CN218350443U - 一种激光芯片用高温检测台 - Google Patents
一种激光芯片用高温检测台 Download PDFInfo
- Publication number
- CN218350443U CN218350443U CN202222643590.2U CN202222643590U CN218350443U CN 218350443 U CN218350443 U CN 218350443U CN 202222643590 U CN202222643590 U CN 202222643590U CN 218350443 U CN218350443 U CN 218350443U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- base
- pneumatic
- platform
- laser chip
- transverse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 12
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 9
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000013522 software testing Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种激光芯片用高温检测台，包括：活动基座，为本高温检测台的底座部分，所述活动基座的后端设有固定基座，所述活动基座上设有旋转驱动台，所述旋转驱动台的上端转动设置有加热放置台，固定基座的上端设有横向双杆气缸，所述横向双杆气缸的上端设有固定支架以及光谱探测支架，所述固定支架的上端设有光功率探测器，所述光功率探测器的探测端朝向加热放置台方向设置，所述光谱探测支架的上端设有光谱探测器，该用于激光芯片测试用的高温平台，能够对激光芯片进行高温存放，利用光功率探测器以及光功率探测器对芯片进行光学性能测试，从而对激光芯片进行进一步的稳定性测试，以分辨出芯片的品质优劣，提高探测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及激光芯片探测技术领域，具体为一种激光芯片用高温检测台。
背景技术
随着互联网和多媒体通讯的需求不断增长，科技水平的不断推进，因此对于多种网络的硬件需求也随之增高，光纤通信凭借其高带宽，低延迟，逐渐应用于网络通信等领域，包括激光器芯片等光电子器件的发展也在成熟起来，而激光芯片在生产过程中会由于其生产工艺限制，出现体质的不同，因此还需要使用探测设备，对激光芯片的体质进行探测。
如申请号CN2021215581 16本实用新型公开了一种芯片自动测试设备，包括:测试机台,所述测试机台上阵列设置有多个测试模组；.上下料机构,所述上下料机构设置于测试机台的侧边,用于放置芯片的料盘；飞梭机构,所述飞梭机构的一-进出料端设置于上下料机构处,飞梭机构的另-进出料端设置于测试模组处；上下料机头机构,所述上下料机头机构设置于上下料机构的上方位置；测试机头机构,所述测试机头机构设置于测试机台的上方位置。本实用新型通过自动化测试代替了人工劳动,采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求,从而提高机台的整体效率,不仅定位精准,而且能够大大提高测试效率,支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。
类似于上述激光芯片检测装置目前还存在以下几点不足：
由于激光芯片往往需要在高温环境下持续运作，激光芯片的耐温体质能直接影响其性能水平，现有装置无法满足高温下的激光芯片探测需求。
于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提出一种激光芯片用高温检测台，以期达到更具有实用价值性的目的。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种激光芯片用高温检测台，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种激光芯片用高温检测台，包括：
活动基座，为本高温检测台的底座部分，所述活动基座的后端设有固定基座，所述活动基座上设有旋转驱动台，所述旋转驱动台的上端转动设置有加热放置台，固定基座的上端设有横向双杆气缸，所述横向双杆气缸的上端设有固定支架以及光谱探测支架，所述固定支架的上端设有光功率探测器，所述光功率探测器的探测端朝向加热放置台方向设置，所述光谱探测支架的上端设有光谱探测器。
优选的，所述活动基座还包括有：纵向气动基座、横向气动基座，所述横向气动基座滑动安装在所述纵向气动基座的上端，所述旋转驱动台通过螺栓安装于所述横向气动基座的上端。
优选的，所述旋转驱动台还包括有：
驱动电机，其固定安装于所述旋转驱动台的上端，所述驱动电机的输出轴向下设置，所述驱动电机的输出轴上设有同步轮；
旋转轴，其转动安装在所述旋转驱动台的上端，所述旋转轴通过同步带与所述同步轮进行连接。
优选的，所述旋转轴的上端设有延伸台，所述加热放置台通过螺栓安装于所述延伸台的上端。
优选的，所述光谱探测支架还包括有：
纵向小气动滑台，其固定安装在所述横向双杆气缸的上端，所述纵向小气动滑台的上端滑动设置有横向小气动滑台，所述横向小气动滑台的上端滑动安装有升降基座。
优选的，所述升降基座的上端滑动设置有安装架，所述安装架下端安装有顶杆，所述顶杆延伸至所述安装架的内部，所述升降基座的内部转动安装有升降顶块，所述顶杆延伸至所述升降顶块的上端，所述升降基座的外侧设有气动推杆，所述气动推杆的输出轴延伸至所述升降顶块的外侧。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该用于激光芯片测试用的高温平台，能够对激光芯片进行高温存放，利用光功率探测器以及光功率探测器对芯片进行光学性能测试，从而对激光芯片进行进一步的稳定性测试，以分辨出芯片的品质优劣，提高探测效率；
1.通过纵向气动基座以及横向气动基座以及旋转驱动台，纵向气动基座以及横向气动基座能够使旋转驱动台可以前后左右移动一定的距离，同时旋转驱动台又能够使加温放置台可以360度旋转，从而对芯片的角度和位置进行自由调整，便于探测设备精准测试。
2.通过横向双杆气缸，能够直接带动光谱探测支架以及固定支架同时左右移动，从而能够实现光功率探测器以及光谱探测器之间的快速切换。
附图说明
图1为本实用新型整体等轴侧结构示意图；
图2为本实用新型活动基座部分立体结构示意图；
图3为本实用新型旋转驱动台部分立体结构示意图；
图4为本实用新型光谱探测支架部分立体结构示意图；
图5为本实用新型安装架部分立体结构示意图。
图中：1、活动基座；101、纵向气动基座；102、横向气动基座；2、固定基座；3、旋转驱动台；301、驱动电机；302、同步轮；303、旋转轴；304、延伸台；4、横向双杆气缸；5、光谱探测支架；501、纵向小气动滑台；502、横向小气动滑台；503、升降基座；504、升降顶块；505、气动推杆；6、加热放置台；7、光谱探测器；8、光功率探测器；9、安装架；901、顶杆；10、固定支架。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5，一种激光芯片用高温检测台，包括：活动基座1，为本高温检测台的底座部分，活动基座1的后端设有固定基座2，活动基座1上设有旋转驱动台3，旋转驱动台3的上端转动设置有加热放置台6，固定基座2的上端设有横向双杆气缸4，横向双杆气缸4的上端设有固定支架10以及光谱探测支架5，固定支架10的上端设有光功率探测器8，能够直接带动光谱探测支架5以及固定支架10同时左右移动，从而能够实现光功率探测器8以及光谱探测器7之间的快速切换，光功率探测器8的探测端朝向加热放置台6方向设置，光谱探测支架5的上端设有光谱探测器7，能够对芯片进行光功率测试以及光谱分析测试，从而对芯片的品质优劣进行初步检测。活动基座1还包括有：纵向气动基座101、横向气动基座102，横向气动基座102滑动安装在纵向气动基座101的上端，旋转驱动台3通过螺栓安装于横向气动基座102的上端。纵向气动基座101以及横向气动基座102能够使旋转驱动台3可以前后左右移动一定的距离。从而能够使芯片对准探针，提高测试的精准度。旋转驱动台3还包括有：驱动电机301，其固定安装于旋转驱动台3的上端，驱动电机301的输出轴向下设置，驱动电机301的输出轴上设有同步轮302；旋转轴303，其转动安装在旋转驱动台3的上端，旋转轴303通过同步带与同步轮302进行连接，旋转轴303的上端设有延伸台304，加热放置台6通过螺栓安装于延伸台304的上端。旋转驱动台3又能够使加温放置台6可以360度旋转，从而对芯片的角度和位置进行自由调整，便于探测设备精准测试。
请参阅图1-5，一种激光芯片用高温检测台，包括：光谱探测支架5还包括有：纵向小气动滑台501，其固定安装在横向双杆气缸4的上端，纵向小气动滑台501的上端滑动设置有横向小气动滑台502，横向小气动滑台502的上端滑动安装有升降基座503，能够带动光谱探测器7进行前后左右的自行移动。使光谱探测器7能够精准对齐，提高检测的精准度。升降基座503的上端滑动设置有安装架9，安装架9下端安装有顶杆901，顶杆901延伸至安装架9的内部，升降基座503的内部转动安装有升降顶块504，顶杆901延伸至升降顶块504的上端，升降基座503的外侧设有气动推杆505，气动推杆505的输出轴延伸至升降顶块504的外侧，当气动推杆505推进时，便能推动升降顶块504旋转，从而将顶杆901顶起，实现升降顶块504的上下升降。
综上所述：该装置通过活动基座1对芯片的加热平台进行固定，而光功率探测器8以及光谱探测器7则通过固定基座2进行固定，活动基座1能够通过纵向气动基座101以及横向气动基座102，使旋转驱动台3部分前后左右移动，同时旋转驱动台3通过驱动电机301的驱动，利用同步轮302，带动旋转轴303旋转，通过延伸台304，支撑起加热放置台6，从而使加热放置台能够前有左右移动，并且旋转调整角度和位置，而固定基座2上则通过横向双杆气缸4，安装固定支架10以及光谱探测支架5，光谱探测支架5上安装有光谱探测器7，而固定支架10则固定安装光功率探测器8，因此当横向双杆气缸4左右滑动时，便能切换光功率探测器8以及光谱探测器7的横向位置，光谱探测支架5通过纵向小气动滑台501以及横向小气动滑台502实现左右以及前后移动，同时升降基座503用于滑动固定安装架9，安装架9通过顶杆901延伸到升降基座503的内部，实现上下滑动，当气动推杆505推进时，气动推杆505便会顶到升降顶块504，进而顶起顶杆901，使安装架9以及安装在其上端的光谱探测器7上下升降，从而完成该装置的全部工作流程
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，包括：
活动基座(1)，为本高温检测台的底座部分，所述活动基座(1)的后端设有固定基座(2)，所述活动基座(1)上设有旋转驱动台(3)，所述旋转驱动台(3)的上端转动设置有加热放置台(6)，固定基座(2)的上端设有横向双杆气缸(4)，所述横向双杆气缸(4)的上端设有固定支架(10)以及光谱探测支架(5)，所述固定支架(10)的上端设有光功率探测器(8)，所述光功率探测器(8)的探测端朝向加热放置台(6)方向设置，所述光谱探测支架(5)的上端设有光谱探测器(7)。
2.根据权利要求1所述的一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，所述活动基座(1)还包括有：纵向气动基座(101)、横向气动基座(102)，所述横向气动基座(102)滑动安装在所述纵向气动基座(101)的上端，所述旋转驱动台(3)通过螺栓安装于所述横向气动基座(102)的上端。
3.根据权利要求1所述的一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，所述旋转驱动台(3)还包括有：
驱动电机(301)，其固定安装于所述旋转驱动台(3)的上端，所述驱动电机(301)的输出轴向下设置，所述驱动电机(301)的输出轴上设有同步轮(302)；
旋转轴(303)，其转动安装在所述旋转驱动台(3)的上端，所述旋转轴(303)通过同步带与所述同步轮(302)进行连接。
4.根据权利要求3所述的一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，所述旋转轴(303)的上端设有延伸台(304)，所述加热放置台(6)通过螺栓安装于所述延伸台(304)的上端。
5.根据权利要求1所述的一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，所述光谱探测支架(5)还包括有：
纵向小气动滑台(501)，其固定安装在所述横向双杆气缸(4)的上端，所述纵向小气动滑台(501)的上端滑动设置有横向小气动滑台(502)，所述横向小气动滑台(502)的上端滑动安装有升降基座(503)。
6.根据权利要求5所述的一种激光芯片用高温检测台，其特征在于，所述升降基座(503)的上端滑动设置有安装架(9)，所述安装架(9)下端安装有顶杆(901)，所述顶杆(901)延伸至所述安装架(9)的内部，所述升降基座(503)的内部转动安装有升降顶块(504)，所述顶杆(901)延伸至所述升降顶块(504)的上端，所述升降基座(503)的外侧设有气动推杆(505)，所述气动推杆(505)的输出轴延伸至所述升降顶块(504)的外侧。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202222643590.2U CN218350443U (zh) | 2022-10-09 | 2022-10-09 | 一种激光芯片用高温检测台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202222643590.2U CN218350443U (zh) | 2022-10-09 | 2022-10-09 | 一种激光芯片用高温检测台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218350443U true CN218350443U (zh) | 2023-01-20 |
Family
ID=84895797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202222643590.2U Active CN218350443U (zh) | 2022-10-09 | 2022-10-09 | 一种激光芯片用高温检测台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN218350443U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
-
2022
- 2022-10-09 CN CN202222643590.2U patent/CN218350443U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
| CN116626476B (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-20 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108775887B (zh) | 一种锂电池的检测方法 | |
| CN108387276B (zh) | 锂电池检测设备 | |
| CN218350443U (zh) | 一种激光芯片用高温检测台 | |
| CN109781046A (zh) | 长度测量机构和新能源电池检验设备 | |
| CN110035283B (zh) | 一种全自动tof摄像头测试设备 | |
| CN114405860A (zh) | 全方位外观缺陷检测设备 | |
| CN108767285A (zh) | 一种方形锂电池检验机 | |
| CN113927408B (zh) | 光学镜片加工用抛光装置 | |
| CN109319477B (zh) | 一种吊装式高速取放料平台及工作方法 | |
| CN110444491A (zh) | 一种电池片iv、el双面测试设备 | |
| CN114535139A (zh) | 一种晶圆分选设备 | |
| CN221847900U (zh) | 一种活塞筛选装置 | |
| CN210781140U (zh) | 一种八工位水平烧录终测一体机 | |
| CN218350442U (zh) | 一种激光器芯片自动测试设备 | |
| CN113189112A (zh) | 卷装标签印刷缺陷检测设备 | |
| CN112255236A (zh) | 一种全智能条形光源外观检测设备 | |
| CN117129422A (zh) | 一种光学检测装置及光学检测方法 | |
| CN210719165U (zh) | 一种用于水平仪测试的激光自动检测设备 | |
| CN214236198U (zh) | 一种砂芯传送装置 | |
| CN115453330A (zh) | 一种激光器芯片自动测试设备 | |
| CN223107194U (zh) | 一种镜头杂光检测机 | |
| CN222158999U (zh) | 一种零部件拾取机构和零部件加工检测装置 | |
| CN115876245B (zh) | 一种全自动光学精密测量设备 | |
| CN117870551B (zh) | 一种ccd机器视觉全尺寸检测设备及其检测方法 | |
| CN110877810A (zh) | 一种电池输送及扫码装置及输送扫码方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |