实施方式,并且与说明书一起用于解释各种实施方式的原理和操作。
附图说明
在附图的图中,通过示例而非限制的方式示出本实用新型的相关实施方式。其中:
图1A示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的在玻璃板输送过程中输送带夹具所夹持的玻璃板已产生破碎的示意图。
图1B示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的玻璃碎片残留在夹具上的示意图。
图1C示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的随着夹具夹持下一块玻璃板的过程,玻璃碎片将留在下一块玻璃板上的示意图。
图1D示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的玻璃碎片附着在下一块玻璃片的表面上而待装载入容器的示意图。
图2示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的光学检测系统的示意图。图3A示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的光检测器和光反射器之间没有玻璃碎片时的反射光信号(背景参考值)的示意图。
图3B示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的当光检测器和光反射器之间存有玻璃碎片时的相应的反射光信号的示意图。
图3C示出根据本实用新型说明书所述的实施方式的当光检测器和光反射器之间有/没有玻璃碎片的反射光信号的比较的示意图。
为了促进理解,已尽可能使用相同附图标记指定附图所共有的相同组件。预期的是,可有益地将一个实施方式的组件和特征并入其他实施方式而无需进一步赘述。
具体实施方式
现将详细描述本实用新型的多个实施方式,并且部分的实施方式会在附图中示出。
除非另有定义,否则在说明书和权利要求书中使用的所有术语通常具有它们在本领域中、在本实用新型说明书上下文中、以及在使用每个术语的特定的上下文中的一般含意。用于描述本实用新型的某些术语会在下文或说明书中的其他地方进行讨论,以提供有关本实用新型的描述的额外说明。
除非上下文另有明确规定,否则说明书中使用的单数形式的“一种”、“一个”和/或“所述”包括复数形式。因此,除非上下文另有明确规定,否则说明书中提到的例如一卷可以包括具有两个或更多个这种卷的实施方式。
在说明书中提到的“一个实施方式”或“实施方式”表示结合实施方式而描述的特定的特征、结构或特性被包括在本实用新型的至少一个实施方式中。因此,在说明书中的各个地方出现的词语“在一个实施方式中”或“在实施方式中”并非全部指的是相同的实施方式。另外,特定的特征、结构或特性可以任何适合的方式结合在一或多个实施方式中。
以下,针对本新型的实施型态,一边参照图式一边加以说明。以下说明的实施型态为例示,不对本新型的申请专利范围加以限定。
图2示出了根据本实用新型说明书所述的实施方式的可用于玻璃制造的光学检测系统200,在一些实施方式中,光学检测系统200可可被用于在玻璃板的高架输送机路径中进行检测(如前述图1A~图1D所示)。光学检测系统200可包括夹持粘附有玻璃碎片的玻璃板204的夹具202、光源210、位于光源210下方的激光传感器(未示出)和光反射器212。
在一些实施方式中,于结构关系中,光源210设置在光学检测系统200的第一侧,光反射器212设置在光学检测系统200的第二侧。如图所示,光学检测系统200的第一侧相对于第二侧,换言之,第一侧与第二侧分別设置于光学检测系统200的两侧。举例而言,第一侧与第二侧分別为光学检测系统200的左侧以及右侧。
于操作上,光源210朝光反射器212照射出一光束。在一些实施方式中,光束以相对于所述光反射器212的一入射角度来发射。举例而言,入射角度为约7度至约9度(θ=7~9度)。在一些实施方式中,光源210与光反射器212的(水平)距离为约480毫米(mm)。在一些实施方式中,光学检测系统200为激光光学检测系统,光源210包含但不限于激光源。当光学检测系统200检测到一块存在玻璃碎片的玻璃板204时,所述光学检测系统200会发出警报以得基此实时移除所述玻璃碎片204而不致粘附在下一块玻璃上。
在一些实施方式中,图3A~3C示出光学检测系统300检测玻璃碎片之机制。如图3A所示为当在玻璃板的高架输送机路径中不存在玻璃碎片的情况下的光学检测系统300,其由光源310、光反射器312和光检测器314组成。光源310和光检测器314设置在光学检测系统300的第一侧,光反射器312设置在光学检测系统300的第二侧。光源310以入射角朝光反射器312射出一光束,继而由光反射器312以反射角θ朝光检测器314反射。
在一些实施方式中,光检测器314检测出由所反射器312所反射的光束的第一信号316。在一些实施方式中光源310包含但不限于激光,且光检测器314包含但不限于互补金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)阵列,互补金属氧化物半导体阵列包含多个检测点,所述多个检测点用以检测信号的强度。一旦互补金属氧化物半导体阵列被反射光照射,互补金属氧化物半导体的第一检测点(互补金属氧化物半导体阵列经照射的位置)会产生包含第一强度的第一信号316。
在一些实施方式中,如图3B所示为当在玻璃板的高架输送机路径中存在玻璃碎片304的情况下的光学检测系统。光源310以入射角度θ射出一光束,照射到位于光源310与光反射器312之间的玻璃碎片304再以反射角θ朝光检测器314反射。在一些实施方式,光源310包含但不限于激光,且光检测器314包含但不限于互补金属氧化物半导体阵列,其中互补金属氧化物半导体阵列被反射光照射,互补金属氧化物半导体的第二检测点(互补金属氧化物半导体阵列经照射的位置)会产生包含第二强度的第二信号318。
在一些实施方式中,如图3C所示为光检测器314和光反射器312之间有玻璃碎片304和没有玻璃碎片304的反射光信号比较示意图。如图所示,第一信号316的第一检测点D1和第一强度分别被用作为参考位置和参考强度。第二信号318的第二检测点D2比第一检测点D1更接近光源310,例如第二检测点D2相对于光源310的位置与第一检测点D1相对于光源310的位置相差Δx,且第二检测点D2更接近光源310,且第二检测点D2的第二强度比作为参考强度的第一检测点D1之第一强度还高。在一些实施方式中,光源310位于光检测器314的最外侧。
在一些实施方式中,光检测器314基于第一信号316和第二信号318的比较结果来发送警讯,举例而言,可通过比较第一信号316和第二信号318来检测Δx,并通过第一强度和第二强度的变化来判断是否存在玻璃碎片304而发出警讯,防止不期望的玻璃碎片粘附在下一块玻璃板上。

Claims (10)

1.一种光学检测系统,其特征在于,包含:
光源,设置于所述光学检测系统的一第一侧,且用以发射光束;
光反射器,设置于与所述第一侧相对的所述光学检测系统的第二侧,且用以反射所述光束;以及
光检测器,设置于所述第一侧,
其中所述光检测器检测出由所述光反射器所反射的所述光束的第一信号,并检测出由物体所反射的所述光束的第二信号,所述物体设置于所述光源与所述光反射器之间;
其中所述光检测器基于所述第一信号和所述第二信号的比较结果来发送警讯。
2.如权利要求1所述检测系统,其特征在于:
所述光源包含激光源。
3.如权利要求1所述检测系统,其特征在于:
所述光检测器包括互补金属氧化物半导体传感器阵列,所述互补金属氧化物半导体传感器阵列包含多个检测点,所述多个检测点用以检测所述第一信号的第一强度和所述第二信号的第二强度。
4.如权利要求3所述检测系统,其特征在于:
检测所述第二信号的所述第二强度的所述多个检测点中的第二检测点比检测所述第一信号的所述第一强度的所述多个检测点中的第一检测点更靠近所述光源。
5.如权利要求4所述检测系统,其特征在于:
所述第二个信号的所述第二强度高于所述第一信号的所述第一强度。
6.如权利要求1所述检测系统,其特征在于:
所述光源位于所述光检测器的最外侧。
7.如权利要求1所述检测系统,其特征在于:所述光束以相对于所述光反射器的入射角来发射。
8.如权利要求7所述检测系统,其特征在于:所述入射角为约7度至约9度。
9.如权利要求8所述检测系统,其特征在于:所述光源与所述光反射器之间的距离包含480毫米。
10.如权利要求1所述检测系统,其特征在于:所述物体是残留在夹具尖端的玻璃碎片。
CN202323238801.5U 2023-11-29 2023-11-29 光学检测系统 Active CN221993342U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202323238801.5U CN221993342U (zh) 2023-11-29 2023-11-29 光学检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202323238801.5U CN221993342U (zh) 2023-11-29 2023-11-29 光学检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN221993342U true CN221993342U (zh) 2024-11-12

Family

ID=93371872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202323238801.5U Active CN221993342U (zh) 2023-11-29 2023-11-29 光学检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN221993342U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6295353B2 (ja) 物体の欠陥を検出するための方法および装置
JP5907180B2 (ja) 太陽電池セルの検査装置および太陽電池セルの処理装置
WO2010137431A1 (ja) 多結晶ウエハの検査方法
JP3036733B2 (ja) 透明体の欠陥検出装置
JP2015040835A (ja) 透明板状体の欠点検査装置及び欠点検査方法
JP2003344301A (ja) 偏光フィルムの検査方法および検査装置
JP5596925B2 (ja) 異物検査装置及び検査方法
JP2009139275A (ja) 欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれに用いるライン状光源装置
JP5393973B2 (ja) ロッドレンズアレイ検査装置及び方法
CN221993342U (zh) 光学检测系统
JP2013205332A (ja) 欠点検査装置および欠点検査方法
JP3568482B2 (ja) 板状体の傷検出方法及び装置
US20020196433A1 (en) System and methods for inspection of transparent mask substrates
JP2004138470A (ja) 光透過性基板検査装置
JP2017125805A (ja) シートのキズ欠点検査装置
CN113015901A (zh) 玻璃板的制造方法以及玻璃板的制造装置
JP2002048727A (ja) 海苔の外観検査装置
US11959863B2 (en) Sheet inspection device
KR101185076B1 (ko) 반사체용 반사형 광센서
JPH0426845A (ja) 異物検査方法
KR102303658B1 (ko) 자외선을 이용한 투명기판 상면 이물 검출 장치
JP7104433B2 (ja) 欠陥検査装置
JP2006258662A (ja) 表面検査方法
JP2006098198A (ja) 透明部材の欠陥検査装置
JP2005296809A (ja) 除塵装置用異物検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant