CN210604939U - 一种线束测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。本方案提升了测试的效率，操作方便简单，成本低，利于各种不同线束的测试需要。通过多路开关控制，可以方便选择当前的测试线束路数，以及出现异常时通过依次导通多路开关，方便自动检测异常的线束通道。
Description
技术领域
本实用新型涉及线束测试领域，特别涉及一种线束测试装置。
背景技术
目前，随着技术的不断发展，线束的应用越来越多，而线束也越来越复杂，一般针对线束需要进行测试，具体的用以测试线束两端对应的引脚是否匹配，引脚之间的线路是否连接正常等，目前大部分的线束测试是采用万用表来进行的，但这种方式效率低下，需要一个一个的针对引脚的来进行测量，但目前线束需要测量的数量多，而且可能一个线束的引脚触点本来也很多，例如有10对，20对等，这种方式效率过于低下；
另一种方式则是采用专门的仪器来进行检测，但这种方式需要的仪器很昂贵，过高的成本也限制了其使用的范围。
由此，目前需要一种可以提升效率，且成本不高的测试方案。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷，本实用新型提出了一种线束测试装置，通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，提升了测试的效率，且操作方便简单，成本很低，利于各种不同线束的测试需要。
具体的，本实用新型提出了以下具体的实施例：
本实用新型实施例提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。
在一个具体的实施例中，所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。
在一个具体的实施例中，所述多路开关为电控开关。
在一个具体的实施例中，还包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD 采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所述多路开关，以对所述多路开关连接的连接口进行控制。
在一个具体的实施例中，AD采样点通过采样电阻串联在测试通路中。
在一个具体的实施例中，还包括：接地电阻；所述多路开关的一端连接所述连接接口的连接口，另一端通过所述接地电阻实现接地。
在一个具体的实施例中，还包括：连接所述AD采样点的电压计。
在一个具体的实施例中，各所述级联电阻的电阻值一致。
在一个具体的实施例中，所述采样电阻与各所述级联电阻的电阻值一致。
在一个具体的实施例中，所述AD采样点设置在串联状态下的所述待测线束的通路中的首端或尾端。
以此，本实用新型实施例提出了一种线束测试装置，包括：
两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。本方案通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，提升了测试的效率，且操作方便简单，成本很低，利于各种不同线束的测试需要。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；
图2为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；
图3为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；
图4为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；
图5为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；
图6为本实用新型实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图。
图例说明：
1-连接接口；11-级联电阻；12-连接口；
2-多路开关；3-AD采样点；4-采样电阻。
具体实施方式
在下文中，将更全面地描述本公开的各种实施例。本公开可具有各种实施例，并且可在其中做出调整和改变。然而，应理解：不存在将本公开的各种实施例限于在此公开的特定实施例的意图，而是应将本公开理解为涵盖落入本公开的各种实施例的精神和范围内的所有调整、等同物和/或可选方案。
在本公开的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本公开的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本公开的各种实施例中被清楚地限定。
实施例
本实用新型实施例公开了一种线束测试装置，如图1-图6所示，包括：两端分别设置有多路连接口12的连接接口1，两端多路所述连接口 12之间通过级联电阻11实现连接；所述连接接口1用于通过两端的连接口12连接待测线束，以通过各所述级联电阻11将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关2，所述多路开关2用于连接所述连接接口12，可以通过控制，选择任意连接口12开关闭合以使所连接的连接口12接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点3。
如图1所示，以线束有5根连接线为例来进行说明,分别为L1、L2、 L3、L4、L5为例来进行说明，连接件1与该线束的连接线对应的连接口12可以为1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B、5A、5B(其他例如有更多或更少连接口12的连接接口1的连接口12设置与此类似，在此不再进行赘述)，对待测线束的各连接线，分别是1A、1B连接连接线L1；2A、2B 连接连接线L2；3A、3B连接连接线L3；4A、4B连接连接线L4；5A、5B 连接连接线L5。
具体的后续电路包括：多路开关所对应的电路，还可以是其他根据需要附加的电路。
而相邻两端的连接口12之间还连接有级联电阻11，具体的，仍以图 1为例来进行说明，1A与2B之间通过电阻R1实现连接；2A与3B之间通过电阻R2实现连接；3A与4B之间通过电阻R3实现连接；4A与5B之间通过电阻R4实现连接；以此，将5条连接线(L1、L2、L3、L4、L5)通过多个级联电阻串联为一条总的连接线。
此外，在一个具体的实施例中，如图1所示，串联状态下的所述待测线束的首端引脚触点所连接的连接口12上设置的AD采样点3，以及一端连接所述AD采样点3的采样电阻4，所述采样电阻4的另一端连接外接电源，具体的如图1所示，在连接口12(1B)上设置AD采样点3，以及连接采样电阻4(如图1中的R0)4；而采样电阻4的一端连接外接电源 (如图1中的VCC)；此外，还设置有多路开关2，用于控制某一连接口 12接地，如图1中，在总体测试过程，可以为5A；以此，外接电源通电之后，由于各级联电阻11的电阻值已知，采样电阻的电阻值已知，而外接电源的电压也是已知的，由此，以图1为例，若在AD采样点3处采样电压为电源电压，则说明串联起来的待测线束中存在断路情况，则说明待测线束中至少有一条连接线是中断的，若能检测到信号，则说明整个待测线束中的各连接线均是可连通的，在此情况下，可以基于AD采样的具体数值来判断引脚触点与连接线之间的连接是否正常，是否存在有错配连接的情况，连接口12是成对出现，且成对匹配的，一对连接口12应该连接的是同一根连接线)，具体的，若是正常配置连接的，AD采样点3所检测到的理论电压值应该是V＝(R0×VCC)/(R0+R1+R2+R3+R4),以此可以通过该电压值来确定是否正常配置，当然考虑到连接线本身也有一定的阻值存在，实际检测到的电压值应该与理论电压值存在有一定细微的差距，但是差距的幅度很小，可以根据实际的经验来进行判断。
具体的，所述AD采样点3设置在串联状态下的所述待测线束的通路中的首端或尾端，以此，如图2以及图3所示，除了将AD采样点3设置在首端(如图1所示)，还可以设置在尾端。特别的，如图2所示，相对于图 1，其中的外接电源VCC与接地点GND1,可以互换。
在确定异常了，例如电压值不正常或者无法检测到电压值时，可以调整接地开关2，连接不同的连接点，以此不断的检测，并与当时的理论电压值(不同连接点所接入的级联电阻11不一样)进行比较，以此来判断具体是哪对引脚触点之间的连接线出现了故障，从而实现快速故障定位。
本方法，通过连接待测线束中各对连接口12，并将相邻的位于两侧的连接口12进行相连，并在相连的连接线中串联有一电阻，其他连接口 12之间与此类似相连，最终一侧的最后一个连接口12接地，且在另一侧的第一个连接口12连接有一电阻，并对该电阻进行AD取样，以此由于各电阻的阻值已知，通过附加的VCC电压，以及采用获取到的AD采样值，即可确定线束的各对连接口12之间是否连接正常，是否有错接等现象，且可以附加接地开关2在一侧的任意连接口12，从而可以快速确定出现故障的引脚，设备简单，且可以适用各种不同的线束。
具体的，在一个具体的实施例中，如图1、图4以及图5所示，所述多路开关2包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。
所述多路开关为电控开关。
以此，如图6所示，该装置还可以包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所述多路开关，以对所述多路开关连接的连接口进行控制。
具体的MCU(Single Chip Microcomputer,单片机)可以起到控制作用，通过对多路开关进行控制，可以方便选择当前的测试线束路数，以及出现异常时通过依次控制导通多路开关，方便自动检测异常的线束通道。
具体的如图1、图3-图5所示，AD采样点通过采样电阻4串联在测试通路中。
在一个具体的实施例中，还包括：接地电阻；所述多路开关的一端连接所述连接接口的连接口，另一端通过所述接地电阻实现接地。
具体的接地电阻如图5以及图6中的电阻R、若设置有接地电阻，则理论电压值的计算也需要考虑接地电阻的电阻值。
在一个具体的实施例中，该装置还可以包括：连接所述AD采样点3 的电压计。
在一个具体的实施例中为了计算方便，各所述级联电阻11的电阻值一致。
具体的例如个级联电阻11的电阻值都为10欧姆，20欧姆等等具体的电阻值可以根据实际的情况进行设置。
在一个具体的实施例中，为了进一步计算方便，所述采样电阻4与各所述级联电阻11的电阻值一致。
具体的，采样电阻4与级联电阻11的电阻值一致，则可以根据所连接的级联电阻11的数量来确定理论上的电压值，进而进行比对。
在一个具体的实施例中，具体的各个连接口可以分别通过一个开关来控制接地，也可以集中控制，在此情况下，如图5以及图6所示，所述多路开关2还可以包括单刀多掷开关；所述单刀多掷开关的一端的端点的数量大于或等于所述连接接口1一端的连接口12的数量；
所述连接接口1一端的连接口12分别连接一所述端点；
所述单刀多掷开关的另一端接地。
具体的，考虑到一般的测试过程中，5V的电源非常常见，为此可将所述电源设置为5V电源。
以此，本实用新型实施例提出了一种线束测试装置，包括：包括：两端分别设置有多路连接口12的连接接口1，两端多路所述连接口12之间通过级联电阻11实现连接；所述连接接口1用于通过两端的连接口12连接待测线束，以通过各所述级联电阻11将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关2，所述多路开关2用于连接所述连接接口 12，可以通过控制，选择任意连接口12开关闭合以使所连接的连接口12 接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点3。本方案通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，且操作方便简单，成本低，提升了测试的效率，利于各种不同线束的测试需要，通过多路开关控制，可以方便选择当前的测试线束路数，以及出现异常时通过依次导通多路开关，方便自动检测异常的线束通道。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本实用新型所必须的。
本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。
上述本实用新型序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。
以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施场景，但是，本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种线束测试装置，其特征在于，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。
2.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。
3.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述多路开关为电控开关。
4.如权利要求1或3所述的一种线束测试装置，其特征在于，还包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所述多路开关，以对所述多路开关连接的连接口进行控制。
5.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，AD采样点通过采样电阻串联在测试通路中。
6.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，还包括：接地电阻；所述多路开关的一端连接所述连接接口的连接口，另一端通过所述接地电阻实现接地。
7.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，还包括：连接所述AD采样点的电压计。
8.如权利要求5所述的一种线束测试装置，其特征在于，各所述级联电阻的电阻值一致。
9.如权利要求8所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述采样电阻与各所述级联电阻的电阻值一致。
10.如权利要求1或5所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述AD采样点设置在串联状态下的所述待测线束的通路中的首端或尾端。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN113406535A (zh) * | 2021-06-17 | 2021-09-17 | 合肥京东方视讯科技有限公司 | 一种检测板间电子线的测试板和测试方法 |
| CN113484718A (zh) * | 2021-06-09 | 2021-10-08 | 深圳莱宝高科技股份有限公司 | 一种检测线路结构与检测方法 |
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Cited By (3)
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