CN203732513U - 一种超声波检测试块 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种超声波检测试块，所述试块为条状体，所述试块左侧为半径与所述试块高度相同的圆弧面，所述试块的上表面为外侧凸弧面，下表面为外侧凹弧面，所述外侧凹弧面上设置有楔形槽，所述试块左侧设置有等高阶梯孔，所述等高阶梯孔上方设置有第一横通孔和第二横通孔，所述试块右侧设置有呈圆弧状排列的第一长横孔、第二长横孔以及第三长横孔，所述楔形槽和第三长横孔在同一垂直线上。本实用新型的体积较小，且相较于现有试块，具有存贮方便、易于携带的优点。

Description

一种超声波检测试块

技术领域

本实用新型涉及一种超声波检测试块，具体涉及超声无损检测领域。

背景技术

超声波无损检测是目前广泛使用的缺陷探伤方法，在现场工作中，由于检验部件不同而需要采用不同的超声波探伤标准试块、模拟试块及对比试块，因此试块的携带量较大，而试块通常为钢制结构，重量及体积均较大，给实验人员带来了诸多不便。因此，有必要开发一种可同时适应多种检测需求，替代部分标准试块、模拟试块和对比试块功能的，并且体积小、便于携带的超声波检测试块。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可适应多种检测需求、体积小、携带方便的超声波检测试块。

为了实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案如下：

本实用新型所述试块为条状体，所述试块左侧为半径与所述试块高度相同的圆弧面，所述试块的上表面为外侧凸弧面，下表面为外侧凹弧面，所述外侧凹弧面上设置有楔形槽，所述试块左侧设置有等高阶梯孔，所述等高阶梯孔上方设置有第一横通孔和第二横通孔，所述试块右侧设置有呈圆弧状排列的第一长横孔、第二长横孔以及第三长横孔，所述楔形槽和第三长横孔在同一垂直线上。

本实用新型所述试块的长度是高度的1.2~2倍，厚度是高度的15%~30%，所述试块的高度为30~50mm。

本实用新型所述外侧凸弧面与外侧凹弧面的圆弧高度为2~3mm。

本实用新型所述楔形槽的夹角为30°，高5~8mm。

本实用新型所述的等高阶梯孔的外径为5~8mm，内径为3~4mm；所述第一横通孔和第二横通孔的圆心位于等高阶梯孔的中心线上；所述第一横通孔和第二横通孔的半径为1mm。

本实用新型所述第一长横孔、第二长横孔以及第三长横孔围成的圆弧的半径为试块体宽边长度的30%~50%。

本实用新型所述第一长横孔、第二长横孔以及第三长横孔的半径为1mm，长度为所述试块厚度的50%。

本实用新型的有益效果为试块上设置的圆弧面可用于标准校正，调整扫描速度和检测范围，外侧凸弧面与外侧凹弧面的设置降低了超声波再反射时的能量损失，可以提高测量的精度。同时试块上的等高阶梯孔，可用于调整探头的分辨力；横通孔与等高阶梯孔相配合可用于调整探头扫描线性及灵敏度的调整。试块上设置的楔形槽增加了试块表面缺陷，替代部分对比试块的功能，同时其可用于定量判断焊缝缺陷的深度。试块上设置的成圆弧状排列的长横孔一是可以避免斜探头不同扫射方向引起的回波高度不同而造成的检测误差，二是可以提高直探头扫射时的分辨力，在减少试块体积和厚度的情况下，不会降低检测质量。

本实用新型的体积较小，且相较于现有试块，具有存贮方便、易于携带的优点。

附图说明

图1为实施例1的主视结构示意图。

在附图中，1试块、2圆弧面、3外侧凸弧面、4外侧凹弧面、5楔形槽、6第一横通孔、7第二横通孔、8等高阶梯孔、9第一长横孔、10第二长横孔、11第三长横孔、L试块的长度、H试块的高度。

具体实施方式

实施例1

本实施例的试块材质为20号钢，晶粒度7～8级。

如图1所示，本实用新型所述试块1为条状体，所述试块1的长度L是高度H的1.2~2倍，厚度是高度的15%~30%，所述试块1的高度H为30~50mm。本实用新型的试块体积较小，且相较于现有试块，具有存贮方便、易于携带的优点。

所述试块1左侧为半径与所述试块1高度H相同的圆弧面2，试块上设置的圆弧面可用于标准校正，调整扫描速度和检测范围。

所述试块1的上表面为外侧凸弧面3，下表面为外侧凹弧面4，本实用新型所述外侧凸弧面3与外侧凹弧面4的圆弧高度为2~3mm。外侧凸弧面与外侧凹弧面的设置降低了超声波再反射时的能量损失，可以提高测量的精度。

所述外侧凹弧面4上设置有楔形槽5，所述楔形槽5的夹角为30°，高5~8mm。试块上的楔形槽5增加了试块表面缺陷，替代部分对比试块的功能，同时其可用于定量判断焊缝缺陷的深度。

本实用新型所述试块1左侧设置有等高阶梯孔8，所述等高阶梯孔8上方设置有第一横通孔6和第二横通孔7；所述的等高阶梯孔8的外径为5~8mm，内径为3~4mm；所述第一横通孔6和第二横通孔7的圆心位于等高阶梯孔8的中心线上；所述第一横通孔6和第二横通孔7的半径为1mm。同时试块上的等高阶梯孔，可用于调整探头的分辨力；横通孔与等高阶梯孔相配合可用于调整探头扫描线性及灵敏度的调整。

所述试块1右侧设置有呈圆弧状排列的第一长横孔9、第二长横孔10以及第三长横孔11，所述楔形槽5和第三长横孔11在同一垂直线上；所述第一长横孔9、第二长横孔10以及第三长横孔11围成的圆弧的半径为试块体1宽边长度的30%~50%；所述第一长横孔9、第二长横孔10以及第三长横孔11的半径为1mm，长度为所述试块厚度的50%。试块上设置的成圆弧状排列的长横孔一是可以避免斜探头不同扫射方向引起的回波高度不同而造成的检测误差，二是可以提高直探头扫射时的分辨力，在减少试块体积和厚度的情况下，不会降低检测质量。

Claims (7)

1.一种超声波检测试块，其特征在于所述试块（1）为条状体，

所述试块（1）左侧为半径与所述试块（1）高度相同的圆弧面（2），

所述试块（1）的上表面为外侧凸弧面（3），下表面为外侧凹弧面（4），所述外侧凹弧面（4）上设置有楔形槽（5），

所述试块（1）左侧设置有等高阶梯孔（8），所述等高阶梯孔（8）上方设置有第一横通孔（6）和第二横通孔（7），

所述试块（1）右侧设置有呈圆弧状排列的第一长横孔（9）、第二长横孔（10）以及第三长横孔（11），

所述楔形槽（5）和第三长横孔（11）在同一垂直线上。

2.根据权利要求1所述的超声波检测试块，其特征在于所述试块（1）的长度是高度的1.2~2倍，厚度是高度的15%~30%，所述试块（1）的高度为30~50mm。

3.根据权利要求2所述的超声波检测试块，其特征在于所述外侧凸弧面（3）与外侧凹弧面（4）的圆弧高度为2~3mm。

4.根据权利要求3所述的超声波检测试块，其特征在于所述楔形槽（5）的夹角为30°，高5~8mm。

5.根据权利要求4所述的超声波检测试块，其特征在于所述的等高阶梯孔（8）的外径为5~8mm，内径为3~4mm；所述第一横通孔（6）和第二横通孔（7）的圆心位于等高阶梯孔（8）的中心线上；所述第一横通孔（6）和第二横通孔（7）的半径为1mm。

6.根据权利要求5所述的超声波检测试块，其特征在于所述第一长横孔（9）、第二长横孔（10）以及第三长横孔（11）围成的圆弧的半径为试块体（1）宽边长度的30%~50%。

7.根据权利要求6所述的超声波检测试块，其特征在于所述第一长横孔（9）、第二长横孔（10）以及第三长横孔（11）的半径为1mm，长度为所述试块厚度的50%。