CN210744392U - 一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一、射频同轴软电缆、固定金属套管、铜芯导线、杜邦头和SMA母头二；所述SMA母头一内的导体分别与射频同轴软电缆一端内的导体、铜芯导线焊接，铜芯导线除焊接点以外的部分与同轴电缆绝缘；所述固定金属套管推入SMA母头一并压装固定；铜芯导线的另一端安装杜邦头，射频同轴软电缆另一端安装SMA母头二。其优点在于，两组该双线同轴电缆组件可用于同轴开关某通路或转接器阻值作开尔文四线法测量，消除同轴电缆对被测阻值影响。
Description
技术领域
本技术属于电气测量领域，具体涉及一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件。
背景技术
目前公知的，测量mΩ级别的微小电阻值应使用开尔文四线法，由高电位施加线HS、低电位施加线LS提供测试通路电流，两条数据采集线S+、S-采集被测电阻两端电压。在测量同轴开关或转接器等电性能指标的应用中，会有需要测量通路电阻值的场景，同轴开关接触电阻或转接器直通电阻皆为mΩ级。现有的方法测试上述阻值时，需要在微电阻测试装置内将HS与S+连接，LS与S-连接，而后通过同轴电缆转接入同轴开关或转接器的两个端口，因此，需要将测试值减掉两条同轴电缆的阻值得到被测开关接触电阻或转接器直通电阻。
发明内容
为克服上述问题，本技术提供一种可以消除同轴电缆对被测阻值影响的测量组件，其技术方案为：
一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一、射频同轴软电缆、固定金属套管、铜芯导线、杜邦头和SMA 母头二；SMA母头一内导体分别与射频同轴软电缆一端内导体、铜芯导线焊接，铜芯导线除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆绝缘；铜芯导线的另一端安装杜邦头，射频同轴软电缆另一端安装SMA母头二；固定金属套管推入SMA母头一、SMA母头二压装固定。
优选的，铜芯导线与SMA母头一外导体绝缘。
优选的，SMA母头一优选窗式射频接头，铜芯导线从SMA母头一开窗处与SMA母头一内导体焊接。
优选的，固定金属套管和铜芯导线用热缩套管固定。
优选的，射频同轴软电缆优
ENVIROFLEX_178_D。
优选的，杜邦头规格优选2.54mm。
有益效果：两组该双线同轴电缆组件可用于同轴开关某通路或转接器阻值作开尔文四线法测量，消除同轴电缆对被测阻值影响。
附图说明
图1为现有技术的测量示意图；
图2为本技术组装图；
图3为本技术测量示意图；
其中：1-SMA母头一；11-SMA母头一内导体；12-SMA母头一外导体；2-SMA母头二；3-射频同轴软电缆；31-射频同轴软电缆内导体；4-铜芯导线；5-固体金属套管；6-杜邦头。
具体实施方式
下面结合附图1-3和实例对本技术作进一步说明：
下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，包括SMA母头一1、射频同轴软电缆3、铜芯导线4、固定金属套管5、杜邦头6 和SMA母头二2；SMA母头一内导体11分别与射频同轴软电缆一端内导体31、铜芯导线4一端焊接，铜芯导线4除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆3绝缘；铜芯导线4的另一端安装杜邦头6，射频同轴软电缆3另一端安装SMA母头二2，固定金属套管5分别推入 SMA母头一、SMA母头二2压装固定。
SMA母头一优选SMA-JC1.5窗式射频接头，铜芯导线4从SMA 母头一1开窗处与SMA母头一内导体11焊接。
射频同轴软电缆3优选
ENVIROFLEX_178_D；杜邦头规格优选2.54mm。
固定金属套管5和铜芯导线4用热缩套管固定，热缩套管提供绝缘保护作用。
图2中A端包括SMA母头一1、射频同轴软电缆3、铜芯导线4、固定金属套管5，其中SMA母头一内导体11分别与射频同轴软电缆一端内导体31、铜芯导线4一端焊接，铜芯导线4除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆3绝缘、与SMA母头一外导体绝缘，固定金属套管5推入SMA母头一压装固定；B端包括射频同轴软电缆3、SMA 母头二和固定金属套管5，其中射频同轴软电缆3另一端固定SMA 母头二2，固定金属套管5推入SMA母头二压装固定；C端铜芯导线 4的另一端安装杜邦头6。
工作原理
本申请应用于同轴开关通路或转换器的阻值测量，具体为：
本申请有两条结构相同的电缆组件，微电阻测试装置中高电位施加线HS、低电位施加线LS分别接本申请电缆组件的B端，电缆组件的两个A端分别接被测元件的电路两端，电流由HS和LS流经被测电阻Rx，以此测试通路电流；微电阻测试装置中采集线S+、S-分别接电缆组件的C端，电缆组件的两个A端分别接被测元件的电路两端，以此用来采集Rx两端电压，从而得出被测电阻Rx，该方法消除了测试电缆的影响。
在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义，上面以举例方式对本技术进行了说明，但本技术不限于上述具体实施例，凡基于本技术所做的任何改动或变型均属于本技术要求保护的范围。
Claims (6)
1.一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：包括SMA母头一、射频同轴软电缆、固定金属套管、铜芯导线、杜邦头和SMA母头二；所述SMA母头一内导体分别与射频同轴软电缆一端内导体、铜芯导线焊接，铜芯导线除焊接点以外的部分与射频同轴软电缆绝缘；铜芯导线的另一端安装杜邦头，射频同轴软电缆另一端安装SMA母头二；所述固定金属套管推入SMA母头一、SMA母头二压装固定。
2.根据权利要求1所述的一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：所述铜芯导线与SMA母头一外导体绝缘。
3.根据权利要求1所述的一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：所述SMA母头一优选窗式射频接头，铜芯导线从SMA母头一开窗处与SMA母头一内导体焊接。
4.根据权利要求1所述的一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：所述固定金属套管和铜芯导线用热缩套管固定。
5.根据权利要求1所述的一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：所述射频同轴软电缆优选
ENVIROFLEX_178_D。
6.根据权利要求1所述的一种用于开尔文四线法测量的双线同轴电缆组件，其特征在于：所述杜邦头规格优选2.54mm。
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| WO2022000701A1 (zh) * | 2020-06-30 | 2022-01-06 | 瑞声声学科技(深圳)有限公司 | 一种介质波导滤波器的测试夹具 |
| CN114583480A (zh) * | 2020-12-01 | 2022-06-03 | 广东湾区智能终端工业设计研究院有限公司 | 连接装置和射频测试设备 |
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