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CN212779010U - 一种基于导轨的高精度测量系统 - Google Patents

一种基于导轨的高精度测量系统 Download PDF

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CN212779010U
CN212779010U CN202022012104.8U CN202022012104U CN212779010U CN 212779010 U CN212779010 U CN 212779010U CN 202022012104 U CN202022012104 U CN 202022012104U CN 212779010 U CN212779010 U CN 212779010U
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CN
China
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guide rail
straight
measuring tool
straight groove
slider
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Active
Application number
CN202022012104.8U
Other languages
English (en)
Inventor
李巍
王钰莹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Innoway System Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Innoway System Co ltd
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Publication date
Application filed by Shenzhen Innoway System Co ltd filed Critical Shenzhen Innoway System Co ltd
Priority to CN202022012104.8U priority Critical patent/CN212779010U/zh
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Active legal-status Critical Current
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Abstract

本实用新型公开了一种基于导轨的高精度测量系统,包括至少一条导轨、对应滑接于所述导轨上的滑块,在其中的一个导轨上,导轨顶面或导轨的其中一个侧面且沿所述导轨长度方向设置有贯通所述导轨两端的直槽,所述直槽的底面设有一具有刻度的基准量具,所述滑块的一端连接有传感器读取装置,该传感器读取装置上的读头朝向所述基准量具且沿所述基准量具做直线运动,所述基准量具与所述直槽、所述导轨的轨道槽、所述滑块形成同轴线结构。本实用新型的高精度测量系统成本可控,在测量时,不会引起余弦误差。本实用新型的高精度测量系统具有高重复精度和高绝对精度。

Description

一种基于导轨的高精度测量系统
技术领域
本实用新型涉及导轨技术领域,具体的说是涉及一种基于导轨的高精度测量系统。
背景技术
如图1所示,在直线机构传输结构1中,动力源驱动活动部在导轨上运动,而为了实现运动的自动化运行,则在直线机构传输结构中设置有编码器以使活动部在限定范围内运动,编码器需要与刻显系统配合使用。
传统的数显系统,如直尺、光栅尺、磁栅尺以及卷尺等量具无法保证直线度和平面度,而对被测物体的表面形貌依赖严重,因此,传统量具的原始测量精度很难被充分发挥出来,造成实际使用中的测量误差。
传统的测量系统需要改进。
实用新型内容
针对现有技术中的不足,本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种基于导轨的高精度测量系统,设计该高精度测量系统的目的是为了提高导轨上滑块的精确移动,位移准确。
为解决上述技术问题,本实用新型通过以下方案来实现:本实用新型的一种基于导轨的高精度测量系统,包括至少一条导轨、对应滑接于所述导轨上的滑块,在其中的一个导轨上,导轨顶面或导轨的其中一个侧面且沿所述导轨长度方向设置有贯通所述导轨两端的直槽,所述直槽的底面设有一具有刻度的基准量具,所述滑块的一端连接有传感器读取装置,该传感器读取装置上的读头朝向所述基准量具且沿所述基准量具做直线运动,所述基准量具与所述直槽、所述导轨的轨道槽、所述滑块形成同轴线结构。
进一步的,所述基准量具包括具有刻度的尺带和覆盖于所述尺带上表面的透明保护层。
更进一步的,所述尺带包括以下结构的一种:
直接刻在所述直槽底面的光栅尺;
贴附于所述直槽底面的光栅尺;
滑插于所述直槽底面的光栅尺;
贴附于所述直槽底面的磁栅尺;
滑插于所述直槽底面的磁栅尺。
更进一步的,所述尺带胶粘于或滑插于所述直槽底面且形成平直结构。
更进一步的,所述保护层为耐摩擦的高硬度保护膜。
相对于现有技术,本实用新型的有益效果是:本实用新型的高精度测量系统是将尺带移至导轨上且与导轨同轴线,由于滑块、导轨、尺带安装后形成的同轴线结构更容易,使读头移动距离更精准,读取的数据精度更高。因此,本实用新型的高精度测量系统成本可控,在测量时,显示屏显示的数值不会引起余弦误差。本实用新型的高精度测量系统高测量精度,高重复性。
附图说明
图1为现有技术中直线电机传输结构的结构图。
图2为本实用新型导轨上的高精度测量系统结构示意图。
图3为本实用新型导轨及基准量具的安装结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。显然,本实用新型所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,还可以是两个元件内部的连通,可以是无线连接,也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
此外,下面所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
实施例1:本实用新型的具体结构如下:
请参照附图2-3,本实用新型一种基于导轨的高精度测量系统,包括至少一条导轨2、对应滑接于所述导轨2上的滑块5,在其中的一个导轨2上,导轨顶面或导轨的其中一个侧面且沿所述导轨2长度方向设置有贯通所述导轨2两端的直槽21,所述直槽21的底面设有一具有刻度的基准量具3,所述滑块5的一端连接有传感器读取装置4,该传感器读取装置4上的读头朝向所述基准量具3且沿所述基准量具3做直线运动,所述基准量具3与所述直槽21、所述导轨2的轨道槽、所述滑块5形成同轴线结构。
本实施例的一种优选技术方案:所述基准量具3包括具有刻度的尺带31和覆盖于所述尺带31上表面的透明保护层32。
本实施例的一种优选技术方案:所述尺带31包括以下结构的一种:
直接刻在所述直槽21底面的光栅尺;
贴附于所述直槽21底面的光栅尺;
滑插于所述直槽21底面的光栅尺;
贴附于所述直槽21底面的磁栅尺;
滑插于所述直槽21底面的磁栅尺。
本实施例的一种优选技术方案:所述尺带31胶粘于或滑插于所述直槽21底面且形成平直结构。
本实施例的一种优选技术方案:所述保护层32为耐摩擦的高硬度保护膜。
实施例2:
以下是本实用新型的基于导轨的高精度测量系统具体实施步骤:
1.首先将经过调直的高精度的导轨2锁附在高精度大理石平台上,保证直线度和平面度都小于1μm。
2.然后将要刻划的尺带贴附于导轨的槽内,保证和导轨足够的平行且同轴线。
3.通过激光干涉仪反馈来对尺带进行精密线条的刻划,形成光栅尺。
4.对尺带进行表面处理做好防护,形成保护层32。
5.对实际做出来的成品进行计量标定。
6.装配好滑块5和传感器读取装置4,传感器读取装置4为光栅读头装置。
实施例3:
以上实施例2中,将光栅尺替换成磁栅尺,磁栅尺需要独立制作,制作完成后,贴附或滑插入直槽21,如果磁栅尺是插入直槽21,直槽21需制作定位结构且使磁栅尺固定后不能晃动。
实施例4:
以下是另一种基于导轨的高精度测量系统具体实施步骤:
1.首先将经过调直的高精度的导轨2锁附在高精度大理石平台上,保证直线度和平面度都小于1μm。
2.然后将要充磁的尺带贴附于导轨的槽内,保证和导轨足够的平行且同轴线。
3.通过激光干涉仪反馈来对尺带进行精密线条的充磁,形成磁栅尺。
4.对尺带进行表面处理做好防护,形成保护层32。
5.对实际做出来的成品进行计量标定。
6.装配好滑块5和传感器读取装置4,传感器读取装置4为磁栅读头装置。
综上所述,本实用新型通过预压直线导轨做为测量器具的尺身,然后将测量所需的刻度通过激光干涉仪做高精度反馈,对尺身进行刻划,保证原始刻线的精度和国际标准量具的精度是一致的,然后利用导轨本身的高直线度,高平面度,高重复定位精度的特点,将直线导轨做成测量长度的基准量具,保证了原始精度的充分发挥。
本实用新型的高精度测量系统是将尺带移至导轨上且与导轨同轴线,由于滑块、导轨、尺带安装后形成的同轴线结构更容易,使读头移动距离更精准,读取的数据精度更高。因此,本实用新型的高精度测量系统成本可控,在测量时,不会引起余弦误差。本实用新型的高精度测量系统高测量精度,高重复性,耐用低噪音。
以上所述仅为本实用新型的优选实施方式,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种基于导轨的高精度测量系统,包括至少一条导轨(2)、对应滑接于所述导轨(2)上的滑块(5),其特征在于,在其中的一个导轨(2)上,导轨顶面或导轨的其中一个侧面且沿所述导轨(2)长度方向设置有贯通所述导轨(2)两端的直槽(21),所述直槽(21)的底面设有一具有刻度的基准量具(3),所述滑块(5)的一端连接有传感器读取装置(4),该传感器读取装置(4)上的读头朝向所述基准量具(3)且沿所述基准量具(3)做直线运动,所述基准量具(3)与所述直槽(21)、所述导轨(2)的轨道槽、所述滑块(5)形成同轴线结构。
2.根据权利要求1所述的一种基于导轨的高精度测量系统,其特征在于,所述基准量具(3)包括具有刻度的尺带(31)和覆盖于所述尺带(31)上表面的透明保护层(32)。
3.根据权利要求2所述的一种基于导轨的高精度测量系统,其特征在于,所述尺带(31)包括以下结构的一种:
直接刻在所述直槽(21)底面的光栅尺;
贴附于所述直槽(21)底面的光栅尺;
滑插于所述直槽(21)底面的光栅尺;
贴附于所述直槽(21)底面的磁栅尺;
滑插于所述直槽(21)底面的磁栅尺。
4.根据权利要求2所述的一种基于导轨的高精度测量系统,其特征在于,所述尺带(31)胶粘于或滑插于所述直槽(21)底面且形成平直结构。
5.根据权利要求2所述的一种基于导轨的高精度测量系统,其特征在于,所述保护层(32)为耐摩擦的高硬度保护膜。
CN202022012104.8U 2020-09-15 2020-09-15 一种基于导轨的高精度测量系统 Active CN212779010U (zh)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117367548A (zh) * 2023-10-27 2024-01-09 北京菲舍波特科技发展有限公司 一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置及方法

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