[go: up one dir, main page]

CN115828487A - 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN115828487A
CN115828487A CN202211616278.2A CN202211616278A CN115828487A CN 115828487 A CN115828487 A CN 115828487A CN 202211616278 A CN202211616278 A CN 202211616278A CN 115828487 A CN115828487 A CN 115828487A
Authority
CN
China
Prior art keywords
hard disk
wiring design
length
analysis table
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202211616278.2A
Other languages
English (en)
Inventor
郭美辰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN202211616278.2A priority Critical patent/CN115828487A/zh
Publication of CN115828487A publication Critical patent/CN115828487A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质,属于计算机技术领域。其中,排查硬盘布线设计的方法,包括:获取硬盘布线设计的拓扑图;基于硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;基于线距分析表对硬盘布线设计进行布线验证,确定硬盘布线设计符合布线规范。实现了硬盘布线设计的自动检测,提高了检视效率、减少检视人员的检视时间以及减少因人为失误导致的误判。

Description

排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
在服务器硬件设计中,硬盘布线设计是非常重要的一个环节,如果硬盘布线设计不良,将导致电路阻抗增大,甚至导致服务器损坏。因此,需要对硬盘布线设计进行严格的检测。现有技术是通过在设计阶段进行硬盘布线设计评审,检视每段高速线距的差异。目前检视工作是靠人力完成的,当硬盘中串行总线总数过多时,需要检视人员花费较长的检视时间,且存在因人为失误导致误判的现象。
发明内容
本发明提供一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质,用以解决现有技术中通过人力进行排查硬盘布线设计,花费时间较长且存在误判的缺陷,实现排查硬盘布线设计的自动检测,提高了检视效率、减少检视人员的检视时间、以及减少因人为失误导致的误判。
第一方面,本发明提供一种排查硬盘布线设计的方法,包括:
获取硬盘布线设计的拓扑图;
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表,包括:
基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范,确定所述线距分析表中各待分析线段;
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,将所述走线长度填入所述线距分析表中。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,包括:
通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度;
通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果;
基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各待分析线段的走线长度之和,得到第一长度;
确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制,得到总长验证结果。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各差分对的长度之差的绝对值;
确定所述各差分对的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求,得到差分对等长验证结果。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各绑定组别的长度之差的绝对值;
确定所述各绑定组别的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求,得到绑定组别等长验证结果。
第二方面,本发明提供一种排查硬盘布线设计的装置,包括:
拓扑获取单元,用于获取硬盘布线设计的拓扑图;
表格建立单元,用于基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
布线验证单元,用于基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
第三方面,本发明提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如第一方面任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
第四方面,本发明提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
本发明提供的一种排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质,通过获取硬盘布线设计的拓扑图;基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,实现硬盘布线设计的自动检测,提高了检视效率、减少检视人员的检视时间、以及减少因人为失误导致的误判。
附图说明
为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一个实施例提供的排查硬盘布线设计的方法的流程示意图;
图2为本发明一个实施例提供的硬盘布线设计的SATA拓扑图示意图;
图3为本发明一个实施例提供的线距分析表示意图;
图4为本发明一个实施例提供的排查硬盘布线设计装置的结构示意图;
图5为本发明一个实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明中的附图,对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供的排查硬盘布线设计的方法的执行主体可以是电子设备、电子设备中的功能实体或单元,如集成电路、或芯片等。该电子设备可以是移动电子设备,也可以为非移动电子设备。示例性的,移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer,UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant,PDA)等,非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(Network Attached Storage,NAS)或个人计算机(personal computer,PC)等,本发明不作具体限定。下面结合图1-图5对本发明进行描述。
图1为本发明一个实施例提供的排查硬盘布线设计的方法的流程示意图。如图1所示,该排查硬盘布线设计的方法,包括以下步骤:
步骤100、步骤101和步骤102。该方法流程步骤仅仅作为本发明一个可能的实现方式。
步骤100、获取硬盘布线设计的拓扑图;
通常硬盘采用串行计算机总线(Serial Advanced Technology Attachment,SATA)接口,在主板和大容量存储设备(如硬盘及光盘驱动器)之间进行数据传输。电子设备获取待测硬盘对应的硬盘布线设计的拓扑图。可以理解,硬盘布线设计是对硬盘中多个高速信号的布线设计,每个硬盘布线设计都有对应的布线设计拓扑图,可以存储在电子设备的存储器中。
可以理解,硬盘布线设计的拓扑图为SATA拓扑图。SATA拓扑图中包含待测硬盘中每个高速信号对应的各种线段信息,这些线段信息用于在对待测硬盘布线设计进行布线验证。图2本发明一个实施例提供的硬盘布线设计的SATA拓扑图示意图,如图2所示,图中各线段信息所代表的含义如下:
PCH:南桥芯片;
Via:导孔;
Dogbone:通道走线;
Breakout:一条走线所有的引出线部分;
Main_sl_or_us1:线段;
Main_us_2:线段;
Main_us_3:线段;
LAI:线段;
Main_us_4:线段;
Breakin:一条走线所有引入线部分;
HDD:硬盘驱动器。
步骤101、基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
电子设备提取所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号对应的各个线段信息,建立线距分析表。
图3为本发明一个实施例提供的线距分析表的示意图。如图3所示。线距分析表中的列信息的一部分为提取到的所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号的各个线段信息。线距分析表中的行信息为待测硬盘中的每个高速信号。
步骤102、基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
可选地,对所述线距分析表中每个高速信号对应的各种线段信息进行计算分析,并判断计算分析得到的结果是否符合布线规范中各检视目标参数的要求。
在本发明实施例中,通过获取硬盘布线设计的拓扑图;基于硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;基于线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定硬盘布线设计符合布线规范,实现排查硬盘布线设计的自动检测,提高了检视效率、减少检视人员的检视时间、以及减少因人为失误导致的误判。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表,包括:
基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范,确定所述线距分析表中各待分析线段;
可选地,电子设备将提取到的所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号的各个线段信息作为线距分析表中的列信息的第一部分。
如图3所示,电子设备将提取到的所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号的各个线段信息,如:Signal name、via、Dogbone、Breakout、Main_sl_or_us1+Main_us_2、Main_us_3+Main_us_4、Breakin作为线距分析表中的列信息的第一部分。
将布线规范的检视目标参数作为线距分析表中的列信息的第二部分;布线规范的检视目标参数包括目标长度、差分对等长和绑定组别等长。如图3所示,将目标长度、差分对等长和绑定组别作为线距分析表中的列信息的第二部分,图3中LT代表目标长度、Differential matching代表差分对等长、Bundle matching代表绑定组别等长。
线距分析表中各待分析线段由线距分析表中的列信息的第一部分和线距分析表中的列信息的第二部分组成。
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,将所述走线长度填入所述线距分析表中。
可选地,所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号的各个线段信息包括各个线段的命名以及对应的走线长度等。将提取到的所述硬盘布线设计的拓扑图中的每个高速信号的各个线段信息的走线长度,作为所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,并将所述走线长度填入所述线距分析表中。
在本发明实施例中,明确了线距分析表中各待分析线段的组成以及线距分析表中各待分析线段的走线长度的数值的获取方式。通过自动创建的线距分析表,实现了排查硬盘布线设计的自动检测,提高了检视效率。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,包括:
通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度;
通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。
可选地,布局程式(Cadence Allegro)是一款功能强大的PCB电路设计软件。为用户提供了几乎所有的电子设计流程,拥有高速、高密度、多层的复杂PCB设计布线功能。通过Cadence Allegro软件用户可以进行参数扫描分析和统计分析,提高了原理图设计效率。
电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的命名,如图3所示,PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>、PSESA_CPU1_TX_C_DN<0>、PSESA_CPU1_TX_C_DP<1>、PSESA_CPU1_TX_C_DN<1>为电子设备提取到的所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的命名。
电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的走线长度。例如,电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Breakout线段的走线长度的数值数据是877.5。电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Breakin线段的走线长度的数值数据是156.48。电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Main_sl_or_us1线段的走线长度和Main_us_2线段的走线长度之和是3231.51。
可选地,电子设备通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的命名中,找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,将所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的走线长度并自动匹配到所述线距分析表中各待分析线段的走线长度中。
例如,电子设备通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中每个高速信号对应的各种线段的命名中,例如,从所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的各个线段的命名中,如Dogbone、Main_sl_or_us1、Main_us_2、Main_us_3、LAI、Main_us_4、Breakin。找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,如Dogbone、Main_sl_or_us1、Main_us_2、Main_us_3、Main_us_4、Breakin。
将电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Breakout线段的走线长度的数值数据877.5,自动匹配到所述线距分析表中与PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>对应的Breakout线段的走线长度中。将电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Breakin线段的走线长度的数值数据156.48,自动匹配到所述线距分析表中与PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>对应的Breakin线段的走线长度中。将电子设备通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中命名为PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>的高速信号对应的Main_sl_or_us1线段的走线长度和Main_us_2线段的走线长度之和是3231.51,自动匹配到所述线距分析表中与PSESA_CPU1_TX_C_DP<0>对应的Main_sl_or_us1+Main_us_2线段的走线长度中。
在本发明实施例中,通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度;通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,实现了用于排查硬盘布线设计所需的各个线段的走线长度的自动获取,提高了检视效率。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果;
基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
可选地,电子设备将所述线距分析表中各待分析线段的走线长度进行综合分析计算,对所述硬盘布线设计进行总长验证,将计算得到的结果与所述硬盘布线设计的总长限制进行比较,得到总长验证结果。
电子设备将所述线距分析表中各待分析线段的走线长度进行综合分析计算,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,将计算得到的结果与所述硬盘布线设计的差分对对齐要求进行比较,得到差分对等长验证结果。
电子设备将所述线距分析表中各待分析线段的走线长度进行综合分析计算,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,将计算得到的结果与所述硬盘布线设计的绑定组别对齐要求进行比较,得到绑定组别等长验证结果。
在本发明实施例中,通过对所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行总长验证、差分对等长验证以及绑定组别等长验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,可实现硬盘布线设计是否符合布线规范的自动排查,减少检视人员的检视时间,提高检视效率。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各待分析线段的走线长度之和,得到第一长度;
确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制,得到总长验证结果。
可选地,电子设备通过对所述线距分析表中的各待分析线段的走线长度进行求和运算,得到第一长度。第一长度对应图3中的LT列,此列中的各个数值数据是通过对所述线距分析表中每个高速信号的Dogbone列、Breakout列、Main_sl_or_us1+Main_us_2列、Main_us_3+Main_us_4列和Breakin列中的数值数据进行求和得到的。例如,第20行LT列对应的数值的公式为=SUM(C20:G20)。
电子设备将所述第一长度与硬盘布线设计的总长限制进行比较,确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制,得到总长验证结果。
硬盘布线设计的总长限制要求是依据数据库、客户设计要求或根据经验确定的。例如,硬盘布线设计的总长限制要求为小于8000mil。若所述第一长度满足小于8000mil,则线距分析表中的Differential matching列下的Targe子列的显示结果为PASS,代表总长验证结果合格,否则总长验证结果视为不合格。
在本发明实施例中,明确了硬盘布线设计符合布线规范中的关于总长验证的具体判定方式,通过线距分析表中的Differential matching下的Targe子列可以直观地判断硬盘布线设计是否符合布线规范中的总长要求,提高了检视效率。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各差分对的长度之差的绝对值;
确定所述各差分对的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求,得到差分对等长验证结果。
可选地,SATA这类串行信号总线采用差分信号,由于管脚分布、过孔、以及走线空间等因素存在使得差分线长度不匹配,时序会发生偏移,还会引入共模干扰,降低信号质量。相应地,要对差分对不匹配的情况作出补偿,使其线长匹配,长度差通常控制在5mil以内,补偿原则是哪里出现长度差则补偿哪里;为了保证差分信号的信号质量,对差分信号对的布线一般会要求等长且按总线规范的要求进行阻抗匹配的控制。
电子设备通过对所述线距分析表中的各待分析线段的走线长度进行各差分对的长度之差的绝对值运算,得到各差分对的长度之差的绝对值运算的运算结果。如图3中Differential matching列包括Tolerance子列和Targe子列,Tolerance子列的各个数值数据是通过对所述线距分析表中的Dogbone列、Breakout列、Main_sl_or_us1+Main_us_2列、Main_us_3+Main_us_4列和Breakin列中的数值数据进行各差分对的长度之差的绝对值运算得到的。例如,图3中第20行对应的Differential matching列下的Tolerance子列数值数据对应的公式为=IF(OR(ABS(H20-H21)>$N$20,ABS(C20-C21)>$N$20,ABS(D20+E20-D21-E21)>$N$20,ABS(F20-F21)>$N$20,ABS(G20-G21)>$N$20),"Not match","OK"),其中,$N$20中的数值为2000。
电子设备将各差分对的长度之差的绝对值运算的运算结果与硬盘布线设计的差分对对齐要求进行比较,确定各差分对的长度之差的绝对值运算的运算结果是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求,得到差分对等长验证结果。
例如,硬盘布线设计的差分对对齐要求为大于2000mil。若各差分对的长度之差的绝对值运算的运算结果满足大于2000mil,则Tolerance子列显示结果为OK,代表差分对等长验证结果合格,否则Tolerance子列显示结果为not matching,代表差分对等长验证结果不合格。
在本发明实施例中,明确了硬盘布线设计符合布线规范中的关于差分对等长验证的具体判定方式,通过线距分析表中的Differential matching下的Tolerance子列的显示结果可以直观地判断硬盘布线设计是否符合布线规范中的差分对对齐要求,提高了检视效率。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各绑定组别的长度之差的绝对值;
确定所述各绑定组别的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求,得到绑定组别等长验证结果。
可选地,电子设备通过对所述线距分析表中的各待分析线段的走线长度进行各绑定组别的长度之差的绝对值运算,得到各绑定组别的长度之差的绝对值运算的运算结果。如图3中Bundle matching列包括Tolerance子列和Total Tolerance子列,Tolerance子列的各个数值数据是通过对所述线距分析表中的Dogbone列、Breakout列、Main_sl_or_us1+Main_us_2列、Main_us_3+Main_us_4列和Breakin列中的数值数据进行各绑定组别的长度之差的绝对值运算得到的。例如,图3中第20行对应的Bundle matching列下的Tolerance子列对应的公式为=ABS(H20-MIN(H$20:H$23))。图3中第20行对应的Bundle matching列下的Total Tolerance子列对应的公式为=IF(OR(ABS(H20-H21)>$N$20,ABS(C20-C21)>$N$20,ABS(D20+E20-D21-E21)>$N$20,ABS(F20-F21)>$N$20,ABS(G20-G21)>$N$20),"Notmatch","OK"),其中$N$20中的数值为2000。
电子设备将各绑定组别的长度之差的绝对值运算的运算结果与硬盘布线设计的绑定组别对齐要求进行比较,确定各绑定组别的长度之差的绝对值运算的运算结果是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求,得到各绑定组别的长度之差的绝对值运算的运算结果等长验证结果。
例如,硬盘布线设计的绑定组别对齐要求为小于200mils。各绑定组别的长度之差的绝对值运算的运算结果与Bundle matching列下的Tolerance子列中的数值数据对应。
若各差分对的长度之差的绝对值运算的运算结果满足小于200mils,则代表差分对等长验证结果合格,否则视为不合格。
在本发明实施例中,明确了硬盘布线设计符合布线规范中的关于绑定组别等长验证的具体判定方式,通过线距分析表中的Bundle matching下的Tolerance子列的显示结果可以直观地判断硬盘布线设计是否符合布线规范中的绑定组别对齐要求,提高了检视效率。
下面对本发明提供的排查硬盘布线设计的装置进行描述,下文描述的排查硬盘布线设计的装置与上文描述的排查硬盘布线设计的方法可相互对应参照。
图4为本发明一个实施例提供的排查硬盘布线设计装置的结构示意图,如图4所示,该装置400包括:
拓扑获取单元410,用于获取硬盘布线设计的拓扑图;
表格建立单元420,用于基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
布线验证单元430,用于基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表,包括:
基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范,确定所述线距分析表中各待分析线段;
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,将所述走线长度填入所述线距分析表中。
在一些实施例中,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,包括:
通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度;
通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果;
基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各待分析线段的走线长度之和,得到第一长度;
确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制,得到总长验证结果。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各差分对的长度之差的绝对值;
确定所述各差分对的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求,得到差分对等长验证结果。
在一些实施例中,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各绑定组别的长度之差的绝对值;
确定所述各绑定组别的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求,得到绑定组别等长验证结果。
在此需要说明的是,本发明实施例提供的排查硬盘布线设计的装置,能够实现上述排查硬盘布线设计的方法实施例所实现的所有方法步骤,且能够达到相同的技术效果,在此不再对本实施例中与方法实施例相同的部分及有益效果进行具体赘述。
图5示例了一种电子设备的实体结构示意图,如图5所示,该电子设备可以包括:处理器(processor)510、通信接口(Communications Interface)520、存储器(memory)530和通信总线540,其中,处理器510,通信接口520,存储器530通过通信总线540完成相互间的通信。处理器510可以调用存储器530中的逻辑指令,以执行排查硬盘布线设计的方法,该方法包括:获取硬盘布线设计的拓扑图;基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
此外,上述的存储器530中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,硬盘,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
另一方面,本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各方法提供的排查硬盘布线设计的方法,该方法包括:获取硬盘布线设计的拓扑图;基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下,即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件。基于这样的理解,上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,硬盘,或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,包括:
获取硬盘布线设计的拓扑图;
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
2.根据权利要求1所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表,包括:
基于所述硬盘布线设计的拓扑图和布线规范,确定所述线距分析表中各待分析线段;
基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,将所述走线长度填入所述线距分析表中。
3.根据权利要求2所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述硬盘布线设计的拓扑图,获取所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,包括:
通过布局程式提取所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名及走线长度;
通过命名方式,从所述硬盘布线设计的拓扑图中各种线段的命名中找出与所述线距分析表中各待分析线段对应一致的命名,并自动匹配出所述线距分析表中各待分析线段的走线长度。
4.根据权利要求2或3所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果;
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果;
基于所述总长验证结果、差分对等长验证结果以及绑定组别等长验证结果,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
5.根据权利要求4所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行总长验证,得到总长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各待分析线段的走线长度之和,得到第一长度;
确定所述第一长度是否满足硬盘布线设计的总长限制,得到总长验证结果。
6.根据权利要求4所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行差分对等长验证,得到差分对等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各差分对的长度之差的绝对值;
确定所述各差分对的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的差分对对齐要求,得到差分对等长验证结果。
7.根据权利要求4所述的排查硬盘布线设计的方法,其特征在于,所述基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,对所述硬盘布线设计进行绑定组别等长验证,得到绑定组别等长验证结果,包括:
基于所述线距分析表中各待分析线段的走线长度,计算各绑定组别的长度之差的绝对值;
确定所述各绑定组别的长度之差的绝对值是否满足硬盘布线设计的绑定组别对齐要求,得到绑定组别等长验证结果。
8.一种排查硬盘布线设计的装置,其特征在于,包括:
拓扑获取单元,用于获取硬盘布线设计的拓扑图;
表格建立单元,用于基于所述硬盘布线设计的拓扑图,建立线距分析表;
布线验证单元,用于基于所述线距分析表对所述硬盘布线设计进行布线验证,确定所述硬盘布线设计符合布线规范。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的排查硬盘布线设计的方法。
CN202211616278.2A 2022-12-15 2022-12-15 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质 Pending CN115828487A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211616278.2A CN115828487A (zh) 2022-12-15 2022-12-15 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211616278.2A CN115828487A (zh) 2022-12-15 2022-12-15 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115828487A true CN115828487A (zh) 2023-03-21

Family

ID=85547515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211616278.2A Pending CN115828487A (zh) 2022-12-15 2022-12-15 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115828487A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106487462B (zh) 一种插入损耗测试方法与系统
US7559045B2 (en) Database-aided circuit design system and method therefor
CN105740611B (zh) 一种线缆损耗的计算方法及系统
US8422567B2 (en) Signal transmission apparatus and method
CN111965529B (zh) 芯片信号传输损耗的测试方法、测试装置及可读存储介质
CN106604550B (zh) 一种线路阻抗调节方法和系统
CN111682979A (zh) 高速信号测试板生成方法及装置
US9891256B2 (en) Determining the current return path integrity in an electric device connected or connectable to a further device
CN114138660A (zh) 缺陷处理方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品
CN117272922A (zh) 芯片的失效分析方法、芯片设计方法、装置、设备及介质
CN115081389A (zh) 一种印刷电路板走线检查方法、装置、设备、存储介质
CN115828487A (zh) 排查硬盘布线设计的方法、装置、电子设备及存储介质
CN107908873B (zh) 一种高速线跨参考平面的检查方法及装置
CN110399682A (zh) 一种多pcb的水平垂直走线检查方法及相关装置
CN107703360A (zh) 一种服务器完整信号链路的阻抗测试系统及方法
US6512377B1 (en) Method and apparatus for extraction of via parasitics
CN113704035B (zh) 一种时延检测方法、装置及相关设备
CN113807044B (zh) 抗串扰pcie端口通道设计方法、系统、终端及存储介质
CN116504777A (zh) 集成电路中电源通孔连接完整性的检测方法、装置及设备
CN114638186A (zh) 一种印刷电路板的仿真方法及装置
CN113268390A (zh) 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法
CN202102419U (zh) 串行连接小型计算机系统接口设备检测系统
CN107943641A (zh) 一种生成多端口s参数文档的方法及装置
CN109194541B (zh) 一种网络测试方法及系统
CN115906530A (zh) 一种高速差分信号优化方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination