CN115201930A - 一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；实时获取待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测待测盒体的光电感应盒盖检测器的真假标志状态；根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。本申请中，通过多个待测盒体样本确定盒盖电压阈值，然后通过盒盖电压阈值、盒盖电压值和真假标志状态的关系，判断盒盖的开闭状态。不仅排除了设备故障导致的检测结果不准确的情况，还排除了外界光线干扰的因素，从而保证了最终的盒盖开闭检测结果的准确度，避免了误判。
Description
技术领域
本发明涉及盒盖检测技术领域，尤其涉及一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着工业技术的发展，不论是在产品生产的过程中，还是在运输的过程中，都需要对产品进行包装，产品包装完毕后，还需要对包装情况进行必要的监测，例如：产品是否包装，盒盖是否关闭等。
目前，盒盖检测的手段主要有机械触点式、光电感应式等方法。然而，通过光电感应式的检测方式来检测盒盖是否关闭时，外部检测环境通常是强光环境，自然界中的红外线的影响会导致误判，从而导致检测到的盒盖的开闭状态与实际不相符。
因此，通过光电感应式的检测方式来检测盒盖的开闭状态时，现有技术存在受到外部环境影响，导致检测结果不准的问题。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术在通过光电感应式的检测方式来检测盒盖的开闭状态时，受到外部环境影响，导致检测结果不准的问题。
为了解决上述问题，本发明提供一种盒盖检测方法，包括：
获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；
实时获取待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测待测盒体的光电感应盒盖检测器的真假标志状态；
根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
进一步地，获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，包括：
将多个待测盒体样本分为两组待测盒体样本，其中，第一组为盒盖打开状态的待测盒体样本，第二组为盒盖关闭状态的待测盒体样本；
分别获取两组待测盒体样本的多个电压值；
根据两组多个电压值，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值；
根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，确定盒盖电压阈值。
进一步地，根据两组多个电压值，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，包括：
根据两组多个电压值，分别进行求平均操作，确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
进一步地，根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，确定盒盖电压阈值，包括：
根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，通过求平均操作，确定盒盖电压阈值。
进一步地，根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态，包括：
判断真假标志状态是否为真标志状态；
若否，则判断盒盖电压值是否小于盒盖电压阈值，若是，则判断盒盖为打开状态；若否，则置位真假标志状态，并令光电感应盒盖检测器停止发射光信号；
若是，则获取光电感应盒盖检测器的红外光反射值和透射值，判断红外光反射值是否小于透射值，若否，则判断外界存在光线干扰，若是，则判断为盒盖关闭状态。
进一步地，光信号为红外信号。
进一步地，光电感应盒盖检测器包括光信号发射端和光信号接收端；多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上，包括：
使两组待测盒体样本的盒盖边缘对准光信号发射端，使两组待测盒体样本的盒盖边缘的盒身边缘对准光信号接收端。
为了解决上述问题，本发明还提供一种盒盖检测装置，包括：
盒盖电压阈值获取模块，用于获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；
盒盖电压值获取模块，用于实时获取待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测待测盒体的光电感应盒盖检测器的真假标志状态；
盒盖开闭状态判断模块，用于根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
为了解决上述问题，本发明还提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，存储器上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现如前文所述的盒盖检测方法。
为了解决上述问题，本发明还提供一种存储介质，存储介质存储有计算机程序指令，当计算机程序指令被计算机执行时，使计算机执行如前文所述的盒盖检测方法。
采用上述技术方案的有益效果是：本发明提供一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；实时获取待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测待测盒体的光电感应盒盖检测器的真假标志状态；根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。本申请中，通过多个待测盒体样本确定盒盖电压阈值，然后通过盒盖电压阈值、盒盖电压值和真假标志状态的关系，判断盒盖的开闭状态。不仅排除了设备故障导致的检测结果不准确的情况，还排除了外界光线干扰的因素，从而保证了最终的盒盖开闭检测结果的准确度，避免了误判。
附图说明
图1为本发明提供的盒盖检测方法一实施例的流程示意图；
图2为本发明提供的确定盒盖电压阈值一实施例的流程示意图；
图3为本发明提供的确定盒盖的开闭状态一实施例的流程示意图；
图4为本发明提供的盒盖检测装置一实施例的结构示意图；
图5为本发明提供的电子设备一实施例的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。
目前，一般采用光电感应式的检测方式对盒盖的开闭状态进行检测。然而，通过光电感应式的检测方式来检测盒盖是否关闭时，外部检测环境通常是强光环境，自然界中的红外线的影响会导致误判，从而导致盒盖的开闭状态检测结果不准的问题。
为了解决现有技术中，检测结果不准的问题，本发明提供了一种盒盖检测方法、装置、电子设备及存储介质，以下分别进行详细说明。
如图1所示，图1为本发明提供的盒盖检测方法一实施例的流程示意图，包括：
步骤S101：获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上。
步骤S102：实时获取待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测待测盒体的光电感应盒盖检测器的真假标志状态。
步骤S103：根据盒盖电压阈值、盒盖电压值以及真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
本实施例中，首先，由于不同的待测盒体，形状不同，测量精度也不同，因此，为了保证测量精度，通过将多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上进行测量，测量与检测盒体相同的样本，从而得到多个待测盒体样本的盒盖电压值样本，并根据多个盒盖电压值样本确定盒盖电压阈值；然后，将待测盒体同样放置在光电感应盒盖检测器上，得到待测盒体的盒盖电压值；最后，根据盒盖电压阈值、盒盖电压值和真假标志状态的关系，判断确定盒盖的开闭状态。
可以理解的是，上述实施例中通过光电感应盒盖检测器对待测盒体的盒盖进行开闭状态检测，以多个待测盒体样本作为基础，来确定盒盖电压阈值，能够保证后续检测过程中的盒盖电压阈值的精度；通过盒盖电压阈值、盒盖电压值和真假标志状态的关系，判断确定盒盖的开闭状态，避开了自然界中的红外线对检测结果的影响，不仅实现了自动识别盒盖的开闭状态，并且保证了盒盖的开闭状态的检测精度。
作为优选的实施例，在步骤S101中，为了确定盒盖电压阈值，如图2所示，图2为本发明提供的确定盒盖电压阈值一实施例的流程示意图，包括：
步骤S111：将多个待测盒体样本分为两组待测盒体样本，其中，第一组为盒盖打开状态的待测盒体样本，第二组为盒盖关闭状态的待测盒体样本。
步骤S112：分别获取两组待测盒体样本的多个电压值。
步骤S113：根据两组多个电压值，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
步骤S114：根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，确定盒盖电压阈值。
本实施例中，首先，获取多个待测盒体样本，并根据开闭状态对其进行分组，得到两组待测盒体样本，即，打开状态的待测盒体样本和关闭状态的待测盒体样本；然后，分别按顺序将两组待测盒体样本依次放置在光电感应盒盖检测器上，测量每个待测盒体样本的电压值，从而得到两组电压值，即，打开状态的电压值组和关闭状态的电压值组；接下来，根据两组电压值，通过数据处理，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值；最后，根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，通过数据处理，确定盒盖电压阈值。
可以理解的是，上述实施例中为了针对性地获取盒盖电压阈值，在获取多个待测盒体样本的基础上，通过测试得到多个电压值，然后经过数据处理，得到最终的盒盖电压阈值。通过数据处理，不仅能够避免异常值对测试结果的影响，并且基于待测盒体样本得到的数据，能够保证得到的盒盖电压阈值与待测盒体的匹配度。
在步骤S112中，光电感应盒盖检测器包括光信号发射端和光信号接收端，在将待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上时，为了保证测量结果的准确性，需要使待测盒体样本的盒盖边缘对准光信号发射端，使两组待测盒体样本的盒盖边缘的盒身边缘对准光信号接收端。
在步骤S113中，在获取到两组电压值后，还需要通过数据处理，确定唯一的打开状态时的电压值和唯一的关闭状态时的电压值，以确定能够代表待测盒体打开状态时电压值和能够代表待测盒体关闭状态时电压值。
在一具体实施例中，为了公平对待每一个数据，根据两组电压值，分别进行求平均操作，确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
在另一具体实施例中，为了避免极值对最终结果的影响，分别去掉两组电压值中的一个最大值和一个最小值，再分别进行求平均操作，确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
在其他实施例中，还可以根据实际需要对两组电压值进行其他处理，如取中位数、众数等，从而确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
在步骤S114中，在确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值后，还需要确定盒盖电压阈值，从而便于判断盒盖的开闭状态。
在一具体实施例中，根据打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，通过求平均操作，确定盒盖电压阈值。
作为优选的实施例，在步骤S103中，在获取到盒盖电压阈值和盒盖电压值后，为了确定盒盖的开闭状态，如图3所示，图3为本发明提供的确定盒盖的开闭状态一实施例的流程示意图，包括：
步骤S131：判断真假标志状态是否为真标志状态。
步骤S132：若否，则判断盒盖电压值是否小于盒盖电压阈值，若是，则判断盒盖为打开状态；若否，则置位真假标志状态，并令光电感应盒盖检测器停止发射光信号。
步骤S133：若是，则获取光电感应盒盖检测器的红外光反射值和透射值，判断红外光反射值是否小于透射值，若否，则判断外界存在光线干扰，若是，则判断为盒盖关闭状态。
本实施例中，首先，根据判断真假标志状态是否为真标志状态，然后根据判断结果确定接下来的步骤；当真假标志状态不是真标志状态时，即，为假标志状态时，进入步骤S132，在排除设备故障的前提下，判断盒盖是否打开；当真假标志状态是真标志状态时，进入步骤S133，在排除外界光线干扰的前提下，判断盒盖是否关闭。
可以理解的是，上述实施例中不仅能够排除设备故障，还能够排除外界光线干扰，从而保证盒盖的开闭状态检测结果的准确性。
在步骤S131中，真假标志状态只有两张状态，一种是真标志状态，另一种是假标志状态。
在一具体实施例中，初始化的真标志状态是true，假标志状态是false。
在步骤S132中，置位真假标志状态是指转换当前的真假标志状态，即，当前是false，通过置位，转换成true。
光电感应盒盖检测器停止发射光信号，是指当前的设备检测结果与实际可能出现的情况不符，停止发射光信号，从而停止检测，以便对设备进行维护。
在一具体实施例中，光电感应盒盖检测器包括光信号发射端和光信号接收端，其中，在待测盒体的盒盖盖合时，光信号发射端和光信号接收端呈相对状态。
其中，光信号发射端发出的光信号为红外信号。
其中，光信号接收端通过中位值平均滤波法获取待测盒体的电压值。
在步骤S133中，真标志状态时，说明可能存在外界光线干扰的情况，因此，测量出红外光反射值和透射值，然后比较红外光反射值和透射值的关系，当红外光反射值不小于透射值时，才能排除外界光线干扰的情况，从而确定为盒盖关闭；当红外光反射值小于透射值时，说明存在光线干扰，无法保证检测结果的准确度。
通过上述方法，通过多个待测盒体样本确定盒盖电压阈值，然后通过盒盖电压阈值、盒盖电压值和真假标志状态的关系，判断盒盖的开闭状态。不仅排除了设备故障导致的检测结果不准确的情况，还排除了外界光线干扰的因素，从而保证了最终的盒盖开闭检测结果的准确度，避免了误判。
为了解决上述问题，本发明还提供了一种盒盖检测装置，如图4所示，图4为本发明提供的盒盖检测装置一实施例的结构示意图，盒盖检测装置400包括：
盒盖电压阈值获取模块401，用于获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，所述多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；
盒盖电压值获取模块402，用于实时获取所述待测盒体的盒盖电压值和检测所述待测盒体的所述光电感应盒盖检测器的真假标志状态；
盒盖开闭状态判断模块403，用于根据所述盒盖电压阈值、所述盒盖电压值以及所述真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
在一具体实施例中，由于在检测过程中，对待测盒体的位置要求较高，因此，盒盖电压阈值获取模块401还包括盒体固定模块，其中，盒体固定模块用于将待测盒体置于光电感应盒盖检测器上，使待测盒体的盒盖边缘对准光电感应盒盖检测器的光信号发射端，使正对待测盒体的盒盖边缘的盒身边缘对准光电感应盒盖检测器的光信号接收端。
本发明还相应提供了一种电子设备，如图5所示，图5为本发明提供的电子设备一实施例的结构框图。电子设备500可以是移动终端、桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及服务器等计算设备。电子设备500包括处理器501以及存储器502，其中，存储器502上存储有盒盖检测程序503。
存储器502在一些实施例中可以是计算机设备的内部存储单元，例如计算机设备的硬盘或内存。存储器502在另一些实施例中也可以是计算机设备的外部存储设备，例如计算机设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(SecureDigital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器502还可以既包括计算机设备的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器502用于存储安装于计算机设备的应用软件及各类数据，例如安装计算机设备的程序代码等。存储器502还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。在一实施例中，盒盖检测程序503可被处理器501所执行，从而实现本发明各实施例的盒盖检测方法。
处理器501在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，微处理器或其他数据处理芯片，用于运行存储器502中存储的程序代码或处理数据，例如执行盒盖检测程序等。
本实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有盒盖检测程序，计算机该程序被处理器执行时，实现如上述任一技术方案所述的盒盖检测方法。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它存储介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种盒盖检测方法，其特征在于，包括：
获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，所述多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；
实时获取所述待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测所述待测盒体的所述光电感应盒盖检测器的真假标志状态；
根据所述盒盖电压阈值、所述盒盖电压值以及所述真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
2.根据权利要求1所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，包括：
将所述多个待测盒体样本分为两组待测盒体样本，其中，第一组为盒盖打开状态的待测盒体样本，第二组为盒盖关闭状态的待测盒体样本；
分别获取所述两组待测盒体样本的多个电压值；
根据所述两组多个电压值，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值；
根据所述打开状态时的电压值和所述关闭状态时的电压值，确定所述盒盖电压阈值。
3.根据权利要2所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述根据所述两组多个电压值，分别确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值，包括：
根据所述两组多个电压值，分别进行求平均操作，确定打开状态时的电压值和关闭状态时的电压值。
4.根据权利要求2所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述根据所述打开状态时的电压值和所述关闭状态时的电压值，确定所述盒盖电压阈值，包括：
根据所述打开状态时的电压值和所述关闭状态时的电压值，通过求平均操作，确定所述盒盖电压阈值。
5.根据权利要求1所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述根据所述盒盖电压阈值、所述盒盖电压值以及所述真假标志状态，判断盒盖的开闭状态，包括：
判断所述真假标志状态是否为真标志状态；
若否，则判断所述盒盖电压值是否小于所述盒盖电压阈值，若是，则判断盒盖为打开状态；若否，则置位所述真假标志状态，并令所述光电感应盒盖检测器停止发射光信号；
若是，则获取所述光电感应盒盖检测器的红外光反射值和透射值，判断所述红外光反射值是否小于所述透射值，若否，则判断外界存在光线干扰，若是，则判断为盒盖关闭状态。
6.根据权利要求5所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述光信号为红外信号。
7.根据权利要求1所述的盒盖检测方法，其特征在于，所述光电感应盒盖检测器包括光信号发射端和光信号接收端；所述多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上，包括：
使所述多个待测盒体样本的盒盖边缘对准所述光信号发射端，使所述多个待测盒体样本的盒盖边缘的盒身边缘对准所述光信号接收端。
8.一种盒盖检测装置，其特征在于，包括：
盒盖电压阈值获取模块，用于获取多个待测盒体样本的盒盖电压阈值，其中，所述多个待测盒体样本放置在光电感应盒盖检测器上；
盒盖电压值获取模块，用于实时获取所述待测盒体的盒盖电压值，且实时获取检测所述待测盒体的所述光电感应盒盖检测器的真假标志状态；
盒盖开闭状态判断模块，用于根据所述盒盖电压阈值、所述盒盖电压值以及所述真假标志状态，判断盒盖的开闭状态。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1-7任一项所述的盒盖检测方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序指令，当所述计算机程序指令被计算机执行时，使计算机执行根据权利要求1至7中任一所述的盒盖检测方法。
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