CN217739259U - 一种集成电路测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试工装，该集成电路测试工装的限位板和第一压紧机构均设置于第一支撑座，限位板能够限定电路板的位置，第一测试板滑动设置于第一支撑座，第一压紧机构能够将第一测试板压紧于电路板；第二测试板和第二压紧机构均设置于第二支撑座，端子模块能插接于第二测试板的插槽，第二压紧机构能将端子模块压紧于第二测试板；测量仪与第一测试板通过引线电连接，第一测试板还与第二测试板通过引线电连接。避免了将端子模块和电路板焊接后由端子模块和/或电路板自身工作性能不良造成的返工现象，有效提高了测试效率，且节省人力，同时该集成电路测试工装结构简单，操作方便，实用性强。

Description

一种集成电路测试工装

技术领域

本实用新型涉及零部件测试技术领域，尤其涉及一种集成电路测试工装。

背景技术

对于集成电路而言，一般是将端子模块焊接在电路板上。其中，为了避免焊接后出现由端子模块和/或电路板自身工作性能不良造成返工现象，在将端子模块焊接于电路板之前，一般会对端子模块和电路板的工作性能进行测试。

现有技术中测试端子模块和电路板的工作性能的方法一般是对端子模块和电路板单独进行测试，操作复杂，且测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试工装，以解决现有技术中无法同时对端子模块和电路板进行测试，操作复杂且测试效率低的问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种集成电路测试工装，用于测试电路板和端子模块，其包括：

第一测试板、限位板和第一压紧机构，所述限位板和所述第一压紧机构均设置于第一支撑座，所述限位板能够限定所述电路板的位置，所述第一测试板滑动设置于所述第一支撑座，所述第一压紧机构能够将所述第一测试板压紧于所述电路板；

第二测试板和第二压紧机构，所述第二测试板和所述第二压紧机构均设置于第二支撑座，所述端子模块能插接于所述第二测试板的插槽，所述第二压紧机构能将所述端子模块压紧于所述第二测试板；

测量仪，所述测量仪与所述第一测试板通过引线电连接，所述第一测试板还与所述第二测试板通过引线电连接。

作为优选，所述限位板设有限位槽，所述电路板插设于所述限位槽。

作为优选，所述第一测试板固定设有多个第一探针，所述电路板设有多个触点，多个所述第一探针和多个所述触点一一对应设置，所述第一压紧机构能够将所述第一探针的自由端压紧于所述电路板的触点；

所述第一探针的另一端通过引线和所述测量仪电连接，还通过引线和所述第二测试板电连接。

作为优选，所述第二测试板固定设有多个第二探针，所述插槽的数量为多个，多个所述插槽和多个所述第二探针一一对应设置，所述第二探针的自由端位于所述插槽内，所述第二探针的另一端通过引线与所述第一探针电连接；

所述端子模块设有多个导电端子，多个所述导电端子与多个所述插槽一一对应设置，且多个所述导电端子与多个所述第二探针一一对应设置，所述导电端子能插接于所述插槽，所述第二压紧机构能将所述导电端子压紧于所述第二探针的自由端。

作为优选，所述第一探针为弹簧探针；所述第二探针为弹簧探针。

作为优选，所述第一压紧机构包括固定设置于所述第一支撑座的第一连接板、第一杆件、第二杆件和第三杆件，所述第一杆件的一端与所述第一连接板转动连接，所述第二杆件的一端与所述第一杆件转动连接，另一端与所述第三杆件转动连接，所述第三杆件的另一端滑动连接于所述第一连接板且能与所述第一测试板抵接。

作为优选，所述集成电路测试工装还包括两个间隔分布于所述第一支撑座的导向组件，所述导向组件包括弹性件以及固定设置于所述第一支撑座的导向杆，所述第一测试板滑动套设于所述导向杆，所述弹性件套设于所述导向杆，且所述弹性件的两端分别与所述第一测试板和所述第一支撑座固定连接。

作为优选，所述第二压紧机构包括固定连接于所述第二支撑座的第二连接板、第四杆件、第五杆件和第六杆件，所述第四杆件的一端与所述第二连接板转动连接，所述第五杆件的一端与所述第二连接板转动连接，所述第四杆件的另一端和所述第五杆件还均与第六杆件转动连接，所述第五杆件的另一端固定设有压块。

作为优选，所述压块上至少与所述端子模块接触的部份设有弹性垫层。

作为优选，所述测量仪与所述第一测试板之间的引线上还设有开关。

本实用新型的有益效果：

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试工装，该集成电路测试工装用于在将端子模块焊接于电路板之前测试端子模块和电路板的工作性能，其中，该集成电路测试工装包括第一测试板、限位板、第一压紧机构、第二测试板、第二压紧机构和测量仪。具体地，在通过该集成电路测试工装测试端子模块和电路板的工作性能时，先将电路板设置于限位板上限定电路板的设置位置，将端子模块插接于第二测试板的插槽以初步限定端子模块的设置位置，再通过第一压紧机构将第一测试板压紧于电路板，以使电路板和第一测试板连接，通过第二压紧机构将端子模块压紧于第二测试板，端子模块和插槽插接到位，以使端子模块和第二测试板连接，其中，测量仪与第一测试板通过引线电连接，第一测试板还与第二测试板通过引线电连接，当通电后，电路板、第一测试板、端子模块、第二测试板和测量仪均电连接形成通路，从而通过测量仪测试电路板和端子模块的工作参数，通过工作参数判断电路板和端子模块的工作性能。该集成电路测试工装同时对端子模块和电路板进行测试，有效避免了将端子模块和电路板焊接后由端子模块和/或电路板自身工作性能不良造成的返工现象，有效提高了测试效率，节省人力，同时该集成电路测试工装结构简单，操作方便，实用性强。

附图说明

图1是本实用新型的具体实施例提供的集成电路测试工装的结构示意图一；

图2是本实用新型的具体实施例提供的集成电路测试工装的结构示意图二；

图3是本实用新型的具体实施例提供的集成电路测试工装的部分结构示意图；

图4是本实用新型的具体实施例提供的集成电路测试工装的导电端子的结构示意图；

图5是本实用新型的具体实施例提供的集成电路测试工装的第一压紧机构的结构示意图。

图中：

100、电路板；200、端子模块；210、导电端子；

1、第一测试板；11、第一探针；

2、限位板；21、限位槽；

3、第一压紧机构；31、第一连接板；32、第一杆件；321、第一把手；33、第二杆件；34、第三杆件；

4、第一支撑座；

5、第二测试板；51、插槽；52、第二探针；

6、第二压紧机构；61、第二连接板；62、第四杆件；63、第五杆件；64、第六杆件；641、第二把手；65、压块；

7、导向组件；71、弹性件；72、导向杆；

8、第二支撑座。

具体实施方式

为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施例的技术方案做进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

本实用新型提供一种集成电路测试工装，如图1-3所示，该集成电路测试工装用于测试电路板100和端子模块200，该集成电路测试工装包括第一测试板1、限位板2、第一压紧机构3、第二测试板5、第二压紧机构6和测量仪。其中，限位板2和第一压紧机3均设置于第一支撑座4，限位板2能够限定电路板100的位置，第一测试板1滑动设置于第一支撑座4，第一压紧机构3能够将第一测试板1压紧于电路板100；第二测试板5和第二压紧机构6均设置于第二支撑座8，端子模块200能插接于第二测试板5的插槽51，第二压紧机构6能将端子模块200压紧于第二测试板5；测量仪与第一测试板1通过引线电连接，第一测试板1还与第二测试板5通过引线电连接。

如图1-3所示，该集成电路测试工装，在通过该集成电路测试工装测试端子模块200和电路板100的工作性能时，先将电路板100设置于限位板2上限定电路板100的设置位置，将端子模块200插接于第二测试板5的插槽51以初步限定端子模块200的设置位置，再通过第一压紧机构3将第一测试板1压紧于电路板100，以使电路板100和第一测试板1连接，通过第二压紧机构6将端子模块200压紧于第二测试板5，端子模块200和插槽51插接到位，以使端子模块200和第二测试板5连接，其中，测量仪与第一测试板1通过引线电连接，第一测试板1还与第二测试板5通过引线电连接，当通电后，电路板100、第一测试板1、端子模块200、第二测试板5和测量仪均电连接形成通路，从而通过测量仪测试电路板100和端子模块200的工作参数，通过工作参数判断电路板100和端子模块200的工作性能。该集成电路测试工装同时对端子模块200和电路板100进行测试，有效避免了将端子模块200和电路板100焊接后由端子模块200和/或电路板100自身工作性能不良造成的返工现象，有效提高了测试效率，节省人力，同时该集成电路测试工装结构简单，操作方便，实用性强。

其中，图2中第一压紧机构3将第一测试板1压紧于电路板100，第二压紧机构6将端子模块200压紧于第二测试板5。

其中，如图3所示，限位板2设有限位槽21，电路板100插设于限位槽21。如此设置，以限定电路板100的设置位置。具体地，在本实施例中，电路板100呈矩形，限位槽21也呈矩形。

进一步具体地，限位板2还设有与限位槽21连通的凹槽，限位板2还设有连通凹槽和限位槽21的缺口。如此设置，便于装配或拆离电路板100。

其中，如图1-3所示，第一测试板1固定设有多个第一探针11，电路板100设有多个触点，多个第一探针11和多个触点一一对应设置，第一压紧机构3能够将第一探针11的自由端压紧于电路板100的触点；第一探针11的另一端通过引线和测量仪电连接，还通过引线和第二测试板5电连接。通过第一压紧机构3将第一探针11的自由端压紧于电路板100的触点，且第一探针11的另一端通过引线和测量仪电连接，还通过引线和第二测试板5电连接，当通电后，电路板100、第一测试板1、端子模块200、第二测试板5和测量仪均电连接形成通路，从而通过测量仪测试电路板100和端子模块200的工作参数，通过工作参数判断电路板100和端子模块200的工作性能。

具体地，第一探针11为弹簧探针。如此设置，当第一压紧机构3将第一探针11的自由端压紧于电路板100的触点，能保证第一探针11的自由端与电路板100接触的同时，不破坏电路板100的结构。其中，弹性探针的具体结构属于现有技术，在此不再赘述。

具体地，如图1-3和图5所示，第一压紧机构3包括固定设置于第一支撑座4的第一连接板31、第一杆件32、第二杆件33和第三杆件34，第一杆件32的一端与第一连接板31转动连接，第二杆件33的一端与第一杆件32转动连接，另一端与第三杆件34转动连接，第三杆件34的另一端滑动连接于第一连接板31且能与第一测试板1抵接。具体地，第一杆件32的另一端为第一把手321，通过向第一把手321施加力，使得第一把手321带动第一杆件32、第二杆件33和第三杆件34联动，使得第三杆件34向靠近第一测试板1的方向运动，直至第三杆件34的另一端与第一测试板1抵接，再继续向第一把手321施加力带动第一测试板1向电路板100靠近，直至将第一测试板1的第一探针11的自由端压紧于电路板100的触点。具体地，第一测试板1靠近电路板100的方向与第一探针11的自由端压紧于电路板100的触点的压紧力方向平行，且均与电路板100表面垂直。

进一步具体地，如图1-3所示，集成电路测试工装还包括两个间隔分布于第一支撑座4的导向组件7，导向组件7包括弹性件71以及固定设置于第一支撑座4的导向杆72，第一测试板1滑动套设于导向杆72，弹性件71套设于导向杆72，且弹性件71的两端分别与第一测试板1和第一支撑座4固定连接。通过设置导向组件7，以限定第一测试板1仅能沿导向杆72的延伸方向滑动，从而避免第一压紧组件在带动第一测试板1靠近电路板100的过程第一测试板1的运动路径发生偏移，保证第一测试板1的第一探针11的自由端能够准确的与电路板100上的触点接触，可以理解的是，此过程中弹性件71被压缩；其在测试完成后，再次向第一把手321施加力，使得第一把手321带动第一杆件32、第二杆件33和第三杆件34联动，带动第三杆件34向远离第一测试板1的方向运动，此时，弹性件71的弹性恢复力带动第一测试板1沿导向杆72的延伸方向远离电路板100，以将第一探针11的自由端和电路板100的触点分离。其中，导线杆的延伸方向与第一测试板1靠近电路板100的方向平行。具体地，在本实施例中，弹性件71为弹簧。

其中，如图1-4所示，第二测试板5固定设有多个第二探针52，插槽51的数量为多个，多个插槽51和多个第二探针52一一对应设置，第二探针52的自由端位于插槽51内，第二探针52的另一端通过引线与第一探针11电连接；端子模块200设有多个导电端子210，多个导电端子210与多个插槽51一一对应设置，且多个导电端子210与多个第二探针52一一对应设置，导电端子210能插接于插槽51，第二压紧机构6能将导电端子210压紧于第二探针52的自由端。先初步将端子模块200的多个导电端子210一一对应的插接于多个插槽51，再通过第二压紧机构6将端子模块200的导电端子210压紧于插槽51内的第二探针52的自由端，且第二探针52的另一端通过引线与第一探针11电连接，当通电后，电路板100、第一测试板1、端子模块200、第二测试板5和测量仪均电连接形成通路，从而通过测量仪测试电路板100和端子模块200的工作参数，通过工作参数判断电路板100和端子模块200的工作性能。

具体地，第二探针52为弹簧探针。如此设置，当第二压紧机构6将导电端子210压紧于第二探针52的自由端，能保证第二探针52的自由端与端子模块200接触的同时，不破坏端子模块200的导电端子210的结构。其中，弹性探针的具体结构属于现有技术，在此不再赘述。

具体地，如图1-3所示，第二压紧机构6包括固定连接于第二支撑座8的第二连接板61、第四杆件62、第五杆件63和第六杆件64，第四杆件62的一端与第二连接板61转动连接，第五杆件63的一端与第二连接板61转动连接，第四杆件62的另一端和第五杆件63还均与第六杆件64转动连接，第五杆件63的另一端固定设有压块65。具体地，第六杆件64的另一端为第二把手641，通过向第二把手641施加力，第二把手641带动第四杆件62、第五杆件63和第六杆件64联动，使得第五杆件63靠近端子模块200并将导电端子210压紧于第二探针52的自由端；当测试完成后，再向第二把手641施加力，第二把手641带动第四杆件62、第五杆件63和第六杆件64联动，使得压块65远离端子模块200。进一步具体地，第五杆件63的另一端和压块65通过螺栓可拆卸连接，如此设置，便于装配、拆卸或更换压块65。

进一步具体地，压块65上至少与端子模块200接触的部份设有弹性垫层。如此设置，能够避免压块65划伤或刮伤端子模块200，且能通过弹性垫层缓冲通过压块65施加于端子模块200的力。

其中，测量仪与第一测试板1之间的引线上还设有开关。通过设置开关，以便于连通或断块电路板100、第一测试板1、端子模块200、第二测试板5和测量仪形成的通路。

其中，测量仪的具体结构属于现有技术，在此不再赘述。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种集成电路测试工装，用于测试电路板(100)和端子模块(200)，其特征在于，包括：

第一测试板(1)、限位板(2)和第一压紧机构(3)，所述限位板(2)和所述第一压紧机构(3)均设置于第一支撑座(4)，所述限位板(2)能够限定所述电路板(100)的位置，所述第一测试板(1)滑动设置于所述第一支撑座(4)，所述第一压紧机构(3)能够将所述第一测试板(1)压紧于所述电路板(100)；

第二测试板(5)和第二压紧机构(6)，所述第二测试板(5)和所述第二压紧机构(6)均设置于第二支撑座(8)，所述端子模块(200)能插接于所述第二测试板(5)的插槽(51)，所述第二压紧机构(6)能将所述端子模块(200)压紧于所述第二测试板(5)；

测量仪，所述测量仪与所述第一测试板(1)通过引线电连接，所述第一测试板(1)还与所述第二测试板(5)通过引线电连接。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述限位板(2)设有限位槽(21)，所述电路板(100)插设于所述限位槽(21)。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述第一测试板(1)固定设有多个第一探针(11)，所述电路板(100)设有多个触点，多个所述第一探针(11)和多个所述触点一一对应设置，所述第一压紧机构(3)能够将所述第一探针(11)的自由端压紧于所述电路板(100)的触点；

所述第一探针(11)的另一端通过引线和所述测量仪电连接，还通过引线和所述第二测试板(5)电连接。

4.根据权利要求3所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述第二测试板(5)固定设有多个第二探针(52)，所述插槽(51)的数量为多个，多个所述插槽(51)和多个所述第二探针(52)一一对应设置，所述第二探针(52)的自由端位于所述插槽(51)内，所述第二探针(52)的另一端通过引线与所述第一探针(11)电连接；

所述端子模块(200)设有多个导电端子(210)，多个所述导电端子(210)与多个所述插槽(51)一一对应设置，且多个所述导电端子(210)与多个所述第二探针(52)一一对应设置，所述导电端子(210)能插接于所述插槽(51)，所述第二压紧机构(6)能将所述导电端子(210)压紧于所述第二探针(52)的自由端。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述第一探针(11)为弹簧探针；所述第二探针(52)为弹簧探针。

6.根据权利要求1-5任一项所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述第一压紧机构(3)包括固定设置于所述第一支撑座(4)的第一连接板(31)、第一杆件(32)、第二杆件(33)和第三杆件(34)，所述第一杆件(32)的一端与所述第一连接板(31)转动连接，所述第二杆件(33)的一端与所述第一杆件(32)转动连接，另一端与所述第三杆件(34)转动连接，所述第三杆件(34)的另一端滑动连接于所述第一连接板(31)且能与所述第一测试板(1)抵接。

7.根据权利要求1-5任一项所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述集成电路测试工装还包括两个间隔分布于所述第一支撑座(4)的导向组件(7)，所述导向组件(7)包括弹性件(71)以及固定设置于所述第一支撑座(4)的导向杆(72)，所述第一测试板(1)滑动套设于所述导向杆(72)，所述弹性件(71)套设于所述导向杆(72)，且所述弹性件(71)的两端分别与所述第一测试板(1)和所述第一支撑座(4)固定连接。

8.根据权利要求1-5任一项所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述第二压紧机构(6)包括固定连接于所述第二支撑座(8)的第二连接板(61)、第四杆件(62)、第五杆件(63)和第六杆件(64)，所述第四杆件(62)的一端与所述第二连接板(61)转动连接，所述第五杆件(63)的一端与所述第二连接板(61)转动连接，所述第四杆件(62)的另一端和所述第五杆件(63)还均与第六杆件(64)转动连接，所述第五杆件(63)的另一端固定设有压块(65)。

9.根据权利要求8所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述压块(65)上至少与所述端子模块(200)接触的部份设有弹性垫层。

10.根据权利要求1-5任一项所述的集成电路测试工装，其特征在于，所述测量仪与所述第一测试板(1)之间的引线上还设有开关。

Images