CN202815174U - 一种测试机控制箱 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试机控制箱；其包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接；本实用新型通过光耦群和继电器群组合进行信号的切换，各电路模块与外部信号相互隔离，实现自身通道的复用，电路结构简单。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试机，尤其涉及一种测试机控制箱。
背景技术
现有的用于测试PCBA功能的测试机控制箱，具有各种测试电路和数据处理装置。需要完成多项测试功能，导致电路连接结构比较复杂，而且，电路的信号隔离不好，各电路模块容易受到外部信号的影响，抗干扰能力弱。
发明内容
本实用新型提供一种电路结构简单、隔离性强的测试机控制箱。
一种测试机控制箱，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。
其中，还包括LED群，LED群的输入端与光耦群的驱动输出端连接。
其中，LED群包括80个LED。
其中，继电器群包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。
其中，测试电路包括短路测试电路。
其中，测试电路包括欠压保护测试电路。
其中，测试电路包括过压保护测试电路。
其中，测试电路包括压床电路。
其中，数据处理装置包括数据采集卡。
其中，数据处理装置包括虚拟示波器。
本实用新型有益效果：本实用新型包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。本实用新型通过光耦群和继电器群组合进行信号的切换，各电路模块与外部信号相互隔离，隔离性强，抗干扰能力强，实现自身通道的复用，电路结构简单。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参见图1，以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。
一种测试机控制箱，包括光耦群11、继电器群13、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群11的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群11的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群13的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群13的测试端与测试电路连接，继电器群13的信号输出端与数据处理装置连接。I/O控制卡用于通过不同的通道输出控制信号，将控制信号发送到光耦群11，光耦群11控制继电器群13，继电器群11控制对应继电器的通断，从而实现通道切换。当然，测试机控制箱还可以包括箱体、箱盖等常用部件。
本实施例中，还包括LED群10，LED群10的输入端与光耦群11的驱动输出端连接。LED群10包括80个LED。本实施例的I/O控制卡包括96路通道，16路为输入信号通道，80路为输出信号通道。80路输出信号通道可控制80个光耦，每个光耦对应1个LED，当某路输出信号通道发送信号时，对应的LED闪亮，故可以从LED状态查看当前的测试状态。
本实施例中，继电器群13包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。测试机外部信号包括启动或停止压床运动的控制信号，通过I/O控制卡对通道的切换，该控制信号可以切换到压床电路18中，从而实现相应的控制功能。测试用电源为给PCBA供电的电源，在某些项目测试中需要给PCBA供电，通过I/O控制卡对通道的切换，继电器群13可将该电源接通PCBA。输入待测信号包括PCBA输出的各种测试信号，通过I/O控制卡对通道的切换，可将该信号传输到相应的电路模块。
本实施例中，测试电路包括短路测试电路15，欠压保护测试电路16，过压保护测试电路17。测试电路还包括压床电路18。短路测试、欠压保护测试、过压保护测试是PCBA的常见测试项目，在此不再赘述。
本实施例中，数据处理装置包括数据采集卡12、虚拟示波器14。数据采集卡12、虚拟示波器14均连接外部计算机。数据采集卡12用于采集继电器群13输出的信号，虚拟示波器14用于将信号转成图像输出。
实用新型通过光耦群11和继电器群13组合进行信号的切换，各电路模块与外部信号相互隔离，隔离性强，抗干扰能力强，实现自身通道的复用，电路结构简单，大大拓展了测试机的可量测、可控制等特征与指标。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (10)
1.一种测试机控制箱，其特征在于，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，还包括LED群，LED群的输入端与光耦群的驱动输出端连接。
3.根据权利要求2所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述LED群包括80个LED。
4.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述继电器群包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。
5.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述测试电路包括短路测试电路。
6.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述测试电路包括欠压保护测试电路。
7.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述测试电路包括过压保护测试电路。
8.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述测试电路包括压床电路。
9.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述数据处理装置包括数据采集卡。
10.根据权利要求1所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述数据处理装置包括虚拟示波器。
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| CN 201220460061 CN202815174U (zh) | 2012-09-11 | 2012-09-11 | 一种测试机控制箱 |
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| CN 201220460061 CN202815174U (zh) | 2012-09-11 | 2012-09-11 | 一种测试机控制箱 |
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| CN (1) | CN202815174U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110007205A (zh) * | 2019-04-03 | 2019-07-12 | 郑州易昕电子科技有限公司 | 一种用于多台测试仪表间的切换系统及方法 |
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2012
- 2012-09-11 CN CN 201220460061 patent/CN202815174U/zh not_active Expired - Fee Related
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