CN215812913U - 一种电路板测试连接器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种电路板测试连接器,其特征在于,用于测试电路板,所述电路板测试连接器包括主体、连接件和中心针组件,所述主体上部连接所述连接件,所述连接件与所述主体通过螺纹设置,能够进行相对旋转;所述中心针组件同轴穿设于所述主体的内部,并与所述主体固定连接,所述主体与所述连接件相对旋转时,所述中心针组件与所述主体同步旋转。并且设置有能够调节接地针安装位置的调节装置,使电路板测试连接器可改变并选择测试的角度与距离,具有足够的空间避开电路板上排布的元器件。电路板测试连接器的整体结构不复杂,稳定性和安全性较佳,同时设计了刻度标识,便于使用者进行操作与记录。
Description
技术领域
本实用新型属于射频连接器技术领域,具体涉及一种电路板测试连接器。
背景技术
在目前的射频连接器行业中,大部分射频电路板连接器采用固定连接器测试方案,在产品研发过程中,由于一些方案没有完全确认,电路板上的元器件排布会经常变动,普通的电路板测试连接器具有固定的测试位置,在产品研发过程中通常无法使用。所以,需要一种能适应电路板测点在不同方向和不同距离的测试连接器。
实用新型内容
为了克服上述现有技术的缺陷,本实用新型通过,提出了一种电路板测试连接器,用于测试电路板,所述电路板测试连接器包括主体、连接件和中心针组件,所述主体上部连接所述连接件,所述连接件与所述主体通过螺纹设置,能够进行相对旋转;
所述中心针组件同轴穿设于所述主体的内部,并与所述主体固定连接,所述主体与所述连接件相对旋转时,所述中心针组件与所述主体同步旋转。
具体地,所述主体包括外壳和螺纹件,所述螺纹件设置在所述外壳的上部,所述螺纹件与所述连接件为螺纹连接,所述螺纹件与所述连接件配合,使所述主体与所述连接件能够进行相对旋转。
进一步地,所述主体还包括设置在所述螺纹件外部的固定件,所述固定件设置于所述外壳的上部,所述外壳设置有限制所述螺纹件向下移动距离超过预设值的限制部,当所述螺纹件向下移动距离至所述预设值时,所述限制部对所述固定件起限制作用,进而对所述螺纹件起到固定作用。
具体地,所述固定件为金属环,所述金属环的上部内径小于所述螺纹件的螺纹,所述金属环的上部外径大于所述限制部,所述金属环的下部能够嵌入所述限制部。
具体地,所述中心针组件包括中心针、焊杯、信号针和接地针,所述中心针同轴穿设于所述主体的内部,所述焊杯设置在所述主体的上部,所述中心针的一端显露出所述焊杯;
所述信号针同轴穿设于所述外壳的内部,所述信号针连接所述中心针,所述接地针设置在所述外壳的内部。
具体地,所述信号针和所述接地针均具有用于测试连接电路板的测试端,所述信号针和所述接地针的测试端显露出所述主体的下端。
优选地,所述中心针与所述信号针间设置有具有导电性的弹性部件,所述弹性部件的两端分别抵接所述中心针与所述信号针。
进一步地,所述中心针与所述主体之间设置有第一绝缘件,所述信号针与所述外壳间设置有第二绝缘件,所述第一绝缘件和所述第二绝缘件均为环状主体结构,所述第一绝缘件套设于所述中心针外部,所述第二绝缘件套设于所述信号针外部,所述第一绝缘件和所述第二绝缘件的外部抵接所述主体的内壁,用于保持所述中心针和所述信号针的同轴位置。
进一步地,所述主体还包括用于调节所述接地针位置的调节装置,所述调节装置设置于所述主体的下部。
具体地,所述调节装置为针套,所述针套设置有多个安装位,所述安装位与所述信号针间的水平距离各不相同,所述接地针能够设置于任一所述安装位。
以此,本实用新型提供了一种电路板测试连接器,用于测试电路板,能够解决多种类型的射频信号电路板的信号测试难题。电路板测试连接器采用了螺纹结构的设计,能够实现360°旋转,通过针套的设计使接地针能够安装到不同位置,从而使电路板测试连接器可改变并选择测试的角度与距离,具有足够的空间避开电路板上排布的元器件。电路板测试连接器的整体结构不复杂,稳定性和安全性较佳,同时设计了刻度标识,便于使用者进行操作与记录。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型提供的一种电路板测试连接器的整体结构示意图;
图2为电路板测试连接器测试连接电路板状态的整体结构示意图;
图3为电路板测试连接器的上部结构剖面示意图;
图4为本实用新型提供的一种电路板测试连接器的整体剖面结构示意图;
图5为电路板测试连接器测试连接电路板状态的整体结构剖面示意图;
图6为改变接地针位置的电路板测试连接器的整体结构示意图;
图7为改变接地针位置的电路板测试连接器测试连接电路板状态的整体结构剖面示意图。
附图标记:
1-外壳;2-连接件;3-中心针;4-电路板;11-螺纹件;12-金属环;13-限制部;14-管道;15-第一绝缘件;16-第二绝缘件;17-针套;21-下口;22-连接部;31-焊杯;32-信号针;33-接地针;34-弹簧;161-预留孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1、图2所示,本实用新型提供一种电路板测试连接器,用于测试电路板4,包括主体、连接件2和中心针组件,所述主体上部连接所述连接件2,所述连接件2与所述主体通过螺纹设置,能够进行相对旋转,且旋转幅度可达360°;
所述中心针组件同轴穿设于所述主体的内部,并与所述主体固定连接,所述中心针组件用于与电路板4进行测试连接,所述主体与所述连接件2相对旋转时,所述中心针组件与所述主体同步旋转,使本实施例中的电路板测试连接器可改变测试的方向。
需要说明的是,所述电路板测试连接器的内部使用标准的50欧姆射频传输通路。
所述连接件2设置有多个连接部22,通过所述连接部22能够使本实施例中的电路板测试连接器安装到不同的夹具上,具有灵活性和便利性,方便使用者使用所述电路板测试连接器进行测试。
具体地,如图3所示,所述主体包括外壳1和螺纹件11,所述螺纹件11设置在所述外壳1的上部,所述螺纹件11与所述连接件2连接,所述螺纹件11具有外螺纹,所述连接件2与所述螺纹件11的连接处具有内螺纹,所述螺纹件11与所述连接件2配合,使所述主体与所述连接件2能够进行360°的相对旋转。
需要说明的是,当需要使所述主体与所述连接件2进行相对旋转时,可使所述连接件2的位置固定,所述连接件2位置固定后,通过转动所述外壳1,即可实现所述主体与所述连接件2的相对旋转。
优选地,所述外壳1的表面与所述连接件2的表面均设置有刻度标识,在使用本实施例中的电路板测试连接器时,借助所述刻度标识,更容易帮助使用者实现特定角度的旋转,同时方便了使用者对于旋转角度的记录。
进一步地,所述主体还包括设置在所述螺纹件11外部的固定件,所述固定件对所述螺纹件11起固定作用,确保螺纹件11的位置不产生偏移,所述固定件可与所述螺纹件11一体成型,或套设于所述螺纹件11外部。具体地,所述固定件设置于所述外壳1的上部,所述外壳1设置有限制部13,所述限制部13对所述固定件起限制作用。
所述连接件2与所述螺纹件11相对旋转时,会同时使所述螺纹件11与所述外壳1间的垂直距离改变,即所述螺纹件11相对于所述外壳1向上移动或向下移动。当所述螺纹件11相对于所述外壳1向下移动,且所述螺纹件11与所述外壳1间的垂直距离减少至预设值时,所述限制部13对所述固定件起限制作用,通过所述固定件阻止所述螺纹件11相对于所述外壳1继续向下移动,对所述螺纹件11起到固定作用。
在本实施例中,所述固定件为金属环12,所述螺纹件的11上部具有螺纹,所述金属环12套设于所述螺纹件11下部,所述金属环12的上部内径小于所述螺纹件11的螺纹,所述金属环12的上部外径大于所述限制部13,能够实现对所述螺纹的限制作用;所述金属环12的下部能够嵌入所述限制部13,确保螺纹件11的位置不产生偏移,实现对所述螺纹件11的固定作用。通过所述金属环12的设置,能够有效防止所述螺纹件11进行自动旋转,不对电路板4的测试造成影响。
优选地,所述连接件2设置有下口21,所述金属环12的上部设置在所述下口21的内部,防止所述金属环12产生松动,增加了整体结构的稳定性。进一步地,所述限制部13对所述下口21同样具有限制作用,能够防止所述连接件2相对于所述主体过度下沉。
具体地,参考图4、图5,所述中心针组件包括中心针3、焊杯31、信号针32和接地针33,所述中心针3同轴穿设于所述主体的内部,所述焊杯31设置在所述主体的上部,所述中心针3的一端显露出所述焊杯31,所述中心针3与所述焊杯31用于与同轴线缆连接;所述信号针32同轴穿设于所述外壳1的内部,所述信号针32连接所述中心针3,能够将信号传导给所述中心针3;所述接地针33设置在所述外壳1的内部,在测试电路板4时用于进行接地处理。
需要说明的是,所述信号针32和所述接地针33均具有测试端,用于测试连接电路板4,所述信号针32和所述接地针33的测试端显露出所述主体的下端,用于与电路板4进行测试连接。
另外,所述信号针32和所述接地针33均具有一定弹性,使所述信号针32和所述接地针33通过压缩一定行程的方式,与电路板4的测点实现良好接触,从而达到将电路板4上的射频型号从本实施例中的电路板测试连接器引出的目的。
具体地,所述中心针3与所述同轴线缆的内导体连接,所述焊杯31与所述同轴线缆的外导体连接。
优选地,所述焊杯31与所述螺纹件11一体设计,省去了不必要的连接部件,增加了整体结构的稳定性。
进一步地,所述中心针3与所述信号针32间设置有具有导电性的弹性部件。在本实施例中,所述弹性部件为弹簧34,所述弹簧34两端分别抵接所述中心针3与所述信号针32,由可导电的材料制成,能够传导电信号,所述弹簧34具有一定的弹性,能够起到缓冲、减震的作用,使所述信号针32压缩一定行程实现与电路板4的测点实现良好接触,同时能够对所述信号针32起到保护作用。
具体地,所述外壳1内部设置有固定套件,所述固定套件对所述弹簧34起固定作用,能够保证所述弹簧34的位置不易产生偏移或脱落。在本实施例中,所述固定套件为圆柱状、且内部具有空腔的管道14,所述弹簧34设置于所述空腔。
进一步地,所述中心针3与所述主体之间设置有第一绝缘件15,所述信号针32与所述外壳1间设置第二绝缘件16,所述第一绝缘件15、所述第二绝缘件16起绝缘作用,本实施例中的电路板测试连接器连接电路板4进行测试时,所述第一绝缘件15能够防止所述中心针3与所述主体的接触,所述第二绝缘件16能够防止所述信号针32与所述外壳1的接触,避免射频信号失效。
在本实施例中,所述第一绝缘件15、所述第二绝缘件16均为环状主体结构,所述第一绝缘件15套设于所述中心针3外部,所述第二绝缘件16套设于所述信号针32外部,所述第一绝缘件15、所述第二绝缘件16的外部抵接所述主体的内壁,同时起到了固定作用,可用于保持所述中心针3和所述信号针32的同轴位置。
为了在测试电路板4时,在确定所述信号针32连接点的情况下,能够保证所述接地针33不接触到电路板4上的元器件,所述主体还包括用于改变所述接地针33安装位置的调节装置,通过所述调节装置能够改变所述信号针32与所述接地针33间的水平距离,使本实施例中的电路板测试连接器可改变并选择测试的距离。优选地,为了不使所述接地针33所需的长度过长,所述调节装置设置于所述主体的下部。在其他实施例中,可以通过焊锡等固定方式改变所述接地针33的安装位置。
进一步地,所述信号针32与所述外壳1间的所述绝缘件15显露出所述主体的下端,对所述信号针32的固定作用更好,并且当所述信号针32与所述接地针33间的水平距离较近时,能够防止所述信号针32与所述接地针33的直接接触,对测试结果造成影响。
在本实施例中,所述调节装置为针套17,所述针套17设置有多个安装位,所述安装位与所述信号针32间的水平距离各不相同,所述接地针33能够设置于任一所述安装位,改变所述接地针33的位置。具体地,所述安装位为预留孔161,参考图6、图7,所述接地针33能够设置于任一所述预留孔161,进而改变所述信号针32与所述接地针33间的水平距离。优选地,所述安装位等间距设置,方便使用者进行调节。
通过所述主体与所述连接件2进行相对旋转的设计与所述调节装置的设计的结合,使本实施例中的电路板测试连接器可改变并选择测试的角度与距离,具有足够的空间避开电路板4上排布的元器件。
综上所述,本实用新型提供了一种电路板测试连接器,用于测试电路板,能够解决多种类型的射频信号电路板的信号测试难题。电路板测试连接器采用了螺纹结构的设计,能够实现360°旋转,通过针套的设计使接地针能够安装到不同位置,从而使电路板测试连接器可改变并选择测试的角度与距离,具有足够的空间避开电路板上排布的元器件。电路板测试连接器的整体结构不复杂,稳定性和安全性较佳,同时设计了刻度标识,便于使用者进行操作与记录。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电路板测试连接器,其特征在于,用于测试电路板,所述电路板测试连接器包括主体、连接件和中心针组件,所述主体上部连接所述连接件,所述连接件与所述主体通过螺纹设置,能够进行相对旋转;
所述中心针组件同轴穿设于所述主体的内部,并与所述主体固定连接,所述主体与所述连接件相对旋转时,所述中心针组件与所述主体同步旋转。
2.根据权利要求1所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述主体包括外壳和螺纹件,所述螺纹件设置在所述外壳的上部,所述螺纹件与所述连接件为螺纹连接,所述螺纹件与所述连接件配合,使所述主体与所述连接件能够进行相对旋转。
3.根据权利要求2所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述主体还包括设置在所述螺纹件外部的固定件,所述固定件设置于所述外壳的上部,所述外壳设置有限制所述螺纹件向下移动距离超过预设值的限制部,当所述螺纹件向下移动距离至所述预设值时,所述限制部对所述固定件起限制作用。
4.根据权利要求3所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述固定件为金属环,所述金属环的上部内径小于所述螺纹件的螺纹,所述金属环的上部外径大于所述限制部,所述金属环的下部能够嵌入所述限制部。
5.根据权利要求2所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述中心针组件包括中心针、焊杯、信号针和接地针,所述中心针同轴穿设于所述主体的内部,所述焊杯设置在所述主体的上部,所述中心针的一端显露出所述焊杯;
所述信号针同轴穿设于所述外壳的内部,所述信号针连接所述中心针,所述接地针设置在所述外壳的内部。
6.根据权利要求5所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述信号针和所述接地针均具有用于测试连接电路板的测试端,所述信号针和所述接地针的测试端显露出所述主体的下端。
7.根据权利要求5所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述中心针与所述信号针间设置有具有导电性的弹性部件,所述弹性部件的两端分别抵接所述中心针与所述信号针。
8.根据权利要求5所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述中心针与所述主体之间设置有第一绝缘件,所述信号针与所述外壳间设置有第二绝缘件,所述第一绝缘件和所述第二绝缘件均为环状主体结构,所述第一绝缘件套设于所述中心针外部,所述第二绝缘件套设于所述信号针外部,所述第一绝缘件和所述第二绝缘件的外部抵接所述主体的内壁,用于保持所述中心针和所述信号针的同轴位置。
9.根据权利要求5所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述主体还包括用于改变所述接地针安装位置的调节装置,所述调节装置设置于所述主体的下部。
10.根据权利要求9所述的一种电路板测试连接器,其特征在于,所述调节装置为针套,所述针套设置有多个安装位,所述安装位与所述信号针间的水平距离各不相同,所述接地针能够设置于任一所述安装位。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202122057319.6U CN215812913U (zh) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 一种电路板测试连接器 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202122057319.6U CN215812913U (zh) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 一种电路板测试连接器 |
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Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202122057319.6U Active CN215812913U (zh) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 一种电路板测试连接器 |
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CN (1) | CN215812913U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20240219441A1 (en) * | 2021-06-30 | 2024-07-04 | Honor Device Co., Ltd. | Probe Structure for Radio Frequency Testing, and Radio Frequency Test Apparatus and System |
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2021
- 2021-08-27 CN CN202122057319.6U patent/CN215812913U/zh active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20240219441A1 (en) * | 2021-06-30 | 2024-07-04 | Honor Device Co., Ltd. | Probe Structure for Radio Frequency Testing, and Radio Frequency Test Apparatus and System |
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