CN201126455Y - 一种信号测试治具 - Google Patents
一种信号测试治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN201126455Y CN201126455Y CNU2007201946389U CN200720194638U CN201126455Y CN 201126455 Y CN201126455 Y CN 201126455Y CN U2007201946389 U CNU2007201946389 U CN U2007201946389U CN 200720194638 U CN200720194638 U CN 200720194638U CN 201126455 Y CN201126455 Y CN 201126455Y
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- signal test
- signal
- test fixture
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种信号测试治具,是用以自待测电子装置表面的测试点引出测试信号,以供信号测试装置进行相关测试,利用夹具对该待测电子装置进行夹紧及松弛,而该夹具具有用以固定探针的固定孔,利用探针的针脚接触该待测电子装置表面测试点,以将测试信号引出至外露于该固定孔的位置,以供该信号测试装置进行电性连接,故不需要进行焊接便能够便利地于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,从而解决现有技术的缺陷。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种信号测试技术,更详而言之,是用以供信号测试装置采集测试信号的信号测试治具。
背景技术
随着科技的不断研发与精进,电子产品的设计,皆朝向高性能、高精度、好质量的共同目标发展。进而,这些电子产品的相关测试变得尤为重要,在测试治具的设计过程中,任何一项改进,只要有益于方便完成测试、提高测试效率及测试质量等实质性的功效的增进,均为具有产业利用价值的发明创造,亦符合专利法鼓励、保护与利用发明创造的精神。
在各种电子装置中,例如内存,需要对内部电路进行相关测试,以此来检验该电子装置的性能及质量。通常,在对该电子装置进行内部电路测试时,用以进行信号测试的信号测试装置不易直接电性连接于该电子装置上。
在测试中,现有的信号测试技术通常会利用导线将待测的电子装置中需要测量的电路信号引出,再与该信号测试装置进行电性连接,而该导线则需要人工焊接于该电子装置对应位置。
然而,随着电子装置的高密度发展,该电子装置上需要进行测量的位置周围电路密集并复杂,而且可提供焊接的空间很小,不仅对焊接技术要求很高,且不便于移动,极易产生焊接错误、或发生短路断路等状况,使得测试结果不准确,甚至会将该电子装置损坏。另外,基于人工焊接的方式,在测试过程中容易由于焊接不稳,而使导线脱落。
又,由于在测试过程中可能需要测试的信号较多,需要反复焊接及拆除焊接,使得测试作业的效率极低,且由于经常进行焊接与拆除焊接,对于该电子装置产生诸多影响。
因此,如何提供一种信号测试治具,能够便利的于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,以供测试装置进行方便稳定的测试,实为目前亟欲解决的问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点,本实用新型的一目的在于提供一种信号测试治具,能够便利地于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,以供测试装置进行方便稳定的测试。
本实用新型的另一目的在于提供一种便于移动的信号测试治具。
本实用新型的再一目的在于提供一种可防短路断路的信号测试治具。
为达到上述及其它目的,本实用新型提供一种信号测试治具,用以自待测电子装置表面的测试点引出测试信号,以供信号测试装置进行相关测试,该信号测试治具包括:夹具,具有一对相互交叉设置的夹持臂、设于该对夹持臂相交处的贯孔、及贯穿该贯孔而轴接该对夹持臂的转动轴,且于该对夹持臂分别包括设于一侧的夹持部、设于该夹持部的固定孔、以及设于另一侧的操作部;以及探针,一端具有供接触该测试点的针脚,另一端则固定并部分外露于该固定孔。
前述信号测试治具中,该对夹持臂为绝缘刚性臂体;该对夹持臂分别具有弯折部,而该贯孔穿设于该弯折部。各该夹持臂为彼此平行。该夹持部内侧设有止滑的软性保护层,以避免损坏该待测电子装置;此时,该探针由该固定孔到该针脚端部的距离大于该保护层的厚度。该固定孔可为螺丝孔,该探针则具有对应的螺纹。该探针复设有供该信号测试装置电性连接的电性连接部,且该电性连接部是设于该探针中另一端而远离该针脚;该探针具有针脚的一端比未具有该针脚的另一端较细。
较佳地,是设置多个固定孔,且该探针为活动性探针,如此可视需要来安装不同数量的探针,且可更换该探针;但当然亦可仅设置一个固定孔。换言之,应用本实用新型可增加探针数量,且若有两个该测试点距离太近,可更换为两个探针(或具更细针脚的探针)、错开摆放多个治具、及/或改变探针设置位置,具有使用便利性。
本实用新型的信号测试治具,是通过操作部进行张合操作使夹持部以转动轴为轴心发生转动,以对待测电子装置进行夹紧及松弛;而该夹持部具有固定孔,该固定孔可供固定探针,以探针的针脚接触该待测电子装置表面的测试点,由此将测试信号引出至针脚外露于该固定孔的电性连接部,以供信号测试装置进行电性连接。
较于现有技术,本实用新型不需要焊接,避免需要焊接所衍生的焊接不良、短路等诸多弊端,而且本实用新型可解决现有技术反复焊接而降低测试工作效率的缺陷。同时,本实用新型设计夹形的信号测试治具,便于移动,且稳定性相对较高。因此,本实用新型可克服现有技术焊接错误、发生短路断路、及焊接不稳等状况所导致的测试结果不准确、电子装置损坏、及导线脱落问题,而能够便利的于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,以供测试装置进行方便稳定的测试。
附图说明
图1A是显示本实用新型的信号测试治具一实施例中应用于夹持待测电子装置的侧视图;以及
图1B是显示图1A的俯视图。
元件标号的简单说明:
10 待测电子装置
100 测试点
20 夹具
22 探针
200 夹持臂
202 贯孔
204 转动轴
206 固定孔
201 操作部
203 夹持部
205 软性保护层
207 弯折部
30 信号测试装置
300 探头
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本实用新型的其它优点与功效。
请一并参阅图1A及图1B,其中,该图1A是显示本实用新型的信号测试治具一实施例中应用于夹持待测电子装置的侧视图;该图1B则是显示图1A的俯视图。如图1A所示,本实用新型的信号测试治具是用以于待测电子装置10表面的测试点100引出测试信号,以供信号测试装置30进行相关测试。于本实施例中,该待测电子装置10为例如内存,该信号测试装置30可选择为示波器,但非局限于此,其它需要引出测试信号以进行相关测试的电子装置与对应信号测试装置均为本实用新型的应用对象。于本实施例中,该信号测试治具包括:夹具20以及穿设于该夹具20的探针22。
该夹具20,具有一对相互交叉设置的夹持臂200,并于各该夹持臂200相交处对应设有贯孔202、及贯穿于该贯孔202并轴接该对夹持臂200的转动轴204,且该夹持臂200于该转动轴204一侧设有多个固定孔206。其中,该对夹持臂200为绝缘刚性臂体,为构成该夹具20的主要结构。于本实施例中,各该夹持臂200相交处可设置弯折部207,用以实现该夹具20在进行夹持作业时,能够保持相互平行,相应的,该贯孔202穿设于该弯折部207处。
为了对该夹具20进行更明确的说明,该对夹持臂200以该转动轴204处为界,其中,各该夹持臂200设有各该固定孔206的一侧具有用以夹持该待测电子装置10的夹持部203,而另一侧则具有形成用以进行张合操作的操作部201。各该夹持部203彼此平行,该固定孔206则设设于该夹持部203。因此,当对该操作部201进行张合操作,使得该夹持部203以该转动轴204为轴心进行从动,而可实现对该待测电子装置10的夹持。
另外,于本实施例中,该夹持部203内侧设有止滑的软性保护层205,且该软性保护层205具有高摩擦系数,用以在对该待测电子装置10进行夹持过程中,该夹持臂200的刚性材料不会直接接触该待测电子装置10,以避免损坏该待测电子装置10的表面电路,且该软性保护层205具有较大的摩擦系数,使得在夹持过程中更加稳定并可提供较佳的手感。应注意的是,于本实施例中,该软性保护层205可为海绵,且可通过粘贴的方式固定于该夹持部203内侧;但于其它实施例中,亦可令该软性保护层205为例如发泡材料、硅胶、布料、乳胶、保丽龙或其它柔软且具有较大的摩擦系数的等效软性保护层,且该软性保护层205结合至该夹持部203内侧的方式亦非局限于本实施例,可例如涂布(coating)、压合等方式。
该探针22,是一端具有用以接触该测试点100的针脚220,另一端固定并部分外露于该固定孔206。于本实施例中,该探针22与该固定孔206固定的另一端具有螺纹,而该固定孔206为螺丝孔,内径具有螺纹,即该探针22可拆卸于该固定孔206,而为一活动性探针;而该探针22可根据具体需要,设计为粗细不同的多种型号,相应的,该固定孔206亦做对应内径的设计。
另外,该探针22另一端外露于该固定孔206处,设有供该信号测试装置30电性连接的电性连接部222,且该电性连接部22是设于该探针22中另一端而远离该针脚220。该电性连接部22例如为一凹槽,以便于该信号测试装置30的探头300采集;该探针22具有针脚220的一端比未具有针脚220的另一端较细,以便于该针脚220对该待测电子装置10表面的测试点100接触。同时,若该夹持部203内侧设有该软性保护层205,则该探针22由该固定孔206到该针脚220端部的距离大于该软性保护层205的厚度,以保证该针脚220能够触及该测试点100。
请参阅图1B,本实施例中所示者是该待测电子装置10表面的测试点100不仅为一个,而设置两个固定孔206。如此,可于该夹持部203对应位置设置间距较小的该固定孔206,且于需要测试的测试点100所对应固定孔206内则固定所需的该探针22(改变该探针22设置位置)。同时,当各该测试点100的间距较小,则可视需要更换该探针22、或错开摆放多个本实用新型的信号测试治具。此外,亦可更换为两个探针22、提供具更细针脚的探针22、错开摆放多个治具。当然,于其它实施例中,所属技术领域中的技术人员亦可视需要设置一个或两个以上的固定孔206,而非以本实施例中所述为限,且此变化为所属技术领域中的技术人员可理解并据以实施的,故于此不再另绘附图说明。
综上所述,相比于现有技术,本实用新型的信号测试治具是是通过操作部控制夹形的夹持部,以对待测电子装置进行夹紧及松弛,不需焊接且方便移动。同时,该夹持部具有固定孔,该固定孔可供拆卸自如地固定探针,以探针的针脚接触该待测电子装置表面测试点,由此将测试信号引出至外露于该固定孔的电性连接部,以供信号测试装置进行电性连接。较于现有技术中不仅由于需要焊接,而出现焊接不良、短路断路等诸多弊端,而且反复焊接影响了测试工作效率,本实用新型不需要进行焊接,能够便利的于待测电子装置中采集需要测试的测试信号,以供测试装置进行方便稳定的测试。
上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效,而非用于限制本实用新型。任何本领域技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本实用新型的权利保护范围,应以权利要求书的范围为依据。
Claims (10)
1、一种信号测试治具,用以自待测电子装置表面的测试点引出测试信号,以供信号测试装置进行相关测试,其特征在于,该信号测试治具包括:
夹具,具有一对相互交叉设置的夹持臂、设于该对夹持臂相交处的贯孔、及贯穿该贯孔而轴接该对夹持臂的转动轴,且各该夹持臂包括设于一侧的夹持部、设于该夹持部的固定孔、以及设于另一侧的操作部;以及
探针,一端设有供接触该测试点的针脚,另一端则固定并部分外露于该固定孔。
2、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该对夹持臂为绝缘刚性臂体。
3、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该对夹持臂分别具有弯折部,而该贯孔穿设于该弯折部。
4、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:各该夹持臂的夹持部为彼此平行。
5、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该夹持部内侧设有止滑的软性保护层。
6、根据权利要求5所述的信号测试治具,其特征在于:该探针由该固定孔到该针脚端部的距离大于该保护层的厚度。
7、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该固定孔为螺丝孔,该探针则具有对应的螺纹。
8、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该探针设有供该信号测试装置电性连接的电性连接部,且该电性连接部是设于该探针中另一端而远离该针脚。
9、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:该探针具有该针脚的一端比未具有该针脚的另一端较细。
10、根据权利要求1所述的信号测试治具,其特征在于:设置多个固定孔,且该探针为活动性探针。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNU2007201946389U CN201126455Y (zh) | 2007-11-19 | 2007-11-19 | 一种信号测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNU2007201946389U CN201126455Y (zh) | 2007-11-19 | 2007-11-19 | 一种信号测试治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN201126455Y true CN201126455Y (zh) | 2008-10-01 |
Family
ID=39999923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNU2007201946389U Expired - Fee Related CN201126455Y (zh) | 2007-11-19 | 2007-11-19 | 一种信号测试治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN201126455Y (zh) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105182013A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-12-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板测试夹具 |
CN105424989A (zh) * | 2015-12-10 | 2016-03-23 | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 | 一种翻转压合检测装置 |
CN107564829A (zh) * | 2017-08-24 | 2018-01-09 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 用于tsv封装芯片的内部信号量测的方法 |
CN109116214A (zh) * | 2018-03-30 | 2019-01-01 | Tcl王牌电器(惠州)有限公司 | 机芯主板的LVDS/V-by-one信号测试治具 |
CN110187153A (zh) * | 2018-02-22 | 2019-08-30 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 夹式探针组件 |
CN114583480A (zh) * | 2020-12-01 | 2022-06-03 | 广东湾区智能终端工业设计研究院有限公司 | 连接装置和射频测试设备 |
-
2007
- 2007-11-19 CN CNU2007201946389U patent/CN201126455Y/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105182013A (zh) * | 2015-08-28 | 2015-12-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板测试夹具 |
CN105182013B (zh) * | 2015-08-28 | 2018-07-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板测试夹具 |
CN105424989A (zh) * | 2015-12-10 | 2016-03-23 | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 | 一种翻转压合检测装置 |
CN107564829A (zh) * | 2017-08-24 | 2018-01-09 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 用于tsv封装芯片的内部信号量测的方法 |
CN107564829B (zh) * | 2017-08-24 | 2020-09-04 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 用于tsv封装芯片的内部信号量测的方法 |
CN110187153A (zh) * | 2018-02-22 | 2019-08-30 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 夹式探针组件 |
CN110187153B (zh) * | 2018-02-22 | 2021-04-13 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 夹式探针组件 |
CN109116214A (zh) * | 2018-03-30 | 2019-01-01 | Tcl王牌电器(惠州)有限公司 | 机芯主板的LVDS/V-by-one信号测试治具 |
CN114583480A (zh) * | 2020-12-01 | 2022-06-03 | 广东湾区智能终端工业设计研究院有限公司 | 连接装置和射频测试设备 |
CN114583480B (zh) * | 2020-12-01 | 2024-03-19 | 广东湾区智能终端工业设计研究院有限公司 | 连接装置和射频测试设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN201126455Y (zh) | 一种信号测试治具 | |
CN202018494U (zh) | 四线式pcb测试治具 | |
US7397255B2 (en) | Micro Kelvin probes and micro Kelvin probe methodology | |
CN106546777A (zh) | 一种基于rj45接口的10g以太网信号测试治具 | |
CN103149252A (zh) | 一种电阻式钢桥疲劳裂纹检测装置 | |
CN103941047B (zh) | 一种电路板信号测试夹 | |
CN206378533U (zh) | 一种用于fip导电胶水的表面电阻测试装置 | |
JP3145882U (ja) | 回路基板測定ジグ | |
CN2350769Y (zh) | 探棒新结构 | |
CN207301129U (zh) | 具有手动清洁功能的pcb板测试夹具装置 | |
CN214669178U (zh) | 一种电子原件测试工装 | |
JP6407511B2 (ja) | 配線回路基板の導通検査方法および配線回路基板の製造方法 | |
CN205484442U (zh) | 多功能万用表笔 | |
CN201069462Y (zh) | 电路基板的测量装置 | |
CN204375299U (zh) | 一种新型印刷电路板 | |
JPH05144895A (ja) | プローブカード | |
TW201531717A (zh) | 靜電測試治具 | |
TW200928397A (en) | Circuit board test clamp | |
TW504575B (en) | Copper electric type test fixture for circuit board | |
CN201184889Y (zh) | 用于测试薄膜电池组件电性能的探针 | |
CN112698098B (zh) | 一种测量卷带包裹式电阻装置 | |
CN206516204U (zh) | 一种物理教学的电学实验装置 | |
CN209043975U (zh) | 一种基于激光打标机的线圈阻抗测量装置 | |
CN208921750U (zh) | 一种伏安法精确测试直流电阻的线夹及电阻测试电路 | |
CN211905571U (zh) | 一种机电设备外部绝缘检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20081001 Termination date: 20151119 |
|
EXPY | Termination of patent right or utility model |