CN205539233U - 电性能检测机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电性能检测机，包括工作台、位于工作台上的测试仪和圆盘，所述圆盘上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽，所述卡槽沿圆周边缘设有缺口，所述工作台位于圆盘缺口下方设有用于方便运输电子元件的收集装置。所述收集装置包括倾斜设置的滑道，所述滑道靠近圆盘一端开口朝向缺口下方，所述滑道远离圆盘一端下方设有收集框。所述滑道远离圆盘一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片，所述挡片位于滑道远离圆盘一端开口的下方。上述技术方案解决了无法方便对电子元件进行收集的问题，本实用新型提供了一种收集方便快速的电性能检测机。

Description

电性能检测机

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测设备领域，特别涉及一种电性能检测机。

背景技术

电子元件是组成电子产品的基础，运用在越来越多的产品中，发挥着非常重要的作用，所以对电子元件电性能的测试提出了更高的要求。

中国专利公开号CN203433065U的专利文件公开了一种多工位电性能检测机，包括操作台和安装在操作台上的若干个测试仪，操作台内部设有电控驱动系统，测试仪与电控驱动系统电连接，操作台的上表面固定连接有可旋转的圆盘，圆盘的内圆周侧均匀分布有若干个槽座，圆盘的外圆周一侧的操作台表面固定连接有若干个支架，各个支架上部均连接有电控驱动系统控制伸缩长度的传感器探头，一个传感器探头、一个槽座与一台测试仪组成一个检测台，同一个检测组合内的测试仪分别与传感器探头、槽座的底部电连接。上述技术方案虽然实现了多工位的检测功能，但是该设备在对电子元件检测完之后，需要将合格与不合格的产品从圆盘上取出，并且再进行分类，然而操作台离地具有一定的高度，需要工作人员将电子元件一一取出放置到指定位置，导致收集变得麻烦，无法更加方便的把电子元件收集起来，较高台面的圆盘位置，会增加工作人员的收集速度，使检测效率降低。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种收集方便快速的电性能检测机。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电性能检测机，包括工作台、位于工作台上的测试仪和圆盘，所述圆盘上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽，所述卡槽沿圆周边缘设有缺口，所述工作台位于圆盘缺口下方设有用于收集电子元件的收集装置。

通过采用上述技术方案，利用在卡槽上开设的缺口和缺口下方的的收集装置，能够使工作人员更加方便地将电子元件从卡槽中取出，并且使其直接掉入到收集装置中，利用收集装置将合格的电子元件进行一个收集，减去了工作人员将电子元件进行分类收集的麻烦，免去了要将电子元件一一取出并且放入收集装置的工作步骤，使整个收集过程更加有序合理，提高了整个检测装置的检测效率。

本实用新型进一步设置为：所述收集装置包括倾斜设置的滑道，所述滑道靠近圆盘一端开口朝向缺口下方，所述滑道远离圆盘一端下方设有收集框。

通过采用上述技术方案，利用位于缺口下方的滑道，从而能够使缺口中掉落的电子元件掉落到滑道的上开口中，利用倾斜设置的滑道，将电子元件导向到用于收集不同类的收集框中，缩短了圆盘和收集框之间的距离，免去了工作人员要收集电子元件的麻烦，在取出电子元件的同时，就能利用滑道的作用，直接通入到收集框中，使整个过程方便快捷，提高了检测效率。

本实用新型进一步设置为：所述滑道远离圆盘一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片，所述挡片位于滑道远离圆盘一端开口的下方。

通过采用上述技术方案，利用滑道远离圆盘一端开口处的挡片，能够对从滑道中滑出的电子元件在掉落到收集框之前进行一个缓冲，避免了电子元件会由于重力加速度的原因而直接飞出到收集框之外。因为电子元件上的多种部件的精密性要求更高，如果电子元件直接掉落到收集框中，会使元件相互之间发生较大的力的碰撞，可能会导致电子元件的损坏，所以利用挡片在滑道开口下方的缓冲作用，能够使电子元件以较慢的速度落到收集框中，从而就能保证电子元件不会由于强力碰撞而发生损坏。

本实用新型进一步设置为：所述滑道远离圆盘一端设有用于调节挡片和滑道开口距离的卡位块，所述挡片设有连接于挡片两侧的连接件，所述连接件与卡位块沿滑道倾斜方向呈滑动连接。

通过采用上述技术方案，利用连接件和卡位块之间的滑动连接，从而就能调节挡片和滑道开口之间的距离，能够改变对于不同质量的电子元件的缓冲力度，就能使电子元件掉落时都可以有最合适的掉落速度，满足不同型号的电子元件的收集要求。

本实用新型进一步设置为：所述工作台上垂直设置有转轴，所述转轴与滑道靠近圆盘一端呈转动连接，所述滑道远离圆盘一端下方设有多个收集框。

通过采用上述技术方案，利用滑道和工作台表面上转轴的转动连接，能够使滑道绕着转轴进行一定角度的转动，从而能够使滑道的底端开口对准不同的收集框，能够将合格和不合格产片进行一个分类收集，使收集过程变得更加方便快捷。也能在一个收集框收满之后不用停止检测机去更换收集框，可以直接将滑道的开口对准新的一个收集框重新开始收集，使检测过程中不间断，也就能提高整台机器的检测效率。

本实用新型进一步设置为：所述工作台上设有用于将电子元件从缺口中卡出的执行机构，所述执行机构位于收集装置上方。

通过采用上述技术方案，利用执行机构就能免去工作人员需要将电子元件从缺口中拨出到收集装置内，可以直接利用执行机构把电子元件自动取出，使整个收集过程变得更加方便快捷，两者的配合，实现了取出和收集的两个功能效果，提高了整台机器的检测效率。

本实用新型进一步设置为：所述执行机构包括与电子元件相抵触的拨片和固定连接于工作台表面的支撑柱，所述拨片固定连接于支撑柱远离工作台一端。

通过采用上述技术方案，利用拨片，当圆盘带着检测完毕后的电子元件运动到和拨片相抵触时，拨片固定连接于支撑柱的顶端无法被推动，从而就能利用拨片给电子元件一个抵触力，使拨片和电子元件接触时能够保持相对静止，把电子元件从缺口中带出，拨片和支撑柱的设置使整个执行机构结构简单，无需人力，又能提高取出的成功率，使整个检测过程更加简化，减少了工作工序。

本实用新型进一步设置为：所述支撑柱远离圆盘一端固定连接有底座，所述底座底面与工作台表面相抵触，所述底座上设有腰型槽，所述底座通过紧固件穿设腰型槽与工作台固定连接。

通过采用上述技术方案，利用底座将支撑柱和工作台进行抵触连接，从而能够增加支撑柱与工作台表面的接触面积，再利用紧固件就能使整个执行机构更加稳定地固定在工作台表面，使拨片和电子元件相抵触时，支撑柱不会发生移动，从而就能够提供给电子元件一个抵触力。利用紧固件与腰型槽的配合，就能调节底座在工作台上的位置，从而就能带动拨片改变其在圆盘上方的位置，调节和圆盘的角度，就能适应将不同尺寸大小电子元件取出的特殊需求。还可以利用紧固件的作用，能够将整个执行机构与工作台表面进行拆卸，从而还能方便安装适用于不同形状的圆盘。

本实用新型进一步设置为：所述缺口设有用于支撑电子元件的卡块，所述卡块沿缺口边沿固定连接于圆盘底面，所述卡块表面与电子元件底面相抵触。

通过采用上述技术方案，利用圆盘底面位于缺口处的卡块作用，能够对缺口中放置的电子元件提供一个支撑力，使电子元件的底面能够与卡块相抵触，增大了和电子元件的接触面积，从而使电子元件位于缺口中时，不会发生掉落，能够更加稳定地放置在缺口中，从而使每一个测试过程更加稳定，提高检测的准确性。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：利用支撑柱一端固定连接的拨片和电子元件的抵触作用，能够更加快速方便地将电子元件从缺口中取出，配合利用滑道的导向作用，缩短了工作台和收集框的距离，使电子元件能够快速地进入到收集框内，免去了工作人员需要对电子元件进行人工收集分类和取出的麻烦，并且利用可以在工作台上进行一定角度旋转的作用，能够方便对合格与不合格的产品直接在取出时就能进行分类，省去了工作人员对其分选收集的工作步骤。利用挡片的缓冲作用，在利用滑道的收集过程中能够依然保持电子元件的产品的质量不受损坏，使收集装置设计更加合理。

附图说明

图1是本实用新型一种电性能检测机的结构示意图；

图2是图1的I部放大图；

图3是图2的II部放大图；

附图标记：1、工作台；2、测试仪；3、圆盘；4、卡槽；5、执行机构；51、拨片；52、固定件；521、支撑柱；522、底座；6、收集装置；61、滑道；62、收集框；7、挡片；8、卡位块；9、连接件；10、卡块；11、腰型槽；12、转轴。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例一：

参照图1所示，一种电性能检测机，包括工作台1、位于工作台1上的测试仪2和圆盘3，圆盘3设置在靠近工作台1的中心处，圆盘3能够绕着圆心进行旋转，并且沿着圆盘3的圆周的外侧，在工作台1上设置了三种测试仪2，在工作台1的内部设有电控驱动系统，三种测试仪2与电控驱动系统电连接，并且每一种测试仪2都连接有一个传感器，用于检测圆盘3上的电子元件，当圆盘3带着电子元件运动到相应的测试仪2下方，利用传感器的作用，来对电子元件进行多种种类的测试，从而能够实现一个工作台1来完成多工位的检测需求，提高了检测效率，免去了人工检测的复杂性。

在工作台1的一端设置了一个用于将电子元件取出的执行机构5，包括焊接在一起的拨片51和支撑柱521，支撑柱521为一根圆柱轴，支撑柱521垂直连接于工作台1表面，位于支撑柱521的底端也焊接了一个底座522，底座522为一块长方形板，底座522底面与工作台1表面相抵触，并且在底座522上开设了一个腰型槽11，利用螺栓穿设腰型槽11与工作台1和螺栓上的垫片和底座522上表面相抵触的作用，从而就能将底座522固定连接在工作台1表面，也就能使支撑柱521和拨片51都无法发生移动。拨片51为一个长条杆，杆的一端与支撑柱521顶端固定连接，拨片51的表面与圆盘3表面呈平行设置，拨片51的底面高于圆盘3表面，具有一定的间隙，且低于嵌设在缺口中的电子元件的顶面，从而能够在圆盘3带着检测完的电子元件运动到拨片51处时，拨片51会和电子元件产生一个抵触力，并且将拨片51在圆盘3上设置成有一定角度，利用固定不动的拨片51提供给电子元件脱离缺口的一个力，从而使拨片51和相抵触的电子元件在抵触时保持一个相对静止的状态，然而圆盘3继续向前运动，从而就能将电子元件从缺口中脱离出来。避免了工作人员从卡槽4中一一将电子元件取出，能够在测试仪2完成对电子元件的检测之后，就能利用拨片51和支撑柱521的作用，自动将电子元件取出，减少了工作工序，提高检测效率。

参照图2-3所示，在拨片51的下方设置了一个呈倾斜的滑道61，滑道61的开口朝向拨片51的下方，从而能够使从缺口脱离出来的电子元件直接掉落进滑道61，通过滑道61的导向掉落到位于滑道61底端下方设置的收集框62内，滑道61设置为一个中空的滑道61管，滑道61靠近圆盘3的底面一端利用转轴12固定在工作台1上，转轴12垂直连接于工作台1表面，且与滑道61呈转动连接，滑道61能够绕着转轴12在一定角度内进行转动，从而可以改变滑道61远离圆盘3一端的开口位置，在开口下设置了多个收集框62，便于对合格与不合格的产品进行一个分选，又可以保持整台检测机的持续检测工作。在滑道61的底端的开口外端设置了一块挡片7，挡片7为一块呈内凹的弧形板，挡片7挡于滑道61的开口外侧，从滑道61中滑出的电子元件将会先碰触到挡片7的内凹面，从而起到一个缓冲减速的作用，使其不会冲出收集框62的收集范围，使电子元件在掉落进收集框62内时的速度减慢，也就可以使电子元件在相互碰撞时的力减到最小，保证电子元件的部件不会因为过快的掉落速度而导致损坏。在滑道61管底端的上表面设置了一个卡位块8，卡位块8沿滑道61从上至下依次设置了相互平行的凹槽，在挡片7的长度方向的两侧边的中间连接了一根连接件9，连接件9呈“门”形，两脚与挡片7两边固定连接，上边能够嵌设到卡位块8中不同高度的凹槽中，从而就能改变挡片7和滑槽开口之间的角度，如果连接件9位于低端的凹槽中，挡片7离滑道61开口的距离远，挡片7对于电子元件的缓冲效果就来得小，反之，连接件9位于高端的凹槽中，挡片7离滑道61的开口的距离近，就能使电子元件的下落速度降到最低，从而就能根据不同型号、质量的电子元件来调节挡片7和滑道61开口的距离，来调节电子元件掉落的缓冲力度，使电子元件都能以平稳的速度下落到收集框62内。

实施例二：

与实施例一的不同之处在于，将用于对电子元件的收集装置6设置为循环转动的输送带，在输送带的两端设置了两根可以旋转的轴，其中一端的轴利用电机来驱动进行转动，并且在两个轴上围绕着一条皮带，从而利用主动轴的旋转带动皮带进行循环输送，将输送带的一端位于拨片51的下方，在输送带的另一端下方设有收集框62，从而能够将缺口中取出的电子元件运送到收集框62中进行收集，避免了直接将收集框62置于圆盘3下方，会占用到整个工作台1的空间，并且会需要高频率地将装满的收集框62进行更换，导致整个收集过程变得麻烦，也会降低检测的效率。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (9)

1.一种电性能检测机，包括工作台（1）、位于工作台（1）上的测试仪（2）和圆盘（3），所述圆盘（3）上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽（4），其特征是：所述卡槽（4）沿圆周边缘设有缺口，所述工作台（1）位于圆盘（3）缺口下方设有用于收集电子元件的收集装置（6）。

2.根据权利要求1所述的电性能检测机，其特征是：所述收集装置（6）包括倾斜设置的滑道（61），所述滑道（61）靠近圆盘（3）一端开口朝向缺口下方，所述滑道（61）远离圆盘（3）一端下方设有收集框（62）。

3.根据权利要求2所述的电性能检测机，其特征是：所述滑道（61）远离圆盘（3）一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片（7），所述挡片（7）位于滑道（61）远离圆盘（3）一端开口的下方。

4.根据权利要求3所述的电性能检测机，其特征是：所述滑道（61）远离圆盘（3）一端设有用于调节挡片（7）和滑道（61）开口距离的卡位块（8），所述挡片（7）设有连接于挡片（7）两侧的连接件（9），所述连接件（9）与卡位块（8）沿滑道（61）倾斜方向呈滑动连接。

5.根据权利要求2所述的电性能检测机，其特征是：所述工作台（1）上垂直设置有转轴（12），所述转轴（12）与滑道（61）靠近圆盘（3）一端呈转动连接，所述滑道（61）远离圆盘（3）一端下方设有多个收集框（62）。

6.根据权利要求1所述的电性能检测机，其特征是：所述工作台（1）上设有用于将电子元件从缺口中卡出的执行机构（5），所述执行机构（5）位于收集装置（6）上方。

7.根据权利要求6所述的电性能检测机，其特征是：所述执行机构（5）包括与电子元件相抵触的拨片（51）和固定连接于工作台（1）表面的支撑柱（521），所述拨片（51）固定连接于支撑柱（521）远离工作台（1）一端。

8.根据权利要求7所述的电性能检测机，其特征是：所述支撑柱（521）远离圆盘（3）一端固定连接有底座（522），所述底座（522）底面与工作台（1）表面相抵触，所述底座（522）上设有腰型槽（11），所述底座（522）通过紧固件穿设腰型槽（11）与工作台（1）固定连接。

9.根据权利要求1所述的电性能检测机，其特征是：所述缺口设有用于支撑电子元件的卡块（10），所述卡块（10）沿缺口边沿固定连接于圆盘（3）底面，所述卡块（10）表面与电子元件底面相抵触。