CN1308940C - 伺服误差信号生成电路以及伺服误差信号生成方法 - Google Patents
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Abstract
现在为了提高误差信号精度而受光元件输出信号数增加，所以在AD变换器的每个采样周期的变换次数增加，不得不大幅度提高AD变换器的变换速度，或者使伺服的采样频率下降。本发明的伺服误差信号生成电路由以下部分构成：在第1采样定时采样第1检测信号的第1采样单元；在周期性间隔取得上述第1采样定时的第2采样定时，采样第2检测信号的第2采样单元；AD转换用上述第1以及第2采样单元采样的数据的AD变换单元；对从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据，补足由上述采样定时生成单元间隔取得的定时的采用数据的补足单元。
Description
技术领域
本发明涉及光盘重放装置的伺服误差信号生成电路以及伺服误差信号生成方法。
背景技术
近年，关于光盘重放装置的伺服误差生成电路，为了提高伺服误差信号的精度，例如在专利文献特开2000-82226中揭示了新的光学系统和伺服误差检测方法。
在上述文献中揭示了除了主光束受光元件外，还设置子光束受光元件，根据计算处理子光束受光元件输出的结果修正从主光束受光元件得到的伺服误差信号的技术。而且，由此防止透镜偏移引起的跟踪误差信号的偏移、跟踪交叉信号对聚焦误差信号的干扰。
另外，也在发展电路的数字化，一般是对伺服误差信号的计算前的信号进行AD变换，用数字电路进行伺服误差计算处理。
图10是展示采用上述方法进行伺服误差信号修正时的以往的伺服误差信号生成电路的构成的框图。
在图10中，以往的伺服误差信号生成电路被连接在主受光元件101以及子受光元件102上，其构成包含：错误信号1F生成单元103f；错误信号2F生成单元104f；错误信号1T生成单元103t；错误信号2T生成单元104t；开关105a～105d；采样单元106；ADC107；寄存器108f、109f、108t、109t；加法器110f、110t。
主光束受光元件101是检测相对于主光束来自光盘的反射光的元件。另外，子光束受光元件102是检测相对于子光束来自光盘的反射光的元件，检测用于辅助或者修正来自主光束受光元件101的检测信号的信号。
错误信号1F生成单元103f是计算来自主光束受光元件101的输出，输出聚焦侧的主误差信号(Fmain)的单元，错误信号2F生成单元104f是计算来自子光束受光元件102的输出，输出聚焦侧的子误差信号(Fsub)的单元。
另外，错误信号1T生成单元103t是计算来自主光束受光元件101的输出，输出跟踪侧的主误差信号(Tmain)的元件，错误信号2T生成单元104t是计算来自子受光元件102的输出，输出跟踪侧的子误差信号(Tsub)的元件。
采样单元106是以4分割了规定的采样周期的定时切换开关105a～d，把从错误信号1F生成单元103f、错误信号2F生成单元104f、错误信号1T生成单元103t以及错误信号2T生成单元104t分别输出的信号顺序输出到ADC的单元。
ADC107是进行输入的信号的AD变换的变换单元。
寄存器108f是暂时存储用ADC107进行AD变换后的错误信号1F生成单元103f的输出信号的寄存器。寄存器109f是暂时存储用ADC107进行AD变换后的错误信号2F生成单元104f的输出信号的寄存器。寄存器108t是暂时存储用ADC107进行AD变换后的错误信号1T生成单元103t的输出信号的寄存器。另外，寄存器109t是暂时存储用ADC107进行AD变换后的错误信号2T生成单元104t的输出信号的寄存器。
加法器110f是加算来自寄存器108f的输出和来自寄存器109f的输出得到作为误差信号输出的聚焦错误信号输出的加法器。另外，加法器110t是加算来自寄存器108t的输出和来自寄存器109t的输出，得到作为误差信号输出的跟踪错误信号输出的加法器。
以下，说明动作。
首先，接收到来自主光束受光元件101的输出信号的错误信号1F生成单元103f以及错误信号1T生成单元103分别生成Fmain、Tmain信号。另外，接收到来自主子光束受光元件102的输出信号的错误信号2F生成单元104f以及错误信号2T生成单元104t分别生成Fsub、Tsub信号。
以下，通过进行采样单元106的开关105a～105d的切换控制，在采样周期内顺序将在错误信号1F生成单元103f、错误信号1T生成单元103、错误信号2F生成单元104f以及错误信号2T生成单元104t中生成的Fmain、Fsub、Tmain、Tsub的4个信号输出到ADC107。
在ADC107中，对顺序输入的信号进行AD转换。而后，将经AD转换的Fmain、Fsub、Tmain、Tsub的4个信号分别存储在寄存器108f、109f、108t、109t中。
其后，加法器110f、110t在每1采样周期，读出存储在寄存器108f、109f、108t、109t中的数据，进行伺服误差信号的计算。由此，在每一采样周期fs，可以得到修正后的聚焦误差信号以及跟踪误差信号。
以下，用图11说明采样单元106的动作。
图11是用于说明采样单元106的动作的时序图。
如图所示，采样单元106进行开关105a～105d的切换控制，在采样周期内，以图示的次序顺序输出在错误信号1F生成单元103f中生成的FM(Fmain)、在错误信号1T生成单元103t中生成的TM(Tmain)、在错误信号2F生成单元104f中生成的FS(Fsub)、在错误信号2T生成单元104t中生成的TS(Tsub)。
以下，用图12的波形图说明以往的伺服误差检测电路的动作。
图12是用于说明以往的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
在图12中，从上开始分别表示以下信号：采样定时(fs)、作为错误信号1F生成单元103f或者错误信号1T生成单元103t的输出的主误差信号(main)、作为错误信号2F生成单元104f或者错误信号2T生成单元104t的输出的子误差信号(sub)、存储在寄存器108f或者108t中的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、存储在寄存器109f或者109t中的子误差信号的AD变换输出(subAD)、从加法器110f或者110t输出的误差信号(error signal)。
由采样单元106在采样定时fs采样主误差信号(main)和子误差信号(sub)，得到mainAD和subAD。
另外，如特开2000-82226号公报所示那样，mainAD和subAD的推挽跟踪错误成分具有逆相的关系，基于透镜偏移的偏离成分具有同相的关系，因此通过在每个采样定时fs将mainAD和subAD相加，能够得到除去了基于透镜偏移的偏离成分后的推挽跟踪错误信号(error signal)。
另外，同样，mainAD和subAD的散射聚焦错误成分具有同相的关系，跟踪交叉漏入成分具有逆相的关系，因此通过在每个采样定时fs对mainAD和subAD进行减算，能够得到除去了跟踪交叉漏入成分后的散射聚焦错误信号。
[专利文献1]特开2000-82226号公报
但是，在以往的伺服误差信号生成电路中，如图11所示，因为包含主误差信号和子误差信号而需要在采样周期内进行4个信号的AD变换，所以AD变换器的变换时间必须在采样周期的1/4以内，与只变换主误差信号的情况相比，存在要求2倍的变换速度的问题。
另外，当AD变换器的处理速度不充分的情况下，存在需要降低采样频率的问题。
发明内容
本发明就是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供一种即使在被安装在伺服误差信号生成电路中的AD变换器的变换速度慢的情况下，也可以一边维持由子误差信号产生的误差信号的修正效果，一边维持高的采样频率的伺服误差信号生成电路。
为了解决上述问题，本发明的方案1所述的伺服误差信号生成电路是是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光生成伺服误差信号的伺服误差信号生成电路，其特征在于包括：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD转换的AD变换单元；补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，上述补足单元在使用由上述第2采样单元采样的此前的采样数据的值进行补足后，补偿经该补足后的数据的相位延迟。
另外，本发明的方案2所述的伺服误差信号生成电路是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光生成伺服误差信号的伺服误差信号生成电路，其特征在于包括：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD转换的AD变换单元；补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，上述补足单元包括：检测在上述第1采样单元中采样的数据和在该数据之前在上述第1采样单元中采样的数据的差值的差值检测单元；输出用上述第2采样单元采样的此前的采样数据的保持单元；对于从上述保持单元输出的此前的采样数据的值，通过减去或者加上在上述差值检测单元中检测出的差值而生成补足数据的差值补足单元。
另外，本发明的方案3所述的伺服误差信号生成电路的特征在于：在方案2所述的伺服误差信号生成电路中，在上述差值检测单元的前后的一边或者两边，进一步设置用于除去噪声的低通滤波器。
另外，本发明的方案4所述的伺服误差信号生成方法是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光，生成伺服误差信号的伺服误差信号生成方法，其特征在于包括：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样步骤；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成步骤；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样步骤；对在上述第1采样步骤以及上述第2采样步骤中采样的数据进行AD变换的AD变换步骤；补足在上述AD变换步骤中经AD变换的在上述第2采样步骤中采样的数据的、在上述子采样定时生成步骤中被间隔取得的定时的数据的补足步骤；输出用在上述AD变换步骤中进行了变换的在上述第1采样步骤中采样的数据加上或减去在上述补足步骤中补足了的数据的结果的修正步骤，上述补足步骤在使用在上述第2采样步骤中被采样的此前的采样数据的值进行补足后，补偿经该补足后的数据的相位延迟。
另外，本发明的方案5所述的伺服误差信号生成方法是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光，生成伺服误差信号的伺服误差信号生成方法，其特征在于包括：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样步骤；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成步骤；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样步骤；对在上述第1采样步骤以及上述第2采样步骤中采样的数据进行AD变换的AD变换步骤；补足在上述AD变换步骤中经AD变换的在上述第2采样步骤中采样的数据的、在上述子采样定时生成步骤中被间隔取得的定时的数据的补足步骤；输出用在上述AD变换步骤中进行了变换的在上述第1采样步骤中采样的数据加上或减去在上述补足步骤中补足了的数据的结果的修正步骤，上述补足步骤包含：检测在上述第1采样步骤中采样的数据和在该数据之前在上述第1采样步骤中采样的数据的差值的差值检测步骤；输出用上述第2采样步骤采样的此前的采样数据的保持步骤；对于从上述保持步骤输出的此前的采样数据的值，通过减去或者加上在上述差值检测步骤中检测出的差值，生成补足数据的差值补足步骤。
如果采用本发明，则包含：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD转换的AD变换单元；补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，上述补足单元在使用由上述第2采样单元采样的此前的采样数据的值进行补足后，补偿经该补足后的数据的相位延迟。由此，即使AD变换器的变换速度慢，也可以得到一边维持第2检测信号对第1检测信号的修正效果一边维持高的采样频率的效果，并且，通过修正基于补足的相位延迟，能够得到以下的效果，即能够除去对伺服性能的恶劣影响。
另外，如果采用本发明，由于包含：在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD转换的AD变换单元；补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，上述补足单元具有：检测用上述第1采样单元采样的数据和在该数据之前由上述第1采样单元采样的数据的差值的差值检测单元；输出用上述第2采样单元采样的此前的采样数据的保持单元；对从上述保持单元输出的此前的采样数据的值，通过减去或者加上在上述差值检测单元中检测出的差值的值而生成补足数据的差值补足单元，因而具有能够以简单的电路结构进行高精度的补足处理的效果。
如果采用本发明，则由于在上述差值检测单元的前后的一方或双方进一步设置用来除去噪音的低通滤波器，所以能够得到更高精度的修正效果。
附图说明
图1是展示本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的构成一例的框图。
图2是用于说明第1采样单元以及第2采样单元的动作的时序图。
图3是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的动作的动作波形图。
图4是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第1补足处理的框图。
图5是用于说明进行了第1补足处理的情况下的本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路动作的动作波形图。
图6是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第2补足处理的框图。
图7是用于说明进行了第2补足处理的情况下的本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路动作的动作波形图。
图8是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第3补足处理的框图。
图9是用于说明进行了第3补足处理的情况下的本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路动作的动作波形图。
图10是展示以往的伺服误差信号生成电路的构成的框图。
图11是用于说明以往的采样单元的动作时序图。
图12是用于说明以往的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
具体实施方式
(实施例1)
本发明的伺服误差信号生成电路对于来自主受光元件的信号的采样频率，通过使来自子受光元件的信号的采样频率降低而进行AD变换处理，谋求减轻AD变换单元的处理负担。
图1是展示本发明实施例1的伺服误差信号生成电路的构成一例的框图。
在图1中，本发明实施例1的伺服误差信号生成电路被连接在主光束受光元件1以及子光束受光元件2上，由以下部分构成：错误信号1F生成单元3f；错误信号2F生成单元4f；错误信号1T生成单元3t；错误信号2T生成单元4t；开关5a～5d；第1采样单元6；采样定时生成单元7；第2采样单元8；ADC9；寄存器10f、11f、10t、11t；补足单元12f、12t；加法器13f、13t。
主光束受光元件1由多个受光元件组成，用多个受光元件检测从光盘对主光束的反射光(以下，把此检测信号适宜地作为第1检测信号)。另外，子光束受光元件2由多个受光元件组成，用多个受光元件检测从光盘对子光束的反射光(以下，把此检测信号适宜地作为第2检测信号)，并检测用来辅助或修正来自主光束受光元件1的检测信号的信号。
错误信号1F生成单元3f计算来自主光束受光元件1的输出，输出聚焦侧的主误差信号(Fmain)，错误信号2F生成单元4f计算来自子光束受光元件2的输出，输出聚焦侧的子误差信号(Fsub)。
另外，错误信号1T生成单元3t计算来自主光束受光元件1的输出，输出跟踪侧的主误差信号(Tmain)，错误信号2T生成单元4t计算来自子受光元件2的输出，输出跟踪侧的子误差信号(Tsub)。
第1采样单元6针对从主光束受光元件1输出的多个受光元件的信号实施了规定的计算处理的、来自错误信号1F生成单元3f以及错误信号1T生成单元3t的信号，通过进行开关5a以及5c的切换控制，从而在预先设定的第1采样定时进行采样。
采样定时生成单元7周期性间隔取得第1采样定时生成使采样定时频率下降的第2采样定时。
第2采样单元8针对从子光束受光元件2输出的多个受光元件的信号实施了规定的计算处理的、来自错误信号2F生成单元4f以及错误信号2T生成单元4t的信号，通过进行切换开关5b以及5d的切换控制，从而在由采样定时生成单元7生成的第2采样定时进行采样。
ADC9是顺序地对由第1采样单元6以及第2采样单元8在规定的定时采样的来自错误信号1F生成单元3f、错误信号2F生成单元4f、错误信号1T生成单元3t以及错误信号2T生成单元4t的输出数据进行AD变换的AD变换单元。
寄存器10f暂时存储由ADC9进行了AD变换的来自错误信号1F生成单元3f的输出信号。寄存器11f暂时存储用ADC9进行了AD变换的来自错误信号2F生成单元4f的输出信号。寄存器10t暂时存储用ADC9进行了AD变换的来自错误信号1T生成单元3t的输出信号。寄存器11t暂时存储用ADC9进行了AD变换的来自错误信号2T生成单元4t的输出信号。
补足单元12f、12t把在第2采样单元8中采样的数据的AD变换结果作为输入，补足用子采样定时生成单元7间隔取得的定时的采样数据。
加法器13f、13t使用从子光束受光元件2的输出信号得到的伺服误差信号，修正从主受光元件1的输出信号得到的伺服误差信号。具体地说，加法器13f加算来自寄存器10f的输出和来自修正单元12f的输出，得到作为误差信号输出的聚焦错误信号输出。另外，加法器13t加算来自寄存器10t的输出和来自修正单元12t的输出，得到作为误差信号输出的跟踪错误信号输出。进而，在此，以在主光束和子光束中相对于点的移动方向的信号变化方向一样的情况，即错误信号的极性相同的情况为前提说明，但当错误信号的极性不同的情况下，加法器13f、13t只要在寄存器10f、10t的输出值上加上来自改变极性的补足单元12f、12t的输出值即可。
以下，说明动作。
首先，接收到来自主光束受光元件1的输出信号的错误信号1F生成单元3f以及错误信号1T生成单元3分别生成Fmain信号、Tmain信号。另外，接收到来自子光束受光元件2的输出信号的错误信号2F生成单元4f以及错误信号2T生成单元4t分别生成Fsub信号、Tsub信号。
以下，通过对第1采样单元6以及第2采样单元8的开关5a～5d的切换控制，将在错误信号1F生成单元3f、错误信号2F生成单元4f、错误信号1T生成单元3t以及错误信号2T生成单元4t中生成的Fmain、Fsub、Tmain、Tsub的4个信号顺序输出到ADC9。
具体地说，通过对第1采样单元6的开关5a以及5c的切换控制，在第1采样定时将Fmain信号以及Tmain信号输出到ADC9，同时通过对第2采样单元8的开关5b以及5d的切换控制，在第2采样定时将Fsub信号以及Tsub信号输出到ADC9。进而，通过由第2采样定时生成单元7周期性地间隔取得第1采样定时，生成此第2采样定时。
因此，在第1采样定时向ADC9输出对从主光束受光元件1输出的第1检测信号实施了规定的计算处理的Fmain以及Tmain，同时在间隔取得了第1采样定时后的第2采样定时将对从子光束受光元件2输出的第2检测信号实施了规定的计算处理的作为第2检测信号的Fsub以及Tsub输出到ADC9。
在ADC107中，对用此第1采样单元6以及第2采样单元8采样的数据进行AD变换，经AD变换后的Fmain、Fsub、Tmain、Tsub的4个信号分别被存储在寄存器10f、11f、10t、11t中。
而后，补足单元12f、12t在每一第1采样定时动作，当在采样周期内进行误差信号的AD变换的情况下，把被存储在该寄存器11f、11t中的信号输出到加法器13f、13t，另一方面当未进行AD变换的情况下，补足该定时的采样数据，把补足数据输出到加法器13f、13t。
其后，加法器13f在每1采样周期，加算来自寄存器10f以及补足单元12f的信号，生成作为误差信号的聚焦错误信号并输出。
另外，加法器13t在每1采样周期，加算来自寄存器10t以及补足单元12t的信号，生成作为误差信号的跟踪错误信号并输出。
由此，在把从加法器13f、13t输出的错误信号的采样周期设置为fs后，还可以维持子误差信号的修正效果。
以下，以由采样定时生成单元7生成的第2采样定时为第1采样定时的一半的情况为例子，用图2、图3进一步详细说明本发明的伺服误差信号生成电路的动作。
图2是用于说明第1采样单元6以及第2采样单元8的动作的时序图。
如图所示，第1采样单元6进行开关5a以及5c的切换控制，在全部采样周期，即在第1采样定时采样在错误信号1F生成单元3f中生成的FM(Fmain)以及在错误信号1T生成单元3t中生成的TM(Tmain)。另一方面，第2采样单元8进行开关5b以及5d的切换控制，根据由采样定时生成单元7生成的第2采样定时，交替采样在错误信号2F生成单元4f中生成FS(Fsub)以及在错误信号2T生成单元4t中生成的TS(Tsub)。
由此，在ADC9中，以图2所示的顺序输入在错误信号1F生成单元3f、错误信号2F生成单元4f、错误信号1T生成单元3t以及错误信号2T生成单元4t中生成的信号，可以把1采样周期内的采样次数抑制为3次。
以下，用图3的波形图说明本发明的伺服误差检测电路的动作。
图3是用于说明本发明的实施例1的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
在图3中，从上开始分别表示以下信号：作为第1采样定时的主误差信号的采样定时信号(fs)、作为第2采样定时的子错误信号的采样定时信号(fs/2)、作为错误信号1F生成单元3f或者错误信号1T生成单元3t的输出的主误差信号(main)、作为错误信号2F生成单元4f或者错误信号2T生成单元4t的输出的子误差信号(sub)、被存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、由被存储在寄存器11f或者11t中的子误差信号的AD变换输出(subAD-白圈)和补足数据(补足输出-黑点)组成的信号、从加法器13f或者13t输出的误差信号输出(error signal)。
如图3所示，由第1采样单元6在第1采样定时fs采样主误差信号(main)，得到经AD变换的mainAD。
另一方面，由第2采样单元8在第2采样定时采样子误差信号(sub)，得到经AD变换的subAD(白圈)。进而在此，因为以此第2采样定时为第1采样定时的一半的情况为例子，所以第2采样定时为1/2。
而后，补足单元12f、12t当在第1采样定时fs的定时不能得到经AD变换后的subAD(白圈)的情况下，通过补足处理生成该定时的subAD(黑点)。
由此，在把从加法器13f、13t输出的误差信号输出(error signal)的采样频率设置为fs后，还可以维持采用子误差信号的修正效果。
以下，用图4～图9说明采用本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元的补足数据的生成处理。
图4以及图5是用于说明补足单元的第1补足处理的图。
图4是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第1补足处理的框图，简化了补足单元以外的部分。
在图4中，补足单元12f以及12t由保持单元21、相位补偿单元22组成。
保持单元21在采样定时fs时动作，如果在此动作定时下ADC9动作，则直接输出其输出，如果ADC9不动作则输出此前的数据。
相位补偿单元22是补偿用保持单元21进行的保持操作的相位延迟的单元，例如由读延迟滤波器构成。
图5是用于说明进行了第1补足处理情况下的本发明实施例1的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
在图5中，从上开始分别表示以下信号：作为第1采样定时的主误差信号的采样定时信号(fs)、作为第2采样定时的子错误信号的采样定时信号(fs/2)、作为错误信号1F生成单元3f或者错误信号1T生成单元3t的输出的主误差信号(main)、作为错误信号2F生成单元4f或者错误信号2T生成单元4t的输出的子误差信号(sub)、存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、由存储在寄存器11f或者11t中的子误差信号的AD变换输出(subAD-白圈)和保持单元21的输出(HOLD-黑点)组成的信号、相位补偿单元22的输出(补足输出)、从加法器13f或者13t输出的误差信号输出(error signal)。
如图5(subAD&HOLD)所示，保持单元21在作为第1采样定时的采样定时fs中，当有子误差信号的AD变换输出(subAD)的情况下，把该子误差信号的AD变换输出直接输出到相位补偿单元22，当没有子误差信号的AD变换输出(subAD)的情况下，向相位补偿单元22输出此前的子误差信号的AD变换输出。
通过此动作，在子采样定时fs从保持单元21输出数据，此值在ADC9动作的采样定时fs/2被更新。
此后，通过由读延迟滤波器等构成的相位补偿单元22补偿从保持单元21输出的数据的相位延迟，并作为补足单元12f以及12t的补足输出被输出。
而后，由加法器13f或者13t加算存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出、从补足单元12f或者12t输出的补足输出，作为误差信号输出(error signal)。
这样，如果采用进行第1补足处理的补足单元12f和12t，则由于补足单元12f以及12t具备保持单元21和相位补偿单元22，因而在可以用极其简单的电路构成对采样频率fs/2的数据进行补足处理的同时，可以复原采样频率fs的数据。
另外，因为保持单元21直接使用图1中的寄存器11f、11t的输出，所以可以如以下那样实现保持单元21的动作。
即，因为只在进行Fsub、Tsub的AD变换时更新寄存器11f、11t的内容，所以当在第1采样定时fs的定时不进行AD变换时，自动地输出存储在寄存器11f、11t中的此前的AD变换结果。由此，完全不需要用于补足的电路，可以极其容易地实现与设置有保持单元21一样的功能。
以下，用图6以及图7说明补足单元12f、12t的第2补足处理。
图6是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第2补足处理的框图，是简化了补足单元以外部分的图。
在图6中，补足单元12f以及12t由保持单元31、差值检测单元32、差值补足单元33组成。
保持单元31在采样定时fs动作，如果在此动作定时中ADC9动作，则直接输出其输出，如果ADC9未动作，则输出此前的数据。进而，与在第1补足处理中说明的保持单元21一样，可以通过控制来自寄存器11f、11t的数据输出定时实现这样的保持单元31的功能。
差值检测单元32在每个采样定时fs输出在采样定时fs的时间从ADC9输出的主误差信号的AD变换输出(mainAD)与前一次的主误差信号的AD变换输出的差值。进而，在此如图所示，展示了以下结构：差值检测单元32具有延迟电路，检测在采样定时fs的时间输出的主误差信号的AD变换输出和前一个主误差信号的AD变换输出的差值。
进而，因为这样的差值检测单元32进行的处理与微分处理等价，所以在信号的S/N差的情况下干扰有可能被大幅度放大。因此，可以在差值检测单元32的前后的某一边或者两边插入用于除去干扰的低通滤波器(LPF)。
差值补足单元33在每一采样定时fs接收保持单元31的输出和差值检测单元32的输出，当保持单元31的输出是保持数据的情况下，从该保持数据中减去或者加上差值检测单元32的输出，当保持单元31的输出不是保持数据的情况下直接输出被输入的数据，在每个采样定时fs输出补足输出。进而，在差值补足单元33中，由在主光束和子光束中相对于点的变化移动方向的信号变化方向是否相同来确定是减去还是加上来自差值检测单元32的输出。具体地说，差值补足单元33当在主光束和子光束中相对于点的变化移动方向的信号变化方向相同的情况下，即，当错误信号的极性相同的情况下进行加算，当不同的情况下进行减算。不过，因为在本实施例中假设错误信号的极性相同，所以在以下的说明中，说明差值补足单元33进行加法处理的情况。
图7是用于说明进行了第2补足处理的情况下的本发明实施例1的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
在图7中，从上开始别表示以下信号：作为第1采样定时的主误差信号的采样定时信号(fs)、作为第2采样定时的子误差信号的采样定时信号(fs/2)、作为错误信号1F生成单元3f或者错误信号1T生成单元3t的输出的主误差信号(main)、作为错误信号2F生成单元4f或者错误信号2T生成单元4t的输出的子误差信号(sub)、存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、由存储在寄存器11f或者11t中的子误差信号的AD变换输出(subAD-白圈)和保持单元31的输出(HOLD-黑点)组成的信号、差值检测单元32的输出(mainAD差值)、差值补足单元33的输出(补足输出)、从加法器13f或者13t输出的误差信号输出(error signal)。
如图7(subAD&HOLD)所示，保持单元31在作为第1采样定时的采样定时fs中，当有子误差信号的AD变换输出(subAD)的情况下，把该子误差信号的AD变换输出直接输出到相位补偿单元22，当没有子误差信号的AD变换输出(subAD)的情况下，把此前的子误差信号的AD变换输出输出到差值补足单元33。
通过此动作，在采样定时fs从保持单元31输出数据，此值在ADC9动作的采样定时fs/2被更新。
另一方面，差值检测单元32在每一采样定时fs检测从ADC9输出的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、该AD变换输出的前一个主误差信号的AD变换输出的差值，并向差值补足单元33输出(mainAD差值)。
其后，差值补足单元33在每一采样定时fs接收保持单元31的输出和差值检测单元32的输出，当保持单元31的输出是保持数据的情况下，在该保持数据上加上差值检测单元32的输出，当保持单元31的输出不是保持数据的情况下直接输出已输入的保持数据，在每一采样定时fs输出补足数据。
而后，用加法器13f或者13t加算存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出、从补足单元12f以及12t输出的补足输出，作为误差信号输出(error signal)而输出。
这样，如果采用进行第2补足处理的补足单元12f或者12t，则由于具备：检测在第1采样单元6中采样的数据和在该数据之前采样的数据的差值的差值检测单元32；输出用第2采样单元8在此前采样的采样数据的保持单元31；通过在从保持单元31输出的保持数据中减去或者加上在差值检测单元32中检测的差值生成补足数据的差值补足单元，由此可以用简单的电路构成进行更高精度的补足处理。
进而，在第2补足处理中，说明了差值检测单元32在采样定时fs的时间检测主误差信号的AD变换输出差值的情况，但差值检测单元32也可以只对由保持单元31输出保持数据的定时，输出主误差信号的AD变换输出的差值。
以下，用图8以及图9说明补足单元12f、12t的第3补足处理。进而，因为这里说明的第3补足处理使用预测滤波器进行补足处理，所以与上述第1以及第2补足方法不同，不需要第1采样定时和第2采样定时同步。因此，当进行此第3补足处理的情况下，不需要设置图1所示的采样定时生成单元7。
以下，对于此第3补足处理，以第1采样定时为fs，第2采样定时为fs/a的情况为例说明。
图8是用于说明本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路的补足单元进行的第3补足处理的框图，是简化了补足单元以外的部分的图。
在图8中，补足单元12f以及12t由预测滤波器41组成。
预测滤波器41是把在第2采样定时fs/a采样的被存储在寄存器11f或者11t中的子误差信号的AD变换输出作为输入，对该AD变换输出进行采样频率变换，预测生成第1采样频率fs的数据的预测滤波器。进而，作为预测滤波器的构成，可以使用2次或者更高次的近似函数，也可以使用近似光盘再生装置的伺服电路的监视器。
图9是用于说明进行了第3补足处理时的本发明实施例1的伺服误差检测电路动作的动作波形图。
在图9中，从上开始分别表示以下信号：作为第1采样定时的主误差信号的采样定时信号(fs)、作为第2采样定时的子错误信号的采样定时信号(fs/2)、作为错误信号1F生成单元3f或者错误信号1T生成单元3t的输出的主误差信号(main)、作为错误信号2F生成单元4f或者错误信号2T生成单元4t的输出的子误差信号(sub)、存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出(mainAD)、由存储在寄存器11f或者11t中的子误差信号的AD变换输出(subAD-白圈)和预测滤波器41的输出(预测数据-黑点)组成的信号、从加法器13f或者13t输出的误差信号输出(error signal)。
如图9(subAD&预测数据)所示，预测滤波器41根据从ADC9输出的过去的子误差信号的AD变换输出，预测下一个变化，同时通过把采样频率变换为作为第1采样频率的fs，生成采样频率fs的预测数据。
而后，用加法器13f或者13t加算存储在寄存器10f或者10t中的主误差信号的AD变换输出、从补足单元12f以及12t输出的补足输出，作为误差信号输出(error signal)而输出。
这样，如果采用进行第3补足处理的补足单元12f或者12t，则因为通过用预测滤波器41进行补足处理，第2采样单元可以用任意的第2采样定时进行采样，所以不设置图1所示的采样定时生成单元7，可以缩小电路规模，生成精度更高的补足信号。
如上所述，如果采用本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路，由于具备：在第1采样定时采样作为来自主受光元件的信号的第1检测信号的第1采样单元6；在第2采样定时采样辅助或者修正第1检测信号的由多个受光元件检测出的第2检测信号的第2采样单元8；AD变换在第1采样单元6以及第2采样单元8中采样的数据的AD变换单元9；补足在第2采样单元8中采样的数据的补足单元，所以即使ADC的变换速度慢，也可以得到一边维持第2检测信号对第1检测信号的误差信号的修正效果，一边维持高的采样频率的效果。
进而，在本发明的实施例1的伺服误差信号生成电路中，说明了作为错误信号，用4分割受光元件接收主光束，分别用4分割受光元件接收2条子光束的差动推挽以及差动散乱方式，但本发明的适用并不限于此，只要是使用多个受光信号生成错误信号的方法就可以适用。
本发明的伺服误差信号生成电路具有即使AD变换器的变换速度慢也可以提高误差信号的采样频率的特征，作为光盘再生装置的伺服误差信号生成电路是有用的。
Claims (5)
1.一种伺服误差信号生成电路，是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光生成伺服误差信号的伺服误差信号生成电路，其特征在于包括：
在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；
周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；
在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；
对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD变换的AD变换单元；
补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；
输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，
上述补足单元在使用由上述第2采样单元采样的此前的采样数据的值进行补足后，补偿经该补足后的数据的相位延迟。
2.一种伺服误差信号生成电路，是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光生成伺服误差信号的伺服误差信号生成电路，其特征在于包括：
在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样单元；
周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成单元；
在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样单元；
对用上述第1采样单元以及上述第2采样单元采样的数据进行AD转换的AD变换单元；
补足从上述AD变换单元输出的由上述第2采样单元采样的数据的、由上述子采样定时生成单元间隔取得后的定时的数据的补足单元；
输出用从上述AD变换单元输出的由上述第1采样单元采样的数据加上或减去由上述补足单元补足了的数据的结果的修正单元，
上述补足单元包括：
检测在上述第1采样单元中采样的数据和在该数据之前在上述第1采样单元中采样的数据的差值的差值检测单元；
输出用上述第2采样单元采样的此前的采样数据的保持单元；
对于从上述保持单元输出的此前的采样数据的值，通过减去或者加上在上述差值检测单元中检测出的差值而生成补足数据的差值补足单元。
3.根据权利要求2所述的伺服误差信号生成电路，其特征在于：
在上述差值检测单元的前后的一边或者两边，进一步设置用于除去噪声的低通滤波器。
4.一种伺服误差信号生成方法，是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光，生成伺服误差信号的伺服误差信号生成方法，其特征在于包括：
在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样步骤；
周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成步骤；
在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样步骤；
对在上述第1采样步骤以及上述第2采样步骤中采样的数据进行AD变换的AD变换步骤；
补足在上述AD变换步骤中经AD变换的在上述第2采样步骤中采样的数据的、在上述子采样定时生成步骤中被间隔取得的定时的数据的补足步骤；
输出用在上述AD变换步骤中进行了变换的在上述第1采样步骤中采样的数据加上或减去在上述补足步骤中补足了的数据的结果的修正步骤，
上述补足步骤在使用在上述第2采样步骤中被采样的此前的采样数据的值进行补足后，补偿经该补足后的数据的相位延迟。
5.一种伺服误差信号生成方法，是使用由多个受光元件检测出的来自光盘的反射光生成伺服误差信号的伺服误差信号生成方法，其特征在于包括：
在第1采样定时对作为来自多个受光元件的信号的第1检测信号进行采样的第1采样步骤；
周期性间隔取得上述第1采样定时，生成使采样频率下降了的第2采样定时的子采样定时生成步骤；
在上述第2采样定时对辅助或者修正上述第1检测信号的作为来自多个受光元件的信号的第2检测信号进行采样的第2采样步骤；
对在上述第1采样步骤以及上述第2采样步骤中采样的数据进行AD变换的AD变换步骤；
补足在上述AD变换步骤中经AD变换的在上述第2采样步骤中采样的数据的、在上述子采样定时生成步骤中被间隔取得的定时的数据的补足步骤；
输出用在上述AD变换步骤中进行了变换的在上述第1采样步骤中采样的数据加上或减去在上述补足步骤中补足了的数据的结果的修正步骤，
上述补足步骤包含：
检测在上述第1采样步骤中采样的数据和在该数据之前在上述第1采样步骤中采样的数据的差值的差值检测步骤；
输出用上述第2采样步骤采样的此前的采样数据的保持步骤；
对于从上述保持步骤输出的此前的采样数据的值，通过减去或者加上在上述差值检测步骤中检测出的差值，生成补足数据的差值补足步骤。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: KELAIBO INNOVATION CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO, LTD. Effective date: 20141210 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| C56 | Change in the name or address of the patentee | ||
| CP02 | Change in the address of a patent holder |
Address after: Osaka Patentee after: Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. Address before: Osaka Japan Patentee before: Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20141210 Address after: California, USA Patentee after: Craib Innovations Ltd. Address before: Osaka Patentee before: Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20070404 Termination date: 20160924 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |