CN115249511B

CN115249511B - Ddrsdram存储芯片多功能自动测试机

Info

Publication number: CN115249511B
Application number: CN202210918159.6A
Authority: CN
Inventors: 龙满珍; 何昭圣
Original assignee: Shenzhen Xindao Intelligent Equipment Co ltd
Current assignee: Shenzhen Xindao Intelligent Equipment Co ltd
Priority date: 2022-08-01
Filing date: 2022-08-01
Publication date: 2024-06-04
Anticipated expiration: 2042-08-01
Also published as: CN115249511A

Abstract

本申请涉及DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，属于芯片测试技术领域，通过设置的驱动机构和搬运机构，驱动机构能够带动搬运机构移动，搬运机构能够对存储芯片进行搬运，存储芯片经过下CCD相机时，通过下CCD相机能够对存储芯片的外观进行检测，通过设置的测试机构能够对存储芯片进行测试，通过设置的芯片编带模组能够对芯片进行编带，与现有技术相比，本申请能够完成多项测试，提高测试效率，功能多样，利于使用。

Description

DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机

技术领域

本发明涉及DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，属于芯片测试技术领域。

背景技术

DDRSDRAM是Double Data Rate SDRAM的缩写，是双倍速率同步动态随机存储器的意思，习惯称为DDR，DDR内存是在SDRAM内存基础上发展而来的，仍然沿用SDRAM生产体系，因此对于内存厂商而言，只需对制造普通SDRAM的设备稍加改进，即可实现DDR内存的生产，可有效的降低成本。

存储芯片是DDRSDRAM上重要的部件，存储芯片在生产完成之后需要进行多项测试以及编带，现有技术中不同项的测试需要在不同的测试机上进行，测试周期长，不利于使用。因此我们对此做出改进，提出DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机。

发明内容

（一）本发明要解决的技术问题是：现有技术中不同项的测试需要在不同的测试机上进行，测试周期长，不利于使用。

（二）技术方案

为了实现上述发明目的，本发明提供了DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，包括机箱，所述机箱的顶部设置有防护罩，所述机箱的顶部设置有位于防护罩内的驱动机构，所述驱动机构包括设置在机箱顶部的Y轴驱动部，所述Y轴驱动部上设置有X轴驱动部，所述X轴驱动部上设置有搬运机构；

所述机箱的顶部还设置有位于Y轴驱动部中的托盘上下料模组以及位于托盘上下料模组一侧的芯片编带模组，所述托盘上下料模组和芯片编带模组的一端均穿出防护罩并延伸至防护罩一侧的外部，所述机箱的顶部还设置有位于托盘上下料模组一侧的下CCD相机以及若干个分别位于托盘上下料模组两侧的测试机构。

其中，所述Y轴驱动部包括安装在机箱顶部的Y轴驱动模组以及两个分别位于Y轴驱动模组两侧的Y轴轨道，所述X轴驱动部包括滑动连接在两个Y轴轨道顶部之间的X轴驱动模组，所述X轴驱动模组上设置有滑台。

其中，所述测试机构包括安装在机箱顶部的第一支撑架以及第二支撑架，所述第二支撑架上安装有测试座，所述测试座的一侧铰接有若干个盖板，所述第一支撑架的顶部安装有若干个气缸，若干个所述气缸的输出轴上均安装有连接架，若干个所述连接架的顶部均安装有传动板，若干个所述传动板的一端分别与若干个盖板铰接。

其中，所述搬运机构为第一搬运组件，所述第一搬运组件包括安装在滑台一侧的第一立板，所述第一立板的背面安装有两个第一电机，两个所述第一电机的输出轴均穿过第一立板并延伸至第一立板的正面，两个所述第一电机的输出轴与第一立板的正面之间均传动连接有传动带，所述第一立板的正面通过导轨滑动连接有承载台，两个所述承载台分别与两个传动带连接，两个所述承载台上均设置有第一气管，两个所述第一气管底端均设置有第一真空吸嘴，所述第一立板的一侧安装有上CCD相机。

其中，所述搬运机构为第二搬运组件，所述第二搬运组件包括安装在滑台一侧的第二立板，所述第二立板的一侧安装有上CCD相机，所述第二立板的背面安装有两个第二电机，两个所述第二电机的输出轴均穿过第二立板并延伸至第二立板的正面，两个所述第二电机的输出轴均固定安装有位于第二立板正面的主动轮。

其中，所述第二立板的正面开设有两个第一滑槽，两个所述第一滑槽分别位于两个主动轮的下方，两个所述第一滑槽内均固定安装有第一立杆，两个所述第一立杆的外表面均滑动连接有第一滑块，两个所述第一滑块的正面均固定安装有支撑杆，两个所述支撑杆的外表面均转动连接有从动轮，所述从动轮与主动轮之间转动连接有皮带，所述第一立杆的外表面套设有位于第一滑块上方的第一弹簧。

其中，每个所述皮带与第二立板之间均设置有搬运件，所述搬运件包括安装在第二立板正面的限位导轨，所述限位导轨的外表面滑动连接有滑座，所述滑座的一侧与皮带连接，所述滑座的正面通过螺栓和夹板夹持有第二气管，所述第二气管的底端连接有第二真空吸嘴。

其中，所述滑座与第二立板之间设置有辅助件，所述辅助件包括开设在第二立板上的第二滑槽，所述第二滑槽内固定安装有第二立杆，所述第二立杆的外表面滑动连接有第三滑块，所述第三滑块的正面固定安装有配重块，所述配重块靠近滑座的一侧固定安装有第一挡板，所述滑座靠近配重块的一侧固定安装有位于第一挡板下方的第二挡板，所述配重块的底部固定安装有连接杆，所述连接杆的底部固定安装有压环，所述压环的底部固定安装有若干个压杆，所述压环位于第二真空吸嘴外周侧。

其中，所述配重块与滑座相互靠近的一面分别安装有第一挡条以及第二挡条，所述第一挡条靠近第二挡条的一面开设有插槽，所述第二挡条内开设有腔室，所述腔室靠近第一挡条一侧壁上嵌设有密封圈，所述腔室内滑动连接有活塞，所述活塞的一侧固定安装有插杆，所述插杆的一端能够穿过密封圈并与插槽进行配套插接，所述插杆的外表面套设有位于腔室内的第二弹簧，所述第二挡条与第二气管之间固定连通有输送管。

其中，所述第二立板的背面固定安装有支撑轴，所述支撑轴的外表面通过轴承转动连接有限位杆，所述第二立杆的外表面滑动连接有位于第三滑块下方的第二滑块，所述第二滑块的背面固定安装有第二挡杆，所述第一滑块的背面固定安装有第一挡杆，所述第一挡杆以及第二挡杆的顶部均与限位杆的底部接触，所述第二立杆的外表面套设有位于第二滑块下方的第三弹簧。

（三）有益效果

本发明所提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其有益效果是：

1.通过设置的驱动机构和搬运机构，驱动机构能够带动搬运机构移动，搬运机构能够对存储芯片进行搬运，存储芯片经过下CCD相机时，通过下CCD相机能够对存储芯片的外观进行检测，通过设置的测试机构能够对存储芯片进行测试，通过设置的芯片编带模组能够对芯片进行编带，与现有技术相比，本申请能够完成多项测试，提高测试效率，功能多样，利于使用；

2.通过设置的搬运机构，搬运机构为第一搬运组件时，能够对两组存储芯片进行自动搬运，提高测试效率；

3.通过设置的搬运机构，搬运机构为第二搬运组件时，第二真空吸嘴下降与存储芯片接触，而压杆也与存储芯片接触，此时插杆对准插槽，当第二真空吸嘴对存储芯片进行真空吸附时，活塞在气压的作用下向第一挡条移动使得插杆插入插槽中，此时压杆与第二真空吸嘴同步升降，当第二真空吸嘴内气压恢复时，存储芯片落下，而插杆与插槽分离，此时第二真空吸嘴先上升，而压杆后上升，通过压杆能够对存储芯片进行限位，避免存储芯片在第二真空吸嘴上升时被第二真空吸嘴带偏，提高存储芯片放置的准确性；

4.通过设置的搬运机构，搬运机构为第二搬运组件时，皮带断裂时，第一弹簧的作用力推动第一滑块下降，此时第三弹簧的作用力推动第二滑块以及第三滑块上升，第三滑块通过配重块、第一挡板以及第二挡条推动滑座上升，这样能在皮带断裂时避免第二气管以及第二真空吸嘴下坠对该测试机的其他部件撞击造成伤害，提高使用时的安全性，即辅助件能够辅助存放芯片放置，还能够在皮带断裂时对滑座进行抬升，提高了整体的功能性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的结构示意图；

图2为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的第一种实施例的结构示意图；

图3为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的图2的俯视结构示意图；

图4为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的图2中A处放大结构示意图；

图5为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的图2中B处放大结构示意图；

图6为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的第二种实施例的结构示意图；

图7为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的第二搬运组件的结构示意图；

图8为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的皮带的结构示意图；

图9为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的第二立板的局部后视剖切结构示意图；

图10为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的图8中C处放大结构示意图；

图11为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的图8中D处放大结构示意图；

图12为本申请提供的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机的第二挡条的剖视结构示意图。

1、机箱；

2、防护罩；

3、驱动机构；301、Y轴驱动模组；302、Y轴轨道；303、X轴驱动模组；304、滑台；

4、第一搬运组件；402、第一立板；403、第一电机；404、传动带；405、承载台；406、第一气管；407、第一真空吸嘴；

5、上CCD相机；

6、测试机构；601、第一支撑架；602、气缸；603、连接架；604、传动板；605、盖板；606、测试座；607、第二支撑架；

7、下CCD相机；

8、托盘上下料模组；

9、芯片编带模组；

10、第二搬运组件；1001、第二立板；1002、第二电机；1003、主动轮；1004、第一滑槽；1005、第一立杆；1006、第一滑块；1007、支撑杆；1008、从动轮；1009、皮带；1010、滑座；1011、第二气管；1012、第二真空吸嘴；1013、第二滑槽；1014、第二立杆；1015、第二滑块；1016、第三弹簧；1017、第三滑块；1018、配重块；1019、第一挡板；1020、第二挡板；1021、连接杆；1022、压环；1023、压杆；1024、第一挡条；1025、第二挡条；1026、插槽；1027、腔室；1028、密封圈；1029、活塞；1030、插杆；1031、输送管；1032、支撑轴；1033、限位杆；1034、第一挡杆；1035、第二挡杆；1036、限位导轨。

具体实施方式

下面结合说明书附图和实施例，对本发明的具体实施方式做进一步详细描述。以下实施例仅用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。

实施例1：

如图1、图2、图3、图4和图5所示，本实施方式提出DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，包括机箱1，机箱1的顶部设置有防护罩2，机箱1的顶部设置有位于防护罩2内的驱动机构3，驱动机构3包括设置在机箱1顶部的Y轴驱动部，Y轴驱动部上设置有X轴驱动部，X轴驱动部上设置有搬运机构，驱动机构3能够驱动搬运机构移动，实现对存储芯片的搬运；

机箱1的顶部还设置有位于Y轴驱动部中的托盘上下料模组8以及位于托盘上下料模组8一侧的芯片编带模组9，托盘上下料模组8和芯片编带模组9的一端均穿出防护罩2并延伸至防护罩2一侧的外部，机箱1的顶部还设置有位于托盘上下料模组8一侧的下CCD相机7以及若干个分别位于托盘上下料模组8两侧的测试机构6，存储芯片经过下CCD相机7时，通过下CCD相机7能够对存储芯片的外观进行检测，通过设置的测试机构6能够对存储芯片进行测试，通过设置的芯片编带模组9能够对芯片进行编带，与现有技术相比，本申请能够完成多项测试，提高测试效率，功能多样，利于使用。

如图2和图3所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，Y轴驱动部包括安装在机箱1顶部的Y轴驱动模组301以及两个分别位于Y轴驱动模组301两侧的Y轴轨道302，X轴驱动部包括滑动连接在两个Y轴轨道302顶部之间的X轴驱动模组303，X轴驱动模组303上设置有滑台304，Y轴驱动模组301能够驱动X轴驱动模组303沿着Y轴轨道302移动，而X轴驱动模组303能够驱动搬运机构沿着X轴驱动模组303移动。

如图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，测试机构6包括安装在机箱1顶部的第一支撑架601以及第二支撑架607，第二支撑架607上安装有测试座606，测试座606的一侧铰接有若干个盖板605，第一支撑架601的顶部安装有若干个气缸602，若干个气缸602的输出轴上均安装有连接架603，若干个连接架603的顶部均安装有传动板604，若干个传动板604的一端分别与若干个盖板605铰接，测试座606上设置有用于放置存储芯片的测试槽，将存储芯片放置在测试槽内后，通过气缸602推动连接架603以及传动板604向第二支撑架607方向移动，传动板604能够推动盖板605盖在测试座606上，从而对存储芯片进行测试。

如图4所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，搬运机构为第一搬运组件4，第一搬运组件4包括安装在滑台304一侧的第一立板402，第一立板402的背面安装有两个第一电机403，两个第一电机403的输出轴均穿过第一立板402并延伸至第一立板402的正面，两个第一电机403的输出轴与第一立板402的正面之间均传动连接有传动带404，第一立板402的正面通过导轨滑动连接有承载台405，两个承载台405分别与两个传动带404连接，两个承载台405上均设置有第一气管406，两个第一气管406底端均设置有第一真空吸嘴407，第一电机403通过第一立板402能够带动承载台405和第一气管406上下移动，通过第一真空吸嘴407能够对存储芯片进行吸附，第一立板402的一侧安装有上CCD相机5，第一气管406连接有真空过滤器，真空过滤器连接有真空发生器，真空发生器连接有电磁阀，电磁阀连接有过滤减压阀，过滤减压阀连接有压缩机。

具体的，本DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机在工作时/使用时：Y轴驱动模组301能够驱动X轴驱动模组303沿着Y轴轨道302移动，而X轴驱动模组303能够驱动第一搬运组件4沿着X轴驱动模组303移动，通过第一电机403和传动带404驱动承载台405上下移动，通过第一真空吸嘴407对存储芯片进行吸附并带动存储芯片移动，存储芯片移动至下CCD相机7处时，通过下CCD相机7对存储芯片外观进行检测，外观检测完成之后，存储芯片在驱动机构3和第一搬运组件4的带动下被放入测试座606上的测试槽内，通过气缸602推动连接架603以及传动板604向第二支撑架607方向移动，传动板604能够推动盖板605盖在测试座606上，从而对存储芯片进行测试，测试完成之后，通过气缸602推动连接架603以及传动板604向第一支撑架601方向移动，传动板604能够带动盖板605打开，第一搬运组件4将测试好的存储芯片取出并放入芯片编带模组9中进行编带。

实施例2：

下面结合具体的工作方式对实施例1中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：

如图1和图6所示，本实施方式提出DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，包括机箱1，机箱1的顶部设置有防护罩2，机箱1的顶部设置有位于防护罩2内的驱动机构3，驱动机构3包括设置在机箱1顶部的Y轴驱动部，Y轴驱动部上设置有X轴驱动部，X轴驱动部上设置有搬运机构，驱动机构3能够驱动搬运机构移动，实现对存储芯片的搬运；

如图6所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，Y轴驱动部包括安装在机箱1顶部的Y轴驱动模组301以及两个分别位于Y轴驱动模组301两侧的Y轴轨道302，X轴驱动部包括滑动连接在两个Y轴轨道302顶部之间的X轴驱动模组303，X轴驱动模组303上设置有滑台304，Y轴驱动模组301能够驱动X轴驱动模组303沿着Y轴轨道302移动，而X轴驱动模组303能够驱动搬运机构沿着X轴驱动模组303移动。

如图6、图7和图8所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，搬运机构为第二搬运组件10，第二搬运组件10包括安装在滑台304一侧的第二立板1001，第二立板1001的一侧安装有上CCD相机5，第二立板1001的背面安装有两个第二电机1002，两个第二电机1002的输出轴均穿过第二立板1001并延伸至第二立板1001的正面，两个第二电机1002的输出轴均固定安装有位于第二立板1001正面的主动轮1003，通过第二电机1002能够带动主动轮1003转动。

如图7和图8所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二立板1001的正面开设有两个第一滑槽1004，两个第一滑槽1004分别位于两个主动轮1003的下方，两个第一滑槽1004内均固定安装有第一立杆1005，两个第一立杆1005的外表面均滑动连接有第一滑块1006，第一立杆1005能够对第一滑块1006进行支撑以及限位，第一滑块1006与第一滑槽1004的侧壁滑动连接，两个第一滑块1006的正面均固定安装有支撑杆1007，两个支撑杆1007的外表面均转动连接有从动轮1008，从动轮1008与主动轮1003之间转动连接有皮带1009，第一立杆1005的外表面套设有位于第一滑块1006上方的第一弹簧，第一弹簧给到第一滑块1006向下的推力，能够对皮带1009进行张紧。

如图10和图11所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，每个皮带1009与第二立板1001之间均设置有搬运件，搬运件包括安装在第二立板1001正面的限位导轨1036，限位导轨1036的外表面滑动连接有滑座1010，滑座1010的一侧与皮带1009连接，滑座1010的正面通过螺栓和夹板夹持有第二气管1011，第二气管1011的底端连接有第二真空吸嘴1012，通过第二真空吸嘴1012能够对存储芯片进行吸附，第二气管1011连接有真空过滤器，真空过滤器连接有真空发生器，真空发生器连接有电磁阀，电磁阀连接有过滤减压阀，过滤减压阀连接有压缩机。

如图8、图9和图10所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，滑座1010与第二立板1001之间设置有辅助件，辅助件包括开设在第二立板1001上的第二滑槽1013，第二滑槽1013内固定安装有第二立杆1014，第二立杆1014的外表面滑动连接有第三滑块1017，第二立杆1014能够对第三滑块1017进行支撑以及限位，第三滑块1017的正面固定安装有配重块1018，配重块1018靠近滑座1010的一侧固定安装有第一挡板1019，滑座1010靠近配重块1018的一侧固定安装有位于第一挡板1019下方的第二挡板1020，配重块1018的底部固定安装有连接杆1021，连接杆1021的底部固定安装有压环1022，压环1022的底部固定安装有若干个压杆1023，压杆1023底端为半球形，能够减少与存储芯片的接触面积，压环1022位于第二真空吸嘴1012外周侧。

如图10和图12所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，配重块1018与滑座1010相互靠近的一面分别安装有第一挡条1024以及第二挡条1025，第二挡条1025靠近滑座1010一侧的底部开设有气孔，第一挡条1024靠近第二挡条1025的一面开设有插槽1026，第二挡条1025内开设有腔室1027，腔室1027靠近第一挡条1024一侧壁上嵌设有密封圈1028，腔室1027内滑动连接有活塞1029，活塞1029的一侧固定安装有插杆1030，插杆1030的一端能够穿过密封圈1028并与插槽1026进行配套插接，插杆1030插入插槽1026中能够实现滑座1010与配重块1018的同步升降，且实现第二真空吸嘴1012与压杆1023的同步升降，插杆1030与插槽1026分离时，第二真空吸嘴1012先于压杆1023上升，且第二真空吸嘴1012晚于压杆1023下降，插杆1030的外表面套设有位于腔室1027内的第二弹簧，第二挡条1025与第二气管1011之间固定连通有输送管1031，插槽1026开口呈喇叭状，便于插杆1030的插入。

如图9所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二立板1001的背面固定安装有支撑轴1032，支撑轴1032的外表面通过轴承转动连接有限位杆1033，第二立杆1014的外表面滑动连接有位于第三滑块1017下方的第二滑块1015，第二滑块1015的背面固定安装有第二挡杆1035，第一滑块1006的背面固定安装有第一挡杆1034，第一挡杆1034以及第二挡杆1035的顶部均与限位杆1033的底部接触，第二立杆1014的外表面套设有位于第二滑块1015下方的第三弹簧1016，皮带1009断裂时，第一弹簧的作用力推动第一滑块1006下降，此时第三弹簧1016的作用力推动第二滑块1015以及第三滑块1017上升，第三滑块1017通过配重块1018、第一挡板1019以及第二挡条1025推动滑座1010上升，这样能在皮带1009断裂时避免第二气管1011以及第二真空吸嘴1012下坠对该测试机的其他部件撞击造成伤害。

具体的，本DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机在工作时/使用时：Y轴驱动模组301能够驱动X轴驱动模组303沿着Y轴轨道302移动，而X轴驱动模组303能够驱动第二搬运组件10沿着X轴驱动模组303移动，第二电机1002带动主动轮1003转动，主动轮1003通过从动轮1008和皮带1009带动第二气管1011和第二真空吸嘴1012升降，第二真空吸嘴1012下降与托盘上下料模组8上未测试的存储芯片接触，此时插杆1030对准插槽1026，真空通过第二气管1011和第二真空吸嘴1012对存储芯片进行吸附，与此同时真空通过输送管1031将活塞1029与密封圈1028之间的空气抽出，活塞1029在真空的作用下推动插杆1030插入插槽1026中，随后第二气管1011与存储芯片上升，存储芯片经过下CCD相机7后放入测试槽中，此时第二气管1011、第二真空吸嘴1012以及腔室1027内的气压恢复，第二真空吸嘴1012不再对存储芯片进行吸附，而插杆1030的作用推动活塞1029使得插杆1030与插槽1026分离，第二气管1011在第二电机1002以及皮带1009的驱动下上升，而压杆1023在配重块1018以及连接杆1021的重力作用下对存储芯片进行压紧，当第二挡板1020与第一挡板1019接触时，第二挡板1020通过第一挡板1019对配重块1018进行抬升，存储芯片在测试槽中完成测试后在第二搬运组件10的搬运下进入芯片编带模组9中进行编带。

以上实施方式仅用于说明本发明，而非对本发明的限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims

1. DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，包括机箱（1），所述机箱（1）的顶部设置有防护罩（2），其特征在于，所述机箱（1）的顶部设置有位于防护罩（2）内的驱动机构（3），所述驱动机构（3）包括设置在机箱（1）顶部的Y轴驱动部，所述Y轴驱动部上设置有X轴驱动部，所述X轴驱动部上设置有搬运机构；

所述机箱（1）的顶部还设置有位于Y轴驱动部中的托盘上下料模组（8）以及位于托盘上下料模组（8）一侧的芯片编带模组（9），所述托盘上下料模组（8）和芯片编带模组（9）的一端均穿出防护罩（2）并延伸至防护罩（2）一侧的外部，所述机箱（1）的顶部还设置有位于托盘上下料模组（8）一侧的下CCD相机（7）以及若干个分别位于托盘上下料模组（8）两侧的测试机构（6）；

所述测试机构（6）包括安装在机箱（1）顶部的第一支撑架（601）以及第二支撑架（607），所述第二支撑架（607）上安装有测试座（606），所述测试座（606）的一侧铰接有若干个盖板（605），所述第一支撑架（601）的顶部安装有若干个气缸（602），若干个所述气缸（602）的输出轴上均安装有连接架（603），若干个所述连接架（603）的顶部均安装有传动板（604），若干个所述传动板（604）的一端分别与若干个盖板（605）铰接。

2.根据权利要求1所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述Y轴驱动部包括安装在机箱（1）顶部的Y轴驱动模组（301）以及两个分别位于Y轴驱动模组（301）两侧的Y轴轨道（302），所述X轴驱动部包括滑动连接在两个Y轴轨道（302）顶部之间的X轴驱动模组（303），所述X轴驱动模组（303）上设置有滑台（304）。

3.根据权利要求2所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述搬运机构为第一搬运组件（4），所述第一搬运组件（4）包括安装在滑台（304）一侧的第一立板（402），所述第一立板（402）的背面安装有两个第一电机（403），两个所述第一电机（403）的输出轴均穿过第一立板（402）并延伸至第一立板（402）的正面，两个所述第一电机（403）的输出轴与第一立板（402）的正面之间均传动连接有传动带（404），所述第一立板（402）的正面通过导轨滑动连接有承载台（405），两个所述承载台（405）分别与两个传动带（404）连接，两个所述承载台（405）上均设置有第一气管（406），两个所述第一气管（406）底端均设置有第一真空吸嘴（407），所述第一立板（402）的一侧安装有上CCD相机（5）。

4.根据权利要求2所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述搬运机构为第二搬运组件（10），所述第二搬运组件（10）包括安装在滑台（304）一侧的第二立板（1001），所述第二立板（1001）的一侧安装有上CCD相机（5），所述第二立板（1001）的背面安装有两个第二电机（1002），两个所述第二电机（1002）的输出轴均穿过第二立板（1001）并延伸至第二立板（1001）的正面，两个所述第二电机（1002）的输出轴均固定安装有位于第二立板（1001）正面的主动轮（1003）。

5.根据权利要求4所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述第二立板（1001）的正面开设有两个第一滑槽（1004），两个所述第一滑槽（1004）分别位于两个主动轮（1003）的下方，两个所述第一滑槽（1004）内均固定安装有第一立杆（1005），两个所述第一立杆（1005）的外表面均滑动连接有第一滑块（1006），两个所述第一滑块（1006）的正面均固定安装有支撑杆（1007），两个所述支撑杆（1007）的外表面均转动连接有从动轮（1008），所述从动轮（1008）与主动轮（1003）之间转动连接有皮带（1009），所述第一立杆（1005）的外表面套设有位于第一滑块（1006）上方的第一弹簧。

6.根据权利要求5所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，每个所述皮带（1009）与第二立板（1001）之间均设置有搬运件，所述搬运件包括安装在第二立板（1001）正面的限位导轨（1036），所述限位导轨（1036）的外表面滑动连接有滑座（1010），所述滑座（1010）的一侧与皮带（1009）连接，所述滑座（1010）的正面通过螺栓和夹板夹持有第二气管（1011），所述第二气管（1011）的底端连接有第二真空吸嘴（1012）。

7.根据权利要求6所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述滑座（1010）与第二立板（1001）之间设置有辅助件，所述辅助件包括开设在第二立板（1001）上的第二滑槽（1013），所述第二滑槽（1013）内固定安装有第二立杆（1014），所述第二立杆（1014）的外表面滑动连接有第三滑块（1017），所述第三滑块（1017）的正面固定安装有配重块（1018），所述配重块（1018）靠近滑座（1010）的一侧固定安装有第一挡板（1019），所述滑座（1010）靠近配重块（1018）的一侧固定安装有位于第一挡板（1019）下方的第二挡板（1020），所述配重块（1018）的底部固定安装有连接杆（1021），所述连接杆（1021）的底部固定安装有压环（1022），所述压环（1022）的底部固定安装有若干个压杆（1023），所述压环（1022）位于第二真空吸嘴（1012）外周侧。

8.根据权利要求7所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述配重块（1018）与滑座（1010）相互靠近的一面分别安装有第一挡条（1024）以及第二挡条（1025），所述第一挡条（1024）靠近第二挡条（1025）的一面开设有插槽（1026），所述第二挡条（1025）内开设有腔室（1027），所述腔室（1027）靠近第一挡条（1024）一侧壁上嵌设有密封圈（1028），所述腔室（1027）内滑动连接有活塞（1029），所述活塞（1029）的一侧固定安装有插杆（1030），所述插杆（1030）的一端能够穿过密封圈（1028）并与插槽（1026）进行配套插接，所述插杆（1030）的外表面套设有位于腔室（1027）内的第二弹簧，所述第二挡条（1025）与第二气管（1011）之间固定连通有输送管（1031）。

9.根据权利要求8所述的DDRSDRAM存储芯片多功能自动测试机，其特征在于，所述第二立板（1001）的背面固定安装有支撑轴（1032），所述支撑轴（1032）的外表面通过轴承转动连接有限位杆（1033），所述第二立杆（1014）的外表面滑动连接有位于第三滑块（1017）下方的第二滑块（1015），所述第二滑块（1015）的背面固定安装有第二挡杆（1035），所述第一滑块（1006）的背面固定安装有第一挡杆（1034），所述第一挡杆（1034）以及第二挡杆（1035）的顶部均与限位杆（1033）的底部接触，所述第二立杆（1014）的外表面套设有位于第二滑块（1015）下方的第三弹簧（1016）。