CN221575372U - 射频测试功能切换箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于射频测试技术领域，具体涉及一种射频测试功能切换箱，包括：输入选择开关，包括公共端和多个待切换端，输入选择开关的公共端用于与仪表电连接，输入选择开关的待切换端用于与性能增强箱的第一端电连接，控制输入选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第一端接入到信号通路中；和输出选择开关，包括公共端和多个待切换端，输出选择开关的待切换端与性能增强箱的第二端电连接，输出选择开关的公共端用于与被测件电连接，控制输出选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第二端接入到信号通路中，增加仪表的测量能力，功能灵活多变，满足了更多的测试应用场景，且实现了自动化切换，使用方便，测试效率高。

Description

射频测试功能切换箱

技术领域

本实用新型属于射频测试技术领域，具体涉及一种射频测试功能切换箱。

背景技术

射频器件是无线连接的核心，凡是需要无线连接的地方必备射频器件。在物联网应用推动下，未来全球无线连接数量将成倍的增长。射频器件在消费电子及军工产业都有着至关重要的应用，产业资本及国家大基金的重视程度将与日俱增。在各方资本的助力下，国内射频器件行业将迎来新一轮行业大发展机遇。

射频器件的性能，例如噪声系数、S参数等需要符合一定要求才能被应用，因此，需要对其进行测试。

但是人工测试效率低，因此急需自动化测试设备来提升测试效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试效率高的射频测试功能切换箱。

为实现上述目的，本实用新型提供一种射频测试功能切换箱，用于与仪表连接并用于切换对应的性能增强箱到信号通路中，所述仪表用于测量被测件的性能指标，所述性能增强箱用于增加所述仪表测量能力，射频测试功能切换箱包括：

输入选择开关，包括公共端和多个待切换端，所述输入选择开关的公共端用于与所述仪表电连接，所述输入选择开关的待切换端用于与所述性能增强箱的第一端电连接，控制所述输入选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第一端接入到信号通路中；和

输出选择开关，包括公共端和多个待切换端，所述输出选择开关的待切换端与所述性能增强箱的第二端电连接，所述输出选择开关的公共端用于与所述被测件电连接，控制所述输出选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第二端接入到信号通路中。

在一些实施方式中，所述输入选择开关的待切换端与所述输出选择开关的待切换端电连接。

在一些实施方式中，射频测试功能切换箱还包括仪表选择开关，所述仪表选择开关的公共端与所述输入选择开关的公共端电连接，所述仪表选择开关的待切换端与所述仪表电连接。

在一些实施方式中，射频测试功能切换箱，还包括：

箱体；

仪表接口，所述仪表接口的第一端用于与所述仪表电连接，所述仪表接口的第二端与所述仪表选择开关的待切换端电连接；和

待连接口，所述待连接口的第一端与所述输出选择开关的公共端电连接，所述待连接口的第二端用于与所述待测件电连接。

在一些实施方式中，所述输入选择开关、所述输出选择开关和所述仪表选择开关的数量为多个。

在一些实施方式中，一种射频测试功能切换箱还包括被测件端口选择开关，所述被测件端口选择开关的公共端与所述输出选择开关的公共端电连接，所述被测件端口选择开关的待切换端与所述被测件的端口电连接。

在一些实施方式中，一种射频测试功能切换箱还包括端口组合开关，所述端口组合开关的公共端与所述被测件的端口电连接，所述端口组合开关的待切换端与所述被测件端口选择开关的待切换端电连接。

在一些实施方式中，一种射频测试功能切换箱还包括信号合路单元，所述信号合路单元包括第一信号选择开关、第二信号选择开关和第一合路器，所述第一信号选择开关的公共端用于与第一信号发生仪表电连接，所述第一信号选择开关的第一待切换端与所述仪表选择开关的第一待切换端电连接，所述第一信号选择开关的第二待切换端与所述第一合路器的第一输入端电连接，所述第二信号选择开关的公共端用于与第二信号发生仪表电连接，所述第二信号选择开关的第一待切换端与所述第一合路器的第二输入端电连接，所述第一合路器的输出端与所述仪表选择开关的第二待切换端电连接。

在一些实施方式中，所述信号合路单元还包括第二合路器，所述第一信号选择开关的第三待切换端与所述第二合路器的第一输入端电连接，所述第二信号选择开关的第二待切换端与所述第二合路器的第二输入端电连接，所述第二合路器的输出端与所述仪表选择开关的第三待切换端电连接。

在一些实施方式中，所述输入选择开关、所述输出选择开关和所述仪表选择开关为射频开关,所述仪表接口和/或所述待连接口为SMA连接器。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本申请提供的射频测试功能切换箱通过设置输入选择开关，输入选择开关的公共端与仪表电连接，输入选择开关的待切换端与性能增强箱的第一端电连接，输出选择开关的待切换端与性能增强箱的第二端电连接，输出选择开关的公共端用于与被测件电连接，通过控制输入选择开关和输出选择开关切换到对应的待切换端，使得性能增强箱接入到信号通路中，从而增加仪表的测量能力，增加了测试系统的测试能力，且由于可以根据需要接入对应的性能增强箱，功能灵活多变，满足了更多的测试应用场景，且实现了自动化切换，使用方便，测试效率高。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的原理图；

图2为本申请一实施例提供的射频开关的结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的射频开关的电路原理示意图；

图4为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的电路原理图；

图6为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的电路原理图。

图中：

100、射频测试功能切换箱；10、输入选择开关；11、公共端，12、待切换端；13、第一待切换端；14、第二待切换端；15、第三待切换端；20、输出选择开关；30、仪表选择开关；40、箱体；50、仪表接口；60、待连接口；70、被测件端口选择开关；80、端口组合开关；90、信号合路单元；91、第一信号选择开关；92、第二信号选择开关；93、第一合路器；94、第二合路器；200、性能增强箱；300、仪表；400、被测件。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

图1为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的原理图，图2为本申请一实施例提供的射频开关的结构示意图。

如图1和图2所示，本实施例提供一种射频测试功能切换箱100，与仪表300连接并用于切换对应的性能增强箱200到信号通路中，仪表300用于测量被测件400的性能指标，性能增强箱200用于增加仪表300的测量能力，射频测试功能切换箱100包括：

输入选择开关10，包括公共端11和多个待切换端12，输入选择开关10的公共端11用于与仪表300电连接，输入选择开关10的待切换端12用于与性能增强箱200的第一端电连接，控制输入选择开关10切换到对应的待切换端12使对应的性能增强箱200的第一端接入到信号通路中；和

输出选择开关20，包括公共端11和多个待切换端12，输出选择开关20的待切换端12与性能增强箱200的第二端电连接，输出选择开关20的公共端11用于与被测件400电连接，控制输出选择开关20切换到对应的待切换端12使对应的性能增强箱200的第二端接入到信号通路中。

仪表300可以为VNA(Vector Network Analyzer，矢量网络分析仪)、频谱仪、示波器、信号源或噪声源等仪器仪表。仪表300能够发射和/或接收信号，被测件400的输入端和输出端需分别连接能够发射信号的仪表300和能够接收信号的仪表300，以构成信号回路。

有时在某些测试要求下，仪表300的测量能力不足。例如VNA的Port1端口发射信号的功率为0dBm，而被测件需要20dBm功率的信号，此时就需要提高VNAPort1端口输出信号的功率，就需要接入提高功率的性能增强箱200。又例如，在测试被测件400的输入、输出端口的功率时，射频链路中的器件产生的损耗会影响测试结果的准确性，进而就需要高精度功率测试的性能增强箱200。以及其他未提及情形，在此不做赘述。

进而就需要切换到对应功能的性能增强箱200来增加仪表300的测量能力。

图3为本申请一实施例提供的射频开关的电路原理示意图。

请同时参考图3，输入选择开关10和输出选择开关20为射频开关，通过控制对应的接触件与对应的待切换端12连接，使对应的电路连通，实现不同信号路径的切换。

本实施例提供的射频测试功能切换箱100通过设置输入选择开关10，输入选择开关10的公共端11与仪表300电连接，输入选择开关10的待切换端12与性能增强箱200的第一端电连接，输出选择开关20的待切换端12与性能增强箱200的第二端电连接，输出选择开关20的公共端11用于与被测件400电连接，通过控制输入选择开关10和输出选择开关20切换到对应的待切换端12，使得性能增强箱200接入到信号通路中，从而增加仪表300的测量能力，增加了测试系统的测试能力，且由于可以根据需要接入对应的性能增强箱200，功能灵活多变，满足了更多的测试应用场景，且实现了自动化切换，使用方便，测试效率高。

在本实施例中，如图1所示，输入选择开关10的待切换端12与输出选择开关20的待切换端12电连接。当无需接入性能增强箱200时，控制输入选择开关10和输出选择开关20切换到对应的待切换端12，信号不经过性能增强箱200，使用仪表300即可满足对应的测试要求。本实施例提供的射频测试功能切换箱100可以选择是否接入性能增强箱200，功能多样化，能够满足多种不同程度的测试要求。

在本实施例中，如图1所示，射频测试功能切换箱100还包括仪表选择开关30，仪表选择开关30的公共端11与输入选择开关10的公共端11电连接，仪表选择开关30的待切换端12与仪表300电连接。控制仪表选择开关30切换到对应的待切换端12，使对应的仪表300接入到信号通路中，以做对应的测试项。本实施例提供的射频测试功能切换箱100还设置了仪表选择开关300，连接了多个仪表300，并可通过控制切换到对应的待切换端12来接入对应的仪表300，从而切换测试项，对被测件400的多项性能指标进行测试，自动化程度高，且更加智能，测试效率高。

在本实施例中，仪表选择开关30为射频开关。

图4为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的结构示意图。

在本实施例中，如图4所示，射频测试功能切换箱100还包括：

箱体40；

仪表接口50，仪表接口50的第一端用于与仪表300电连接，仪表接口50的第二端与仪表选择开关30的待切换端12电连接；和

待连接口60，待连接口60的第一端与输出选择开关20的公共端11电连接，待连接口60的第二端用于与被测件400电连接。

在本实施例中，仪表接口50和/或待连接口60为SMA(SubMiniature ersion A)连接器。本领域技术人员容易得知，在其他实施例中，仪表接口50和/或待连接口60为N(TypeN connector)型连接器、BNC(Bayonet Neill–Concelman)连接器或SMB(SubMiniatureVersion B)等射频连接器也应当在本申请的保护范围内。本实施例提供的射频测试功能切换箱100与其他模块/单元/部件(例如仪表、被测件等)连接结构简单，便于拆装，使用方便。

图5为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的电路原理图。

在本实施例中，如图5所示，输入选择开关10、输出选择开关20和仪表选择开关30的数量为多个。具体地，在本实施例中，输入选择开关10、输出选择开关20和仪表选择开关30的数量为三个，信号通路多，构成多个信号回路，可以同时测多个被测件400，测试效率高。且能够连接更多的仪表300、性能增强箱200和更多端口的被测件300。

在本实施例中，如图1所示，射频测试功能切换箱100还包括被测件端口选择开关70，被测件端口选择开关70的公共端11与输出选择开关20的公共端11电连接，被测件端口选择开关70的待切换端12与被测件400的端口电连接。

被测件400端口的数量为多个，例如，若被测件400具有三个输出端口，测试完一个输出端口后，需要对下一个输出端口做测试。控制被测件端口选择开关70切换到对应的待切换端12，使得与之相连接的输出端口接入到信号通路中，对其进行测试，如此反复循环，直至需要测试的端口测试完。本实施例提供的射频测试功能切换箱100能够对多端口被测件400进行多项测试，自动化程度高，更加智能，使用方便，测试效率高。

本实施例提供的射频测试功能切换箱能够同时测试多个被测件400的S参数、功率或互调等性能。例如被测件端口选择开关70，可以同时连接多个被测件400，通过切换被测件端口选择开关70，完成不同被测件400的相同性能测试。仪表选择开关30可以同时接入功能不同的仪表，通过切换仪表选择开关30，完成同一个被测件400的不同性能指标测试。

综合仪表选择开关30和被测件端口选择开关70，可以测试多个被测件400的不同性能。

输入选择开关10和输出选择开关20，是根据被测件400的测试需要，综合考虑仪表测试能力后，决定是否接入性能增强箱200。

在本实施例中，被测件端口选择开关70为射频开关。

在本实施例中，如图5所示，射频测试功能切换箱100还包括端口组合开关80，端口组合开关80的公共端11与被测件400的端口电连接，端口组合开关80的待切换端12与被测件端口选择开关70的待切换端12电连接，使得被测件400的每个端口都可以连接到每个仪表300，使得可以对每个端口做对应仪表300的测试项，测试项目更多，满足更多的测试需求。

在本实施例中，端口组合开关80为射频开关。

图6为本申请一实施例提供的射频测试功能切换箱的电路原理图。

在本实施例中，如图6所示，射频测试功能切换箱100还包括信号合路单元90，信号合路单元90包括第一信号选择开关91、第二信号选择开关92和第一合路器93，第一信号选择开关91的公共端11用于与第一信号发生仪表500电连接，第一信号选择开关91的第一待切换端13与仪表选择开关30的第一待切换端13电连接，第一信号选择开关91的第二待切换端14与第一合路器93的第一输入端电连接，第二信号选择开关92的公共端11用于与第二信号发生仪表300电连接，第二信号选择开关92的第一待切换端13与第一合路器93的第二输入端电连接，第一合路器93的输出端与仪表选择开关30的第二待切换端14电连接。

本实施例提供的射频测试功能切换箱100的工作过程如下：

控制第一信号选择开关91切换到第二待切换端14，控制第二信号选择开关92切换到第一待切换端13，与第一信号选择开关91的公共端11电连接的仪表300和与第二信号选择开关92的公共端11电连接的仪表300的信号组合为一路信号，以测试被测件400的互调指标。因为互调测试，需要向被测件400的输入端口同时输入功率相等的双音信号，因此需要将两个源输出的两路信号合成一路。以最简单的结构完成信号合路，将频率相差较大的异频信号完成合路。相比于电桥，合路器的合路功能更加强大，结构也更为简单。

在本实施例中，信号合路单元90还包括第二合路器94，第一信号选择开关91的第三待切换端15与第二合路器94的第一输入端电连接，第二信号选择开关92的第二待切换端14与第二合路器94的第二输入端电连接，第二合路器94的输出端与仪表选择开关30的第三待切换端15电连接。

控制第一信号选择开关91切换到第三待切换端15，控制第二信号选择开关92切换到第二待切换端14，与第一信号选择开关91的公共端11电连接的仪表300和与第二信号选择开关92的公共端11电连接的仪表300的信号经过第二合路器94组合为一路信号，第二合路器94和第一合路器93的工作带宽不同。本实施例提供的射频测试功能切换箱100通过设置第一合路器93和第二合路器94组成更大的工作带宽，互调测试性能好。

实施例2

在本实施例中，如图1所示，输入选择开关10、输出选择开关20和仪表选择开关30的数量为两个，构成两路信号，一个用于发射信号，一个用于接收信号，构成一个信号回路，结构简单，便于测试。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种射频测试功能切换箱，用于与仪表连接并用于切换对应的性能增强箱到信号通路中，所述仪表用于测量被测件的性能指标，所述性能增强箱用于增加所述仪表测量能力，其特征在于，包括：

输入选择开关，包括公共端和多个待切换端，所述输入选择开关的公共端用于与所述仪表电连接，所述输入选择开关的待切换端用于与所述性能增强箱的第一端电连接，控制所述输入选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第一端接入到信号通路中；和

输出选择开关，包括公共端和多个待切换端，所述输出选择开关的待切换端与所述性能增强箱的第二端电连接，所述输出选择开关的公共端用于与所述被测件电连接，控制所述输出选择开关切换到对应的待切换端使对应的性能增强箱的第二端接入到信号通路中。

2.根据权利要求1所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，所述输入选择开关的待切换端与所述输出选择开关的待切换端电连接。

3.根据权利要求1所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，还包括仪表选择开关，所述仪表选择开关的公共端与所述输入选择开关的公共端电连接，所述仪表选择开关的待切换端与所述仪表电连接。

4.根据权利要求3所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，还包括：

箱体；

仪表接口，所述仪表接口的第一端用于与所述仪表电连接，所述仪表接口的第二端与所述仪表选择开关的待切换端电连接；和

待连接口，所述待连接口的第一端与所述输出选择开关的公共端电连接，所述待连接口的第二端用于与所述被测件电连接。

5.根据权利要求3所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，所述输入选择开关、所述输出选择开关和所述仪表选择开关的数量为多个。

6.根据权利要求3所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，还包括被测件端口选择开关，所述被测件端口选择开关的公共端与所述输出选择开关的公共端电连接，所述被测件端口选择开关的待切换端与所述被测件的端口电连接。

7.根据权利要求6所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，还包括端口组合开关，所述端口组合开关的公共端与所述被测件的端口电连接，所述端口组合开关的待切换端与所述被测件端口选择开关的待切换端电连接。

8.根据权利要求3所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，还包括信号合路单元，所述信号合路单元包括第一信号选择开关、第二信号选择开关和第一合路器，所述第一信号选择开关的公共端用于与第一信号发生仪表电连接，所述第一信号选择开关的第一待切换端与所述仪表选择开关的第一待切换端电连接，所述第一信号选择开关的第二待切换端与所述第一合路器的第一输入端电连接，所述第二信号选择开关的公共端用于与第二信号发生仪表电连接，所述第二信号选择开关的第一待切换端与所述第一合路器的第二输入端电连接，所述第一合路器的输出端与所述仪表选择开关的第二待切换端电连接。

9.根据权利要求8所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，所述信号合路单元还包括第二合路器，所述第一信号选择开关的第三待切换端与所述第二合路器的第一输入端电连接，所述第二信号选择开关的第二待切换端与所述第二合路器的第二输入端电连接，所述第二合路器的输出端与所述仪表选择开关的第三待切换端电连接。

10.根据权利要求4所述的一种射频测试功能切换箱，其特征在于，所述输入选择开关、所述输出选择开关和所述仪表选择开关为射频开关,所述仪表接口和/或所述待连接口为SMA连接器。