CN221406366U - 硬件在环设备的资源分配系统、测试系统 - Google Patents
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Abstract
本说明书涉及一种硬件在环设备的资源分配系统、测试系统。其中,资源分配系统包括:多个资源输入端口、资源分配板卡以及多个资源输出端口;所述多个资源输入端口,与硬件在环设备的多个输出端口连接;所述多个资源输出端口,与多个被测对象连接;所述资源分配板卡被配置为建立所述硬件在环设备的多个输出端口与所述多个被测对象之间的连接。本说明书实施例能够对通过各被测对象的测试资源通道的相互隔离,实现多个被测对象同时进行测试,提高了测试效率。
Description
技术领域
本说明书涉及自动化技术领域,尤其是涉及一种硬件在环设备的资源分配系统、测试系统。
背景技术
随着自动化技术领域的日益发展,仿真测试已经成为汽车ECU(ElectronicControl Unit,电子控制单元)开发流程中非常重要的一环。硬件在环设备是以实时处理器运行仿真模型来模拟受控对象的运行状态,通过I/O接口与被测对象连接,对被测对象进行全方面的、系统的测试,可以有效减少实车测试的次数,进而缩短开发时间。
而现有技术的测试过程中,硬件在环设备通常只能直接连接单个被测对象,在当前被测对象测试完成后,再连接其他被测对象进行测试。现有技术中的测试方式无法同时对多个同一类型或不同类型的被测对象,导致整个测试系统效率较低。
实用新型内容
本说明书旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本说明书的一个目的在于提出一种硬件在环设备的资源分配系统。
本说明书的第二个目的在于提出一种测试系统。
为达上述目的,本说明书第一方面实施例提出了一种硬件在环设备的资源分配系统,包括:多个资源输入端口、资源分配板卡以及多个资源输出端口;所述多个资源输入端口,与硬件在环设备的多个输出端口连接;所述多个资源输出端口,与多个被测对象连接;所述资源分配板卡被配置为建立所述硬件在环设备的多个输出端口与所述多个被测对象之间的连接。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配板卡具有板卡输入端口和板卡输出端口,所述板卡输入端口与所述资源输入端口匹配,所述板卡输出端口与所述资源输出端口匹配。
在本说明书的一些实施例中,所述硬件在环设备提供有可拓展测试资源通道,所述资源分配板卡包括对所述可拓展测试资源通道进行通道拓展的低压继电器矩阵。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配板卡包括I/O接口单元,所述I/O接口单元与所述板卡输入端口、所述板卡输出端口分别相连,所述I/O接口单元被配置为接收资源分配信号,并建立与所述资源分配信号对应的所述板卡输入端口与所述板卡输出端口的连接。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配板卡包括总线类接口,以及对所述总线类接口进行接口转换的总线接口转换单元。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配系统还包括通讯模块,所述通讯模块与所述资源分配板卡连接,所述通讯模块被配置为接收资源分配信号并转发所述资源分配信号至所述资源分配板卡。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配系统还包括通讯模块,所述通讯模块与所述资源分配板卡连接,所述通讯模块被配置为接收测试对象切换信号并转发所述测试对象切换信号至所述资源分配板卡。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配系统包括高压继电器矩阵,所述高压继电器矩阵与所述硬件在环设备的指定输出端口、所述资源分配板卡分别连接,所述指定输出端口分配有指定测试资源通道,所述高压继电器矩阵被配置为接收所述资源分配板卡发送的资源分配信号,并建立与所述资源分配信号对应的所述指定测试资源通道与被测对象之间的连接。
在本说明书的一些实施例中,所述资源分配系统还包括电源模块,用于为所述资源分配板卡提供电源。
为达上述目的,本说明书第二方面实施例还提出了一种测试系统,包括硬件在环设备和第一方面实施例中任一项所述的资源分配系统。
在本说明书的一些实施例中,所述测试系统还包括上位机;所述上位机被配置为发送资源分配信号或者测试对象切换信号至所述资源分配板卡。
通过上述实施例,在对被测对象进行测试时,可通过资源分配系统建立多个被测对象和硬件在环设备之间的连接,将每个被测对象所需的测试资源通道集成到资源分配系统中与被测对象连接的资源输出端口中,实现各个被测对象所需的测试资源通道之间的相互隔离。通过各被测对象的测试资源通道的相互隔离,可以实现多个被测对象同时进行测试,提高了测试效率。
本说明书附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本说明书的实践了解到。
附图说明
图1是相关技术中的测试系统的示意图。
图2是本说明书一个实施例的一种硬件在环设备的资源分配系统的示意图。
图3是本说明书一个实施例的资源分配系统的示意图。
图4是本说明书一个实施例的测试系统的示意图。
图5是本说明书一个实施例的资源分配关系确定方法的流程图。
具体实施方式
下面详细描述本说明书的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本说明书,而不能理解为对本说明书的限制。
硬件在环设备可以理解为HIL(Hardware-in-the-Loop)测试设备,这是一种用于测试和验证实时系统的方法。HIL测试系统允许将真实的硬件与仿真环境相结合,以评估系统在实际硬件上的性能。在环境设备中使用HIL技术的一个例子是在汽车行业。汽车制造商可以使用HIL设备来模拟车辆的各种环境和操作条件,以测试车辆的控制系统。这些系统可能包括引擎控制单元、刹车系统、电子稳定性控制系统等。HIL设备通常包括实时计算机、模拟器和接口设备。实时计算机用于执行仿真模型,模拟器用于模拟实际硬件的响应,而接口设备用于连接仿真环境和真实硬件。
而现有技术的测试过程中,硬件在环设备通常只能直接连接单个被测对象,在当前被测对象测试完成后,再连接其他被测对象进行测试。
示例性地,请参阅图1,在该测试系统中包括上位机110、HIL测试设备120以及被测对象130。HIL测试设备120上设置有多个输出端口,可以为被测对象130提供用于测试的各种资源通道,例如,模拟量输入通道、模拟量输出通道、数字量输入通道、数字量输出通道、总线资源通道、特殊资源通道等等。
在进行测试时,需要根据被测对象130的硬线接口UUT定义与HIL测试设备120的各测试资源通道在输出端口(Slot)上的分配情况。可在上位机110中搭建测试工程,进行HIL测试设备120与被测对象130间的信号映射以及定义两者间的硬线线束连接,使被测对象130能够连接到HIL测试设备120。
请继续参阅图1,HIL测试设备120一般具备多个输出端口,例如输出端口Slot1+、输出端口Slot2+、输出端口Slotn+等。HIL测试设备120的资源通道一般分配在不同的输出端口中。在一种可实现的方式中,HIL测试设备120的模拟量输入通道、模拟量输出通道分配在输出端口Slot1+中;数字量输入通道、数字量输出通道分配在输出端口Slot2+中;总线通道以及KL30通道分配在输出端口Slot3+中。被测对象130可以为被测控制器,通常都具备KL30、模拟量、数字量、总线这几种属性的硬线接口,实现与HIL测试设备120的连接,同时从HIL测试设备120的输出端口Slot1+、输出端口Slot2+、输出端口Slotn+中获取测试资源。当被测控制器ECU1完成测试,测试活动需要从被测控制器ECU1切换至被测控制器ECU2时,那么就需要人工的将被测控制器ECU1的线束从HIL测试设备120上撤下,替换上被测控制器ECU2的线束。
由此可见,现有技术的测试方式中,硬件在环设备只能直接连接单个被测对象,在当前被测对象测试完成后,再连接其他被测对象进行测试。这种测试方式无法同时对多个同一类型或不同类型的被测对象,并且还需要人工替换线束,导致整个测试系统效率较低。
因此,本说明书实施例提出一种硬件在环设备的资源分配系统,能够同时建立硬件在环设备和多个被测对象之间的连接,并为每个被测对象分配所需的测试资源通道。
图2为本说明书实施例提出的一种硬件在环设备的资源分配系统的示意图。请参阅图2,该资源分配系统包括:多个资源输入端口210,资源分配板卡220以及多个资源输出端口230。其中,多个资源输入端口210可以包括如图2所示的资源输入端口Slot1-、资源输入端口Slot2-···资源输入端口Slotn-;多个资源输出端口230可以包括如图2所示的资源输出端口UUT1-、资源输出端口UUT2-···资源输出端口UUTn-。
多个资源输入端口与硬件在环设备的多个输出端口连接。多个资源输出端口与多个被测对象连接。资源分配板卡被配置为建立硬件在环设备的多个输出端口与多个被测对象之间的连接。
硬件在环设备可以为HIL测试设备,HIL测试设备配置有多个输出端口。HIL测试设备的测试资源通道一般分配在不同的输出端口中。硬件在环设备的测试资源通道可以包括模拟量输入通道、模拟量输出通道、数字量输入通道、数字量输出通道、总线通道、KL30通道等等。
在本说明书的实施例中,资源分配系统的多个资源输入端口210可以通过硬线线束与硬件在环设备的多个输出端口一一对应连接。并且,资源输入端口210的数量不少于硬件在环设备的输出端口的数量。
示例性地,若硬件在环设备的多个输出端口包括输出端口Slot1+、输出端口Slot2+和输出端口Slot3+。输出端口Slot1+被分配有模拟量输入通道、模拟量输出通道;输出端口Slot2+被分配有数字量输入通道、数字量输出通道;输出端口Slot3+被分配有总线通道以及KL30通道。资源分配系统的多个资源输入端口210包括资源输入端口Slot1-、资源输入端口Slot2-和资源输入端口Slot3-。则可配置资源输入端口Slot1-通过硬线线束与输出端口Slot1+连接以接入模拟量输入通道、模拟量输出通道。配置资源输入端口Slot2-通过硬线线束与输出端口Slot2+连接以接入数字量输入通道、数字量输出通道。配置资源输入端口Slot3-通过硬线线束和输出端口Slot3+连接以接入总线通道以及KL30通道。
资源分配系统的多个资源输出端口230可以通过硬线线束与多个被测对象的输入端口分别连接。并且,资源输出端口的数量是不少于被测对象的数量的。示例性地,若被测对象为被测控制器,例如车辆的被测控制器。多个被测对象包括被测控制器ECU1、被测控制器ECU2和被测控制器ECU3。则可以配置资源输出端口UUT1-通过硬线线束与被测控制器ECU1的输入端口UUT1+连接,配置资源输出端口UUT2-通过硬线线束与被测控制器ECU2的输入端口UUT2+连接,配置资源输出端口UUT3-通过硬线线束与被测控制器ECU3的输入端口UUT3+连接。
需要说明的是,本说明书实施例中的多个被测对象可以为同一类型,也可以为不同类型。资源分配系统可连接的硬件在环设备的数量也可以为多个,不做限定。
可以理解的是,上述测试资源通道可以理解为测试信号的传输路径,而硬件在环设备、资源分配系统以及被测对象中的端口是用于连接传输路径中信号的接口。
资源分配板卡220被配置建立资源输入端口和资源输出端口之间的连接以实现硬件在环设备的多个输出端口和多个被测控制器之间的连接。可以理解的是,建立硬件在环设备的多个输出端口和多个被测对象之间的连接后,与被测对象连接的资源输出端口被分配有被测对象测试所需的测试资源通道。实现对各被测对象的所需的测试资源通道的相互隔离。并且本说明书实施例中各被测对象间的硬线线束处于独立状态,能够减少各被测对象与硬件在环设备在信号匹配时产生信号交叉而导致的信号匹配错误问题。
通过上述实施例,在对被测对象进行测试时,可通过资源分配系统建立多个被测对象和硬件在环设备之间的连接,将每个被测对象所需的测试资源通道集成到资源分配系统中与被测对象连接的资源输出端口中,实现各个被测对象所需的测试资源通道之间的相互隔离。通过各被测对象的测试资源通道的相互隔离,可以实现多个被测对象同时进行测试,提高了测试效率。
在本说明书的一些实施例中,资源分配板卡具有板卡输入端口和板卡输出端口,板卡输入端口与资源输入端口匹配,板卡输出端口与资源输出端口匹配。
在本说明书的实施例中,资源分配板卡具有板卡输入端口和板卡输出端口,板卡输入端口与资源输入端口匹配,板卡输出端口与资源输出端口匹配。一个资源输入端口可以匹配一个或多个板卡输入端口,一个资源输出端口可以匹配一个或多个板卡输出端口。资源分配板卡通过建立板卡输入端口和板卡输出端口之间的连接,实现资源输入端口和资源输出端口之间的连接。
示例性地,若资源输出端口UUT1-和被测控制器ECU1连接,而被测控制器ECU1所需的测试资源通道包括资源输入端口Slot1-接入的模拟量输入通道和模拟量输出通道以及资源输入端口Slot2-接入的数字量输入通道和数字量输出通道。则资源分配板卡可建立资源输入端口Slot1-所匹配的板卡输入端口和资源输出端口UUT1-所匹配的板卡输入端口间的连接,以及建立资源输入端口Slot2-所匹配的板卡输入端口和资源输出端口UUT1-所匹配的板卡输入端口间的连接,以将被测控制器ECU1所需的测试资源通道集成到资源输出端口UUT1-上去。
在本说明书的一些实施例中,硬件在环设备提供有可拓展测试资源通道,资源分配板卡包括对可拓展测试资源通道进行通道拓展的低压继电器矩阵。
在本说明书的实施例中,硬件在环设备提供的测试资源通道包括一些可拓展测试资源通道,例如电源输出通道、数字量输出通道等。可拓展测试资源通道一般为除高压资源通道、总线资源通道之外的其他普通测试资源通道。
为了提高测试效率和硬件在环设备的测试资源使用率,能够同时为被测对象提供更多的测试资源通道,本说明书实施例的资源分配板卡配置有低压继电器矩阵。低压继电器矩阵能够将可拓展测试资源通道进行通道拓展,例如将电源输出通道由1路拓展为多路。
在本说明书的一些实施例中,资源分配板卡包括I/O接口单元。I/O接口单元与板卡输入端口、板卡输出端口分别相连。I/O接口单元被配置为接收资源分配信号,并建立与资源分配信号对应的板卡输入端口与板卡输出端口的连接。
在本说明书的实施例中,资源分配信号可以为上位机发送给资源分配板卡的。资源分配信号可以是上位机基于被测对象所需测试资源通道、硬件在环设备能够提供的测试资源通道、硬件在环设备的多个输出端口和资源分配系统的多个资源输入端口的连接关系、资源输出端口和被测对象之间的连接关系,确定出的板卡输入端口和板卡输出端口的连接关系信号。
I/O接口单元被配置为接收资源分配信号,并建立与资源分配信号对应的板卡输入端口与板卡输出端口的连接。以此实现硬件在环设备的多个输出端口和多个被测对象之间的连接。
在本说明书的一些实施例中,资源分配板卡包括总线类接口,以及对总线类接口进行接口转换的总线接口转换单元。
在本说明书的实施例中,资源分配板卡还包括总线类接口,总线类接口可以包括总线类板卡输入接口和总线类板卡输出接口。总线类板卡输入接口可以和总线类资源输入端口相匹配,总线类资源输入端口为与硬件在环设备提供总线资源通道的输出接口相连接的资源输入端口。总线板卡输出接口可以与任一个资源输出端口相连接,以为需要总线资源通道的被测对象所连接的资源输出端口提供总线资源通道。
资源分配板卡配置有对总线类接口进行接口转换的总线接口转换单元。总线接口转换单元可被配置为接收针对总线资源的资源分配信号,并建立与针对总线资源的资源分配信号相对应的总线类接口间的连接。
在本说明书的一些实施例中,资源分配系统还包括通讯模块,通讯模块与资源分配板卡连接,通讯模块被配置为接收资源分配信号并转发资源分配信号至资源分配板卡。
在本说明书的实施例中,资源分配信号可以为上位机生成的,也可以为其他云平台或服务器生成的。资源分配系统是通过配置通讯模块,来接收资源分配信号的。通讯模块与资源分配板卡连接,被配置为将接收到的资源分配信号转发至资源分配板卡。通讯模块还可被配置为接收资源分配板卡发送的信号,并转发资源分配板卡发送的信号至上位机或服务器等。
在本说明书的一些实施例中,资源分配系统还包括通讯模块。通讯模块与资源分配板卡连接,通讯模块被配置为接收测试对象切换信号并转发测试对象切换信号至资源分配板卡。
在本说明书的实施例中,通讯模块还被配置为接收测试对象切换信号,并转发测试对象切换信号至资源分配板卡,以使得资源分配板卡建立测试对象切换信号所对应的应切换被测对象和硬件在环设备之间的连接。
通过通讯模块接收测试对象切换信号并转发给资源分配板卡,可以实现在测试过程中,同一类型的被测对象之间的自动切换,也可以实现不同类型的被测对象之间的自动切换,以此实现多个被测对象间的联合测试。
示例性地,若硬件在环设备提供的测试资源通道不足以满足资源分配系统所连接的所有被测对象所需的测试资源通道,则可对被测对象分批测试。例如,先测试已分配所需测试资源通道的被测对象,在存在被测对象测试结束,释放测试资源通道的情况下,资源分配板卡可通过接收到的测试对象切换信号,建立相关的板卡输入端口和应切换被测对象所连接的资源输出端口匹配的板卡输出端口之间的连接,以将相关测试资源通道集成到应切换的被测对象所连接的资源输出端口中。
在本说明书的一些实施例中,资源分配系统包括高压继电器矩阵。高压继电器矩阵与硬件在环设备的指定输出端口、资源分配板卡分别连接。指定输出端口分配有指定测试资源通道,高压继电器矩阵被配置为接收资源分配板卡发送的资源分配信号,并建立与资源分配信号对应的指定测试资源通道与被测对象之间的连接。
在一些情况中,为电池管理系统控制器(BMS)搭建的硬件在环设备都具备高压系统,硬件在环设备需要为电池管理系统控制器这类被测对象提供高压测试资源通道。若不对高压系统进行电气隔离,安全性较差。
因此,本说明书实施例中,硬件在环设备配置了指定输出端口,为指定输出端口专门分配高压测试资源通道等指定测试资源通道。在资源分配系统中的专门配置有高压继电器矩阵,高压继电器矩阵与硬件在环设备的指定输出端口、资源分配板卡分别连接。
高压继电器矩阵与资源分配系统中的其他模块做电气隔离处理,以保证资源分配系统的电气安全。
高压继电器矩阵被配置为接收资源分配板卡发送的资源分配信号,并建立与资源分配信号对应的指定测试资源通道与被测对象之间的连接,以此实现资源分配系统对硬件在环设备提供的指定测试资源通道的资源分配。
本说明书实施例针对指定测试资源通道(例如,高压测试资源通道),在硬件在环设备配置了专门的指定输出端口,在资源分配系统配置了高压继电器矩阵并做了电气隔离处理,以保证对指定测试资源通道的分配过程的电气安全,保障了测试开发人员的安全。
在本说明书的一些实施例中,资源分配系统还包括电源模块,用于为资源分配板卡提供电源。
在本说明书的实施例中,资源分配系统还配置有电源模块,电源模块与资源分配板卡连接,用于为资源分配板卡提供电源。电源模块还可与资源分配系统中其他模块连接,以为其他任何模块提供电源。
请参阅图3,在一个具体的实施例中,资源分配系统还可以包括:多个资源输入端口210、资源分配板卡220、多个资源输出端口230、通讯模块310、高压继电器矩阵320以及电源模块330。
其中,多个资源输入端口210与硬件在环设备的多个输出端口连接。多个资源输出端口230与多个被测对象连接。被测对象可以为被测控制器。资源分配板卡220被配置为建立硬件在环设备的多个输出端口与多个被测对象之间的连接。
资源分配板卡220具有板卡输入端口和板卡输出端口,板卡输入端口与资源输入端口210匹配,板卡输出端口与资源输出端口230匹配。资源分配板卡220包括低压继电器矩阵、I/O接口单元、总线类接口。其中,I/O接口单元与板卡输入端口、板卡输出端口分别相连。
通讯模块310与资源分配板卡220连接,通讯模块310被配置为接收资源分配信号和/或测试对象切换信号,并转发资源分配信号和/或测试对象切换信号至资源分配板卡220。
高压继电器矩阵320与硬件在环设备的指定输出端口、资源分配板卡220分别连接。高压继电器矩阵320被配置为接收资源分配板卡220发送的资源分配信号,并建立与资源分配信号对应的指定测试资源通道与被测对象之间的连接。
电源模块330与资源分配板卡220连接,用于为资源分配板卡220提供电源。
关于资源分配系统中各个模块的具体限定可以参见上文中对于资源分配系统的各个实施例中的限定,在此不再赘述。
对应上述实施例,本说明书实施例还提出了一种测试系统,包括硬件在环设备和上述实施例中任一项的资源分配系统。
在本说明书的一些实施例中,所述测试系统还包括上位机。上位机被配置为发送资源分配信号或者测试对象切换信号至资源分配板卡。
请参阅图4,测试系统可以包括HIL测试设备(硬件在环设备)410、上位机420以及资源分配系统430。测试系统用于对多个被测对象,例如被测控制器ECU1、ECU2…ECUn进行测试。
其中,资源分配系统430可以包括上述图3所示的多个资源输入端口210、资源分配板卡220、多个资源输出端口230、通讯模块310、高压继电器矩阵320以及电源模块330。HIL测试设备410具有多个输出端口。资源分配系统430的多个资源输入端口210与硬件在环设备的多个输出端口连接;多个资源输出端口230与多个被测对象连接。资源分配板卡220被配置为建立硬件在环设备的多个输出端口与多个被测对象之间的连接。
上位机420分别与HIL测试设备410和资源分配系统430通信连接。可在上位机420中搭建测试工程。测试工程可以包括针对多个被测对象编写的相关测试用例。其内容包括测试目标、测试环境、输入数据、测试步骤、预期结果、测试脚本等,最终形成测试文档。上位机420可基于测试工程向HIL测试设备410发送测试信号,以使HIL测试设备410通过测试信号控制对被测对象的测试过程。
还可在上位机420中建立HIL测试设备410的多个输出端口、资源分配系统430的多个资源输入端口210和多个资源输出端口230、多个被测对象之间资源分配关系,并基于建立的连接映射关系向资源分配系统430发送资源分配信号。
示例性地,请参阅图5,上位机420中的软件系统构建资源分配关系的过程可以包括:
S510,获取多个被测对象(ECU1-ECUn,n≥1)所需的各类测试资源通道数量,以及获取HIL测试设备能够提供的各类测试资源通道数量。
示例性地,假设资源分配系统连接两款HIL测试设备,分别为HIL1测试设备和HIL2测试设备。还连接了四款被测控制器,例如被测控制器BMS、被测控制器VCU、被测控制器ECU1、被测控制器ECU2,其中,被测控制器BMS与被测控制器VCU为同一车型的两控制器;被测控制器ECU1与被测控制器ECU2为同一平台不同开发阶段的控制器。
则上位机420获取到的两款HIL测试设备能够提供的测试资源通道如表1所示:
表1
上位机420获取到的四款被测控制器所需的测试资源通道如表2所示:
表2
S520,判断各类被测控制器所需的各类测试资源通道数量之和是否小于HIL测试设备能够提供的各类测试资源通道数量之和。
S530,当被测对象请求的各类测试资源通道总量都小于等于HIL测试设备可提供的测试资源通道数量时,为各个被测对象分配对应的测试资源通道。
S540,测试资源通道分配完成后,输出HIL测试设备、资源分配系统和被测对象三者之间的资源分配关系,生成资源分配信号。
S550,当被测对象请求的各类测试资源通道总量大于HIL测试设备可提供的测试资源通道的数量时,筛选出HIL测试设备无法满足的被测对象请求的测试资源通道的类型。并判断无法满足的测试资源通道是否可以通过资源分配系统中的资源分配板卡进行拓展。
请参阅表3,可以看出HIL1测试设备的测试资源通道可同时配置被测对象(被测控制器)的组合以及HIL2测试设备的测试资源通道可同时配置的被测控制器的组合。
表3
S560,如果该无法满足的测试资源通道的类型可通过资源分配板卡进行扩展,将该类型的测试资源通道进行扩展后,然后利用拓展后的测试资源通道和HIL测试设备可提供的测试资源通道为各个被测对象分配对应的资源。并执行步骤S540。
在对HIL2测试设备的KL30通道进行扩充后,可实现的被测控制器的组合为ECU1+ECU2+VCU+BMS。请参阅表4:
表4
继而,基于表4所示的组合方式,上位机发送资源分配信号给资源分配系统,以进行资源分配。示例性地,对于HIL1测试设备,可将被测控制器ECU1所需要的测试资源通道,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT1-中。将被测控制器ECU2所需要的测试资源通道,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT2-中。对于HIL2测试设备,可将被测控制器ECU1所需要的资源,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT1-中。将被测控制器ECU2所需要的测试资源通道,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT2-中。将被测控制器VCU所需要的测试资源通道,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT3-中。将被测控制器BMS所需要的低压测试资源通道,通过资源分配板卡集中分配在资源分配系统中的资源输出端口UUT4-中。将被测控制器BMS所需要的高压测试资源通道集中分配在资源分配系统中的特殊资源端口(如资源输出端口UUTs-)中。
S570,如果该无法满足的测试资源通道的类型无法通过资源分配板卡进行扩展,则根据HIL测试设备可提供的测试资源通道,匹配出HIL测试设备可同时配置测试资源通道的被测对象的类型及数量。
S580,依据被测对象的测试频率以及优先级,匹配最优测试方案。需要说明的是,当匹配出的被测对象涉及到特殊资源(例如,高压测试资源通道)时,需要对特殊资源单独分配。执行步骤S530和S540。
对于相关技术中的HIL测试设备,在未配置资源分配系统的情况下,被测对象(例如被测控制器)所需的通道资源分散的分布在HIL测试设备的输出端口Slot1+至Slotn+中,当测试活动从被测控制器ECU1切换至被测控制器ECU2时,需要手动切换硬线线束。而在本说明书的实施例中,在HIL测试设备和被测对象之间配置资源分配系统后,在整个测试活动中,资源分配系统能够结合上位机发送的资源分配信号,实现HIL测试设备和被测对象之间的连接并对HIL测试设备提供的测试资源通道进行资源池化并为被测对象所连接的资源输出端口分配对应的测试资源通道。
并且,本说明书实施例的上位机也可以配置自动化测试工具,基于被测对象的实际测试情况(例如测试频率、测试顺序、优先级等等),生成测试对象切换信号并发送给资源分配系统,从而实现资源分配系统自动切换被测对象。例如,针对同一类型的被测对象,如被测控制器VCU(整车控制器)间的自动切换;也能实现不同类型控制器之间的自动切换,如被测控制器VCU和被测控制器BMS之间的自动化切换;同时也能实现不同类型控制器之间(如:被测控制器VCU+被测控制器BMS)的联合测试,保持测试活动间的连续性,提升测试效率以及HIL测试设备的资源使用率。
需要说明的是,在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本说明书的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本说明书的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
在本说明书的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本说明书和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本说明书的限制。
此外,本说明书实施例中所使用的“第一”、“第二”等术语,仅用于描述目的,而不可以理解为指示或者暗示相对重要性,或者隐含指明本实施例中所指示的技术特征数量。由此,本说明书实施例中限定有“第一”、“第二”等术语的特征,可以明确或者隐含地表示该实施例中包括至少一个该特征。在本说明书的描述中,词语“多个”的含义是至少两个或者两个及以上,例如两个、三个、四个等,除非实施例中另有明确具体的限定。
在本说明书中,除非实施例中另有明确的相关规定或者限定,否则实施例中出现的术语“安装”、“相连”、“连接”和“固定”等应做广义理解,例如,连接可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体,可以理解的,也可以是机械连接、电连接等;当然,还可以是直接相连,或者通过中间媒介进行间接连接,或者可以是两个元件内部的连通,或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,能够根据具体的实施情况理解上述术语在本说明书中的具体含义。
在本说明书中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
尽管上面已经示出和描述了本说明书的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本说明书的限制,本领域的普通技术人员在本说明书的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (11)
1.一种硬件在环设备的资源分配系统,其特征在于,包括:多个资源输入端口、资源分配板卡以及多个资源输出端口;
所述多个资源输入端口,与硬件在环设备的多个输出端口连接;
所述多个资源输出端口,与多个被测对象连接;
所述资源分配板卡被配置为建立所述硬件在环设备的多个输出端口与所述多个被测对象之间的连接。
2.根据权利要求1所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配板卡具有板卡输入端口和板卡输出端口,所述板卡输入端口与所述资源输入端口匹配,所述板卡输出端口与所述资源输出端口匹配。
3.根据权利要求1所述的资源分配系统,其特征在于,所述硬件在环设备提供有可拓展测试资源通道,所述资源分配板卡包括对所述可拓展测试资源通道进行通道拓展的低压继电器矩阵。
4.根据权利要求2所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配板卡包括I/O接口单元,所述I/O接口单元与所述板卡输入端口、所述板卡输出端口分别相连,所述I/O接口单元被配置为接收资源分配信号,并建立与所述资源分配信号对应的所述板卡输入端口与所述板卡输出端口的连接。
5.根据权利要求1至4任一项所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配板卡包括总线类接口,以及对所述总线类接口进行接口转换的总线接口转换单元。
6.根据权利要求1至4任一项所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配系统还包括通讯模块,所述通讯模块与所述资源分配板卡连接,所述通讯模块被配置为接收资源分配信号并转发所述资源分配信号至所述资源分配板卡。
7.根据权利要求1至4任一项所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配系统还包括通讯模块,所述通讯模块与所述资源分配板卡连接,所述通讯模块被配置为接收测试对象切换信号并转发所述测试对象切换信号至所述资源分配板卡。
8.根据权利要求1至4任一项所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配系统包括高压继电器矩阵,所述高压继电器矩阵与所述硬件在环设备的指定输出端口、所述资源分配板卡分别连接,所述指定输出端口分配有指定测试资源通道,所述高压继电器矩阵被配置为接收所述资源分配板卡发送的资源分配信号,并建立与所述资源分配信号对应的所述指定测试资源通道与被测对象之间的连接。
9.根据权利要求1至4任一项所述的资源分配系统,其特征在于,所述资源分配系统还包括电源模块,用于为所述资源分配板卡提供电源。
10.一种测试系统,其特征在于,包括硬件在环设备和权利要求1至9中任一项所述的资源分配系统。
11.根据权利要求10所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括上位机;所述上位机被配置为发送资源分配信号或者测试对象切换信号至所述资源分配板卡。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2025067128A1 (zh) * | 2023-03-06 | 2025-04-03 | 昆易电子科技(上海)有限公司 | 一种测试方法及系统、计算处理端以及可读存储介质 |
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2023
- 2023-11-30 CN CN202323266525.3U patent/CN221406366U/zh active Active
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WO2025067128A1 (zh) * | 2023-03-06 | 2025-04-03 | 昆易电子科技(上海)有限公司 | 一种测试方法及系统、计算处理端以及可读存储介质 |
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