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CN207472430U - 一种阵列式发射率参考物 - Google Patents

一种阵列式发射率参考物 Download PDF

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CN207472430U
CN207472430U CN201721620946.3U CN201721620946U CN207472430U CN 207472430 U CN207472430 U CN 207472430U CN 201721620946 U CN201721620946 U CN 201721620946U CN 207472430 U CN207472430 U CN 207472430U
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CN
China
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rectangular
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symmetry
line
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CN201721620946.3U
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English (en)
Inventor
王潇楠
李文军
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China Jiliang University
Original Assignee
China Jiliang University
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Abstract

本实用新型涉及一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底,矩形槽,矩形翅,对称线,所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅,所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,并提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,其对称式结构可使温场更加稳定,对该一种阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品,小巧简单,操作方便。

Description

一种阵列式发射率参考物
技术领域
本实用新型涉及红外测温技术领域,尤其涉及一种阵列式发射率参考物。
背景技术
红外测温技术在民用和工业领域都得到了广泛应用。用红外测温设备测量物体的温度,需要知道被测物体的表面发射率。但确定物体的表面发射率却比较困难,原因是表面发射率不仅取决于物体材料种类,还和物体表面状况等因素有关。在测温过程中,为了先确定表面发射率,常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前使用的参考物如黑胶布,规格不一,不能重复使用,寿命短,加热后易损伤,作为发射率参考物其发射率不稳定。
现阶段对于一种阵列式发射率参考物作为发射率已知的参考物不是很多,现技术有三个缺点,一是测温区间不够宽;二是在工作温度区间内,参考物体发射率是一个定值或区域值,不能连续调节;三是多数参考物体为非对称结构,其自身温场不稳定,使测量发射率精度受到影响。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服现有发射率参考物的不足,提供一种阵列式发射率参考物。
本实用新型涉及一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底,矩形槽,矩形翅,对称线,所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅,所述长方体金属基底表面存在一根对称线。
作为本实用新型的优选技术方案,所述长方体金属基底作为基底,长宽高约为70mm×30mm×20mm,长方体金属基底整体为对称型结构,长方体金属基底采用纯铝制金属材料,平稳性好,导热性好,可重复使用,寿命长,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述矩形槽由在长方体金属基底上表面切割后切除的空间形成,矩形槽深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增,矩形槽以对称线为轴左右对称,具有宽广的发射率分布,可提供连续可调的发射率,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述矩形翅由在长方体金属基底上表面切割后未被切除的部分形成,矩形翅深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增,矩形翅以对称线为轴左右对称,矩形槽和矩形翅的在长方体金属基底上表面的宽度比例1∶3,矩形槽和矩形翅的组合使参考物发射率平稳连续分布,其对称结构使温场更加稳定。
作为本实用新型的优选技术方案,所述对称线在长方体金属基底表面,对称线平行于矩形槽且为长方体金属基底的对称轴,使温场稳定,辐射均匀。
本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,提供连续可选金属基底(1)的对称轴,使温场稳定,辐射均匀。
本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物,能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间,提供连续可选的表面单元,可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率,其对称式结构可使温场更加稳定,对该一种阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品,小巧简单,操作方便。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图1中:1.长方体金属基底;2.矩形槽;3.矩形翅;4.对称线。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
请参阅图1,图1为本实用新型的结构示意图。
一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底1,矩形槽2,矩形翅3,对称线4,所述长方体金属基底1上表面存在一系列矩形槽2和矩形翅3,所述长方体金属基底1表面存在一根对称线4。
选取纯铝制金属材料的长方形金属基底1,长宽高约为70mm×30mm×20mm,在长方形金属基底1表面的中心处以平行于长方形金属基底1宽度的方向画一条对称线4,此对称线4为长方形金属基底1的对称轴,在长方体金属基底1上表面以平行于对称线4的方向进行切割,切割后切除的空间形成矩形槽2,矩形槽2深度以对称线4为中心往两侧均匀依次递增,矩形槽2以对称线4为轴左右对称,在长方体金属基底1上表面切割后未被切除的部分形成矩形翅3,矩形翅3深度以对称线4为中心往两侧均匀依次递增,矩形翅3以对称线4为轴左右对称,矩形槽2和矩形翅3的在长方体金属基底1上表面的宽度比1∶3,至此,一种阵列式发射率参考物制作完成。
使用时将一种阵列式发射率参考物放置在加热装置中测量其发射率,由于其长方体金属结构,所以导热性好且不会形变。加热后由于其对称性结构,温场和热辐射均匀稳定。使用红外测温设备照射该一种阵列式发射率参考物时,可得到连续稳定可调的发射率,标定后可作为发射率参考样品,小巧简单,操作方便。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种阵列式发射率参考物,包括长方体金属基底(1),矩形槽(2),矩形翅(3),对称线(4),其特征在于:所述长方体金属基底(1)上表面存在一系列矩形槽(2)和矩形翅(3),在长方体金属基底(1)表面存在一根对称线(4)。
2.根据权利要求1所述的一种阵列式发射率参考物,其特征在于:所述长方体金属基底(1)作为基底,长宽高约为70mm×30mm×20mm,长方体金属基底(1)整体为对称型结构,长方体金属基底(1)采用纯铝制金属材料。
3.根据权利要求1所述的一种阵列式发射率参考物,其特征在于:所述矩形槽(2)由在长方体金属基底(1)上表面切割后切除的空间形成,矩形槽(2)深度以对称线(4)为中心往两侧均匀依次递增,矩形槽(2)以对称线(4)为轴左右对称。
4.根据权利要求1所述的一种阵列式发射率参考物,其特征在于:所述矩形翅(3)由在长方体金属基底(1)上表面切割后未被切除的部分形成,矩形翅(3)深度以对称线(4)为中心往两侧均匀依次递增,矩形翅(3)以对称线(4)为轴左右对称,矩形槽(2)和矩形翅(3)的在长方体金属基底(1)上表面的宽度比为1∶3。
5.根据权利要求1所述的一种阵列式发射率参考物,其特征在于:所述对称线(4)在长方体金属基底(1)表面,对称线(4)平行于矩形槽(2)且为长方体金属基底(1)的对称轴。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN107796521A (zh) * 2017-11-27 2018-03-13 中国计量大学 阵列式发射率参考物

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