CN221458944U - 转运机构 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种转运机构，包括机架、承载组件、位置检测组件、驱动组件及控制器。承载组件用于承载测试件，且沿第一方向可往复移动地设置于机架，承载组件沿第一方向移动的过程中能够经过多个转运位置；当承载组件移动至任一转运位置时，测试件能够在承载组件和相对的测试位之间转移。在对测试位上老化板的芯片进行更换时，只需要通过控制器控制驱动组件驱动承载组件移动至相对的转运位置，然后将老化板转移至承载组件，并将老化板上的芯片更换，接下来驱动承载组件回到之前的转运位置，并且将老化板转移至测试位即可。该转运机构在承载组件移动至相对的转运位置后，只需要人工拉出或推入老化板即可，省时省力，有效地提高了更换效率。

Description

转运机构

技术领域

本实用新型涉及工件转移设备技术领域，特别是涉及一种转运机构。

背景技术

芯片的老化测试是通过模拟芯片在高低温环境中受到的各种应力，加快芯片弱点释放时间线。老化板用于为芯片提供测试环境。目前在老化测试设备进行芯片更换时，一般是人工将承载有芯片的老化板从测试设备中拉出，再老化板上的芯片更换后将老化板手动抬起并插入对应的位置，从而完成更换，费时费力，更换效率较低

实用新型内容

基于此，有必要针对现有的老化板通过人工抬起费时费力的问题，提供一种方便更换老化板上的芯片，更换效率高的转运机构。

一种转运机构，包括：

机架；

承载组件，用于承载测试件，且沿第一方向可往复移动地设置于所述机架；沿第一方向，所述承载组件具有多个依次间隔布设的转运位置，所述承载组件能够在往复移动过程中经过转运位置；

位置检测组件，能够检测移动至所述转运位置的所述承载组件；

驱动组件，与所述承载组件连接；及

控制器，与所述位置检测组件及所述驱动组件连接，以获取所述位置检测组件的检测结果，并且根据所述检测结果控制所述驱动组件驱动所述承载组件沿第一方向移动至任一所述转运位置；

其中，当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述承载组件与测试设备中的一测试位相对，以使所述测试件能够在所述承载组件和相对的所述测试位之间转移。

在其中一个实施例中，所述转运机构还包括用于与所述测试设备对接的对接组件，所述对接组件包括两个对接块，两个所述对接块沿第二方向间隔布设于所述机架，且用于与测试腔的相对两侧内壁相抵靠，两个所述对接块能够相对所述机架沿第二方向调节位置；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置。

在其中一个实施例中，所述转运机构还包括对接检测组件，所述对接检测组件设置于所述机架，且所述对接检测组件用于检测所述机架相对所述测试设备的位置。

在其中一个实施例中，所述转运机构还包括到位检测组件，所述到位检测组件设置于所述机架，且所述到位检测组件用于检测所述承载组件上的所述测试件是否到位，或者检测所述测试件是否移动至所述测试位。

在其中一个实施例中，所述转运机构还包括行程检测组件，所述行程检测组件设置于所述机架，且所述行程检测组件用于检测所述承载组件沿第一方向的运动行程。

在其中一个实施例中，所述承载组件包括两个相互平行的托轨以及运动模块，两个所述托轨连接于所述运动模块，且沿第二方向间隔排布，以共同承载所述测试件，所述运动模块沿第一方向可往复移动地连接于所述机架；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置。

在其中一个实施例中，所述驱动组件包括驱动件、动滑轮、定滑轮及传动绳，所述驱动件设置于所述机架，所述动滑轮可转动地设置于所述承载组件，所述定滑轮可转动地设置于所述机架，所述传动绳一端与所述机架连接，另一端与所述驱动件连接，且绕设于所述动滑轮和所述定滑轮。

在其中一个实施例中，所述驱动件设置于所述机架底部，所述驱动组件包括第一动滑轮、第二动滑轮、第一定滑轮、第二定滑轮及第三定滑轮；

所述第一动滑轮和所述第二动滑轮沿第二方向间隔布设于所述承载组件，且所述第一动滑轮和所述第二动滑轮分别连接于所述承载组件的两侧；沿所述第一动滑轮和所述第二动滑轮的排布方向，所述第一定滑轮和所述第三定滑轮间隔布设于所述机架，所述第二定滑轮位于所述第一定滑轮沿第二方向或者测试腔进深方向的一侧，所述第一定滑轮、所述第二定滑轮及所述第三定滑轮均位于所述承载组件的上方，所述第一定滑轮和所述第二定滑轮与所述第一动滑轮相对，所述第三定滑轮与所述第二动滑轮相对，所述传动绳依次绕设于所述第一定滑轮、所述第一动滑轮、所述第二定滑轮、所述第三定滑轮及所述第二动滑轮；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置，且第一方向和第二方向均与测试腔进深方向垂直。

在其中一个实施例中，所述位置检测组件包括感应条及感应件，所述感应条沿第一方向布设于所述测试设备，所述感应件设置于所述承载组件；

当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述感应件能够感应所述感应条与所述承载组件相对的部分。

在其中一个实施例中，所述位置检测组件包括感应条及感应件，所述感应条沿第一方向间隔布设于所述机架，所述感应件设置于所述承载组件；

当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述感应件能够感应所述感应条与所述承载组件相对的部分。

采用上述的转运机构，在对老化板上的芯片进行更换时，只需要通过控制器控制驱动组件动作，驱动组件驱动承载组件移动至相对的转运位置，然后将老化板转移至承载组件。而且在将老化板上的芯片更换后，将承载组件移动至相对的转运位置，并且将承载组件上的老化板转移至测试位即可。相较于现有的人工手动抬起老化板并插入测试位，该转运机构在承载组件移动至相对的转运位置后，只需要人工拉出或推入老化板即可，省时省力，有效地提高了老化板上芯片的更换效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施例提供的转运机构的结构示意图；

图2为图1所示的转运机构的另一角度的结构示意图；

图3为图1所示的转运机构中去掉安装箱后的仰视结构示意图；

图4为图1所示的转运机构中驱动组件的驱动件、绞盘、动滑轮、定滑轮以及传动绳的连接关系示意图。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

现有测试设备具有一测试腔，测试腔内容纳有依次间隔布设的老化板，老化板所在位置形成对应的测试位。

如图1及图2所示，本申请一实施例提供一种转运机构10，用于对测试设备中多个测试位上的测试件进行转运。该转运机构包括机架110、承载组件200、位置检测组件、驱动组件300以及控制器410。

承载组件200设置于机架110，且用于承载测试件，承载组件200能够沿第一方向Z往复移动。沿第一方向Z，承载组件200具有多个依次间隔布设的转运位置，多个转运位置一一对应测试设备的多个测试位。承载组件200能够在沿第一方向Z移动的过程中经过转运位置。

位置检测组件能够检测移动至转运位置的承载组件200，驱动组件300与承载组件200连接。

控制器410与位置检测组件以及驱动组件300连接，以获取位置检测组件的检测结果，并且根据检测结果控制驱动组件300驱动承载组件200沿第一方向Z移动至任一转运位置。

其中，当承载组件200移动至任一转运位置时，承载组件200与测试设备中的一测试位相对，以使测试件能够在承载组件200和相对的测试位之间转移。

需要说明的是，本实施例中，测试设备用于老化测试，测试件为老化板20。为了便于理解，下文采用老化板20进行描述，但不限制测试设备用作其他测试以及测试件为其他的产品。

在测试设备中某一测试位上的老化板20上的芯片需要更换时，将控制器410根据位置检测组件的检测结果控制驱动组件300动作，驱动组件300驱动承载组件200移动至与该测试位相对的转运位置。然后工作人员将该测试位上的老化板20转移至承载组件200上，接下来控制器410控制驱动组件300驱动承载组件200移动至预设高度，工作人员再更换老化板20上的承载芯片。接着控制器410控制驱动组件300驱动承载组件200移动回与该测试位相对的转运位置，再由工作人员将承载组件200上的老化板20转移至该测试位上即可。其中，承载组件200承托老化板20，以便工作人员进行更换IC的操作，降低了更换难度，提高了更换的安全性。

需要解释的是，预设高度为方便工作人员方便更换老化板20上芯片的高度。

采用上述的转运机构，在对老化板20上的芯片进行更换时，只需要通过控制器410控制驱动组件300动作，驱动组件300驱动承载组件200移动至相对的转运位置，然后将老化板20转移至承载组件200。而且在将老化板20上的芯片更换后，将承载组件200移动至相对的转运位置，并且将承载组件200上的老化板20转移至测试位即可。相较于现有的人工手动抬起老化板20并插入测试位，该转运机构在承载组件200移动至相对的转运位置后，只需要人工拉出或推入老化板20即可，省时省力，有效地提高了老化板20上芯片的更换效率。

另外，控制器410是在获取位置检测组件的检测结果后控制驱动组件300动作，位置检测组件能够检测移动至转运位置的承载组件200，从而使得控制器410准确地获取承载组件200的位置，确保承载组件200准确地与测试位相对，进而确保老化板20能够在承载组件200和与其相对的测试位之间转移。

在一个实施例中，机架110的底部设有多个万向轮120，以方便移动机架110。

进一步地，每一万向轮120处均设有锁止结构。锁止结构能够将万向轮120锁止或释放，以使得万向轮120相对机架110固定或者相对机架110可转动，从而在需要更换老化板20上的芯片时将万向轮120锁止，使得机架110相对测试设备固定，避免机架110移动。

在一个实施例中，转运机构还包括对接组件130。对接组件130设置于机架110，且对接组件130用于与测试设备对接，从而使得机架110相对测试设备的位置准确，确保机架110上的承载组件200移动至任一转运位置时，承载组件200能够与测试设备中的一测试位相对，保证老化板20能够在承载组件200和相对的测试位之间转移。

在一个实施例中，对接组件130包括两个对接块131。两个对接块131沿第二方向X间隔布设于机架110，且用于与测试腔的相对两侧内壁相抵靠。如此，将两个对接块131抵靠在测试腔的相对两侧壁，使得机架110在测试腔的进深方向Y上与测试腔相对。

其中，第二方向X与第一方向Z呈角度设置。在图1所示的实施例中，第一方向Z与第二方向X垂直。

可以理解的是，进深方向Y同时与第一方向Z及第二方向X垂直，且老化板20在承载组件200和测试位之间转移时，老化板20沿进深方向Y移动。

进一步地，两个对接块131能够相对机架110沿第二方向X调节位置，从而对两个对接块131之间的间距进行调节，使得该转运机构能够适用于不同尺寸的测试腔，即使得该转运机构应用于不同的测试设备。或者能够在第二方向X上调节机架110与测试设备的相对位置，确保承载组件200与测试位相对。

具体的，可以在对接块131上开设沿第二方向X设置的腰孔，并通过螺栓连接件锁定对接块131和机架110，拧松螺栓连接件即可调节对接块131的位置，拧紧螺栓连接件即锁定对接块131和机架110。

在一个实施例中，对接组件130还包括两个对接滚轮132。两个对接滚轮132分别可转动地设置于两个对接块131上，且两个对接滚轮132能够与测试腔的相对两侧内壁相抵靠，并且沿测试腔的内壁滚动。如此，在对接组件130与测试设备对接的过程中，更加方便对接组件130插入，同时也可以避免损伤测试腔内壁。

在一个实施例中，转运机构还包括对接检测组件420。对接检测组件420设置于机架110，且对接检测组件420用于检测机架110相对测试设备的位置，从而检测机架110是否与测试设备在进深方向Y上对接到位。

进一步地，对接检测组件420设置于机架110的底部，且位于机架110朝向测试设备的一侧。

具体到图2所示的实施例中，对接检测组件420可以为触发传感器，机架110与测试设备对接时，对接检测组件420能够伸入至测试设备下方。在对接检测组件420位于测试设备下方时，向控制器发送就位信号。

另外，可以在机架110上设置警示灯140，控制器410与警示灯140以及对接检测组件420连接。在机架110与测试设备对接到位之前，控制器410控制警示灯140显示为红色；在机架110与测试设备对接到位后，对接检测组件420触发，控制器410控制警示灯140显示为绿色。

在一个实施例中，位置检测组件包括感应条及感应件430。感应条沿第一方向Z布设于测试设备。感应件430设置于承载组件200。

当承载组件200移动至任一转运位置时，感应件430能够感应感应条与承载组件200相对的部分，从而得到承载组件200的位置信息，使得控制器410根据承载组件200的位置信息控制驱动组件300动作。

进一步地，感应条上设有多个沿第一方向Z间隔排布感应部，每一感应部与测试设备的一测试位相对。而且当承载组件200移动至任一转运位置时，感应件430能够感应与承载组件相对的感应部。

可选地，感应部为识别条码。承载组件200移动至任一转运位置时，感应件能够感应对应的识别条码，并向控制器410发送感应信号。

可以理解的是，每一感应部与测试设备的一测试位相对，而移动至任一转运位置的承载组件200也会与一测试位相对，故移动至任一转运位置的承载组件200能够与一感应部相对。

在其他实施例中，感应条也可以设置于机架110上，只要确保感应条上的多个感应部与测试设备中的多个测试位一一对应即可。

需要解释的是，感应部的位置是与测试位相对的，故感应部的位置是已知的，相邻两个感应部之间的间距也是已知的，对应承载组件200移动至任一转运位置时的高度是已知的。由此可知，控制器410可以获取被触发的感应部的数量，确定承载组件200所处的转运位置，从而确定承载组件200的高度，进而可以通过该方式控制驱动组件300驱动承载组件200移动至预设高度。

具体到图2所示的实施例中，感应件430为激光传感器。同时，在对接组件130与测试设备对接完成后，感应件430能够对多个感应部进行扫描，并将扫描信息反馈至控制器410，以检测感应部的数量，即检测感应部是否缺失。

当然，在其他实施例中，由于每一测试位相对于地面的高度是固定的，位置检测组件也可以采用测距传感器，测距传感器设置于承载组件200，用于检测承载组件200相对于地面的高度。

在一个实施例中，转运机构还包括到位检测组件440。到位检测组件440设置于机架110，且到位检测组件440用于检测承载组件200上的老化板20是否到位，或者检测老化板20是否移动至测试位。

需要解释的是，承载组件200上的老化板20到位是指转移至承载组件200上的老化板20移动到预设位置。如此，在承载组件200上的老化板20到位或者老化板20移动至测试位后，该老化板20与测试腔内的其他的老化板20在第一方向Z上错开，从而使得承载组件200能够沿第一方向Z移动。

进一步地，到位检测组件440包括到位发射传感器及到位接收传感器。到位发射传感器和到位接收传感器沿第一方向Z布设于机架110，且老化板20在承载组件200和测试位之间转移的过程中能够经过到位发射传感器和到位接收传感器之间，以阻断两者之间的联系，从而触发到位检测组件440。

可以理解的是，控制器410与到位检测组件440连接。在承载组件200上的老化板20没有到位或者老化板20没有移动至测试位时，到位检测组件440被触发，控制器410控制警示灯140显示为红色。在承载组件200上的老化板20到位或者老化板20移动至测试位后，到位检测组件440回复正常，控制器410控制警示灯140显示为绿色。

结合上述实施例需要解释的是：

在一个实施例中，在机架110与测试设备对接到位，并且承载组件200上的老化板20到位或者老化板20移动至测试位后，控制器410控制警示灯140显示为绿色，上述两个条件存在一个不被满足时，控制器410控制警示灯140显示为红色。

在另一个实施例中，也可以设置两个警示灯140。其中一个警示灯140与对接检测组件420相对应，即在机架110与测试设备对接到位时，控制器410控制该警示灯140显示为绿色，在机架110与测试设备对接不到位时，控制器410控制该警示灯140显示为红色。其中另一个警示灯140与到位检测组件440相对应，即在承载组件200上的老化板20到位或者老化板20移动至测试位时，控制器410控制该警示灯140显示为绿色，在承载组件200上的老化板20没有到位或者老化板20没有移动至测试位时，控制器410控制该警示灯140显示为红色。两个警示灯140之间的控制彼此独立。

在一个实施例中，转运机构还包括行程检测组件450。行程检测组件450设置于机架110，且行程检测组件450用于检测承载组件200沿第一方向Z的运动行程，避免承载组件200沿第一方向Z移动的过程中超行程。

进一步地，承载组件200沿第一方向Z在第一极限位置和第二极限位置之间往复移动，而行程检测组件450能够在承载组件200移动至第一极限位置或第二极限位置时被触发。

如此，控制器410与行程检测组件450连接，在承载组件200移动至第一极限位置或第二极限位置时，行程检测组件450被触发，而后控制器410获取该信息，并且控制驱动组件300停止动作，避免承载组件200超行程。

具体到图2所示的实施例中，行程检测组件450包括两个接近传感器。两个接近传感器分别设置于机架110的顶部和底部。承载组件200上设有能够被接近传感器感应的感应块。在承载组件200移动至第一极限位置或第二极限位置时，感应块能够被接近传感器感应到，从而使得行程检测组件450被触发。

请同时参阅图3及图4，在一个实施例中，驱动组件300包括驱动件310、动滑轮320、定滑轮330及传动绳340。驱动件310设置于机架110，动滑轮320可转动地设置于承载组件200，定滑轮330可转动地设置于机架110。传动绳340一端与机架110连接，另一端与驱动件310连接，且绕设于动滑轮320和定滑轮330。如此，可通过驱动件310收回或释放传动绳340，实现驱动承载组件200沿第一方向Z升降。

在其他实施例中，传动绳340也可以是一端与承载组件200连接，另一端与驱动件310连接。但是优选传动绳340与机架110连接。同时，在其他实施例中，驱动组件300也可以是其他的能够驱动承载组件200沿第一方向Z往复移动的驱动机构。

具体到图3所示的实施例中，驱动件310为电机，驱动组件300还包括绞盘350。电机用于驱动绞盘350转动，而传动绳340的端部与绞盘350连接，从而通过绞盘350收回或释放传动绳340。

可以理解的是，采用动滑轮320，可以提高对承载组件200的载重，并且减慢承载组件200的移动速度，避免承载组件200移速过快而致使惯性过大，无法准确移动至转运位置。

如图4所示，在一个实施例中，驱动组件300包括第一动滑轮321、第二动滑轮322、第一定滑轮331、第二定滑轮332及第三定滑轮333。第一动滑轮321和第二动滑轮322沿第二方向间隔布设于承载组件200，沿第一动滑轮321和第二动滑轮322的排布方向，第一定滑轮331和第三定滑轮333依次间隔布设于机架110，第二定滑轮332位于第一定滑轮331沿第二方向X或者进深方向Y的一侧，第一定滑轮331、第二定滑轮332以及第三定滑轮333均位于承载组件110的上方，第一定滑轮331和第二定滑轮332与第一动滑轮321相对，第三定滑轮333与第二动滑轮322相对。传动绳340依次绕设于第一定滑轮331、第一动滑轮321、第二定滑轮332、第三定滑轮333及第二动滑轮322。

具体到图1所示的实施例中，第一动滑轮321和第二动滑轮322设置于承载组件200沿第二方向X的两端，从而实现对承载组件200沿第二方向X的两端同时提供向上的牵引力，使得承载组件200的升降更加顺畅。

当然，在其他实施例中，也可以是设置两组驱动组件300，只要能实现对承载组件200沿第二方向X的两端同时提供向上的牵引力即可。

在一个实施例中，驱动组件300还包括安装箱360。安装箱360设置于机架110的底部，控制器410、驱动件310及绞盘350设置于安装箱360内。

进一步地，驱动组件300还包括供电电池370。供电电池370设置于安装箱360内，且与驱动件310、控制器410及其他电气元件连接，用于提供工作电流。

在一个实施例中，承载组件200包括两个相互平行的托轨210以及运动模块220。两个托轨210连接于运动模块220，且沿第二方向X间隔排布，以共同承载老化板20，并且使得老化板20能够沿托轨210滑动，方便将老化板20从测试位拉出或者从托轨210上推入测试位。运动模块220沿第一方向Z可往复移动地连接于机架110。

可以理解的是，托轨210沿测试腔的进深方向Y延伸，而且两个托轨210之间的间距略小于老化板20的宽度，以确保老化板20能够承载于两个托轨210上，并且在托轨210上滑动。

进一步地，承载组件200包括两个运动模块220，两个运动模块220沿第二方向X间隔排布，每一托轨210与对应的一运动模块220连接。

在一个实施例中，机架110设有沿第一方向Z延伸的导向杆111。运动模块220包括连接座及多个运动滚轮，多个运动滚轮均可转动地设置于连接座，多个运动滚轮围绕导向杆111设置，且每一运动滚轮均沿导向杆111滚动。托轨210与连接座连接，从而随连接座沿第一方向Z往复移动。

可以理解的是，上述的两个动滑轮320与连接座连接，从而实现驱动组件300驱动承载组件200沿第一方向Z移动。

在一个实施例中，承载组件200还包括连接杆230。连接杆230连接于两个托轨210之间，用于使得两个托轨210相对固定，确保两个托轨210沿第一方向Z移动的一致性，使得两个托轨210更加顺畅的升降。

在一个实施例中，承载组件200还包括两个导向块240。两个导向块240分别连接于两个托轨210朝向测试设备的一端，用于引导测试位的老化板20转移至托轨210上。

可以理解的是，两个导向块240相向的两个表面之间的间距，自托轨210朝向测试设备的方向逐渐增大，从而引导测试位的老化板20转移至托轨210上。

为了便于理解本申请的技术方案，在此结合图1对上述实施例中的转运机构的工作流程进行说明：

首先根据测试腔的尺寸调节两个对接块131之间的间距，确保对接块131上的对接滚轮132能够与测试腔内的相对两侧内壁相抵靠。接下来通过移动机架110，使得对接组件130插入测试腔内，直至两个对接传感器被触发，警示灯140显示为绿色，即完成与测试设备的对接，然后将万向轮120锁止。

接下来控制器410控制感应件430对测试腔内的感应部的数量进行检测，并判断是否缺失。如果缺失则停止下一步动作并且进行缺失反馈。如果正常则继续执行下一步动作。

控制器410根据位置检测组件的检测结果控制驱动组件300动作，驱动组件300驱动承载组件200移动至与需要更换芯片的测试位相对的转运位置。然后工作人员将测试位的老化板20拉出至两个托轨210上，直至到位检测组件440检测到老化板20到位，警示灯140显示为绿色即可。

控制器410再控制驱动组件300驱动承载组件200移动至预设高度，以方便工作人员对两个托轨210上的老化板20进行芯片的更换。更换之后控制器410控制驱动组件300驱动承载组件200移动回与拉出老化板20后的测试位相对的转运位置。接下来工作人员将老化板20推入测试位，直至到位检测组件440检测到老化板20进入测试位，警示灯140显示为绿色即可。

需要说明的是，在一个实施例中，转运机构还包括壳体460及多个按钮470。壳体460设置于机架110，多个按钮470设置于壳体460，且与控制器410连接。

其中，多个按钮470包括上升按钮470、下降按钮470、换料按钮470以及找零按钮470。按一下上升按钮470，控制器410会控制驱动组件300驱动承载组件200上升，使得承载组件200从当前的转运位置上升至相邻的转运位置，按一下下降按钮470则是下降至相邻的转运位置。按一下换料按钮470，控制器410会控制驱动组件300驱动承载组件200移动至预设高度。按一下找零按钮470，控制器410会控制感应件430对测试腔内的感应部的数量进行检测。

当然，为了方便换料，还可以设置复位按钮470。在移动至与需要更换芯片的测试位相对的转运位置时，可以按一下复位按钮470记忆位置。接下来在承载组件200移动至预设高度并且完成芯片的更换后，可以再按一下复位按钮470，承载组件200可回到之前记忆的位置。

在一个实施例中，壳体460上还设有显示屏480，显示屏480与控制器410连接，用于显示供电电池370的剩余电量以及供电电池370的工作状态。

进一步地，机架110上还设有警示屏150，警示屏150与警示灯140通过一安装块160装设于机架110上，警示屏150也与控制器410连接。警示屏150用于显示转运机构的运行状态、报错提示以及承载组件200的位置。

在一个实施例中，机架110的底部还设有通断开关170，用于控制供电电池370与其他电气元件之间的通断。

综上所述，本申请提供的转运机构至少具有以下优点：

1、工作人员只需要将测试位的老化板20拉出至承载组件200上或者将承载组件200上的老化板20推入测试位，而芯片的更换可在承载组件200移动至合适的预设高度时进行，使得芯片的更换更加的方便，省时省力，提高了更换效率；

2、控制器410根据位置检测组件的检测结果控制驱动组件300动作，提高了承载组件200移动过程中位置的准确性，确保老化板20能够在承载组件200和测试位之间顺畅的转移；

3、两个对接块131之间的间距能够调节，既能够实现沿第二方向X调节机架110相对测试设备的位置，确保承载组件200与测试位相对，也能够使得对接组件130适用于不同尺寸的测试腔，使得该转运机构适用于不同的测试设备；

4、对接组件130与测试设备对接过程中，对接检测组件能够检测机架110是否对接到位；老化板20转移过程中，到位检测组件440能够检测老化板20转移是否到位。如此可避免发生事故，确保转运机构工作的安全性；

5、采用间隔排布的托轨210承载老化板20，使得工作人员可以站立在机架110上(例如图1中机架110底部的平台，即安装箱360上方的平台)，方便工作人员拉出或推入高度较高的老化板20；

6、通过设置复位按钮470，在承载组件200上的老化板20芯片更换完成后，承载组件200可以一键回到与需要更换芯片的测试位相对的转运位置，更加的方便。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种转运机构，其特征在于，包括：

机架；

承载组件，用于承载测试件，且沿第一方向可往复移动地设置于所述机架；沿第一方向，所述承载组件具有多个依次间隔布设的转运位置，所述承载组件能够在往复移动过程中经过转运位置；

位置检测组件，能够检测移动至所述转运位置的所述承载组件；

驱动组件，与所述承载组件连接；及

控制器，与所述位置检测组件及所述驱动组件连接，以获取所述位置检测组件的检测结果，并且根据所述检测结果控制所述驱动组件驱动所述承载组件沿第一方向移动至任一所述转运位置；

其中，当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述承载组件与测试设备中的一测试位相对，以使所述测试件能够在所述承载组件和相对的所述测试位之间转移。

2.根据权利要求1所述的转运机构，其特征在于，所述转运机构还包括用于与所述测试设备对接的对接组件，所述对接组件包括两个对接块，两个所述对接块沿第二方向间隔布设于所述机架，且用于与测试腔的相对两侧内壁相抵靠，两个所述对接块能够相对所述机架沿第二方向调节位置；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置。

3.根据权利要求1所述的转运机构，其特征在于，所述转运机构还包括对接检测组件，所述对接检测组件设置于所述机架，且所述对接检测组件用于检测所述机架相对所述测试设备的位置。

4.根据权利要求1所述的转运机构，其特征在于，所述转运机构还包括到位检测组件，所述到位检测组件设置于所述机架，且所述到位检测组件用于检测所述承载组件上的所述测试件是否到位，或者检测所述测试件是否移动至所述测试位。

5.根据权利要求1所述的转运机构，其特征在于，所述转运机构还包括行程检测组件，所述行程检测组件设置于所述机架，且所述行程检测组件用于检测所述承载组件沿第一方向的运动行程。

6.根据权利要求1-5任一项所述的转运机构，其特征在于，所述承载组件包括两个相互平行的托轨以及运动模块，两个所述托轨连接于所述运动模块，且沿第二方向间隔排布，以共同承载所述测试件，所述运动模块沿第一方向可往复移动地连接于所述机架；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置。

7.根据权利要求1-5任一项所述的转运机构，其特征在于，所述驱动组件包括驱动件、动滑轮、定滑轮及传动绳，所述驱动件设置于所述机架，所述动滑轮可转动地设置于所述承载组件，所述定滑轮可转动地设置于所述机架，所述传动绳一端与所述机架连接，另一端与所述驱动件连接，且绕设于所述动滑轮和所述定滑轮。

8.根据权利要求7所述的转运机构，其特征在于，所述驱动件设置于所述机架底部，所述驱动组件包括第一动滑轮、第二动滑轮、第一定滑轮、第二定滑轮及第三定滑轮；

所述第一动滑轮和所述第二动滑轮沿第二方向间隔布设于所述承载组件，且所述第一动滑轮和所述第二动滑轮分别连接于所述承载组件的两侧；沿所述第一动滑轮和所述第二动滑轮的排布方向，所述第一定滑轮和所述第三定滑轮间隔布设于所述机架，所述第二定滑轮位于所述第一定滑轮沿第二方向或者测试腔进深方向的一侧，所述第一定滑轮、所述第二定滑轮及所述第三定滑轮均位于所述承载组件的上方，所述第一定滑轮和所述第二定滑轮与所述第一动滑轮相对，所述第三定滑轮与所述第二动滑轮相对，所述传动绳依次绕设于所述第一定滑轮、所述第一动滑轮、所述第二定滑轮、所述第三定滑轮及所述第二动滑轮；

其中，第一方向与第二方向呈角度设置，且第一方向和第二方向均与测试腔进深方向垂直。

9.根据权利要求1-5任一项所述的转运机构，其特征在于，所述位置检测组件包括感应条及感应件，所述感应条沿第一方向布设于所述测试设备，所述感应件设置于所述承载组件；

当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述感应件能够感应所述感应条与所述承载组件相对的部分。

10.根据权利要求1-5任一项所述的转运机构，其特征在于，所述位置检测组件包括感应条及感应件，所述感应条沿第一方向间隔布设于所述机架，所述感应件设置于所述承载组件；

当所述承载组件移动至任一所述转运位置时，所述感应件能够感应所述感应条与所述承载组件相对的部分。