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CN210198253U - 一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置 - Google Patents

一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置 Download PDF

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CN210198253U
CN210198253U CN201921484426.3U CN201921484426U CN210198253U CN 210198253 U CN210198253 U CN 210198253U CN 201921484426 U CN201921484426 U CN 201921484426U CN 210198253 U CN210198253 U CN 210198253U
Authority
CN
China
Prior art keywords
quartz wafer
plate
slide rail
carrying plate
wafer production
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201921484426.3U
Other languages
English (en)
Inventor
Liangjun Xia
夏良军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fittcrystal Nanjing Electronics Co Ltd
Original Assignee
Fittcrystal Nanjing Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fittcrystal Nanjing Electronics Co Ltd filed Critical Fittcrystal Nanjing Electronics Co Ltd
Priority to CN201921484426.3U priority Critical patent/CN210198253U/zh
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Abstract

本实用新型提供一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,具体涉及到检具技术领域。本实用新型包括载物板,载物板的上端面设有石英晶片;载物板的侧部设有平板,平板的端部与载物板相接;平板的上端面设有滑轨,滑轨由上滑轨和下滑轨组成,上滑轨的侧部设有刻度,下滑轨的底部与平板相接;上滑轨的一端设有与上滑轨相互垂直的夹板,夹板的端面与上滑轨相接,夹板的端面设有刻度。本实用新型提出的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,能够测量石英晶片的大小和厚度,从而提高石英晶片的生产质量。

Description

一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置
技术领域
本实用新型属于检具技术领域,具体涉及一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置。
背景技术
石英晶片的生产需要经过严格的质量检测,对石英晶片进行精密的测量,检验尺寸是否达标,这是提高生产质量的关键步骤,现在的石英晶片的尺寸定量大部分都是通过人工完成的,人工测量的误差较大,且人工成本高、效率低,以致影响石英晶片的质量。
一种石英晶片角度分选机(授权号CN201510187144.7),公开了一种石英晶片角度分选装置,该装置包括机架、调整机构和振动盘。该装置具有测量精度高、无需人工整理晶片的特点,但是该装置只能测量石英晶片的角度,无法测量石英晶片的大小与厚度。
针对以上情况,现需求一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,能够测量石英晶片的大小和厚度,从而提高石英晶片的生产质量。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,能够测量石英晶片的大小和厚度,从而提高石英晶片的生产质量。
本实用新型提供了如下的技术方案:
一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,包括载物板,所述载物板的上端面设有石英晶片;所述载物板的侧部设有平板,所述平板的端部与所述载物板相接;所述平板的上端面设有滑轨,所述滑轨由上滑轨和下滑轨组成,所述上滑轨的侧部设有刻度,所述下滑轨的底部与所述平板相接;所述上滑轨的一端设有与所述上滑轨相互垂直的夹板,所述夹板的端面与所述上滑轨相接,所述夹板的端面设有刻度。
优选的,所述载物板的侧部设有四个依次垂直的夹板。
优选的,所述夹板的一端设有连接杆,所述连接杆的一端与所述夹板铰接,所述连接杆的另一端设有升降块,所述升降块的侧部与所述连接杆铰接。
优选的,所述载物板下端面的中心设有与所述载物板相互垂直的固定杆,所述固定杆的端部与所述载物板相接,所述固定杆与所述载物板相互垂直所述固定杆穿过所述升降块的中心,所述固定杆的侧壁与所述升降块的内侧壁相接触,所述固定杆的侧壁设有刻度。
优选的,所述夹板的另一端设有伸缩杆,所述伸缩杆的一端与所述夹板铰接,所述伸缩杆的另一端设有直板,所述直板的上端面与所述伸缩杆铰接,所述直板的下端面与所述石英晶体的上端面相接触。
优选的,所述上滑轨的另一端设有弹簧,所述弹簧的两端分别与所述上滑轨和所述载物板的侧部相接。
本实用新型的有益的效果:
本实用新型的载物板的侧部设有四个依次相互垂直的夹板,四个夹板可保证测量石英晶体的直径;夹板的一端设有连接杆,连接杆的端部设有升降块,升降块可同时移动夹板,使石英晶体在测量时处于载物板的中心位置;载物板的下端面的中心设有固定杆,固定杆穿过升降块的中心,固定杆的外侧壁设有刻度,固定杆可稳固升降块竖直移动,便于直接读取石英晶体的直径。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。
在附图中:
图1是本实用新型的主视图。
附图标记说明:
1、载物盘;2、石英晶片;3、平板;4、滑轨;41、上滑轨;42、下滑轨;5、夹板;6、连接杆;7、升降块;8、固定杆;9、伸缩杆;10、直板;11、弹簧。
具体实施方式
如图1所示,一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,包括沿水平方向配置的载物板1,载物板1的上端面设有石英晶片2;载物板1的侧部沿水平方向设有四个依次相互垂直的平板3,平板3的端部与载物板1焊接;平板3的上端面设有滑轨4,滑轨4由上滑轨41和下滑轨42组成,下滑轨42的底部与平板3通过螺栓相接;上滑轨41的一端设有与上滑轨41相互垂直的夹板5,夹板5的端面与上滑轨41相接,夹板51的端面设有刻度,夹板51可从不同角度读取石英晶片2的直径;上滑轨41的另一端设有弹簧11,弹簧11的两端分别与上滑轨41和载物板1的侧部相接,弹簧11可使夹板5夹住石英晶片2;夹板5的一端设有连接杆6,连接杆6的一端与夹板5铰接,连接杆6的另一端设有升降块7,升降块7的侧部与连接杆6铰接,升降块7可同时拉动连接杆6使夹板5同时移动,石英晶片2的中心与载物盘1的中心重合,夹板5之间稳定夹住石英晶片2的直径;夹板5的下端面的中心设有与载物板1相互垂直的固定杆8,固定杆8的端部与载物板1焊接,固定杆8穿过升降块7的中心,固定杆8的侧壁与升降块7的内侧壁相接触,固定杆8的侧壁上设有刻度,固定杆8保证升降块7只能沿竖直方向移动,石英晶片2测量的直径可直接读取固定杆8上的刻度;夹板5的另一端设有伸缩杆9,伸缩杆9的一端与夹板5铰接,伸缩杆9的另一端设有直板10,直板10的上端面与伸缩杆9铰接,直板10的下端面与石英晶片2的上端面相接触,直板10可检测石英晶片2的表面是否平整,同时便于读取夹板5上的刻度。
本实用新型的工作方式:上移升降块7,通过连接杆6打开夹板5,石英晶片2放在载物板1上,缓慢下移升降块7,直到升降块7不能再下移了,完全通过弹簧11的力夹住石英晶体2,检测夹板5是否都与石英晶片2相接触,不接触则证明不是圆形晶片,接触后再把直板10放在石英晶片2的上端面,直板10的端部与夹板5的端面相接触,检测直板10是否与夹板5相互垂直,不垂直则证明石英晶片2表面不平整,垂直后再分别读取固定杆8和夹板5上的刻度。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:包括载物板,所述载物板的上端面设有石英晶片;所述载物板的侧部设有平板,所述平板的端部与所述载物板相接;所述平板的上端面设有滑轨,所述滑轨由上滑轨和下滑轨组成,所述上滑轨的侧部设有刻度,所述下滑轨的底部与所述平板相接;所述上滑轨的一端设有与所述上滑轨相互垂直的夹板,所述夹板的端面与所述上滑轨相接,所述夹板的端面设有刻度。
2.根据权利要求1所述的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:所述载物板的侧部设有四个依次垂直的夹板。
3.根据权利要求2所述的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:所述夹板的一端设有连接杆,所述连接杆的一端与所述夹板铰接,所述连接杆的另一端设有升降块,所述升降块的侧部与所述连接杆铰接。
4.根据权利要求3所述的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:所述载物板下端面的中心设有与所述载物板相互垂直的固定杆,所述固定杆的端部与所述载物板相接,所述固定杆穿过所述升降块的中心,所述固定杆的侧壁与所述升降块的内侧壁相接触,所述固定杆的侧壁设有刻度。
5.根据权利要求1所述的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:所述夹板的另一端设有伸缩杆,所述伸缩杆的一端与所述夹板铰接,所述伸缩杆的另一端设有直板,所述直板的上端面与所述伸缩杆铰接,所述直板的下端面与所述石英晶片的上端面相接触。
6.根据权利要求1所述的一种用于石英晶片生产的尺寸定量装置,其特征在于:所述上滑轨的另一端设有弹簧,所述弹簧的两端分别与所述上滑轨和所述载物板的侧部相接。
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