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CN201788164U - 基于微电阻测试的pcb板质量检测装置 - Google Patents

基于微电阻测试的pcb板质量检测装置 Download PDF

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CN201788164U CN2010205049558U CN201020504955U CN201788164U CN 201788164 U CN201788164 U CN 201788164U CN 2010205049558 U CN2010205049558 U CN 2010205049558U CN 201020504955 U CN201020504955 U CN 201020504955U CN 201788164 U CN201788164 U CN 201788164U
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CN
China
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device based
resistance test
pcb
detecting device
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CN2010205049558U
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王先锋
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SHENZHEN JOVE ENTERPRISE Ltd
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SHENZHEN JOVE ENTERPRISE Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,在PCB板上设置有多个专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔。所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置还设有2个测试孔,所述的导通孔排成一行,2个测试孔分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连。该基于微电阻测试的PCB板质量检测装置在不破坏PCB板的方式下能快速对PCB板进行检测。

Description

基于微电阻测试的PCB板质量检测装置
技术领域
本实用新型属于PCB板制作和测试技术领域,涉及一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置。
背景技术
高层PCB线路板一般在完成钻孔后便需要进行孔金属化,金属化孔质量与多层板质量及可靠性息息相关,金属化孔起着多层印制线路电气互连的作用。但是在PCB线路板孔金属化过程中时常会发生金属化孔内镀铜层断开、孔内镀层薄、以及多层板孔壁与内层铜环连接不良等问题。目前判断孔内镀铜层品质的方法主要通过切片分析,并通过金相显微镜观察分析切片。但此方法势必会伤到了PCB单元而导致PCB单元报废,甚至整块PCB板报废。
实用新型内容
本实用新型要解决技术问题是提供一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,该基于微电阻测试的PCB板质量检测装置在不破坏PCB板的方式下能快速对PCB板进行检测。
本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案是:
一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,在PCB板上设置有多个专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔。
所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置还设有2个测试孔,所述的导通孔排成一行,2个测试孔分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连,2个测试孔通过导通孔和导通孔之间的连线形成电导通。
多个导通孔所具有的孔径大小均不同,多个导通孔按照孔径大小依次等间距设置。
测试孔的孔径为1.0mm,导通孔和测试孔均设置在PCB板的边缘区域。
本实用新型的有益效果:
相比现有技术,本实用新型只在PCB板上设计一排导通孔,测量导通孔首尾的两个测试孔之间的微电阻即可判断金属化孔的品质,避免了对PCB板进行破坏,操作简单易行,且检测快速。
附图说明
图1为实施例1的结构示意图。
图2为实施例各层线路设计示意图。(以四层板为例)
其中,1-PCB板,2-导通孔,3-测试孔,4-导通孔设置区域。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。
实施例1:
如图1所示,一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,在PCB板1上设置有一列专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔2。所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置还设有2个测试孔3,2个测试孔3分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连。多个导通孔所具有的孔径大小均不同,多个导通孔按照孔径大小依次等间距设置。测试孔的孔径为1.0mm,导通孔和测试孔均设置在PCB板的边缘区域。
所述导通孔还可以设置在PCB板的单元与单元之间,但不能设计在板单元之内。所述导通孔首尾两个测试孔之间的导通孔包含该PCB板各种孔径的导通孔。
以四层板为例,如图2所示,两个测试孔分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连,第一个导通孔通过与第二层线路连接实现与第二个导通孔之间导通,第二个导通孔通过与第三层线路连实现到与第四个导通孔之间导通,第四个导通孔通过与第四层线路连接实现与第五个孔之间导通,依此类推,实现两个测试孔与导通孔设置区域内所有导通孔及各层线路之间互联。在PCB板完成孔金属化及线路图形后,就可以安排测试。测试时通过专用的测试夹具测量两个测试孔之间的微电阻来判断整块PCB板是否存在孔金属化异常问题,测量出来的实际值与工程设计值进行比较,若实际值比设计值偏差较小,测说明PCB板1孔金属化正常;若实际值比设计值大许多,甚至无穷大,测说明孔金属化存在异常。

Claims (4)

1.一种基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,其特征在于,在PCB板上设置有多个专用于测试PCB板是否存在孔金属化异常现象的导通孔。
2.根据权利要求1所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,其特征在于,还设有2个测试孔,所述的导通孔排成一行,2个测试孔分别与第一个导通孔和最后一个导通孔相连,2个测试孔通过导通孔和导通孔之间的连线形成电导通。
3.根据权利要求2所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,其特征在于,多个导通孔所具有的孔径大小均不同,多个导通孔按照孔径大小依次等间距设置。
4.根据权利要求3所述的基于微电阻测试的PCB板质量检测装置,其特征在于,测试孔的孔径为1.0mm,导通孔和测试孔均设置在PCB板的边缘区域。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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C14 Grant of patent or utility model
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C17 Cessation of patent right
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Granted publication date: 20110406

Termination date: 20120825