[go: up one dir, main page]

CN1841077B - 多个测试流的校准信息的汇编 - Google Patents

多个测试流的校准信息的汇编 Download PDF

Info

Publication number
CN1841077B
CN1841077B CN2005101318722A CN200510131872A CN1841077B CN 1841077 B CN1841077 B CN 1841077B CN 2005101318722 A CN2005101318722 A CN 2005101318722A CN 200510131872 A CN200510131872 A CN 200510131872A CN 1841077 B CN1841077 B CN 1841077B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
calibration information
calibration
proving installation
testing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2005101318722A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1841077A (zh
Inventor
周正容
徐益
凯·伊克
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Inovys Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inovys Corp filed Critical Inovys Corp
Publication of CN1841077A publication Critical patent/CN1841077A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1841077B publication Critical patent/CN1841077B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

在一个实施例中，首先获得对多个测试流的选择。每个测试流指定自动测试设备(ATE)应该如何测试至少一个设备。然后为每个测试流识别校准信息，并且消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，以便在ATE和所选测试流上执行集中校准。

Description

多个测试流的校准信息的汇编 
技术领域
本发明涉及测试，尤其涉及多个测试流的校准信息的汇编。 
背景技术
在制造和/或销售电气设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)这样的系统或组件)之前，通常测试设备以确定它是否是按所设计的方式构建或工作的。通常，此测试是由自动测试设备(ATE，也称为“测试仪”)来执行的。 
要使ATE的结果有意义，ATE需要被校准。即必须量化在不同条件和测试设置下的测试期间ATE可能引入的固有系统误差。量化ATE的固有系统误差的数据常被称为“校准数据”，并且可以包括一个或多个“校准因子”。校准数据一旦被生成，就被用于从原始测试数据中消除ATE的固有系统误差。 
一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是直接测量它们。通常，这类校准包括将各种ATE探针耦合到一个或多个已知正确的“校准标准”，进行测量，然后将测量结果与预期的测量结果相比较。 
另一种描述ATE的固有系统误差的特征的方法是经由数学模型来模拟它们。然后可根据模型计算校准数据(虽然仍然有必要利用一个或多个校准标准来获取某些测量结果)。 
校准数据一般分成两类：1)“系统校准数据”，其描述ATE的核心结构的特征(例如ATE的仪器和基本结构-通常是ATE的那些在测试不同设备时再次使用的部件)，以及2)“集中(focused)校准数据”，其描述不同测试设置下ATE的特征。测试设置例如可以指定测试发生时的物理和电气参数，例如包括关于测试期间将使用的ATE测试路径的指示及其配置(例如包括关于激励和/或测量路径的指示，以及关于哪些ATE引脚会被耦合到设备的哪些引脚的指示)；关于测试频率的指示(例如包括测试频率范围)；关于调制格式的指示；关于测量带宽的指示；或者关于功率或电压级别的指示。
发明内容
在一个实施例中，一种计算机实现的测试方法包括：1)获得对多个测试流的选择，所述多个测试流中的每一个指定ATE应该如何测试至少一个设备；2)识别每个测试流的校准信息；以及3)消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用于在ATE和所选测试流上执行集中校准。 
还公开了其它实施例。 
本发明的示例性实施例在附图中示出，附图中： 
图1示出用于执行多个测试流的集中校准的示例性计算机实现的方法；以及 
图2示出示例性图形用户界面，通过该界面可提示用户根据图1的方法选择测试流。 
由于ATE特性的漂移，ATE必须被周期性地重新校准。当涉及集中校准时，这意味着为要用ATE测试的每个设备的每个测试流执行单独的集中校准过程。从而，例如如果ATE被用于测试三个设备，其中每一个被用一组五个设备特定的测试流来测试，则需要周期性地执行十五个不同的集中校准过程。为了降低与执行这些集中校准过程相关联的开销，图1示出了一种用于执行多个测试流的集中校准的新颖的计算机实现的方法。 
这里所定义的“测试流”是指定ATE应该如何测试至少一个设备的测试程序的任何部分。例如，测试流可指定ATE要执行的测试的类型、数目和顺序。 
方法100开始于在102获得对多个测试流的选择。在一个实施例中，这是通过提示用户提供对测试流的选择来完成的。在某些情况下，这可以通过向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表来完成(例如通过显示定制列表，或者仅仅显示存储测试流的目录结构(或文件路径))。在其它情况下，可通过向用户呈现设备列表来提示用户。通过这种方式，用户对一个或多个设备的选择可被解释为对与该设备相关联的测试流的选择。 
如图2所示，还可利用图形用户界面(GUI 200)来提示用户选择测试流，图形用户界面显示设备的列表202以及它们的相关联的测试流的列表204。通过这种方式，用户可独立或通过设备选择测试流(例如经由相关联的复选框206或无线按钮)。 
在另一实施例中，方法100从文件或从另一进程或应用程序获得对测试流的选择。 
在获得对多个测试流的选择之后，方法100在104继续进行每个测试流的校准信息的识别。校准信息可包括与执行集中校准过程相关联的任何信息，例如包括测试设置，测试设置例如是关于测试期间将使用的ATE测试路径的指示及其配置(例如包括关于激励和/或测量路径的指示，以及关于哪些ATE引脚会被耦合到设备的哪些引脚的指示)；关于测试频率的指示(例如包括测试频率范围)；关于调制格式的指示；关于测量带宽的指示；或者关于功率或电压级别的指示。在大多数情况下，将从所选测试流中直接识别校准信息。但是，有时也可从其它源中识别校准信息。 
在识别校准信息之后(或之时)，在106消除识别出的校准信息中的冗余，以便汇编一组非冗余信息，用于在ATE和所选测试流上执行集中校准。通过这种方式，与为多个测试流中的每一个执行多个校准过程相比，可更高效地执行集中校准。在某些情况下，冗余校准信息可在校准信息被识别之时被消除。在其他情况下，冗余校准信息可以直到校准信息被识别并被积累后才被消除。 
在一个实施例中，校准信息中的冗余是通过识别指定相同硬件要求的校准信息来消除的。或者，冗余可通过识别指定相同测试设置(可包括关 于相似硬件要求的指示)的校准信息来消除。冗余还可通过识别指定具有定义相似性的硬件要求或测试设置的校准信息来消除。 
在某些情况下，由方法100所汇编的该组非冗余信息可在108被呈现给用户，以便编辑。在已编辑或未编辑的情况下，方法100然后可在110执行集中校准，以生成ATE和所选测试流的一组校准数据。 
方法100可通过分布、加载或安装存储在多个机器可读介质(例如一个或多个固定或可移动存储器或盘)上的指令序列来实现。指令序列在被机器(例如计算机或计算机网络)执行时，可使机器执行该方法的操作。 

Claims (20)

1.一种计算机实现的测试方法，包括：
获得对多个测试流的选择，所述多个测试流中的每一个指定自动测试设备应该如何测试至少一个设备；
识别所述多个测试流中的每一个的校准信息；以及
消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用于在所述自动测试设备和所选测试流上执行集中校准。
2.如权利要求1所述的测试方法，其中所述对多个测试流的选择是通过提示用户提供对测试流的选择来获得的。
3.如权利要求2所述的测试方法，其中所述提示包括向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表。
4.如权利要求1所述的测试方法，其中所述多个测试流对应于多个设备。
5.如权利要求1所述的测试方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同硬件要求的校准信息来消除的。
6.如权利要求1所述的测试方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试硬件的校准信息来消除的。
7.如权利要求1所述的测试方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同测试设置的校准信息来消除的。
8.如权利要求1所述的测试方法，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试设置的校准信息来消除的。
9.如权利要求1所述的测试方法，还包括执行所述集中校准以生成所述ATE和所选测试流的一组校准数据。
10.一种计算机实现的测试装置，包括：
用于获得对多个测试流的选择的装置，所述多个测试流中的每一个指定自动测试设备应该如何测试至少一个设备；
用于识别所述多个测试流中的每一个的校准信息的装置；以及
用于消除识别出的校准信息中的冗余，以汇编一组非冗余信息，用来在所述自动测试设备和所选测试流上执行集中校准的装置。
11.如权利要求10所述的测试装置，其中所述对多个测试流的选择是通过提示用户提供对测试流的选择来获得的。
12.如权利要求11所述的测试装置，其中所述提示包括向用户呈现用户可从中选择测试流的测试流列表。
13.如权利要求11所述的测试装置，其中所述提示包括向用户呈现设备列表。
14.如权利要求11所述的测试装置，其中所述提示包括向用户呈现设备及其相关联的测试流的列表。
15.如权利要求10所述的测试装置，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同硬件要求的校准信息来消除的。
16.如权利要求10所述的测试装置，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试硬件的校准信息来消除的。
17.如权利要求10所述的测试装置，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定相同测试设置的校准信息来消除的。
18.如权利要求10所述的测试装置，其中所述识别出的校准信息中的冗余是通过识别指定具有定义相似性的测试设置的校准信息来消除的。
19.如权利要求10所述的测试装置，其中所述测试装置还包括：
用于执行所述集中校准以生成所述ATE和所选测试流的一组校准数据的装置。
20.如权利要求10所述的测试装置，其中所述测试装置还包括：
用于向用户呈现所述非冗余信息组以便编辑的装置。 
CN2005101318722A 2005-03-28 2005-12-15 多个测试流的校准信息的汇编 Active CN1841077B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/091,681 US7290189B2 (en) 2005-03-28 2005-03-28 Compilation of calibration information for plural testflows
US11/091,681 2005-03-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1841077A CN1841077A (zh) 2006-10-04
CN1841077B true CN1841077B (zh) 2011-04-20

Family

ID=37030177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005101318722A Active CN1841077B (zh) 2005-03-28 2005-12-15 多个测试流的校准信息的汇编

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7290189B2 (zh)
KR (1) KR20060103878A (zh)
CN (1) CN1841077B (zh)
DE (1) DE102005058874A1 (zh)
TW (1) TW200634581A (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7888947B2 (en) * 2007-11-21 2011-02-15 Teradyne, Inc. Calibrating automatic test equipment
CN104422801A (zh) * 2013-08-28 2015-03-18 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 负载板、自动测试设备和ic测试方法
US9494671B2 (en) * 2013-11-08 2016-11-15 Advantest Corporation Method and apparatus for improving differential direct (DC) measurement accuracy

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1040698A (zh) * 1988-09-02 1990-03-21 三菱电机株式会社 错误校正电路
US5426585A (en) * 1991-03-29 1995-06-20 Cummins Electronics Company, Inc. Method and apparatus for generating calibration information for an electronic engine control module
US6367041B1 (en) * 1998-03-19 2002-04-02 Xilinx, Inc. Self-adaptive test program

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5400263A (en) * 1992-04-06 1995-03-21 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for specifying the flow of test execution and the binning for a testing system
US7113883B1 (en) * 2001-08-24 2006-09-26 Vi Technology, Inc. Test configuration and data management system and associated method for enterprise test operations
US7076388B2 (en) * 2004-05-05 2006-07-11 Agilent Technologies, Inc. Methods and apparatus for handling test number collisions

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1040698A (zh) * 1988-09-02 1990-03-21 三菱电机株式会社 错误校正电路
US5426585A (en) * 1991-03-29 1995-06-20 Cummins Electronics Company, Inc. Method and apparatus for generating calibration information for an electronic engine control module
US5426585B1 (en) * 1991-03-29 2000-10-10 Cummins Engine Co Inc Method and apparatus for generating calibration information for an electronic engine control module
US6367041B1 (en) * 1998-03-19 2002-04-02 Xilinx, Inc. Self-adaptive test program

Also Published As

Publication number Publication date
DE102005058874A1 (de) 2006-11-23
CN1841077A (zh) 2006-10-04
TW200634581A (en) 2006-10-01
US7290189B2 (en) 2007-10-30
KR20060103878A (ko) 2006-10-04
US20060236167A1 (en) 2006-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7376876B2 (en) Test program set generation tool
US9864003B1 (en) Automated waveform analysis using a parallel automated development system
CN102520332B (zh) 晶圆测试装置及方法
CN107515370A (zh) 一种pcba检测装置及检测方法
US10151791B1 (en) Automated waveform analysis methods using a parallel automated development system
CN113342692B (zh) 测试用例自动生成方法、装置、电子设备及存储介质
CN107038697A (zh) 用于诊断半导体晶圆的方法和系统
US6876207B2 (en) System and method for testing devices
CN1804648B (zh) 自动测试装置校准因子的递增产生
US8102180B2 (en) CPU voltage testing system and method thereof
US20050022086A1 (en) Method for generating tester controls
JP2004004050A (ja) 試験実行システムを供給する製品および試験実行システムを動作させる方法
CN1841077B (zh) 多个测试流的校准信息的汇编
US20090164931A1 (en) Method and Apparatus for Managing Test Result Data Generated by a Semiconductor Test System
JP6644577B2 (ja) 試験システム
CN107346128A (zh) 用于锁控板的自动化测试方法和系统
CN106650138B (zh) 一种自动实现静态和动态时序分析对比的方法
CN111078526A (zh) 一种测试用例的生成方法、装置及存储介质
CN116125256A (zh) 一种比较器的参数测试方法及系统
WO2008010648A1 (en) Matching method for multiple stuck-at faults diagnosis
US20030208747A1 (en) Method for debugging an integrated circuit
CN207008007U (zh) 一种对pcba进行自动测试的装置
CN100592097C (zh) 具有板上表征单元的ic
CN106338747A (zh) 基于多模多频oem板卡失锁重捕获测试方法
CN116203856B (zh) 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20080418

Address after: Singapore Singapore

Applicant after: Verigy Pte Ltd Singapore

Address before: American California

Applicant before: Anjelen Sci. & Tech. Inc.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: ADVANTEST (SINGAPORE) PTE. LTD.

Free format text: FORMER OWNER: VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD.

Effective date: 20120425

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20120425

Address after: Singapore Singapore

Patentee after: Verigy Pte Ltd Singapore

Address before: Singapore Singapore

Patentee before: Inovys Corp.

ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: ADVANTEST CORP.

Free format text: FORMER OWNER: ADVANTEST (CHINA) CO., LTD.

Effective date: 20150430

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20150430

Address after: Tokyo, Japan, Japan

Patentee after: ADVANTEST CORP

Address before: Singapore Singapore

Patentee before: Verigy Pte Ltd Singapore