CN205482700U - 用于检测花键轴的检具 - Google Patents

Abstract

用于检测花键轴的检具，包括底板，所述底板上设有第一搁置板和第二搁置板，底板的上表面设有若干条平行设置的滑槽，所述第一搁置板和第二搁置板可在滑槽上移动或固定；所述第一搁置板上端设有第一搁置槽，所述第二搁置板上端设有第二搁置槽，且第一搁置槽的深度大于第二搁置槽的深度；所述底板上设置有铁架台，所述铁架台上设有可夹持千分尺的夹头。本实用新型具有以下有益效果：本实用新型结构简单，使用方便，能够快速的检测花键轴的主轴径向精度是否合格，效率高。

Description

用于检测花键轴的检具

技术领域

本实用新型属于车间检具领域，具体涉及一种用于检测花键轴的检具。

背景技术

花键轴是机械传动一种，和平键、半圆键、斜键一样可用于传递机械扭矩，在轴的外表有纵向的键槽，套在轴上的旋转件也有对应的键槽，可保持跟轴同步旋转。在旋转的同时，有的还可以在轴上作纵向滑动，如变速箱换档齿轮等。

生产过程中，需要对花键轴的尺寸、精度等进行全面的检测，防止不合格产品流入市场，现有技术中，能够简单方便检测花键轴的检具种类繁多，操作较复杂，本实用新型在如何检测花键轴的径向精度上进行了研究。

实用新型内容

针对现有技术中的不足，本实用新型提供了一种用于检测花键轴的径向精度的检具，结构简单，使用方便。

本实用新型通过以下技术方案实现。

用于检测花键轴的检具，包括底板，所述底板上设有第一搁置板和第二搁置板，底板的上表面设有若干条平行设置的滑槽，所述第一搁置板和第二搁置板可在滑槽上移动或固定；所述第一搁置板上端设有第一搁置槽，所述第二搁置板上端设有第二搁置槽，且第一搁置槽的深度大于第二搁置槽的深度；所述底板上设置有铁架台，所述铁架台上设有可夹持千分尺的夹头。

在花键轴的审查过程中，需要对其主轴的径向精度进行检测，检测时，在花键轴的一端和主轴上分别套上合适的圆柱工件，接着将花键轴置于第一搁置板和第二搁置板上，具体的，使端部的圆柱工件置于第一搁置板上，花键轴的另一端搁置在第二搁置板，使主轴上的圆柱工件悬空，接着将千分尺固定在铁架台的夹头上，转动铁架台，将千分尺置于主轴上的圆柱工件表面，接着将花键轴旋转一周，观察千分尺上数值的变化来判断花键轴主轴的径向精度是否符合要求，十分方便。

此外，第一搁置板和第二搁置板可在滑槽上移动，调整位置方便。

作为优选，所述铁架台的端部固定有磁性吸块，所述磁性吸块可吸附在底板上，可以方便的调节铁架台的位置，十分方便。

作为优选，所述底板上设有挡板，用于与花键轴的端部抵靠，防止花键轴脱出。

作为优选，所述第一搁置板和第二搁置板分别通过第一螺钉和第二螺钉固定在滑槽上，拧松螺钉可以进行位置的调整。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：本实用新型结构简单，使用方便，能够快速的检测花键轴的主轴径向精度是否合格，效率高。

附图说明

图1为本实用新型的立体图。

图2为本实用新型省略铁架台的正视图。

图3为一种花键轴的示意图。

图4为花键轴上套设有圆柱工件后的示意图。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式，对本实用新型作进一步描述。

参见图1与图2，用于检测花键轴的检具，包括底板1，所述底板1上设有第一搁置板13和第二搁置板14，底板1的上表面设有若干条平行设置的滑槽11，所述第一搁置板13和第二搁置板14可在滑槽11上移动或固定；所述第一搁置板13上端设有第一搁置槽131，所述第二搁置板14上端设有第二搁置槽141，第一搁置槽131和第二搁置槽141都为V形的凹槽，具有斜侧壁，且第一搁置槽131的深度大于第二搁置槽141的深度，所述底板1上设置有铁架台16，所述铁架台16上设有可夹持千分尺的夹头17。

本实施方式中，所述铁架台16的端部固定有磁性吸块15，所述磁性吸块15可吸附在底板1上，所述底板1上设有挡板12；所述第一搁置板13和第二搁置板14分别通过第一螺钉132和第二螺钉142固定在滑槽11上，方便调节位置。

图3所示为一种花键轴2的示意图，具有主轴和端部区域，图4所示套有圆柱工件的花键轴2的示意图，花键轴2的端部套有圆柱工件a，主轴上套有圆柱工件b。

本实用新型的检具检测时，在花键轴2的一端和主轴上分别套上合适的圆柱工件a和圆柱工件b，接着将花键轴2置于第一搁置板13和第二搁置板14上，具体的，使端部的圆柱工件a置于第一搁置板13上的第一搁置槽131，花键轴2的另一端搁置在第二搁置板14的第二搁置槽141，使主轴上的圆柱工件b悬空，接着将千分尺固定在铁架台16的夹头17上，移动或转动铁架台16，将千分尺置于主轴上的圆柱工件b表面，接着将花键轴2旋转一周，观察千分尺上数值的变化来判断花键轴主轴的径向精度是否符合要求，十分方便。

以上可以看出，本实用新型结构简单，使用方便，能够快速的检测花键轴是否合格，效率高。

本实用新型的保护范围包括但不限于以上实施方式，本实用新型的保护范围以权利要求书为准，任何对本技术做出的本领域的技术人员容易想到的替换、变形、改进均落入本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.用于检测花键轴的检具，包括底板（1），其特征在于，所述底板（1）上设有第一搁置板（13）和第二搁置板（14），底板（1）的上表面设有若干条平行设置的滑槽（11），所述第一搁置板（13）和第二搁置板（14）可在滑槽（11）上移动或固定；所述第一搁置板（13）上端设有第一搁置槽（131），所述第二搁置板（14）上端设有第二搁置槽（141），且第一搁置槽（131）的深度大于第二搁置槽（141）的深度，所述底板（1）上设置有铁架台（16），所述铁架台（16）上设有可夹持千分尺的夹头（17）。

2.根据权利要求1所述的用于检测花键轴的检具，其特征在于，所述铁架台（16）的端部固定有磁性吸块（15），所述磁性吸块（15）可吸附在底板（1）上。

3.根据权利要求2所述的用于检测花键轴的检具，其特征在于，所述底板（1）上设有挡板（12）。

4.根据权利要求3所述的用于检测花键轴的检具，其特征在于，所述第一搁置板（13）和第二搁置板（14）分别通过第一螺钉（132）和第二螺钉（142）固定在滑槽（11）上。