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CN211402201U - 一种电子元件x光无损检测装置 - Google Patents

一种电子元件x光无损检测装置 Download PDF

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CN211402201U
CN211402201U CN202020052888.4U CN202020052888U CN211402201U CN 211402201 U CN211402201 U CN 211402201U CN 202020052888 U CN202020052888 U CN 202020052888U CN 211402201 U CN211402201 U CN 211402201U
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CN
China
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driving motor
lifting
ray
rotating shaft
slide rail
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CN202020052888.4U
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English (en)
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谢光红
赵红艳
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Shenzhen Kangmu Intelligent Equipment Co Ltd
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Shenzhen Kangmu Intelligent Equipment Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种电子元件X光无损检测装置,包括第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台。第一升降机构位于平移机构的上方;第二升降机构位于平移机构的下方。X光接收器装设在第一升降机构上。X光发射器装设在第二升降机构上。载物台装设在平移机构上。第一升降机构包含第一升降滑轨、第一升降驱动电机、摆动驱动电机、横梁。摆动驱动电机通过第二传动组件与旋转轴相连接。摆动驱动电机带动第一升降滑轨在横梁上左、右倾斜,从而调整X光接收器相对于载物台的角度,实现对待测电子元件的多角度检测,操作简单、节省检测时间,提高了电子元件的检测效率。

Description

一种电子元件X光无损检测装置
技术领域
本实用新型涉及无损探伤检测技术领域,尤其涉及一种电子元件X光无损检测装置。
背景技术
电子元件X光无损检测装置利用X光线(X-Ray)穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像,即可显示出待测电子元件的内部结构,进而可在不破坏待测电子元件的情况下观察待测电子元件内部有缺陷的区域。
然而,现有的电子元件X光无损检测装置,具有以下方面的不足:需要手动调整待测电子元件的角度和位置,既难以满足电子元件全方位检测的要求,也耗费检测时间,电子元件检测效率低。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型提出了一种电子元件X光无损检测装置。
为了实现上述目的,本实用新型技术方案如下:
一种电子元件X光无损检测装置,包括第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台。第一升降机构位于平移机构的上方;第二升降机构位于平移机构的下方。X光接收器装设在第一升降机构上。X光发射器装设在第二升降机构上。载物台装设在平移机构上。
第一升降机构包含第一升降滑轨、第一升降驱动电机、摆动驱动电机、横梁。第一升降滑轨通过旋转轴安装在横梁上。第一升降驱动电机、摆动驱动电机装设在第一升降滑轨上。X光接收器可滑动的装设在第一升降滑轨上。第一升降驱动电机通过第一传动组件与X光接收器相连接。摆动驱动电机通过第二传动组件与旋转轴相连接。
可选地,第二升降机构包含第二升降滑轨、第二升降驱动电机。第二升降滑轨设置在载物台的下方。第二升降驱动电机装设在第二升降滑轨上。X光发射器可滑动的装设在第二升降滑轨上。第二升降驱动电机的转轴通过第三传动组件与X光发射器相连接。
可选地,载物台的中间设置有圆盘,载物台上装设有旋转驱动电机。旋转驱动电机通过第四传动组件的转轴连接于圆盘。旋转驱动电机用于带动圆盘转动。
可选地,平移机构包含X轴滑动架、Y轴滑动架、X轴驱动电机、Y轴驱动电机。Y轴滑动架可滑动的装设在X轴滑动架上。载物台可滑动的装设在Y轴滑动架上。X轴驱动电机装设在X轴滑动架上。Y轴驱动电机装设在Y轴滑动架上。X轴驱动电机的转轴通过第五传动组件连接于Y轴滑动架。Y轴驱动电机的转轴通过第六传动组件连接于载物台。
可选地,第二传动组件为齿轮组、导杆或者链条。
可选地,摆动驱动电机的转轴、旋转轴上分别设置有齿轮。摆动驱动电机的转轴和旋转轴上的齿轮通过第二传动组件相连接。
可选地,第一升降滑轨上可滑动的装设有安装座。X光接收器安装在安装座上。第一升降驱动电机的转轴通过第一传动组件与安装座相连接。
可选地,还包括机壳、散热板。第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台设置在机壳内。机壳的前面设置有安全门;安全门朝向载物台。机壳的背面设置有散热板安装位。散热板装设在散热板安装位上;散热板上设置有若干散热孔。
可选地,散热板上的各散热孔呈矩阵分布。
本实用新型的有益效果:
(1)摆动驱动电机带动第一升降滑轨在横梁上左、右倾斜,从而调整X光接收器相对于载物台的角度,无需人工摆动载物台上的待测电子元件,实现对待测电子元件的多角度检测,操作简单、节省检测时间,提高了电子元件的检测效率。
(2)旋转驱动电机带动载物台上的圆盘旋转,实现对待测电子元件的全方位检测,满足待测电子元件的检测要求。
(3)平移机构、第一升降机构、第二升降机构能够自动调整X光发射器、X光接收器与载物台之间的距离和角度,实现对待测电子元件的自动检测,降低人工成本,提高了电子元件的检测效率。
附图说明
图1为本实用新型中电子元件X光无损检测装置的第一视角的立体结构示意图。
图2为本实用新型中电子元件X光无损检测装置的第二视角的立体结构示意图。
其中,图1至图2的附图标记为:第一升降机构1、第二升降机构2、平移机构3、X光发射器4、X光接收器5、载物台6;圆盘61、旋转驱动电机62;X轴滑动架31、Y轴滑动架32、X轴驱动电机33、Y轴驱动电机34;第一升降滑轨11、第一升降驱动电机12、摆动驱动电机13、横梁14;第二升降滑轨21、第二升降驱动电机22。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,进一步阐述本实用新型。
如图1至图2所示,一种电子元件X光无损检测装置,包括第一升降机构1、第二升降机构2、平移机构3、X光发射器4、X光接收器5、载物台6。
第一升降机构1位于平移机构3的上方;第二升降机构2位于平移机构3的下方。X光接收器5装设在第一升降机构1上。X光发射器4装设在第二升降机构2上。载物台6装设在平移机构3上。
第一升降机构1用于带动X光接收器5上升或下降。第二升降机构2用于带动X光发射器4上升或下降。平移机构3用于带动载物台6在平面上横向或纵向移动。载物台6用于承载待测电子元件。
一些实施方式中,第一升降机构1包含第一升降滑轨11、第一升降驱动电机12、摆动驱动电机13、横梁14。
第一升降滑轨11通过旋转轴安装在横梁14上。第一升降驱动电机12、摆动驱动电机13装设在第一升降滑轨11上。X光接收器5可滑动的装设在第一升降滑轨11上。第一升降驱动电机12的转轴通过第一传动组件与X光接收器5相连接。摆动驱动电机13的转轴通过第二传动组件与所述旋转轴相连接。第一传动组件、第二传动组件分别装设在第一升降滑轨11的腔体内。
具体地,摆动驱动电机13的转轴以及所述旋转轴上分别设置有齿轮。第二传动组件可以为齿轮组、导杆或者链条等。摆动驱动电机13的转轴和所述旋转轴上的齿轮通过第二传动组件相连接。摆动驱动电机13的转轴能够正向或反向旋转,在第二传动组件的传动下,所述旋转轴做正向或反向旋转,从而带动第一升降滑轨11向左或向右倾斜。由于X光接收器5装设在第一升降滑轨11上,第一升降滑轨11倾斜后能够调整X光接收器5相对于载物台6上的待测电子元件的角度,从而X光接收器5能够获取待测电子元件不同角度的X光图像。可选地,摆动驱动电机13的转轴做±45°旋转。
同理,第一传动组件可以为齿轮组、导杆或者链条等。可选地,第一升降滑轨11上可滑动的装设有第一安装座。X光接收器5安装在第一安装座上。第一升降驱动电机12的转轴、安装座上分别设置有齿轮。第一升降驱动电机12的转轴和第一安装座上的齿轮通过第一传动组件相连接。第一升降驱动电机12的转轴正向或反向转动,通过第一传动组件带动第一安装座上升或下降,从而调整X光接收器5相对于待测电子元件的距离。
一些实施方式中,第二升降机构2包含第二升降滑轨21、第二升降驱动电机22。
第二升降滑轨21设置在载物台6的下方。第二升降驱动电机22装设在第二升降滑轨21上。X光发射器4可滑动的装设在第二升降滑轨21上。第二升降驱动电机22的转轴通过第三传动组件与X光发射器4相连接。第三传动组件装设在第二升降滑轨21的腔体内。
第三传动组件可以为齿轮组、导杆或者链条等。可选地,第二升降滑轨21上可滑动的装设有第二安装座。X光发射器4安装在第二安装座上。第二升降驱动电机22的转轴、第二安装座上分别设置有齿轮。第二升降驱动电机22的转轴上的齿轮和第二安装座上的齿轮通过第三传动组件相连接。第二升降驱动电机22的转轴正向或反向转动,通过第三传动组件带动第二安装座上升或下降,从而调整X光发射器4相对于待测电子元件的距离。
一些实施方式中,载物台6的中间处设置有基座,基座上装设有圆盘61,载物台6上装设有旋转驱动电机62。旋转驱动电机62的转轴通过第四传动组件连接于圆盘61。旋转驱动电机62用于带动圆盘61环绕基座转动。可选地,第四传动组件为履带,履带外套在圆盘61上。
一些实施方式中,平移机构3包含X轴滑动架31、Y轴滑动架32、X轴驱动电机33、Y轴驱动电机34。
Y轴滑动架32可滑动的装设在X轴滑动架31上。载物台6可滑动的装设在Y轴滑动架32上。X轴驱动电机33装设在X轴滑动架31上。Y轴驱动电机34装设在Y轴滑动架32上。X轴驱动电机33的转轴通过第五传动组件连接于Y轴滑动架32。Y轴驱动电机34的转轴通过第六传动组件连接于载物台6。
具体地,第五传动组件、第六传动组件为导杆。X轴滑动架31、Y轴滑动架32的侧部分别设置有螺纹通孔。螺纹通孔与导杆相适配。X轴驱动电机33的转轴正向或反向旋转,通过导杆带动Y轴滑动架32沿着X轴滑动架31的滑轨方向前移或后移。同理,Y轴驱动电机34的转轴正向或反向旋转,通过导杆带动载物台6沿着Y轴滑动架32的滑轨方向前移或后移。
一些实施方式中,该工件X光无损检测装置还包括机壳、散热板。
第一升降机构1、第二升降机构2、平移机构3、X光发射器4、X光接收器5、载物台6设置在机壳内。机壳的前面设置有安全门;安全门朝向载物台6。机壳的背面设置有散热板安装位。散热板装设在散热板安装位上;散热板上设置有若干散热孔。机壳和散热板由铅材料制成。可选地,散热板上的各散热孔呈矩阵分布。
待测电子元件从安全门放置在载物台6上,检测过程中,将安全门关闭,通过散热板将机壳内的各部件发的热量及时散发到外界去,避免因散热不及时造成部件损坏。
一些实施方式中,机壳的底部安装有若干个万向轮,以便于装置的移动。
上述实施方式,摆动驱动电机13带动第一升降滑轨11在横梁14上向左或向右倾斜,从而调整X光接收器5相对于载物台6的角度,无需人工摆动载物台6上的待测电子元件,实现对待测电子元件的多角度检测,操作简单、节省检测时间,提高了电子元件的检测效率。旋转驱动电机62带动载物台6上的圆盘61旋转,实现对待测电子元件的全方位检测,满足待测电子元件的检测要求。平移机构3、第一升降机构1、第二升降机构2能够自动调整X光发射器4、X光接收器5与载物台6之间的距离和角度,实现对待测电子元件的自动检测,降低人工成本,提高了电子元件的检测效率。
以上所述的仅是本实用新型的可选实施方式,本实用新型不限于以上实施例。可以理解,本领域技术人员在不脱离本实用新型的基本构思的前提下直接导出或联想到的其它改进和变化均应认为包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
包括第一升降机构(1)、第二升降机构(2)、平移机构(3)、X光发射器(4)、X光接收器(5)、载物台(6);
第一升降机构(1)位于平移机构(3)的上方;第二升降机构(2)位于平移机构(3)的下方;X光接收器(5)装设在第一升降机构(1)上;X光发射器(4)装设在第二升降机构(2)上;载物台(6)装设在平移机构(3)上;
第一升降机构(1)包含第一升降滑轨(11)、第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)、横梁(14);第一升降滑轨(11)通过旋转轴安装在横梁(14)上;第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)装设在第一升降滑轨(11)上;X光接收器(5)可滑动的装设在第一升降滑轨(11)上;第一升降驱动电机(12)通过第一传动组件与X光接收器(5)相连接;摆动驱动电机(13)通过第二传动组件与所述旋转轴相连接。
2.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
第二升降机构(2)包含第二升降滑轨(21)、第二升降驱动电机(22);
第二升降滑轨(21)设置在载物台(6)的下方;
第二升降驱动电机(22)装设在第二升降滑轨(21)上;
X光发射器(4)可滑动的装设在第二升降滑轨(21)上;
第二升降驱动电机(22)的转轴通过第三传动组件与X光发射器(4)相连接。
3.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
载物台(6)的中间设置有圆盘(61),载物台(6)上装设有旋转驱动电机(62);
旋转驱动电机(62)的转轴通过第四传动组件连接于圆盘(61);
旋转驱动电机(62)用于带动圆盘(61)转动。
4.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
平移机构(3)包含X轴滑动架(31)、Y轴滑动架(32)、X轴驱动电机(33)、Y轴驱动电机(34);
Y轴滑动架(32)可滑动的装设在X轴滑动架(31)上;
载物台(6)可滑动的装设在Y轴滑动架(32)上;
X轴驱动电机(33)装设在X轴滑动架(31)上;
Y轴驱动电机(34)装设在Y轴滑动架(32)上;
X轴驱动电机(33)的转轴通过第五传动组件连接于Y轴滑动架(32);
Y轴驱动电机(34)的转轴通过第六传动组件连接于载物台(6)。
5.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
所述第二传动组件为齿轮组、导杆或者链条。
6.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
摆动驱动电机(13)的转轴和所述旋转轴上分别设置有齿轮;
摆动驱动电机(13)的转轴上的齿轮和所述旋转轴上的齿轮通过所述第二传动组件相连接。
7.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
第一升降滑轨(11)上可滑动的装设有安装座;
X光接收器(5)安装在所述安装座上;
第一升降驱动电机(12)的转轴通过所述第一传动组件与安装座相连接。
8.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
还包括机壳、散热板;
第一升降机构(1)、第二升降机构(2)、平移机构(3)、X光发射器(4)、X光接收器(5)、载物台(6)设置在所述机壳内;
所述机壳的前面设置有安全门;所述安全门朝向载物台(6);
所述机壳的背面设置有散热板安装位;
所述散热板装设在所述散热板安装位上;所述散热板上设置有若干散热孔。
9.根据权利要求8所述的电子元件X光无损检测装置,其特征在于:
所述散热板上的各散热孔呈矩阵分布。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112098443A (zh) * 2020-09-25 2020-12-18 上海悦易网络信息技术有限公司 一种用于电子产品无损检测的x光机
CN113155870A (zh) * 2021-04-19 2021-07-23 深圳市智诚精展科技有限公司 X-ray检测点料一体机
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112098443A (zh) * 2020-09-25 2020-12-18 上海悦易网络信息技术有限公司 一种用于电子产品无损检测的x光机
CN113155870A (zh) * 2021-04-19 2021-07-23 深圳市智诚精展科技有限公司 X-ray检测点料一体机
CN113465710A (zh) * 2021-07-02 2021-10-01 上海飞奥燃气设备有限公司 一种两轴燃气表摆动装置及其计量检测装置
CN113465710B (zh) * 2021-07-02 2022-07-29 上海飞奥燃气设备有限公司 一种燃气表计量性能检测工装

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