CN118426520B - 一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 - Google Patents
一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN118426520B CN118426520B CN202410873809.9A CN202410873809A CN118426520B CN 118426520 B CN118426520 B CN 118426520B CN 202410873809 A CN202410873809 A CN 202410873809A CN 118426520 B CN118426520 B CN 118426520B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- temperature
- laser
- organic electroluminescent
- data
- electroluminescent film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 75
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 61
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 42
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000005457 optimization Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000012552 review Methods 0.000 claims abstract description 21
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 166
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 31
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 25
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 23
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 claims description 17
- 230000002068 genetic effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 9
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 9
- 238000013210 evaluation model Methods 0.000 claims description 8
- 238000012549 training Methods 0.000 claims description 8
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 claims description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 239000000306 component Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000011217 control strategy Methods 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005057 refrigeration Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000013316 zoning Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
- G05D23/22—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature the sensing element being a thermocouple
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/20—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
- H10K71/221—Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by lift-off techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/40—Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
本发明涉及温度测量技术领域,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,包括温度控制模拟单元、温度控制时间单元、温度控制数据处理单元、温度控制调节单元、加热与制冷单元、温度调整优化单元和温度复查单元。该装置通过模拟分区和匹配激光移动路径,精准预估并控制各分区温度,实现激光剥离过程的温度优化。加热与制冷单元根据计算得出的最优温度调控参数,对相应分区进行精准加热或制冷。温度复查单元持续监测温度,确保不超预警值。本发明通过智能化温度控制,提高了有机电致发光薄膜激光剥离的效率和质量。
Description
技术领域
本发明涉及温度测量技术领域,尤其涉及一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置。
背景技术
有机电致发光薄膜的激光剥离技术是一种高精度、高效率的制造工艺,主要应用于柔性显示装置等领域。激光剥离技术是利用激光能量来分解材料接口处的特定层,从而实现薄膜与衬底的分离。在有机电致发光薄膜的制造过程中,激光剥离通常用于将薄膜从临时衬底(如玻璃基板)上剥离下来,以便进一步转移到柔性基底上。
在有机电致发光薄膜进行激光剥离过程中,温控装置起着至关重要的作用,温控装置可以实时监测并调整激光剥离过程中的温度,确保其维持在设定的范围内。这有助于实现高精度的剥离,同时避免温度过高或过低对薄膜造成损害。
有机电致发光薄膜进行激光剥离过程中对温度的精确度要求极高。微小的温度变化都导致剥离效果的不稳定,有机电致发光薄膜进行激光剥离过程中激光的移动速度很快,现有的温度控制装置是采用实时监测并调整激光剥离过程中有机电致发光薄膜所在处的温度,并进行调整确保其维持在设定的范围内,但目前现有的温控装置存在响应速度不够快,导致温度调整滞后,影响有机电致发光薄膜进行激光剥离效果。
发明内容
本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,用于解决目前现有的温控装置存在响应速度不够快,导致温度调整滞后,影响有机电致发光薄膜进行激光剥离的问题。
本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,包括:
温度获取单元,与激光剥离装置建立通信连接,从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据,传感器监测数据以及激光剥离设备执行命令信息;
温度控制路径匹配单元,对从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据进行数据特征提取,得到激光剥离装置设备型号数据以及激光剥离运行参数数据,在预先构建的激光剥离设备知识库中,调取激光剥离装置设备型号对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据以及激光剥离运行参数数据代入至预设的激光剥离数字孪生模型中,生成激光剥离数字孪生基础影像,激光剥离设备执行命令信息中包括激光参数信息以及激光移动路径信息,将激光剥离设备执行命令信息通过预设的激光剥离数字孪生模型,并生成预估激光移动路径;
温度控制模拟单元,对有机电致发光薄膜进行模拟分区,得到多个面积相同的有机电致发光薄膜模拟分区;
温度控制时间单元,将预估激光移动路径与有机电致发光薄膜进行模拟分区建立匹配关系,得到每个有机电致发光薄膜进行模拟分区预估激光移动轨迹,调取与预估激光移动轨迹对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,得到预估激光移动轨迹历史数据,基于预估激光移动轨迹历史数据,计算出激光的移动时间,通过激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息,得到激光移动路径时间序列;
温度控制数据处理单元,将激光移动路径时间序列与激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值建立匹配关系,得到预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据;
温度控制调节单元,根据预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据中各激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值以及激光移动路径时间序列,得到激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值,将传感器监测数据与激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值进行进行数据处理分析,得到激光移动路径中各位置实际调整温度参数;
加热与制冷单元,根据激光移动路径中各位置实际调整温度参数,对有机电致发光薄膜模拟分区各位置进行加热或制冷。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度预警单元,对有机电致发光薄膜各位置建立温度预警值,并通过光纤温度传感器向有机电致发光薄膜温度异常区域发送光纤传输光信号,得到有机电致发光薄膜各位置实际温度,若有机电致发光薄膜各位置实际温度高于温度预警值,则生成温度预警信息。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度调整优化单元,将有机电致发光薄膜各位置实际温度与温度预警值以及激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,通过预设的遗传算法进行优化,得到最优的温度调控参数;
温度复查单元,加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数,并持续对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测,得到温度复查数据,若温度复查数据与温度预警值,存在高于温度预警值的数据,则继续通过温度调整优化单元对温度调控参数进行优化。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度控制知识库单元,将温度调整优化单元中对温度调控参数生成过程中的数据进行存储,得到温度调控参数数据库,并将加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数后,温度复查单元对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测的数据信息进行存储,得到调整参数后温度数据库,基于温度调控参数数据库以及调整参数后温度数据库对预设的遗传算法进行训练优化,并将训练优化后的数据在预先构建的激光剥离设备知识库中进行替换更新。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,温度获取单元,包括:
温度获取单元与激光剥离装置上有机电致发光薄膜进行激光剥离位置处的热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器建立通信连接,获取传感器监测数据,传感器监测数据包括热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器的传感器监测数据。
温度获取单元中还包括:传感器数据预处理单元,温度获取单元将热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及湿度传感器采集的数据传输至传感器数据预处理单元,热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器和红外温度传感器用于测量和监控温度,湿度传感器用于检测环境的湿度水平,传感器数据预处理单元对热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及湿度传感器采集的数据进行预处理,然后传输到温度控制数据处理单元。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,温度控制模拟单元,包括:将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据与有机电致发光薄膜模拟分区对应位置的历史温度数据进行提取,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据,将每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据代入至预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型中进行数据处理,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度,将预估激光移动路径中的位置信息与每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度建立匹配关系,得到激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,加热与制冷单元,包括:对激光移动路径中各位置实际调整温度参数进行数据特征提取,得到加热特征数据以及制冷特征数据,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中位置信息,得到待加热位置信息以及待制冷位置信息,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中时间信息,得到待加热位置信息加热时间以及待制冷位置制冷时间,将待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息传输至各位置对应加热元件,将待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间传输至各位置对应制冷元件,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应加热元件根据待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息进行加热,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应制冷元件根据待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间进行制冷;
加热元件包括加热器,如果温度高于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用加热器进行加热;
制冷元件包括半导体制冷片,如果温度低于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用半导体制冷片进行制冷;
制冷元件还包括温控风扇以及气流调节器,用于通过增加或减少空气流动来调节温度,温控风扇可以加速热量的散发,而气流调节器用于控制特定区域的气流,以保持恒定的温度环境。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,温度控制调节单元调取传感器监测数据,传感器监测数据从热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及热电阻传感器中获取,将传感器监测数据中的温度值与激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值进行对比,得到激光移动路径中各位置实际温差,将激光移动路径中各位置实际温差代入至预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型中进行数据处理分析,得到激光移动路径中各位置实际调整温度参数。
进一步地,本发明所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,温度控制时间单元,包括:
在预估激光移动轨迹历史数据中调取激光的移动速度以及移动距离,根据激光的移动速度以及移动距离,计算出激光的移动时间,将激光的移动时间与有机电致发光薄膜模拟分区建立对应关系,得到激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息,并将激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息数据进行汇总排序,得到激光移动路径时间序列。
本发明的有益效果如下:
快速响应和精准控制:通过结合多种传感器(热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器)的监测数据,以及通过激光剥离数字孪生模型和温度控制模拟单元的预处理,本装置能够迅速且准确地预估激光剥离过程中的温度变化,并提前做出相应的温度调整,从而解决了响应速度不够快的问题。
预防性温度调控:通过温度控制时间单元对激光移动路径和时间的精准计算,以及温度控制模拟单元的预估,本装置能够在激光剥离前进行预防性温度调控,确保剥离过程中的温度稳定性。
自适应调整:温度控制调节单元能够根据实时监测数据与预估数据的对比,自适应地调整加热和制冷元件的工作状态,以达到最佳的温度控制效果。
安全性提升:通过温度预警单元的设置,装置能够在温度异常时及时发出预警,避免温度过高或过低对薄膜造成损害,提高了激光剥离过程的安全性。
持续优化:通过温度调整优化单元和温度复查单元的不断迭代优化,以及温度控制知识库单元的数据存储和算法训练,本装置能够不断学习和改进温度控制策略,提高温控的精准度和效率。
多样化的温度调节手段:加热元件和制冷元件的多样化配置(包括加热器、半导体制冷片、温控风扇和气流调节器),使得本装置能够适应不同环境和需求下的温度控制。
综上所述,本发明的有机电致发光薄膜激光剥离温控装置通过综合运用多种技术手段和智能化算法,实现了快速、精准、自适应的温度控制,有效提高了有机电致发光薄膜激光剥离过程的质量和效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见的,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明控制装置内部单元结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明具体实施例及相应的附图对本发明技术方案进行清楚、完整的描述。显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。以下结合附图,详细说明本发明各实施例提供的技术方案。
请参阅图1,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,包括:
温度获取单元,与激光剥离装置建立通信连接,从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据,以及激光剥离设备执行命令信息,并与激光剥离装置上有机电致发光薄膜进行激光剥离位置处的热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器建立通信连接,获取热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器的传感器监测数据;
温度获取单元是本发明的有机电致发光薄膜激光剥离温控装置中的一个重要组成部分,主要功能是与激光剥离装置建立通信连接,并从该装置中获取激光剥离设备的运行数据和执行命令信息。
除了与激光剥离装置通信外,温度获取单元还与位于激光剥离位置处的各种传感器建立通信连接。传感器包括热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器和热电阻传感器。温度获取单元能够实时获取这些传感器的监测数据。
具体来说,热电偶传感器用于测量剥离位置的温度梯度,湿度传感器用于检测环境湿度,若湿度过高则对剥离过程产生影响,产生影响时则需要用加热元件提前对其进行烘干。光纤温度传感器和红外温度传感器则提供了非接触式的温度测量方法,能够更精确地反映剥离区域的温度分布。热电阻传感器则提供了另一种接触式的温度测量手段,增加了数据的多样性和可靠性。
温度获取单元将这些传感器的监测数据整合在一起,为后续的温度控制路径匹配、模拟和调整提供了丰富的数据源。通过这种方式,本发明能够实现更为精确和响应迅速的温度控制,从而确保有机电致发光薄膜激光剥离过程的高效性和质量。
温度控制路径匹配单元,对从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据进行数据特征提取,得到激光剥离装置设备型号数据以及激光剥离运行参数数据,在预先构建的激光剥离设备知识库中,调取激光剥离装置设备型号对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据以及激光剥离运行参数数据代入至预设的激光剥离数字孪生模型中,生成激光剥离数字孪生基础影像,激光剥离设备执行命令信息中包括激光参数信息以及激光移动路径信息,将激光剥离设备执行命令信息通过预设的激光剥离数字孪生模型,在激光剥离数字孪生基础影像上增加激光对有机电致发光薄膜进行剥离的影像,将激光对有机电致发光薄膜进行剥离的影像中激光在有机电致发光薄膜上移动的位置点信息进行记录,并生成预估激光移动路径;
首先,温度控制路径匹配单元会从激光剥离装置获取激光剥离设备的运行数据,并对这些数据进行数据特征提取。这个过程主要是为了获取激光剥离装置的设备型号数据和激光剥离的运行参数数据。
接下来,温度控制路径匹配单元在预先构建的激光剥离设备知识库中,根据提取出的设备型号数据,调取对应的有机电致发光薄膜激光剥离的历史数据。这些历史数据包含了相同或相似设备型号在过去的激光剥离过程中的温度、环境等参数信息,对于后续的温度控制具有重要的参考价值。
然后,温度控制路径匹配单元会将获取到的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据及激光剥离运行参数数据代入到预设的激光剥离数字孪生模型中,模拟激光剥离过程,并生成一个激光剥离数字孪生基础影像。这个影像是一个虚拟的、但与实际剥离过程高度相似的模拟环境。
此外,激光剥离设备执行命令信息中包含了激光参数信息和激光移动路径信息。这些信息也会被输入到激光剥离数字孪生模型中,从而在基础影像上增加激光对有机电致发光薄膜进行剥离的影像。这个过程可以清晰地展示出激光在薄膜上的移动轨迹和剥离过程。
最后,温度控制路径匹配单元会记录激光在有机电致发光薄膜上移动的位置点信息,并生成一个预估的激光移动路径。这个预估路径是基于历史数据、运行参数以及激光剥离设备的执行命令信息综合得出的,它对于后续的温度控制具有重要的指导意义。
温度控制模拟单元,对有机电致发光薄膜进行模拟分区,得到多个面积相同的有机电致发光薄膜模拟分区,并将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据与有机电致发光薄膜模拟分区对应位置的历史温度数据进行提取,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据,将每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据代入至预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型中进行数据处理,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度,将预估激光移动路径中的位置信息与每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度建立匹配关系,得到激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值;
温度控制模拟单元是本发明有机电致发光薄膜激光剥离温控装置中的一个核心组件,其主要负责通过模拟和数据分析来预测激光剥离过程中各位置的温度变化。以下是该单元的具体工作流程:
模拟分区:首先,温度控制模拟单元会对有机电致发光薄膜进行模拟分区,将其划分为多个面积相同的模拟分区。这种分区有助于更精细地管理和控制薄膜不同区域的温度。
数据提取:接下来,温度控制模拟单元从有机电致发光薄膜激光剥离历史数据中,提取出与每个模拟分区对应位置的历史温度数据。这些数据为后续的温度预测提供了宝贵的参考。
历史数据处理:提取出的每个模拟分区的历史温度数据会被代入到预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型中。这个模型通过处理和分析这些数据,能够得出每个模拟分区的标准温度。
建立匹配关系:随后,温度控制模拟单元会将预估的激光移动路径中的位置信息与每个模拟分区的标准温度建立匹配关系。这样,在激光剥离过程中,系统就能够根据激光的当前位置,快速预测出该位置的温度应该控制在多少。
温度模拟预估:通过上述匹配关系,温度控制模拟单元能够生成激光移动路径中各位置的温度模拟预估温度值。预估值对于接下来的温度控制至关重要,因为它们为加热元件和制冷元件的精准调控提供了目标值。
温度控制时间单元,将预估激光移动路径与有机电致发光薄膜进行模拟分区建立匹配关系,得到每个有机电致发光薄膜进行模拟分区预估激光移动轨迹,调取与预估激光移动轨迹对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,得到预估激光移动轨迹历史数据,在预估激光移动轨迹历史数据中调取激光的移动速度以及移动距离,根据激光的移动速度以及移动距离,计算出激光的移动时间,将激光的移动时间与有机电致发光薄膜模拟分区建立对应关系,得到激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息,并将激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息数据进行汇总排序,得到激光移动路径时间序列;
首先,温度控制时间单元会将预估的激光移动路径与有机电致发光薄膜的模拟分区建立匹配关系。这样,系统就能确定激光在每个模拟分区上的预估移动轨迹。
接下来,温度控制时间单元调取与这些预估激光移动轨迹对应的有机电致发光薄膜激光剥离的历史数据,这些数据包含了激光在过去剥离过程中的移动信息,对于后续的计算和分析至关重要。
然后,温度控制时间单元会从预估激光移动轨迹历史数据中提取激光的移动速度和移动距离。根据这两个参数,温度控制时间单元能够计算出激光在每个模拟分区上的移动时间。这个计算过程是基于简单的物理公式,即时间等于距离除以速度。
最后,温度控制时间单元将计算出的激光移动时间与有机电致发光薄膜的模拟分区建立对应关系。这样,就能知道激光在每个模拟分区上经过的确切时间。这些信息随后被汇总并排序,生成一个完整的激光移动路径时间序列。
温度控制数据处理单元,将激光移动路径时间序列与激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值建立匹配关系,得到预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据;
首先,温度控制数据处理单元会接收两个关键的数据输入:激光移动路径时间序列和激光移动路径中各位置的温度模拟预估温度值。这两个数据集分别提供了激光在薄膜上移动的时间信息和各位置的温度预估信息。
接下来,该单元的核心任务是将这两个数据集建立匹配关系。具体来说,它会将每个时间点与激光在该时间点所处的位置的温度预估值对应起来。这样,就能知道在激光剥离过程中,每个时间点应该控制的目标温度。
通过这种匹配关系,温度控制数据处理单元能够生成一个完整的预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据。这个数据集不仅包含了时间信息,还包含了与时间相对应的温度控制目标值。
最后,这个预估的温控数据会被传递给后续的温度控制调节单元,作为其进行精准温度调控的基础。调节单元会根据这些数据,在适当的时间点调整加热元件和制冷元件的工作状态,以确保剥离过程中的温度始终保持在最佳范围内。
温度控制调节单元,根据预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据中各激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值以及激光移动路径时间序列,得到激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值,调取从热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及热电阻传感器中获取的传感器监测数据,将传感器监测数据中的温度值与激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值进行对比,得到激光移动路径中各位置实际温差,将激光移动路径中各位置实际温差代入至预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型中进行数据处理分析,得到激光移动路径中各位置实际调整温度参数;
首先,温度控制调节单元会接收预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据,这些数据包含了激光移动路径中各位置的模拟预估温度值和激光移动路径时间序列。基于这些信息,温度控制调节单元能够计算出激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值。
接下来,为了获取实际的温度情况,温度控制调节单元会调取来自热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及热电阻传感器的监测数据。这些传感器能够提供实时的温度读数,帮助温度控制调节单元了解当前的环境温度状况。
然后,温度控制调节单元将传感器监测数据中的实际温度值与之前计算出的预估温度值进行对比。通过温度控制调节单元,可以得知激光移动路径中各位置的实际温差,即预估温度与实际温度的差距。
最后,温度控制调节单元会将这些实际温差代入预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型中进行数据处理分析。有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型能够根据温差情况提供相应的温度调整参数。经过有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型的处理,温度控制调节单元会得出激光移动路径中各位置实际需要的调整温度参数。
加热与制冷单元,对激光移动路径中各位置实际调整温度参数进行数据特征提取,得到加热特征数据以及制冷特征数据,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中位置信息,得到待加热位置信息以及待制冷位置信息,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中时间信息,得到待加热位置信息加热时间以及待制冷位置制冷时间,将待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息传输至各位置对应加热元件,将待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间传输至各位置对应制冷元件,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应加热元件根据待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息进行加热,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应制冷元件根据待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间进行制冷。
首先,加热与制冷单元会对激光移动路径中各位置的实际调整温度参数进行数据特征提取。加热与制冷单元的目的是从复杂的温度参数中识别出需要加热或制冷的特征数据,即加热特征数据和制冷特征数据。
接下来,加热与制冷单元调取这些特征数据对应的激光移动路径中的位置信息。通过这种方式,能够确定哪些具体位置需要进行加热或制冷,从而得到待加热位置信息和待制冷位置信息。
然后,模块会进一步调取加热特征数据和制冷特征数据对应的激光移动路径中的时间信息。这一步骤是为了确定在何时开始加热或制冷,以及加热或制冷应该持续多久,从而得到待加热位置的加热时间和待制冷位置的制冷时间。
最后,加热与制冷单元会将这些详细的信息传输给对应的加热元件和制冷元件。具体来说,待加热位置信息、加热时间以及待加热位置信息会被发送给各位置对应的加热元件;同样地,待制冷位置信息和待制冷位置制冷时间则会被发送给对应的制冷元件。这样,加热元件和制冷元件就能根据接收到的指令,在正确的时间和位置进行精准的加热或制冷操作。
具体而言,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度预警单元,对有机电致发光薄膜各位置建立温度预警值,并通过光纤温度传感器向有机电致发光薄膜温度异常区域发送光纤传输光信号,得到有机电致发光薄膜各位置实际温度,若有机电致发光薄膜各位置实际温度高于温度预警值,则生成温度预警信息。
具体而言,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度调整优化单元,将有机电致发光薄膜各位置实际温度与温度预警值以及激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,通过预设的遗传算法进行优化,得到最优的温度调控参数;
温度复查单元,加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数,并持续对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测,得到温度复查数据,若温度复查数据与温度预警值,存在高于温度预警值的数据,则继续通过温度调整优化单元对温度调控参数进行优化。
温度调整优化单元和温度复查单元在有机电致发光薄膜激光剥离温控装置中共同确保了温度的精准控制。以下是这两个单元的工作流程和功能解释:
温度调整优化单元:温度调整优化单元的任务是通过优化算法,得出最优的温度调控参数。它接收三个关键数据输入:有机电致发光薄膜各位置的实际温度、温度预警值以及激光移动路径中各位置的温度模拟预估温度值。利用预设的遗传算法,温度调整优化单元会对这些数据进行分析和优化,以找到能够使得实际温度尽可能接近预估温度,并且不超过温度预警值的最佳调控参数。
温度复查单元:当加热元件和制冷元件根据温度调整优化单元提供的最优温度调控参数进行工作后,温度复查单元会持续监测有机电致发光薄膜模拟分区的实际温度。这一过程中收集的数据被称为温度复查数据。如果发现任何温度复查数据高于预设的温度预警值,这意味着当前的温度调控参数可能不够理想,温度复查单元会触发温度调整优化单元进行进一步的参数优化。
具体而言,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
温度控制知识库单元,将温度调整优化单元中对温度调控参数生成过程中的数据进行存储,得到温度调控参数数据库,并将加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数后,温度复查单元对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测的数据信息进行存储,得到调整参数后温度数据库,基于温度调控参数数据库以及调整参数后温度数据库对预设的遗传算法进行训练优化,并将训练优化后的数据在预先构建的激光剥离设备知识库中进行替换更新。
具体而言,本发明提供一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,还包括:
加热元件包括加热器,如果温度高于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用加热器进行加热;
制冷元件包括半导体制冷片,如果温度低于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用半导体制冷片进行制冷;
制冷元件还包括温控风扇以及气流调节器,用于通过增加或减少空气流动来调节温度,温控风扇可以加速热量的散发,而气流调节器用于控制特定区域的气流,以保持恒定的温度环境。
本发明的技术方案确实能够有效地解决目前现有的温控装置响应速度不够快、导致温度调整滞后并影响有机电致发光薄膜激光剥离的问题。本发明通过集成多种传感器(包括热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器)的监测数据,并利用激光剥离数字孪生模型和温度控制模拟单元进行预处理,从而能够迅速且准确地预估激光剥离过程中的温度变化,并提前做出相应的温度调整。这不仅解决了响应速度的问题,还通过预防性温度调控、自适应调整、安全性提升以及持续优化等特性,进一步提高了激光剥离过程的质量和效率。
本发明的具体实施方式主要包括以下组成部分:
温度获取单元:与激光剥离装置建立通信连接,获取激光剥离设备的运行数据和执行命令信息。同时与安装在剥离位置的多种传感器(如热电偶传感器、湿度传感器等)建立连接,实时获取传感器监测的温度、湿度等数据。
温度控制路径匹配单元:利用数据特征提取技术,结合预先构建的激光剥离设备知识库,生成激光剥离数字孪生基础影像。根据设备执行命令信息,在数字孪生基础影像上增加激光剥离影像,从而生成预估的激光移动路径。
加热元件和制冷元件:根据预估的激光移动路径和传感器监测数据,确定待加热和制冷的具体位置信息。加热元件和制冷元件根据这些信息执行相应的加热和制冷操作,以实现精准的温度控制。
温度预警单元:在温度控制过程中,实时监测温度数据。当温度出现异常时,该单元会立即发出预警信号,确保过程的安全性。
温度调整优化单元和温度复查单元:根据实时的温度数据和预警信息,不断优化和改进温度控制策略。对温度控制效果进行复查,确保温度控制的准确性和稳定性。
温度控制知识库单元:负责存储历史温度控制数据和算法训练结果。提供数据支持,帮助系统不断优化温度控制策略。
通过以上步骤和组成部分的协同工作,本发明实现了快速、精准、自适应的温度控制,有效提高了有机电致发光薄膜激光剥离过程的质量和效率。
本发明通过温度调整优化单元使用预设的遗传算法进行优化,以得到最优的温度调控参数。具体过程如下:
首先,温度调整优化单元接收三个关键数据输入:有机电致发光薄膜各位置的实际温度、温度预警值以及激光移动路径中各位置的温度模拟预估温度值。这些数据为优化过程提供了基础信息。
接着,利用遗传算法,温度调整优化单元会对这些数据进行深入地分析和优化。遗传算法是一种模拟自然选择和遗传学原理的优化算法,它通过不断迭代和进化,寻找最优解。
在优化过程中,遗传算法致力于找到一个最佳的温度调控参数组合,这个组合能够使得有机电致发光薄膜各位置的实际温度尽可能接近预估温度,并且不超过设定的温度预警值。
通过这种方式,温度调整优化单元能够利用遗传算法的搜索和优化能力,从众多可能的温度调控参数中找到最优的一组,从而确保激光剥离过程中的温度控制更加精准和有效。
预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型在有机电致发光薄膜激光剥离温控装置中扮演着至关重要的角色。有机电致发光薄膜剥离温度评估模型的主要功能是接收并处理温度控制模拟单元从有机电致发光薄膜激光剥离历史数据中提取的每个模拟分区的历史温度数据。
通过深入分析和处理这些数据,有机电致发光薄膜剥离温度评估模型能够计算出每个模拟分区的标准温度。这个标准温度为激光剥离过程中各位置的温度控制提供了重要的参考,确保剥离过程在最佳的温度条件下进行,从而提高剥离效率和薄膜质量。
简而言之,预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型通过处理历史温度数据,为激光剥离过程中的精准温度控制提供了科学依据,是确保剥离过程顺利进行的关键因素。
预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型是数据处理分析工具,工作原理是基于多源数据输入来进行计算和预测。它首先接收温度控制调节单元提供的预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据,这些数据包括激光移动路径中各位置的模拟预估温度值和激光移动路径时间序列。此外,还从各种传感器(如热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及热电阻传感器)获取实时监测数据。
通过对这些数据的综合处理和分析,有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型能够计算和预测实际剥离过程中各位置的温度变化情况。更重要的是,它还能提供激光移动路径中各位置实际需要的调整温度参数。这些参数是指导加热元件和制冷元件进行精准调控的关键,从而确保剥离过程中的温度能够保持在最佳范围内。
简而言之,预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型通过综合处理和分析多种数据输入,实现了对剥离过程中各位置温度的精准预测和控制,为提高剥离质量和效率提供了有力支持。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (9)
1.一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,包括:
温度获取单元,与激光剥离装置建立通信连接,从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据,传感器监测数据以及激光剥离设备执行命令信息;
温度控制路径匹配单元,对从激光剥离装置获取激光剥离设备运行数据进行数据特征提取,得到激光剥离装置设备型号数据以及激光剥离运行参数数据,在预先构建的激光剥离设备知识库中,调取激光剥离装置设备型号对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据以及激光剥离运行参数数据代入至预设的激光剥离数字孪生模型中,生成激光剥离数字孪生基础影像,激光剥离设备执行命令信息中包括激光参数信息以及激光移动路径信息,将激光剥离设备执行命令信息通过预设的激光剥离数字孪生模型,并生成预估激光移动路径;
温度控制模拟单元,对有机电致发光薄膜进行模拟分区,得到多个面积相同的有机电致发光薄膜模拟分区;
温度控制时间单元,将预估激光移动路径与有机电致发光薄膜进行模拟分区建立匹配关系,得到每个有机电致发光薄膜进行模拟分区预估激光移动轨迹,调取与预估激光移动轨迹对应的有机电致发光薄膜激光剥离历史数据,得到预估激光移动轨迹历史数据,基于预估激光移动轨迹历史数据,计算出激光的移动时间,通过激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息,得到激光移动路径时间序列;
温度控制数据处理单元,将激光移动路径时间序列与激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值建立匹配关系,得到预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据;
温度控制调节单元,根据预估有机电致发光薄膜激光剥离温控数据中各激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值以及激光移动路径时间序列,得到激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值,将传感器监测数据与激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值进行数据处理分析,得到激光移动路径中各位置实际调整温度参数;
加热与制冷单元,根据激光移动路径中各位置实际调整温度参数,对有机电致发光薄膜模拟分区各位置进行加热或制冷。
2.如权利要求1所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,还包括:
温度预警单元,对有机电致发光薄膜各位置建立温度预警值,并通过光纤温度传感器向有机电致发光薄膜温度异常区域发送光纤传输光信号,得到有机电致发光薄膜各位置实际温度,若有机电致发光薄膜各位置实际温度高于温度预警值,则生成温度预警信息。
3.如权利要求2所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,还包括:
温度调整优化单元,将有机电致发光薄膜各位置实际温度与温度预警值以及激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,通过预设的遗传算法进行优化,得到最优的温度调控参数;
温度复查单元,加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数,并持续对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测,得到温度复查数据,若温度复查数据与温度预警值,存在高于温度预警值的数据,则继续通过温度调整优化单元对温度调控参数进行优化。
4.如权利要求3所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,还包括:
温度控制知识库单元,将温度调整优化单元中对温度调控参数生成过程中的数据进行存储,得到温度调控参数数据库,并将加热元件以及制冷元件执行最优的温度调控参数后,温度复查单元对有机电致发光薄膜模拟分区进行温度监测的数据信息进行存储,得到调整参数后温度数据库,基于温度调控参数数据库以及调整参数后温度数据库对预设的遗传算法进行训练优化,并将训练优化后的数据在预先构建的激光剥离设备知识库中进行替换更新。
5.如权利要求1所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,温度获取单元,包括:
温度获取单元与激光剥离装置上有机电致发光薄膜进行激光剥离位置处的热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器建立通信连接,获取传感器监测数据,传感器监测数据包括热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器、热电阻传感器的传感器监测数据;
温度获取单元中还包括:传感器数据预处理单元,温度获取单元将热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及湿度传感器采集的数据传输至传感器数据预处理单元,热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器和红外温度传感器用于测量和监控温度,湿度传感器用于检测环境的湿度水平,传感器数据预处理单元对热电偶传感器、热电阻传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及湿度传感器采集的数据进行预处理,然后传输到温度控制数据处理单元。
6.如权利要求1所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,温度控制模拟单元,包括:将有机电致发光薄膜激光剥离历史数据与有机电致发光薄膜模拟分区对应位置的历史温度数据进行提取,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据,将每个有机电致发光薄膜模拟分区历史温度数据代入至预设的有机电致发光薄膜剥离温度评估模型中进行数据处理,得到每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度,将预估激光移动路径中的位置信息与每个有机电致发光薄膜模拟分区标准温度建立匹配关系,得到激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值。
7.如权利要求1所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,加热与制冷单元,包括:对激光移动路径中各位置实际调整温度参数进行数据特征提取,得到加热特征数据以及制冷特征数据,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中位置信息,得到待加热位置信息以及待制冷位置信息,调取加热特征数据以及制冷特征数据对应的激光移动路径中时间信息,得到待加热位置信息加热时间以及待制冷位置制冷时间,将待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息传输至各位置对应加热元件,将待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间传输至各位置对应制冷元件,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应加热元件根据待加热位置信息加热时间以及待加热位置信息进行加热,有机电致发光薄膜模拟分区各位置对应制冷元件根据待制冷位置信息以及待制冷位置制冷时间进行制冷;
加热元件包括加热器,如果温度高于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用加热器进行加热;
制冷元件包括半导体制冷片,如果温度低于激光移动路径中各位置温度模拟预估温度值,则使用半导体制冷片进行制冷;
制冷元件还包括温控风扇以及气流调节器,用于通过增加或减少空气流动来调节温度,温控风扇可以加速热量的散发,而气流调节器用于控制特定区域的气流,以保持恒定的温度环境。
8.如权利要求5所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,温度控制调节单元调取传感器监测数据,传感器监测数据从热电偶传感器、湿度传感器、光纤温度传感器、红外温度传感器以及热电阻传感器中获取,将传感器监测数据中的温度值与激光移动路径中各位置在指定时间的预估温度值进行对比,得到激光移动路径中各位置实际温差,将激光移动路径中各位置实际温差代入至预设的有机电致发光薄膜激光剥离温度调控模型中进行数据处理分析,得到激光移动路径中各位置实际调整温度参数。
9.如权利要求1所述的一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置,其特征在于,温度控制时间单元,包括:
在预估激光移动轨迹历史数据中调取激光的移动速度以及移动距离,根据激光的移动速度以及移动距离,计算出激光的移动时间,将激光的移动时间与有机电致发光薄膜模拟分区建立对应关系,得到激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息,并将激光在每个有机电致发光薄膜模拟分区经过的时间信息数据进行汇总排序,得到激光移动路径时间序列。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202410873809.9A CN118426520B (zh) | 2024-07-02 | 2024-07-02 | 一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202410873809.9A CN118426520B (zh) | 2024-07-02 | 2024-07-02 | 一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN118426520A CN118426520A (zh) | 2024-08-02 |
CN118426520B true CN118426520B (zh) | 2024-08-30 |
Family
ID=92321688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202410873809.9A Active CN118426520B (zh) | 2024-07-02 | 2024-07-02 | 一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN118426520B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN118672324B (zh) * | 2024-08-22 | 2024-10-22 | 国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司 | 一种有机电致发光薄膜表面温度分布式温控系统 |
CN119045576B (zh) * | 2024-11-01 | 2024-12-31 | 国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司 | 一种有机电致发光薄膜温控系统 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102157709A (zh) * | 2010-01-19 | 2011-08-17 | 三星移动显示器株式会社 | 激光束照射装置以及制造有机发光显示设备的方法和装置 |
CN106531905A (zh) * | 2016-11-14 | 2017-03-22 | 电子科技大学 | 一种有机电致发光器件的激光封装装置以及方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100887368B1 (ko) * | 2007-12-17 | 2009-03-06 | 주식회사 엠엠티 | Co₂및 다이오드 레이저를 이용한 평판 디스플레이패널의 실링방법 |
JP6963163B2 (ja) * | 2018-01-19 | 2021-11-05 | 株式会社クオルテック | El表示パネルの製造方法およびel表示装置 |
KR102178626B1 (ko) * | 2018-10-30 | 2020-11-16 | 에이피시스템 주식회사 | 적층구조물 박리 방법, 유기발광소자 수리 방법 및 적층구조물 박리장치 |
-
2024
- 2024-07-02 CN CN202410873809.9A patent/CN118426520B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102157709A (zh) * | 2010-01-19 | 2011-08-17 | 三星移动显示器株式会社 | 激光束照射装置以及制造有机发光显示设备的方法和装置 |
CN106531905A (zh) * | 2016-11-14 | 2017-03-22 | 电子科技大学 | 一种有机电致发光器件的激光封装装置以及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN118426520A (zh) | 2024-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN118426520B (zh) | 一种有机电致发光薄膜激光剥离温控装置 | |
US10061365B2 (en) | Temperature prediction system using prediction models, temperature prediction method using prediction models, and non-transitory computer readable recording medium having therein program for temperature prediction using prediction models | |
CN118013793B (zh) | 一种晶体生长方法、系统、装置以及存储介质 | |
CN116926299B (zh) | 一种淬火炉控制系统及方法 | |
CN117066496B (zh) | 一种铸造冷却控制方法及系统 | |
CN117170446B (zh) | 一种用于真空热压炉的循环水智能调节方法及系统 | |
CN111665882A (zh) | 温度控制方法及系统 | |
WO2022257267A1 (zh) | 环境参数控制设备集群控制方法、装置、设备及存储介质 | |
CN117873202B (zh) | 基于性能稳定性的光学仪器温度控制方法及系统 | |
JP2003510676A (ja) | コンベヤ式熱プロセッサ内の部品の温度レスポンスを制御する方法及び装置 | |
CN114690636A (zh) | 基于机理参数在线修正的反应量热系统模型预测控温方法 | |
CN118034052B (zh) | 基于数字孪生的洁净环境智慧后勤管理系统 | |
CN118938842A (zh) | 基于大数据的电炉生产管理系统 | |
Liu et al. | Active thermal balance control for improving orientation error of vertical machine tool spindle | |
WO2018122635A1 (en) | Method and system for regulating temperature of data center | |
CN114065602A (zh) | 温度预测方法、模型训练方法及相关设备 | |
TWI795340B (zh) | 冷櫃控制系統及溫度控制主機 | |
Baxendale et al. | Data center temperature control using PI system and MATLAB | |
CN116757083A (zh) | 一种gis隔离开关内部过热缺陷预测方法及系统 | |
CN119045576B (zh) | 一种有机电致发光薄膜温控系统 | |
CN119277577B (zh) | 一种石墨烯层的多点恒温加热控制方法及系统 | |
US12253891B2 (en) | Temperature control system and temperature control method for air circulation | |
CN118963466B (zh) | 基于监测数据分析的加热丝智能化温控系统 | |
US12050441B2 (en) | Method for controlling a process within a system, particularly a combustion process in a boiler or furnace | |
CN119336099A (zh) | 基于左右对称温度预测的玻璃加热控制方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |