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CN115479921B - 时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置 - Google Patents

时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置 Download PDF

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CN115479921B CN202211156899.7A CN202211156899A CN115479921B CN 115479921 B CN115479921 B CN 115479921B CN 202211156899 A CN202211156899 A CN 202211156899A CN 115479921 B CN115479921 B CN 115479921B
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Abstract

本发明公开了一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置，利用探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论，以此进行计算机仿真实验来优选出探测光波长。本发明优选出时域布里渊散射实验中的探测光波长，可以获得更优的利用时域布里渊散射实验进行检测分析的效果。

Description

时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置
技术领域
本申请涉及检测分析技术领域，特别是涉及一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置。
背景技术
时域布里渊散射技术(Time-domainBrillouin scattering，TDBS)是一种高灵敏度的检测分析技术，其原理是用一束泵浦脉冲激发样品中原子或分子的运动，再用一束可以调节时间差的探测脉冲对某一时刻样品内原子或分子运动变化进行探测，即对声子的探测，在实验上测得的表现形式为样品表面的反射率变化。根据材料的不同、探测光及泵浦光的波长和功率等变化，所测量得到的反射率变化也会因此而改变，其变化一般由一段由电子涨落引起的曲线和一段阻尼振荡组成，其中的阻尼振荡正是研究的核心，包含三个重要的参数：振荡的振幅、振荡的频率、振荡的衰减系数。
TDBS技术具有无损、无接触、灵敏度高等优点，通常能够探测到10-5量级的反射率变化。采用TDBS技术，能够将时域信号转换为频域信号用于测量样品声速(折射率已知的情况下)；通过追踪信号的振幅衰减，可以计算出样品声波能量的耗散速率；对纳米尺度的粒子、生物样品等结构进行无创成像；同时TDBS技术还能在电子带间跃迁的研究中发挥作用。
声子分为光学支和声学支，声学支具有以下的特点：1、振荡频率会随着探测光波长的不同而变化，即布里渊频率其中λpr是探测光波长，npr是在该探测波长下样品的折射率，v是样品的声速；2、声学声子的振荡频率通常只有亚GHz的量级，远小于光学声子的THz的量级；3、通常能够在100ps的时间范围内观测到相干声学声子振荡，而光学声子的可观测范围则小得多。例如在Ge的TDBS实验中，通常测量到的是声学支(CAP)，TDBS实验方法可以探测大部分样品中的CAP，在实验中Ge只是作为一个常见的半导体系统进行展示。由于实验中使用的光波长通常在可见光的范围，因此毫米量级的Ge材料可以视为大块材料。
在TDBS实验中，为了更高效、更准确地从实验数据中提取有效信息，通常希望振荡信号的振幅足够大，能观测到的信号足够多，同时由于实验中光电器件的分辨率有限，频率越小的振荡分析起来越困难。因此，如何找到一个方法，能够使这三个因素同时满足要求就显得非常重要。
发明内容
本发明针对上述问题，提供了一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置，利用探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论，以此进行计算机仿真实验来优选出探测光波长。
本发明的第一方面，一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，包括：
基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数τ＝1/(αpu×v)来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数τ变化的结论，其中αpu是泵浦光的吸收系数，v是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅A0、频率f和振荡持续时间τ三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
本发明的进一步技术方案为：所述方法还包括对找出的优选探测波长进行多次仿真实验进行验证。
本发明的进一步技术方案为：所述基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，反射率的具体变化公式为：
其中，i表示虚数，k＝2π/λpr表示探测光波数，λpr表示探测光波长，表示介质介电常数对光子能量的导数，v表示介质的声速；acv表示相对形变势耦合常数，npr表示介质对于探测光的复折射率，αpu表示泵浦光的吸收系数，Rpu表示介质对于泵浦光的反射率，F表示泵浦光通量，ρ表示介质的密度，t表示时间，c是光速，表示约化普朗克常数；ωpu表示pump光的角频率。
本发明的进一步技术方案为：所述材料系统的参数包括介质介电常数对光子能量的导数、介质声速、相对形变势耦合常数、泵浦光的吸收系数、介质对于泵浦光的反射率、介质的密度、介质对于探测光的复折射率。
本发明的进一步技术方案为：当所述材料系统为Ge时，优选的时域布里渊散射实验探测波长范围为600-820nm。
本发明的第二方面，提供了一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置，包括：
探测光波长关系确认模块，用于基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
仿真实验模块，用于通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数τ＝1/(αpu×v)来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数τ变化的结论，其中αpu是泵浦光的吸收系数，v是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅A0、频率f和振荡持续时间τ三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
本发明提供的一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置，利用探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论，以此进行计算机仿真实验来优选出探测光波长。本发明优选出时域布里渊散射实验中的探测光波长，可以获得更优的利用时域布里渊散射实验进行检测分析的效果。
附图说明
图1(a)是本发明实施例中泵浦波长为800nm，泵浦光通量为0.3mJ/cm2，探测光波长分别在539nm,652nm及1127nm下的TDBS仿真结果图；
图1(b)是本发明实施例中提取阻尼振荡振幅，其中探测光子能量在1-4eV范围内得到的绘制图；
图1(c)是本发明实施例中可观测到振荡信号的时间范围以及振荡信号频率的仿真结果图；
图1(d)是本发明实施例中振荡信号的振幅、频率与观测范围三者的乘积随探测波长的变化效果图；
图2(a)是本发明另一实施例中泵浦波长为800nm，泵浦光通量为0.3mJ/cm2，探测光子能量分别在625，730，870，920nm下的TDBS实验结果图；
图2(b)是本发明另一实施例中振荡信号的振幅、频率与观测范围三者的乘积随探测波长的变化效果图；
图3是本发明实施例中时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅出示了与本发明相关的部分而非全部结构。
在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
本发明实施例针对一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置，提供了如下实施例：
基于本发明的实施例1
本发明实施例1的一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，包括：
基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
具体地，TDBS实验中的阻尼振荡信号受到多维度的影响，诸如探测波长、材料复折射率随入射光波长的变化、材料介电常数随入射光子能量的导数等等。反射率的变化可以表达为：
其中，i表示虚数，k＝2π/λpr表示探测光波数，λpr表示探测光波长，表示介质介电常数对光子能量的导数，v表示介质的声速；acv表示相对形变势耦合常数，npr表示介质对于探测光的复折射率，αpu表示泵浦光的吸收系数，Rpu表示介质对于泵浦光的反射率，F表示泵浦光通量，ρ表示介质的密度，t表示时间，c是光速，表示约化普朗克常数；ωpu表示pump光的角频率。从公式中可以看出，当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制，因此可以通过计算机仿真来寻找最佳的探测波长。
通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数τ＝1/(αpu×v)来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数τ变化的结论，其中αpu是泵浦光的吸收系数，v是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅A0、频率f和振荡持续时间τ三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
优选地，对于一个新的材料系统，只需要查到其介质介电常数对光子能量的导数、介质声速、相对形变势耦合常数、泵浦光的吸收系数、介质对于泵浦光的反射率、介质的密度、介质对于探测光的复折射率等参数即可进行仿真。
在一个具体实施例中，参见图1，是给定介质为Ge大块材料，泵浦光波长和通量分别为800nm和0.3mJ/cm2的仿真结果。在入射光波长大于300nm的范围，Ge对入射光的吸收系数呈下降趋势，因此采用越大的探测光波长，所能探测的距离就越远，在时域上的表现就是振荡的持续时间越长。用一个参数τ＝1/(αpu×v)来量化振荡的持续时间，如图1(c)所示，可观测到振荡信号的时间范围τ＝1/(αpu×v)，以及振荡信号的频率，在探测波长小于550nm时，τ的数值仅在1ps的级别，此时很难观测到完整的振荡，图1(a)也佐证了这点，图1(a)泵浦波长为800nm，泵浦光通量为0.3mJ/cm2，探测光波长分别在539nm,652nm及1127nm下的TDBS仿真结果图，表现形式为反射率变化随时间延迟的阻尼振荡，探测波长为539nm所对应的曲线，很难观测到一个完整的振荡；而随着探测波长增加到1127nm，在200ps的范围内仍能观测到振荡，因此，由于探测波长不同引起的τ的变化，是实验中重点考量的一个因素。
另一个需要重点考量的因素是振荡的振幅，因此对310-1240nm范围内的波长进行了仿真，并提取了对应的振幅，绘制出图1(b)的曲线，图1(b)提取阻尼振荡的振幅A0，其中探测光子能量在1-4eV的范围内，注意到620nm处有振幅的最大值，且随着波长增加或减小，振幅都快速地减小，这是由于620nm处对振幅的贡献最大，而随着波长增加或减少，的贡献急剧下降。
另外，振荡的频率对实验数据的提取也有一定的影响，如图1(c)所示，在310-1240nm的探测波长范围内，振荡的频率总体呈现随波长的增加而下降的趋势。在TDBS实验中，由于噪声及光电器件精度的影响，振荡频率越大意味着在同一个时间尺度下能够观测到的振荡数量越多，这对于分析信号是有利的。因此，将振荡信号的振幅A0、频率f和振荡持续时间τ三者做乘积并以图1(d)的形式展示出来，图1(d)振荡信号的振幅A0、频率f与观测范围τ三者的乘积随探测波长的变化，反映了三个重要指标对于实验结果的贡献，灰度框部分是TDBS实验建议最佳波长选取范围。从图中可以看到，虽然在1100nm后有较高的数值，但考虑振荡的振幅过小，不纳入考虑范围。而灰度区域覆盖的波长范围，无论是振荡的振幅、频率，还是持续时间，都符合实验结果的要求，因此可认为在Ge的TDBS实验中，最佳的探测波长选取范围为600-820nm。
优选地，所述方法还包括对找出的优选探测波长进行多次仿真实验进行验证。
具体地，参见图2，图2(a)是在相同介质和泵浦条件下的TDBS实验结果图，曲线由背景热信号和阻尼振荡组成。图2(a)泵浦波长为800nm，泵浦光通量为0.3mJ/cm2，探测光子能量分别在625，730，870，920nm下的TDBS实验结果图，通过减去背景信号可以提取出阻尼振荡的形式，对实验数据处理后提取上述提到的三个参数并作乘积绘制出如图2(b)所示的曲线，图2(b)与图1(d)类似，纵轴由实验数据提取出的三个参数的乘积组成，横轴是对应的探测波长。其具有和图1(d)一样的趋势，证明了该仿真对实验有指导意义。
基于本发明的实施例2
本发明实施例2所提供的一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置300可执行本发明任意实施例所提供的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果，该系统可以由软件和/或硬件(集成电路)的方式实现，并一般可集成于服务器或终端设备中。
图3是本发明实施例2中的一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置300的结构示意图。参照图3，本发明实施例的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置300具体可以包括：
探测光波长关系确认模块310，用于基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
仿真实验模块320，用于通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数τ＝1/(αpu×v)来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数τ变化的结论，其中αpu是泵浦光的吸收系数，v是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅A0、频率f和振荡持续时间τ三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
除了上述2个模块以外，装置300还可以包括其他部件，然而，由于这些部件与本公开实施例的内容无关，因此在这里省略其图示和描述。
一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置300的具体工作过程参照上述时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法实施例1的描述，不再赘述。
综合上述各实施例提供的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法及装置，利用探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论，以此进行计算机仿真实验来优选出探测光波长。本发明优选出时域布里渊散射实验中的探测光波长，可以获得更优的利用时域布里渊散射实验进行检测分析的效果。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (6)

1.一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，其特征在于，包括：
基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数τ变化的结论，其中是泵浦光的吸收系数，是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅、频率和振荡持续时间三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
2.根据权利要求1所述的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，其特征在于，所述方法还包括对找出的优选探测波长进行多次仿真实验进行验证。
3.根据权利要求1所述的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，其特征在于，所述基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，反射率的具体变化公式为：
，
其中，，表示虚数，表示探测光波数，表示探测光波长，表示介质介电常数对光子能量的导数，表示介质的声速；表示相对形变势耦合常数，表示介质对于探测光的复折射率，表示泵浦光的吸收系数，表示介质对于泵浦光的反射率，表示泵浦光通量，表示介质的密度，表示时间，是光速，表示约化普朗克常数；表示pump光的角频率。
4.根据权利要求1所述的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，其特征在于，所述材料系统的参数包括介质介电常数对光子能量的导数、介质声速、相对形变势耦合常数、泵浦光的吸收系数、介质对于泵浦光的反射率、介质的密度、介质对于探测光的复折射率。
5.根据权利要求1所述的时域布里渊散射实验中优选探测光波长的方法，其特征在于，当所述材料系统为Ge时，优选的时域布里渊散射实验探测波长范围为600-820 nm。
6.一种时域布里渊散射实验中优选探测光波长的装置，其特征在于，所述装置包括：
探测光波长关系确认模块，用于基于时域布里渊散射实验中反射率的变化公式，得到当探测光波长发生变化时，阻尼振荡的振幅、频率以及衰减系数均会被调制的结论；
仿真实验模块，用于通过仿真实验来寻找优选的探测波长，具体包括：
对于一个材料系统，根据所述材料系统的参数进行仿真：
针对振荡持续时间的考量，利用一个参数来量化震荡的持续时间，得到探测波长不同时会引起参数变化的结论，其中是泵浦光的吸收系数，是介质的声速；
针对振荡振幅的考量，找到振幅最大值时的探测波长；
针对振荡频率的考量，找到振荡频率随探测波长的增加而下降的规律；
将振荡信号的振幅、频率和振荡持续时间三者做乘积并绘图展现出来，通过图示找出优选的探测波长。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102679907A (zh) * 2012-06-01 2012-09-19 哈尔滨工业大学深圳研究生院 基于led光源高精度的微分干涉测量系统及方法
CN110672566A (zh) * 2019-10-18 2020-01-10 南昌航空大学 一种检测水中受激布里渊散射声光子晶体结构的方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4100574B2 (ja) * 2005-12-01 2008-06-11 国立大学法人 東京大学 光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
US20130330711A1 (en) * 2012-06-06 2013-12-12 National Taiwan University Sensor for detection of a target of interest
WO2015170355A1 (en) * 2014-05-05 2015-11-12 Filippo Bastianini Apparatus for interrogating distributed optical fibre sensors using a stimulated brillouin scattering optical frequency-domain interferometer
KR101727091B1 (ko) * 2016-06-30 2017-05-04 한국광기술원 브릴루앙 동적 격자의 주파수 영역 반사 측정을 이용한 분포형 광섬유 센서 장치 및 그 센싱방법
KR102429715B1 (ko) * 2020-11-19 2022-08-04 중앙대학교 산학협력단 단일 광원 변조 기반 브릴루앙 동적 격자 주파수 영역 반사 측정 장치 및 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102679907A (zh) * 2012-06-01 2012-09-19 哈尔滨工业大学深圳研究生院 基于led光源高精度的微分干涉测量系统及方法
CN110672566A (zh) * 2019-10-18 2020-01-10 南昌航空大学 一种检测水中受激布里渊散射声光子晶体结构的方法

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