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CN203191415U - 用于硬件测试的探头装置 - Google Patents

用于硬件测试的探头装置 Download PDF

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CN203191415U
CN203191415U CN 201320165197 CN201320165197U CN203191415U CN 203191415 U CN203191415 U CN 203191415U CN 201320165197 CN201320165197 CN 201320165197 CN 201320165197 U CN201320165197 U CN 201320165197U CN 203191415 U CN203191415 U CN 203191415U
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CN
China
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probe
magnifier
guide rail
probe apparatus
utility
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Application number
CN 201320165197
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English (en)
Inventor
权志华
李嘉
韦赞坚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZTE Corp
Original Assignee
ZTE Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种用于硬件测试的探头装置,其包括:探头、安装于探头上的探针和传输线,此外,还包括:安装于探头上表面的连接件;与连接件连接的用于放大测试点的放大镜装置。其中,所述连接件为导轨,所述放大镜装置与导轨活动连接或固定连接。所述放大镜装置包括:放大镜;其一端与放大镜转动连接的伸缩件,其另一端与导轨活动连接或固定连接。本实用新型的用于硬件测试的探头装置,结构简单,使用方便,具有管脚、过孔的查看放大功能,提高常规探头使用方便性,并起到保护芯片作用的装置。

Description

用于硬件测试的探头装置
技术领域
本实用新型涉及通信领域的探头,尤其涉及一种具有放大功能的探头装置。
背景技术
随着通信领域的发展,如何使用探头测试单板信号质量问题成为一个重要话题。目前通信领域常用的探头装置如图1所示,包括:探头1’、探针2’、传输线3’等。这样的装置在单板集成度不高,芯片封装管脚粗大,测试点松散的情况下比较实用。
但是,当今通信领域单板集成度越来越高,芯片封装管脚越来越细,测试点越来越密,查看管脚过孔很不方便。当采用上述的探头装置在测试单板信号时,常常存在由于芯片管脚过密而不小心碰到芯片两个管脚、从而造成芯片损坏的情况,因此在使用安全性、使用效率方面存在很大缺陷。
发明内容
本实用新型的目的就是基于上述出发点,提供一种用于硬件测试的探头装置,其结构简单,使用方便,具有管脚、过孔的查看放大功能,提高常规探头使用方便性,并起到保护芯片作用的装置。
为实现本实用新型的上述目的,本实用新型的用于硬件测试的探头装置包括:探头、安装于探头上的探针和传输线,此外,还包括:安装于探头上表面的连接件;与连接件连接的用于放大测试点的放大镜装置。
其中,所述连接件为导轨,所述放大镜装置与导轨活动连接或固定连接。
其中,所述放大镜装置包括:放大镜;其一端与放大镜转动连接的伸缩件,其另一端与所述导轨活动连接或固定连接。
进一步的,所述放大镜装置还包括与放大镜固定连接为一体的支撑框,其具有与所述伸缩件的所述一端转动连接的连接部。
优选的,所述连接部为设于所述支撑框下部的框轴或设于所述支撑框上的通孔。
其中,所述伸缩件的所述另一端设有卡接件,所述导轨两侧设有两个卡槽,所述卡接件的两个夹脚分别夹设于两个卡槽内。
优选的,所述卡接件上还设有两个便于把持的把持部。
或者,所述伸缩件的所述另一端设有滑块,所述导轨上部设有导向槽,所述滑块在所述导向槽内移动。
优选的,所述滑块上还设有两个便于把持的把持部。
其中,所述导轨与所述探头采用可拆卸的连接方式固定连接为一体。
或者,所述导轨与所述探头采用不可拆卸的连接方式固定连接为一体。
与现有技术相比,本实用新型的用于硬件测试的具有放大功能的探头装置具有如下优点:
1)本实用新型的探头装置具有放大镜装置,其可以将密集型的测试点看的更加清晰,从而可以更快的定位测试点所在位置,提高测试效率;
2)本实用新型的放大镜装置可以将芯片管脚以及过孔放大,因此在测试时可以使探针准确的接触测试点,从而避免因误碰到芯片旁边管脚或旁边过孔而导致的芯片损害或单板短路烧坏的情况;
3)本实用新型的探头装置在现有的探头装置的基础上加设导轨和放大镜装置即可实现放大镜的功能,因此改造成本低,而放大镜装置与导轨采用可拆卸的连接方式,从而结构简单,使用方便;
4)本实用新型的放大镜装置在导轨上可以往复移动,而放大镜可以旋转角度,从而更利于查看管脚过孔,使用安全性高。
下面结合附图对本实用新型进行详细说明。
附图说明
图1是现有技术的探头装置的结构示意图;
图2是本实用新型的具有放大功能的探头装置的结构示意图;
图3是本实用新型第一实施例的放大镜装置的结构示意图;
图4是本实用新型的第二实施例的放大镜装置的结构示意图;
图5是本实用新型的第一实施例的导轨的结构示意图;
图6是本实用新型的第二实施例的导轨的结构示意图。
附图标记说明:1’-探头;2’-探针;3’-传输线;1-探头;2-探针;3-传输线;4-连接件;5-放大镜装置;6-放大镜;7-支撑框;8-伸缩件;10-框轴;11-卡接件;12-滑块;13-钩状部;4a-卡槽;4b-导向槽;11a-夹脚;11b、12a-把持部。
具体实施方式
本实用新型的目的是提供一种具有管脚、过孔查看放大功能的探头装置,从而可以提高常规探头装置的使用方便性,并且可以起到保护芯片的作用。
如图2所示,本实用新型的用于硬件测试的探头装置在常规探头装置的基础上,通过改造原有结构、增加新模块,实现了放大镜的功能,具体包括:探头1、安装于探头1上的用于对测试点进行信号测试的探针2和用于将测得的信号进行传递的传输线3,此外,还包括安装于探头1上表面的连接件4、用于对芯片被测点的封装管脚的过孔进行放大的且与连接件连接的放大镜装置5。其中,本实用新型的探头1为示波器探头,连接件4为导轨,导轨可以通过可拆卸的连接方式与探头1固定连接为一体,如采用螺纹连接等;也可以通过不可拆卸的连接方式与探头1固定连接为一体,如采用焊接方式等。如图2所示,本实用新型的放大镜装置5包括:具有放大功能的放大镜6;其一端(即伸缩件的上端,为便于理解,以下统称为上端)与放大镜6转动连接的伸缩件8,其另一端(即伸缩件的下端,为便于理解,以下统称为下端)与导轨活动连接。其中,如图3所示,在放大镜6的底部设有一通孔(图中未示出),在伸缩件的上端设有一钩状部,钩状部从放大镜的所述通孔内穿过,且其外径小于所述通孔的直径,因此其在钩住放大镜的同时还可以使放大镜相对其旋转,从而使放大镜可以根据使用时的实际情况变换角度。本实用新型的伸缩件8具有一定弹性,可以根据使用情况拉长或缩短,如弹簧等。
或者,如图4所示,本实用新型的放大镜装置5还可以包括与放大镜6固定连接为一体的支撑框7,该支撑框7具有与伸缩件8的上端转动连接的连接部。其中,连接部可以为设于支撑框7下部的柱形的框轴10(如图4所示),也可以为设于支撑框7底部的通孔(图中未示出)。
当连接部为框轴10时,伸缩件8的上端设有直径与框轴10的直径相匹配的伸缩件通孔,从而使框轴10可以插入伸缩件通孔内并可在其内转动,进而使放大镜可以根据使用时的实际情况变换角度。
当连接部为支撑框的通孔时,同样可以采用图3中所示的方法,在伸缩件8的上端设有一钩状部,其从支撑框的通孔内穿过,在钩住支撑框的同时还可以使支撑框绕其旋转,从而使放大镜可以变换角度。与上述的在伸缩件8的上端设有一钩状部直接钩住放大镜的方式相比,采用将放大镜6与支撑框7固定连接为一体、且钩状部钩住支撑框7的方式,可以避免频繁的旋转放大镜而使放大镜破裂情况的发生,因此增加了使用的安全性。
本实用新型的放大镜装置5与导轨采用活动连接的方式,从而可以根据芯片封装管脚的粗细程度,将放大镜装置5安装于导轨上或将其从导轨上取下。
具体的,如图4所示,在伸缩件8的下端设有卡接件11,该卡接件11具有两个夹脚11a;而如图6所示,在导轨的两侧设有两个卡槽4a。在需要使用放大镜装置时,将卡接件11的两个夹脚11a分别夹设于导轨的两个卡槽4a内,从而使放大镜装置5可以在导轨上往复移动。此外,在卡接件11上还设有两个便于把持的把持部11b,在使用时可以根据所测实物密度清晰度,捏着卡接件11的把持部11b,使放大镜装置在导轨上自由移动,并且移动到所需位置时两个夹脚11a卡在两个卡槽4a内,此时放大镜装置固定在此位置处并且开始测量。
或者,如图3所示,在伸缩件8的下端设有滑块12;而如图5所示,在导轨上部设有导向槽4b。通过使滑块12在导向槽4b内移动的方式,可以使放大镜装置在导轨上往复移动。同样,为了便于对放大镜装置在导轨上移动时的把持,在滑块12上还设有两个便于把持的把持部12a。
当不需采用放大镜装置时,可以将放大镜装置取下并置放于盒内保存。
当然,根据实际使用情况,本实用新型的放大镜装置5与导轨还可以采用固定连接的方式,即将上述的伸缩件的下端与导轨通过焊接或螺栓连接等方式固定连接为一体。
尽管上文对本实用新型作了详细说明,但本实用新型不限于此,本技术领域的技术人员可以根据本实用新型的原理进行修改,因此,凡按照本实用新型的原理进行的各种修改都应当理解为落入本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种用于硬件测试的探头装置,包括探头(1)、安装于探头(1)上的探针(2)和传输线(3),其特征在于,还包括:
安装于探头(1)上表面的连接件(4);
与连接件(4)连接的用于放大测试点的放大镜装置(5)。
2.根据权利要求1所述的探头装置,其特征在于,所述连接件(4)为导轨,所述放大镜装置(5)与导轨活动连接或固定连接。
3.根据权利要求2所述的探头装置,其特征在于,所述放大镜装置(5)包括:
放大镜(6);
其一端与放大镜(6)转动连接的伸缩件(8),其另一端与所述导轨活动连接或固定连接。
4.根据权利要求3所述的探头装置,其特征在于,所述放大镜装置(5)还包括与放大镜(6)固定连接为一体的支撑框(7),其具有与所述伸缩件(8)的所述一端转动连接的连接部。
5.根据权利要求4所述的探头装置,其特征在于,所述连接部为设于所述支撑框(7)下部的框轴(10)或设于所述支撑框(7)上的通孔。
6.根据权利要求5所述的探头装置,其特征在于,所述伸缩件(8)的所述另一端设有卡接件(11),所述导轨两侧设有两个卡槽(4a),所述卡接件(11)的两个夹脚(11a)分别夹设于两个卡槽(4a)内。
7.根据权利要求6所述的探头装置,其特征在于,所述卡接件(11)上还设有两个便于把持的把持部(11b)。
8.根据权利要求3所述的探头装置,其特征在于,所述伸缩件(8)的所述另一端设有滑块(12),所述导轨上部设有导向槽(4b),所述滑块(12)在所述导向槽(4b)内移动。
9.根据权利要求8所述的探头装置,其特征在于,所述滑块(12)上还设有两个便于把持的把持部(12a)。
10.根据权利要求1所述的探头装置,其特征在于,所述连接件(4)与所述探头采用可拆卸或不可拆卸的连接方式固定连接为一体。
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