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CN211557247U - 一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路 - Google Patents

一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路 Download PDF

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CN211557247U
CN211557247U CN201922031038.6U CN201922031038U CN211557247U CN 211557247 U CN211557247 U CN 211557247U CN 201922031038 U CN201922031038 U CN 201922031038U CN 211557247 U CN211557247 U CN 211557247U
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CN
China
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fuse
circuit
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operation circuit
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CN201922031038.6U
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张怀东
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Wuxi Shiding Electronic Technology Co ltd
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Wuxi Shiding Electronic Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型提供一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,包括多于一个的单个熔丝电路、逻辑运算电路。其中,多于一个的单个熔丝电路中,单个熔丝电路是指熔丝与上拉器件或者下拉器件的串联,每个单个熔丝电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,逻辑运算电路的输出为本电路的输出,逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个熔丝电路中的熔丝被烧断,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转。因为熔丝被烧断后有重新被连接的可能性,所以当多于一个熔丝被烧断时,少于被烧断熔丝个数的熔丝被重新连接时,逻辑运算电路的输出电平不会翻转,所以本实用新型熔丝逻辑运算电路的输出具有可靠性高的优点,本电路实现简单,也具有成本低的优点。

Description

一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路
技术领域
本实用新型涉及一种熔丝电路领域,具体涉及一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路。
背景技术
如图6所示,传统的熔丝逻辑运算电路,由一个单个熔丝电路和倒相器组成,单个熔丝电路一般是电阻与熔丝的串联,当熔丝被烧断,倒相器电平翻转。熔丝逻辑运算电路一般用于电路的参数修调或者功能选择,如果熔丝烧的不彻底或者熔丝区域被沾污,都会导致有一定概率的熔丝被重新连接,从而导致电路参数修调或者功能选择的失效,这种电路有电路参数的修调或者功能选择失效率比较高的缺点,即传统的熔丝逻辑运算电路可靠性低。
实用新型内容
本实用新型提供一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,以解决传统的熔丝逻辑运算电路可靠性低的缺点。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,包括多于一个的单个熔丝电路、逻辑运算电路。其中,多于一个的单个熔丝电路中,单个熔丝电路是指熔丝与上拉器件或者下拉器件的串联,上拉器件或者下拉器件为电阻器件或者为等同为电阻的器件,每个单个熔丝电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,逻辑运算电路的输出为本实用新型电路的输出,逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个熔丝电路中的熔丝被烧断,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转。并且在实际操作中,需要烧断熔丝时,与逻辑运算电路输入相连接的所有单个熔丝电路中的熔丝至少二个或者全部被烧断,因为熔丝被烧断后有重新被连接的可能性,所以当多于一个熔丝被烧断时,少于被烧断熔丝个数的熔丝被重新连接,逻辑运算电路的输出电平不会翻转,多于一个的熔丝在烧断后被重新连接几率比单个熔丝在烧断后被重新连接几率低很多,所以本实用新型的熔丝逻辑运算电路的输出稳定性强,具有可靠性高的优点,本实用新型电路实现简单,也具有成本低的优点。
本实用新型以二个单个熔丝电路的输出连接到逻辑运算电路的输入为例,因为逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个熔丝电路中的熔丝被烧断,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转,也就是说,二个熔丝都被烧断时,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转,在这之后,如果有一个熔丝被重新连接,逻辑运算电路的输出不会翻转,只有二个熔丝都被重新连接时,逻辑运算电路的输出才会翻转到没有熔丝被烧断时的电平,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,二个熔丝都被重新连接的概率为:
(0.001×0.001)×2=0.000002
即为五十万分之一,由此看见,本实用新型大大提高了电路的可靠性性。
以上公式中乘以2是因为这种方案熔丝数量较背景技术中的方案增加了一倍。
优选的,所述单个熔丝电路至少为二个。
优选的,在实际应用时,所述多个单个熔丝电路中的熔丝,要么至少二个被烧断,要么都不烧断。
本实用新型带来的有益效果:本实用新型提供的一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,提高了电路的可靠性,本电路实现简单,较提高可靠性的其他方案,也具有成本低的优点。
附图说明
图1是本实用新型的高可靠性的熔丝逻辑运算电路的结构示意图。
图2是根据本实用新型第一实施例的高可靠性的熔丝逻辑运算电路。
图3是根据本实用新型第二实施例的高可靠性的熔丝逻辑运算电路。
图4是根据本实用新型第三实施例的高可靠性的熔丝逻辑运算电路。
图5是根据本实用新型第四实施例的高可靠性的熔丝逻辑运算电路。
图6背景技术示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合附图及具体实施例,对本实用新型作进一步地详细说明。
如图1,本实用新型提供一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,包括多于一个的单个熔丝电路、逻辑运算电路。其中,多于一个的单个熔丝电路中,单个熔丝电路是指熔丝与上拉器件或者下拉器件的串联,每个单个熔丝电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,逻辑运算电路的输出为本电路的输出,逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个熔丝电路中的熔丝被烧断,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转,因为熔丝被烧断后有重新被连接的可能性,所以当多于一个熔丝被烧断时,少于被烧断熔丝个数的熔丝被重新连接,逻辑运算电路的输出电平不会翻转,所以熔丝逻辑运算电路的输出具有可靠性高的优点,本电路实现简单,也具有成本低的优点。
本实用新型的第一实施例,如图2所示,包括二个由熔丝与下拉器件NMOS管串联组成的单个熔丝电路、由一个二输入端与非门构成的逻辑运算电路。熔丝F1一端连接电源,另一端连接信号线a,下拉器件NMOS管N1源端连接地线,漏端连接信号线a,栅极连接电源,熔丝F2一端连接电源,另一端连接信号线b,下拉器件NMOS管N2源端连接地线,漏端连接信号线b,栅极连接电源,信号线a、信号线b分别连接二输入端与非门的一个输入端,二输入端与非门输出连接到信号线y,y为本实用新型电路的输出。
本实用新型的第一实施例:在熔丝F1和熔丝F2都不被烧断时,信号线a为高电平,信号线b为高电平,与非门输出端y为低电平;在熔丝F1和熔丝F2都被烧断后,信号线a为低电平,信号线b为低电平,与非门输出端y为高电平,当熔丝F1因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而熔丝F2维持烧断状态,信号线a为高电平,信号线b为低电平,与非门输出端y仍为高电平,不受当熔丝F1被重新连接的影响而发生电平翻转,同理,当熔丝F2因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而熔丝F1维持烧断状态,信号线a为低电平,信号线b为高电平,与非门输出端y仍为高电平,不受当熔丝F2被重新连接的影响而发生电平翻转,当熔丝F1和熔丝F2都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,信号线a为高电平,信号线b为高电平,与非门输出端y翻转为低电平,从而导致电路失效。
从对本实用新型的第一实施例逻辑分析可知:如果根据应用中参数修调或者功能选择等需要与非门输出端y为高电平,且熔丝F1和熔丝F2都被烧断,在熔丝F1和熔丝F2都被烧断后,只有熔丝F1和熔丝F2都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路才会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,二个熔丝都被重新连接的概率为:
(0.001×0.001)×2=0.000002
即为五十万分之一,以上公式中乘以2是因为这种方案熔丝数量较传统技术中的方案增加了一倍,传统技术中一个熔丝因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路就会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,传统技术中电路的失效率就为千分之一,而本实施例的电路的失效率为五十万分之一,所以电路的可靠性也提高了很多。
本实用新型的第二实施例,如图3所示,包括二个由熔丝与上拉器PMOS管串联组成的单个熔丝电路、由一个二输入端或非门构成的逻辑运算电路。熔丝F1一端连接地线,另一端连接信号线a,上拉器PMOS管P1源端连接电源,漏端连接信号线a,栅极连接为低电平的地线,熔丝F2一端连接地线,另一端连接信号线b,上拉器PMOS管P2源端连接电源,漏端连接信号线b,栅极连接为低电平的地线,信号线a连接二输入端或非门一个输入端,信号线b连接二输入端或非门另一个输入端,二输入端或非门输出连接到信号线y,y为本实用新型电路的输出。
本实用新型的第二实施例:在熔丝F1和熔丝F2都不被烧断时,信号线a为低电平,信号线b为低电平,二输入端或非门输出端y为高电平;在熔丝F1和熔丝F2都被烧断后,信号线a为高电平,信号线b为高电平,或非门输出端y为低电平,当熔丝F1因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而熔丝F2维持烧断状态,信号线a为低电平,信号线b为高电平,或非门输出端y仍为低电平,不受当熔丝F1被重新连接的影响而发生电平翻转,同理,当熔丝F2因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而熔丝F1维持烧断状态,信号线a为高电平,信号线b为低电平,或非门输出端y仍为低电平,不受当熔丝F2被重新连接的影响而发生电平翻转,当熔丝F1和熔丝F2都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,信号线a为低电平,信号线b为低电平,或非门输出端y翻转为高电平,从而导致电路失效。
从对本实用新型的第二实施例逻辑分析可知:如果根据应用中参数修调或者功能选择等需要二输入端或非门输出端y为低电平,且熔丝F1和熔丝F2都被烧断,在熔丝F1和熔丝F2都被烧断后,只有熔丝F1和熔丝F2都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路才会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,二个熔丝都被重新连接的概率为:
(0.001×0.001)×2=0.000002
即为五十万分之一,以上公式中乘以2是因为这种方案熔丝数量较传统技术中的方案增加了一倍,传统技术中一个熔丝因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路就会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,传统技术中电路的失效率就为千分之一,而本实施例的电路的失效率约五十万分之一,所以电路的可靠性也提高了很多。
本实用新型的第三实施例,如图4所示,包括三个由熔丝与下拉器件电阻串联组成的单个熔丝电路、由一个三输入端与非门构成的逻辑运算电路。熔丝F1一端连接电源,另一端连接信号线a,下拉器件电阻R1一端连接地线,另一端连接信号线a,熔丝F2一端连接电源,另一端连接信号线b,下拉器件电阻R2一端连接地线,另一端连接信号线b,熔丝F3一端连接电源,另一端连接信号线c,下拉器件电阻R3一端连接地线,另一端连接信号线c,信号线a、信号线b、信号线c分别连接三输入端与非门的一个输入端,三输入端与非门输出连接到信号线y,y为本实用新型电路的输出。
本实用新型的第三实施例:在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都不被烧断时,信号线a为高电平,信号线b为高电平,信号线c为高电平,三输入端与非门输出端y为低电平;在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都被烧断后,信号线a为低电平,信号线b为低电平,信号线c为低电平,与非门输出端y为高电平,当熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3中有二个熔丝或者一个因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而至少一个熔丝维持烧断状态,三输入端与非门输出端y仍为高电平,当熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,三输入端与非门输出端y翻转为低电平,从而导致电路失效。
从对本实用新型的第三实施例逻辑分析可知:如果根据应用中参数修调或者功能选择等需要三输入端与非门输出端y为高电平,且熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3三个熔丝都被烧断,在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都被烧断后,只有熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路才会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,三个熔丝都被重新连接的概率为:
(0.001×0.001×0.001)×3=0.000000003
即为十亿分之三,以上公式中乘以3是因为这种方案熔丝数量较传统技术中的方案增加了二倍,传统技术中一个熔丝因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路就会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,传统技术中电路的失效率就为千分之一,而本实施例的电路的失效率约为十亿分之三,所以电路的可靠性也提高了很多。
本实用新型的第四实施例,如图5所示,包括三个由熔丝与上拉器PMOS管串联组成的单个熔丝电路、由一个三输入端或非门构成的逻辑运算电路。熔丝F1一端连接地线,另一端连接信号线a,上拉器PMOS管P1源端连接电源,漏端连接信号线a,栅极连接为低电平的地线,熔丝F2一端连接地线,另一端连接信号线b,上拉器PMOS管P2源端连接电源,漏端连接信号线b,栅极连接为低电平的地线,熔丝F3一端连接地线,另一端连接信号线c,上拉器PMOS管P3源端连接电源,漏端连接信号线c,栅极连接为低电平的地线,信号线a、信号线b、信号线c分别连接三输入端或非门的一个输入端,三输入端或非门输出连接到信号线y,y为本实用新型电路的输出。
本实用新型的第四实施例:在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都不被烧断时,信号线a为低电平,信号线b为低电平,信号线c为低电平,三输入端或非门输出端y为高电平;在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都被烧断后,信号线a为高电平,信号线b为高电平,信号线c为高电平,三输入端或非门输出端y为低电平,当熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3中有二个熔丝或者一个因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,而至少一个熔丝维持烧断状态,三输入端或非门输出端y仍为低电平,当熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接,三输入端或非门输出端y翻转为高电平,从而导致电路失效。
从对本实用新型的第四实施例逻辑分析可知:如果根据应用中参数修调或者功能选择等需要三输入端或非门输出端y为低电平,且熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3三个熔丝都被烧断,在熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3都被烧断后,只有熔丝F1、熔丝F2和熔丝F3三个熔丝都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路才会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,三个熔丝都被重新连接的概率为:
(0.001×0.001×0.001)×3=0.000000003
即为十亿分之三,以上公式中乘以3是因为这种方案熔丝数量较传统技术中的方案增加了二倍,传统技术中一个熔丝因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接时,电路就会失效,假设熔丝在烧断后被重新连接的概率为千分之一,传统技术中电路的失效率就为千分之一,而本实施例的电路的失效率约为十亿分之三,所以电路的可靠性也提高了很多。
综上所述,本实用新型提供的一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,通过二个及二个以上熔丝都因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接的概率远小于一个熔丝因为没有烧彻底或者沾污等原因被重新连接的概率的特点,来提高熔丝逻辑运算电路输出的可靠性,电路具有可靠性高,电路结构和实现工艺简单,以及成本低的优点。
以上所述仅为本实用新型的实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的权利要求范围之内。

Claims (4)

1.一种高可靠性的熔丝逻辑运算电路,其特征在于,包括多于一个的单个熔丝电路、逻辑运算电路,其中,每个单个熔丝电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,所述逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个熔丝电路中的熔丝被烧断,逻辑运算电路的输出与没有熔丝被烧断相比发生逻辑电平翻转。
2.如权利要求1所述的高可靠性的熔丝逻辑运算电路,其特征在于,所述单个熔丝电路是指熔丝与上拉器件或者下拉器件的串联。
3.如权利要求1所述的高可靠性的熔丝逻辑运算电路,其特征在,所述单个熔丝电路的输出是指上拉器件或者下拉器件与熔丝的连接点。
4.如权利要求1所述的高可靠性的熔丝逻辑运算电路,其特征在于,所述逻辑运算电路可以是实现与非门或者或非门功能的逻辑电路。
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