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CN221726084U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

一种集成电路测试装置 Download PDF

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CN221726084U
CN221726084U CN202323302214.8U CN202323302214U CN221726084U CN 221726084 U CN221726084 U CN 221726084U CN 202323302214 U CN202323302214 U CN 202323302214U CN 221726084 U CN221726084 U CN 221726084U
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CN
China
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integrated circuit
fixedly connected
driver
circuit testing
screw rod
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Active
Application number
CN202323302214.8U
Other languages
English (en)
Inventor
江耀明
梁文华
廖国洪
廖慧霞
莫嘉
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Weixun United Semiconductor Texas Co ltd
Original Assignee
Xuzhou Yixin Microelectronics Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Xuzhou Yixin Microelectronics Co ltd filed Critical Xuzhou Yixin Microelectronics Co ltd
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Publication of CN221726084U publication Critical patent/CN221726084U/zh
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Abstract

本实用新型属于集成电路测试技术领域,具体的说是一种集成电路测试装置,包括底座和控制器,所述控制器依次与驱动器一、驱动器二、压力传感器一、和压力传感器二电连接,其中控制器的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定;本实用新型通过将集成电路元件放置在测试台上,通过驱动器运行夹紧块夹紧集成电路元件,且压力传感器一检测夹紧块对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件。

Description

一种集成电路测试装置
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试技术领域,具体是一种集成电路测试装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件,把一定数量的常用电子元件,如电阻、电容、晶体管等,以及这些元件之间的连线,通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。
目前,集成电路测试装置在测试时,通常将集成电路元件置于测试台,并由操作者推动两个测试仪器沿测试台运动,直至集成电路元件的针脚插入测试仪器中实现检测;完成后再由操作者拉动两个测试仪器远离测试台运动,并更换集成电路元件。然而,对于此种方式,反复持续性的操作提高了操作者的劳动强度;并且,长时间运动也容易导致操作者的胳膊、肩膀酸疼,长期以往,不仅对操作者的胳膊、肩膀不利,而且逐步降低了工作效率。
现有的公告号为CN219715668U的中国专利公开了一种集成电路测试装置,属于集成电路测试技术领域,该一种集成电路测试装置包括底座、测试台、至少两个承载顶板、至少两个测试仪器、至少两个移动组件和驱动组件,测试台设于所述底座上,至少两个承载顶板沿所述测试台对称分布;至少两个测试仪器各自独立的装于所述承载台上,至少两个移动组件各自独立的与所述承载顶板连接,驱动组件将所述至少两个移动组件连接,以使所述至少两个移动组件沿测试台相向或相离线性运动。
针对上述及现有的相关技术,发明人认为往往存在以下缺陷:该装置使用时还需要人工推动夹块,拿取或放置集成电路元件,使用较为不便,且集成电路元件放置时中心点不能与测试台的中心点准确对齐,使得集成电路元件向一侧倾斜时,使得该侧的测试仪器会抵住针脚推动测试仪器进行移动,容易损伤针脚,需要进行改进;因此,针对上述问题提出一种集成电路测试装置。
实用新型内容
为了弥补现有技术的不足,解决上述提出的技术问题,本实用新型提出一种集成电路测试装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:本实用新型所述的一种集成电路测试装置,包括底座和控制器,所述控制器依次与驱动器一、驱动器二、压力传感器一、和压力传感器二电连接,其中控制器的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定,具体选型计算方法采用本领域现有技术,故不再详细赘述,所述底座的顶部中心处固定连接有测试台,所述测试台的顶部安装有夹持组件,所述夹持组件包括滑槽一,所述滑槽一开设在测试台的顶部,所述滑槽一的内部转动连接有双向丝杠一,所述测试台的侧壁固定连接有驱动器一,所述驱动器一的驱动端与双向丝杠一的一端固定连接,所述底座的表面开设有滑槽二,所述底座上安装有测试组件,所述测试组件包括两个安装座,所述安装座对称滑动安装在滑槽二的两侧,使用时,将集成电路元件放置在测试台上,并向下挤压按压柱,使按压柱向下滑动挤压压力传感器二,压力传感器检测到压力变化传输信号控制驱动器一运行和驱动器二运行,通过驱动器一带动双向丝杠一转动,使两个滑块相对滑动,并推动夹紧块夹紧集成电路元件,同时通过斜槽面推动集成电路元件的底部贴合测试台,通过压力传感器一检测夹紧块对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件。
优选的,所述滑槽一的两侧分别滑动连接有滑块,所述滑块与双向丝杠一螺纹连接,所述滑块的侧壁安装有夹紧块,所述夹紧块与滑槽一滑动连接,所述双向丝杠一贯穿夹紧块。
优选的,所述滑块与夹紧块的相对一侧固定连接有连接弹簧,所述夹紧块的侧壁开设有斜槽,通过连接弹簧使滑块与夹紧块之间留有空隙。
优选的,所述滑块的侧壁固定连接有压力传感器一。
优选的,所述夹持组件还包括安装槽,所述安装槽开设在测试台的中心处,所述安装槽的内部滑动连接有按压柱,所述按压柱的底部固定连接有支撑弹簧,所述按压柱的表面开设有供双向丝杠一穿过的穿孔,按压柱通过支撑弹簧弹性力保持在压力传感器二的上方。
优选的,所述安装槽的底部固定连接有压力传感器二,压力传感器一和压力传感器二检测到压力信号时,传输信号给控制器,控制器在控制相应的驱动器一和驱动器二运行。
优选的,所述安装座的顶部固定连接有测试仪器,测试仪器的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定。
优选的,所述测试组件还包括双向丝杠二,所述双向丝杠二转动安装在滑槽二的内部,且双向丝杠二与安装座螺纹连接,所述底座的侧壁固定连接有驱动器二,所述驱动器二的驱动端与双向丝杠二的一端固定连接,通过驱动器二带动双向丝杠二转动,使两个安装座相对滑动,使得集成电路元件的针脚自动插入测试仪器的测试端口内部,经过测试仪器对集成电路元件检测,检测完成后,控制器控制驱动器一反向运行,使得夹紧块打开,便于取下并安装新的集成电路元件,本装置自动化程度高,可以大大减少人工操作的步骤,提高工作效率,相较于现有技术,便于对集成电路元件安装与拿取。
优选的,所述安装座的两侧分别固定连接有弹簧伸缩杆,所述弹簧伸缩杆的伸缩端固定连接有推板,推板抵住集成电路元件时,通过弹簧伸缩杆的弹性伸缩,使得推板的另一侧可以抵住测试仪器,避免产生运动干涉。
优选的,所述推板的表面开设有若干个检测口,所述检测口处于集成电路元件的针脚的移动轨迹上,安装座滑动时,针脚首先穿过检测口并使推板抵住集成电路元件的两端,推动集成电路元件的中心点与测试台的中心点趋于一致,相较于现有技术,使得集成电路元件的针脚可以等距插入两侧的测试端口内部,避免针脚损坏。
本实用新型的有益之处在于:
1.本实用新型通过将集成电路元件放置在测试台上,通过驱动器运行夹紧块夹紧集成电路元件,且压力传感器一检测夹紧块对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件。
2.本实用新型通过推板抵住集成电路元件的两端,推动集成电路元件的中心点与测试台的中心点趋于一致,相较于现有技术,使得集成电路元件的针脚可以等距插入两侧的测试端口内部,避免针脚损坏。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本实用新型整体结构示意图;
图2为本实用新型图1侧视图;
图3为本实用新型夹持组件结构示意图;
图4为本实用新型图3的爆炸图;
图5为本实用新型测试组件结构示意图。
图中:1、底座;2、测试台;3、夹持组件;31、滑槽一;32、双向丝杠一;33、夹紧块;34、连接弹簧;35、压力传感器一;36、安装槽;37、按压柱;38、支撑弹簧;39、压力传感器二;310、滑块;4、驱动器一;5、滑槽二;6、测试组件;61、安装座;62、测试仪器;63、双向丝杠二;64、弹簧伸缩杆;65、推板;66、检测口;8、驱动器二。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5所示,一种集成电路测试装置,包括底座1和控制器,控制器依次与驱动器一4、驱动器二8、压力传感器一35、和压力传感器二39电连接,其中控制器的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定,具体选型计算方法采用本领域现有技术,故不再详细赘述,底座1的顶部中心处固定连接有测试台2,测试台2的顶部安装有夹持组件3,夹持组件3包括滑槽一31,滑槽一31开设在测试台2的顶部,滑槽一31的内部转动连接有双向丝杠一32,测试台2的侧壁固定连接有驱动器一4,驱动器一4的驱动端与双向丝杠一32的一端固定连接,底座1的表面开设有滑槽二5,底座1上安装有测试组件6,测试组件6包括两个安装座61,安装座61对称滑动安装在滑槽二5的两侧,使用时,将集成电路元件放置在测试台2上,并向下挤压按压柱37,使按压柱37向下滑动挤压压力传感器二39,压力传感器检测到压力变化传输信号控制驱动器一4运行和驱动器二8运行,通过驱动器一4带动双向丝杠一32转动,使两个滑块310相对滑动,并推动夹紧块33夹紧集成电路元件,同时通过斜槽面推动集成电路元件的底部贴合测试台2,通过压力传感器一35检测夹紧块33对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一4停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件。
滑槽一31的两侧分别滑动连接有滑块310,滑块310与双向丝杠一32螺纹连接,滑块310的侧壁安装有夹紧块33,夹紧块33与滑槽一31滑动连接,双向丝杠一32贯穿夹紧块33。
滑块310与夹紧块33的相对一侧固定连接有连接弹簧34,夹紧块33的侧壁开设有斜槽,通过连接弹簧34使滑块310与夹紧块33之间留有空隙。
滑块310的侧壁固定连接有压力传感器一35。
夹持组件3还包括安装槽36,安装槽36开设在测试台2的中心处,安装槽36的内部滑动连接有按压柱37,按压柱37的底部固定连接有支撑弹簧38,按压柱37的表面开设有供双向丝杠一32穿过的穿孔,按压柱37通过支撑弹簧38弹性力保持在压力传感器二39的上方。
安装槽36的底部固定连接有压力传感器二39,压力传感器一35和压力传感器二39检测到压力信号时,传输信号给控制器,控制器在控制相应的驱动器一4和驱动器二8运行。
安装座61的顶部固定连接有测试仪器62,测试仪器62的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定。
测试组件6还包括双向丝杠二63,双向丝杠二63转动安装在滑槽二5的内部,且双向丝杠二63与安装座61螺纹连接,底座1的侧壁固定连接有驱动器二8,驱动器二8的驱动端与双向丝杠二63的一端固定连接,通过驱动器二8带动双向丝杠二63转动,使两个安装座61相对滑动,使得集成电路元件的针脚自动插入测试仪器62的测试端口内部,经过测试仪器62对集成电路元件检测,检测完成后,控制器控制驱动器一4反向运行,使得夹紧块33打开,便于取下并安装新的集成电路元件,本装置自动化程度高,可以大大减少人工操作的步骤,提高工作效率,相较于现有技术,便于对集成电路元件安装与拿取。
安装座61的两侧分别固定连接有弹簧伸缩杆64,弹簧伸缩杆64的伸缩端固定连接有推板65,推板65抵住集成电路元件时,通过弹簧伸缩杆64的弹性伸缩,使得推板65的另一侧可以抵住测试仪器62,避免产生运动干涉。
推板65的表面开设有若干个检测口66,检测口66处于集成电路元件的针脚的移动轨迹上,安装座61滑动时,针脚首先穿过检测口66并使推板65抵住集成电路元件的两端,推动集成电路元件的中心点与测试台2的中心点趋于一致,相较于现有技术,使得集成电路元件的针脚可以等距插入两侧的测试端口内部,避免针脚损坏。
通过本领域人员,将本案中所有电气件与其适配的电源通过导线进行连接,并且应该根据实际情况,选择合适的控制器,以满足控制需求,具体连接以及控制顺序,应参考下述工作原理中,各电气件之间先后工作顺序完成电性连接,其详细连接手段,为本领域公知技术,下述主要介绍工作原理以及过程,不在对电气控制做说明。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
工作原理,使用时,将集成电路元件放置在测试台2上,并向下挤压按压柱37,使按压柱37向下滑动挤压压力传感器二39,压力传感器检测到压力变化传输信号控制驱动器一4运行和驱动器二8运行,通过驱动器一4带动双向丝杠一32转动,使两个滑块310相对滑动,并推动夹紧块33夹紧集成电路元件,同时通过斜槽面向下推动集成电路元件的底部贴合测试台2,通过压力传感器一35检测夹紧块33对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一4停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件;
通过驱动器二8带动双向丝杠二63转动,使两个安装座61相对滑动,使得集成电路元件的针脚自动插入测试仪器62的测试端口内部,经过测试仪器62对集成电路元件检测,检测完成后,控制器控制驱动器一4反向运行,使得夹紧块33打开,便于取下并安装新的集成电路元件,本装置自动化程度高,可以大大减少人工操作的步骤,提高工作效率,相较于现有技术,便于对集成电路元件安装与拿取;
安装座61滑动时,针脚首先穿过检测口66并使推板65抵住集成电路元件的两端,推动集成电路元件的中心点与测试台2的中心点趋于一致,相较于现有技术,使得集成电路元件的针脚可以等距插入两侧的测试端口内部,避免针脚损坏。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (10)

1.一种集成电路测试装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部中心处固定连接有测试台(2),所述测试台(2)的顶部安装有夹持组件(3),所述夹持组件(3)包括滑槽一(31),所述滑槽一(31)开设在测试台(2)的顶部,所述滑槽一(31)的内部转动连接有双向丝杠一(32),所述测试台(2)的侧壁固定连接有驱动器一(4),所述驱动器一(4)的驱动端与双向丝杠一(32)的一端固定连接,所述底座(1)的表面开设有滑槽二(5),所述底座(1)上安装有测试组件(6),所述测试组件(6)包括两个安装座(61),所述安装座(61)对称滑动安装在滑槽二(5)的两侧。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述滑槽一(31)的两侧分别滑动连接有滑块(310),所述滑块(310)与双向丝杠一(32)螺纹连接,所述滑块(310)的侧壁安装有夹紧块(33),所述夹紧块(33)与滑槽一(31)滑动连接,所述双向丝杠一(32)贯穿夹紧块(33)。
3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述滑块(310)与夹紧块(33)的相对一侧固定连接有连接弹簧(34),所述夹紧块(33)的侧壁开设有斜槽。
4.根据权利要求2所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述滑块(310)的侧壁固定连接有压力传感器一(35)。
5.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述夹持组件(3)还包括安装槽(36),所述安装槽(36)开设在测试台(2)的中心处,所述安装槽(36)的内部滑动连接有按压柱(37),所述按压柱(37)的底部固定连接有支撑弹簧(38),所述按压柱(37)的表面开设有供双向丝杠一(32)穿过的穿孔。
6.根据权利要求5所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述安装槽(36)的底部固定连接有压力传感器二(39)。
7.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述安装座(61)的顶部固定连接有测试仪器(62)。
8.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述测试组件(6)还包括双向丝杠二(63),所述双向丝杠二(63)转动安装在滑槽二(5)的内部,且双向丝杠二(63)与安装座(61)螺纹连接,所述底座(1)的侧壁固定连接有驱动器二(8),所述驱动器二(8)的驱动端与双向丝杠二(63)的一端固定连接。
9.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述安装座(61)的两侧分别固定连接有弹簧伸缩杆(64),所述弹簧伸缩杆(64)的伸缩端固定连接有推板(65)。
10.根据权利要求9所述的集成电路测试装置,其特征在于:所述推板(65)的表面开设有若干个检测口(66)。
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