CN115184654A - 测试针模、测试方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子测试技术领域，公开了一种测试针模、测试方法和存储介质，所述方法包括：获取测试请求；基于所述测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求；基于所述电流检测请求，采用检测探针对待测产品进行元器件检测，得到检测结果，若检测结果为所述待测产品存在元器件，则采用测试探针对所述待测产品进行测试；若检测结果为所述待测产品不存在元器件，则所述待测产品不合格，采用本发明可避免在因漏贴元器件且通过电测的情况下，将该柔性电路板错误识别为合格产品。

Description

测试针模、测试方法及存储介质

技术领域

本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种测试针模、测试方法及存储介质。

背景技术

随着移动电子产品的普及和5G时代的来临，手机、穿戴设备等电子产品对自身体积和功能有了越来越高的要求，人们对产品的品质有更高的要求，柔性电路板(FPC，FlexiblePrintedCircuit)作为电子产品中广泛使用的组成部分，对柔性电路板的测试和检测提出更高要求。

在柔性电路板的生产是由制成指定形状的柔板，在其焊盘上刷焊锡及助焊剂后，由SMT贴片机(SMT，Surface Mounted Technology，表面贴装技术)进行元器件贴装，然后放入加热炉进行焊接，然后有时会出现元器件漏贴件的情况，而这种情况是不允许在电测阶段通过测试的。然而，在对连接器进行测试时，用长探针扎到连接器PIN脚上，为达到测试稳定，探针接触PIN脚后会压缩一定长度，当使用弹簧针套进行连接器测试时，探针的压缩量较大，如果柔板漏贴连接器，探针则会扎到应与连接器焊接的的焊盘上，导致测试通过。

因此，现有存在柔性电路板因漏贴元器件且通过电测的情况，但该柔性电路板被错误识别为合格产品的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种测试针模、测试方法和存储介质，以避免在因漏贴元器件且通过电测的情况下，将该柔性电路板错误识别为合格产品的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种测试针模，包括探针模块、针模组件和针模主体，所述针模组件包括第一针模、第三针模、第四针模和第五针模，所述针模主体为第二针模，其中：

所述第一针模通过弹力模块与所述第二针模连接，且位于所述第二针模上方，用于承载待测产品；

所述第二针模分别连接所述第一针模和所述第三针模，且位于所述第三针模上方，所述第二针模与所述第三针模通过支撑柱连接，用于对所述测试探针进行固定；

所述第四针模与所述第五针模连接，用于安装所述转接模块；

当所述测试针模工作时，所述探针模块贯穿所述第三针模、所述第二针模和所述第一针模，用于测试所述待测产品和检测所述待测产品的元器件是否漏贴。

进一步地，所述测试针模还包括盖板、所述待测产品包括连接器，所述第一针模还包括定位槽，其中：

所述盖板位于所述连接器上方，用于压住所述连接器，并使所述待测产品放入所述第一针模的定位槽中进行固定；

所述第一针模的定位槽用于定位所述待测产品的测试位置。进一步地，所述盖板包括扭簧和销钉，其中：

所述盖板绕着所述销钉转动，所述扭簧提供压力；

基于所述压力，所述盖板压住所述连接器，并使所述待测产品连接器放入所述第一针模的连接器定位槽中进行固定。

进一步地，所述测试针模还包括直线轴承销钉、直线轴承、活动铜套，其中：

所述直线轴承销钉安装在所述第一针模上，所述直线轴承安装在所述第二针模上，所述第一针模和所述第二针模通过所述直线轴承和所述直线轴承销钉进行上下运动；

所述活动铜套安装在所述第一针模上，用于锁定所述第二针模并结合所述弹力模块以弹力限制所述第一针模和所述第二针模的距离，使得所述第一针模和所述第二针模在预设距离范围中上下运动。

进一步地，所述测试针模还包括优力胶压线块、针套，其中：

所述针套安装在所述第四针模和所述第五针模上，用于固定针模线；

所述优力胶压线块安装在所述第五针模上，用于压住所述针模线，防止所述针模线影响测试。

进一步地，所述测试探针从所述第三针模的背面针孔放入，延伸至所述第一针模；

在所述测试针模工作启动时，所述测试探针位于所述第一针模的针孔内，对所述第一针模的表面进行施压，使得所述第一针模和所述第二针模的浮动距离减少，从而使所述测试探针从所述第一针模的针孔伸出并扎在所述待测产品对应的测试部位。

进一步地，所述探针模块包括第一探针、第二探针，所述连接器包括左端PIN脚和右端PIN脚，其中，所述第一探针包括至少六根测试探针，所述第二探针包括至少四根检测探针；

采用至少三根所述测试探针与所述连接器的左端PIN脚连接，同时，采用至少三根所述测试探针与所述连接器的右端PIN脚连接，所述左端PIN脚和所述右端PIN脚连接所述待测产品内部线路的接地点，用于保证测试的稳定性；

采用至少两根所述检测探针与所述连接器PIN脚左上端和左下端连接，同时，采用至少两根所述检测探针与所述连接器PIN脚右上端和右下端连接，用于检测所述待测产品是否存在元器件。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种测试方法，包括：

获取测试请求；

基于所述测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求；

基于所述电流检测请求，采用检测探针对待测产品进行元器件检测，得到检测结果；

若所述检测结果为所述待测产品存在元器件，则采用测试探针对所述待测产品进行测试；

若所述检测结果为所述待测产品不存在元器件，则所述待测产品不合格。

为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述测试方法的步骤。

本发明实施例提供的测试针模、测试方法和存储介质，通过获取测试请求；基于所述测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求；基于所述电流检测请求，采用探针模块中的每一根测试探针进行电流检测，得到每一根测试探针对应的检测结果，其中，所述电流检测为检测是否存在预设测试的元器件；当所有所述检测结果为不存在元器件时，则确定漏贴所述元器件，否则，确定测试通过。通过上述方法在电测阶段检测柔性电路板是否漏贴元器件，具有结构简单，成本较低，使用维护方便，稳定性高的优点，并避免柔性电路板在因漏贴元器件且通过电测的情况下，将该柔性电路板错误识别为合格产品的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请的测试针模的示例性架构图；

图2是本申请的连接器焊盘的一示意图；

图3是本申请的测试方法的一个实施例的流程图。

图号的说明：

01、第一针模；02、第二针模；03、第三针模；04、第四针模；05、第五针模；06、盖板；07、连接器；08、直线轴承销钉；09、直线轴承；10、活动铜套；11、第一探针；12、第二探针。

具体实施方式

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。本申请的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，图1示出本发明实施例提供的一种测试针模，详述如下：

测试针模包括探针模块、针模组件和针模主体，针模组件包括第一针模01、第三针模03、第四针模04和第五针模05，针模主体为第二针模02，其中：

第一针模01通过弹力模块与第二针模02连接，且位于第二针模02上方，用于承载待测产品；

第二针模02分别连接第一针模01和第三针模03，且位于第三针模03上方，第二针模02与第三针模03通过支撑柱连接，用于对测试探针进行固定；

第四针模04与第五针模05连接，用于安装转接模块；

当测试针模工作时，探针模块贯穿第三针模03、第二针模02和第一针模01，用于测试待测产品和检测待测产品的元器件是否漏贴。

具体地，上述第一针模01为承载待测产品，兼具定位和测试的零件。第一针模01的功能是定位好待测产品和在具体位置设置探针孔位，将待测产品放置在第一针模01的定位凹槽中，凹槽为待测产品的定位槽，具体间隙与测试元件有关，凹槽是在连接器定位槽的底部，保证对待测产品的粗定位，同时保证测试连接器对连接器进行定位的定位槽的高精度。凹槽的高度一般2-3mm，与待测产品平整度有关，目的是为了将待测产品定位好，待测产品平整度好，2毫米也可以，待测产品较大或者有折弯需要3毫米左右。

上述弹力模块可为弹簧，具体根据实际应用场景进行限制。

上述第二针模02为针模的主体部分，安装在载板组件上。

第二针模02和第三针模03用支撑柱连接进行探针的固定，并提供指定支撑距离可调节探针弹力。通过两者之间的支撑柱形成探针的支承结构，探针从第三针模03尾部穿入，从第二针模02伸出，不同长探针长度不同，第二针模02和第三针模03之间的支承距离也就不同，支撑柱长度不同。

第四针模04和第五针模05用来装针套，比如空心针套，弹簧针套等等。探针是导体，探针与针套接触，针套通过针套线将电流导入探针，再流入待测产品的具体测试部位。转接方式有空心针套线，实心针套线，弹簧针套线，PCB板等，探针要通入电流需要与机器测试回路连接，将电流导入探针有多种转接方式，且不同转接方式具有不同特点。

此处需要说明的是，这个针模主要是对待测产品进行正常的OS通断测试，检测元器件是否漏贴是其中一个附属功能，针模的检测探针检测到元器件存在时会通过测试探针进行正常的OS测试，OS测试通过则判定该待测产品为满足要求的良品。

通过上述探针模块、针模组件和针模主体构建的测试针模，在测试前对柔性电路板上的连接器是否存在漏贴进行检测，准确识别出残次品，结构简单有限，稳定性高，避免因漏贴元器件且通过电测而导致柔性电路板报废的问题。

进一步地，测试针模还包括盖板06、待测产品包括连接器07，第一针模01还包括定位槽，其中：

盖板06位于连接器07上方，用于压住连接器07，并使待测产品放入第一针模01的定位槽中进行固定；

第一针模01的定位槽用于定位待测产品的测试位置。

具体地，盖板06可将连接器07压入连接器07的定位槽中固定好，利于测试稳定。

此处需要说的是，实际上存在两个定位槽，一个是对待测产品的定位槽，这是粗定位，待测产品上的连接器还需要对其精定位，针对连接器，也有一个定位槽，

盖板06是将连接器07压入连接器07的精定位槽中定位好。其具体是，在放料时，把待测产品放入产品定位槽中，连接器定位槽位于产品定位槽下方，连接器定位槽边缘有倒角，放入待测产品时，连接器07也会顺着倒角进入连接器定位槽。

进一步地，盖板06包括扭簧和销钉，其中：

盖板06绕着销钉转动，扭簧提供压力；

基于压力，盖板06压住连接器07，并使待测产品放入第一针模01的定位槽中进行固定。

此处需要说明的是，盖板06主要是把连接器07在连接器定位槽中固定好，因为连接器定位槽对连接器07的定位间隙很小，只有0.02mm甚至更小，所以直接放是不容易一次性把连接器07放入连接器定位槽中放好的，通过盖板06压一下，压进去然后固定好。同时，将待测产品放进凹槽定位好后，由于存在三个连接器07，而连接器07的定位凹槽与待测产品的连接器07间的间隙很小，一般为零点零几毫米甚至几微米，只凭借第一针模01上的真空吸对待测产品的吸力一次性把三个连接器07都放置进连接器07的定位凹槽有难度，因此，需要使用盖板06加扭簧和销钉，盖板06绕着销钉转动，扭簧提供压力，盖板06的压力将连接器均压入连接器槽中进行定位好。

通过上述步骤，实现将连接器压入连接器的定位槽中固定好，利于测试稳定。

进一步地，测试针模还包括直线轴承销钉08、直线轴承09、活动铜套10，其中：

直线轴承销钉08安装在第一针模01上，直线轴承09安装在第二针模02上，第一针模01和第二针模02通过直线轴承09和直线轴承销钉08进行上下运动；

活动铜套10安装在第一针模01上，用于锁定第二针模02并结合弹力模块以弹力限制第一针模01和第二针模02的距离，使得第一针模01和第二针模02在预设距离范围中上下运动。

具体地，第一针模01与第二针模02之间有弹簧提供弹力使第一针模01保持一定距离，第一针模01装直线轴承销钉，第二针模02装直线轴承，两者配合达到上下精准导向的作用，第一针模01装活动铜套并锁在第二针模02上，使第一针模01和第二针模02的浮动距离限制到指定要求。

由于探针是在第一针模01的针孔下方并未伸出，第一针模01与第二针模02通过销钉加直线轴承进行导向，活动铜套进行第一针模01和第二针模02浮动具体尺寸的限位，弹簧在第一针模01和第二针模02间提供支撑。第一针模01向第二针模02移动，探针就会从第一针模01针孔内伸出，第一针模01和第二针模02移动至重合，探针伸出指定长度扎到待测产品具体测试部位，伸出的长度相当于压缩了多少，探针压缩量大提供的弹力就大。

通过上述直线轴承销钉、直线轴承和活动铜套，控制了第一针模和第二针模的距离以及实现了第一针模和第二针模的活动，有利于后续对待测产品进行测试。

进一步地，测试针模还包括优力胶压线块、针套，其中：

针套安装在第四针模04和第五针模05上，用于固定针模线；

优力胶压线块安装在第五针模05上，用于压住针模线，防止针模线影响测试。

具体地,，上述针套包括但不限于空心针套和弹簧针套。

由于探针是导体，探针与针套接触，针套通过针套线将电流导入探针，再流入待测产品的具体测试部位。

优力胶压线块安装在针模五压住针模线，防止运动过程中因拉扯影响测试。

通过上述优力胶压线块、针套，有利于后续测试的稳定性。

进一步地，探针模块的测试探针从第三针模03的背面针孔放入，延伸至第一针模01；

在测试针模工作启动时，探针模块中的探针位于第一针模01的针孔内，对第一针模01的表面进行施压，使得第一针模01和第二针模02的浮动距离减少，从而使测试探针11从第一针模01的针孔伸出并扎在待测产品对应的测试部位。

具体地，柔性电路板的测试通常分为功能测试和ICT测试。ICT测试一般为对待测产品内部线路的通断测试，判断一条线路是否为通路，不同线路是否存在短路。在ICT测试的对连接器测试中，一般设置连接器定位槽对连接器精定位，然后对连接器的PIN脚上用探针扎针测试，连接器一般高度较小，许多为0.5mm及以下，探针的压缩量跟其使用的配合针套有关，如果探针通过空心针套，实心针套或者PCB板将电信号引入，压缩量一般小于0.5mm即可测试稳定，小于连接器高度，如果柔板上漏贴连接器，探针也不会扎到柔板的焊盘上倒是测试通过，如果使用弹簧针套则压缩量为0.5到1.2mm左右，柔板上没有连接器，探针会扎到柔板焊盘上仍然测试通过，这是不允许的，而在一些情况下仍需要优先使用弹簧针套，因为其在测试时可提供缓冲，防止探针因弹力较大或者冲击产生针印。

不同柔板内部线路不同，不同线路两端均有端点，有的连接到连接器中间的PIN脚，有的连接到HOTBAR焊盘，一个连接器与越多的线路有关联，越多的端点连接到连接器，连接器的PIN脚越多，连接器两端大的PIN脚均为默认接地，所以相当于结构中心即除开两个大PIN脚的PIN脚越多。有的柔板内部线路会连接LED或者SWITCH按键等实现一些功能，与针模在连接器处扎针影响不大。此处测试方法仅为针模在连接器处准确扎针和检测连接器是否漏贴装。

通过上述过程，实现了对待测产品测试部位的快速定位，从而有利于后续对待测产品进行测试。

进一步地，探针模块包括第一探针11、第二探针12，连接器包括左端PIN脚和右端PIN脚，其中，第一探针11包括至少六根测试探针，第二探针12包括至少四根检测探针；

采用至少三根测试探针与连接器的左端PIN脚连接，同时，采用至少三根测试探针与连接器的右端PIN脚连接，左端PIN脚和右端PIN脚连接待测产品内部线路的接地点，用于保证测试的稳定性；

采用至少两根检测探针与连接器PIN脚左上端和左下端连接，同时，采用至少两根检测探针与连接器PIN脚右上端和右下端连接，用于检测待测产品是否存在元器件。

具体地，连接器结构中心的PIN脚参与柔板内部走线实现不同功能，位置有限只能一根PIN脚扎一根探针，连接器两端的大PIN脚表面较大，可以扎几根探针测试，且两端PIN脚几乎都用来接地线，且两端的PIN脚连接到柔板是通过单侧三个小区域焊盘。

此处需要说明的是，探针模块是对待测产品上连接器两端PIN脚进行测试的模块，连接器两端PIN脚较为特殊，可用于判断连接器是否漏贴。应理解，连接器两端PIN脚之间还有很多PIN脚要扎针测试，此处不做具体限制。

下面以左端PIN脚为例进行解释说明，左端PIN脚连接的是柔板内部线路的接地点，是一个点，用一根测试探针通入电流即可实现测试，但是为了测试稳定性用三根测试探针扎这个PIN脚，因为用一根测试探针扎针测试有风险，假设只用一根测试探针进行扎针测试，如果这根测试探针没扎好就测试不通过了，这会导致虽然产品本身是好的，但是因测试不通过而被错检。因此，需要用三根测试探针来扎左端PIN脚以保持测试稳定，这三根测试探针连接的线路短接在一起相当于一根测试线，只要其中一根测试探针扎好了就可以通过测试，避免因机器导致误测。

由于连接器是焊接在柔板上的，焊接连接器的区域成为焊盘，焊盘与柔板内部线路连接，可以导电。如图2所示，图2为连接器焊盘示意图。左端PIN脚对应的焊盘区为左端三个矩形区域。三根测试探针的正下方就是这三个区域，如果连接器不存在而测试探针扎在焊盘区域仍然能导通电路，从而使得待测产品测试通过，但是漏贴元器件的产品为瑕疵品，应当将该产品挑选出来。因此，需要设置两根检测探针，位于左上端PIN脚和左下端PIN脚。

测试时，如果存在连接器，则测试探针会扎到左侧PIN脚从而导通电路，如果连接器漏贴，则由于这两根检测探针不会扎到焊盘区域就不会导通电路，从而可根据电路是否导通判断连接器是否存在，因为左端PIN脚为接地点，为一个点，所以两根检测探针所连线路短接在一起，他们的作用都是一样的。

此处需要说明的是，一个连接器左右两端都存在PIN脚，也就是上述描述同样适用于连接器的右端PIN脚。即存在4根检测探针在检测这个连接器是否存在，从而保证了检测的稳定性，避免出现误测的情况，同时，检测程序设计的逻辑也是为了稳定性，设置的程序逻辑是这四根检测探针所连线路有任意一根导通则判定为连接器存在，都不导通才判定为连接器不存在，当产品在量产时，待测产品数量很多，无法保证这四个检测探针每次测试都扎稳定并接通线路，可能出现扎到了但是没接通或者滑针没扎到指定位置的情况，为此采用多设置针和程序逻辑保证检测的稳定性。

若不采用多个检测探针，则会出现当存在连接器，而检测探针在通入电流却检测出连接器不存在，此时测试探针就不会再检测柔板线路而是直接判定该柔性线路为瑕疵品，把好的柔板误测为瑕疵品，以此降低了良率。

上述测试针模结构简单，成本较低，使用维护方便，稳定性高的优点，并避免存在柔性电路板因漏贴元器件且通过电测的情况，导致该柔性电路板被错误识别为合格产品的问题。

请参阅图3，图3示出本发明实施例提供的一种测试方法，以该方法应用在图1中的测试针模为例进行说明，详述如下：

S201、获取测试请求。

在步骤S201中，上述测试请求是指对待测产品进行测试的请求。

上述测试请求包括但不限于功能测试、系统测试。

应理解，由于漏贴连接器为极小概率事件，不能因此造成误判降低测试良率，比如检测探针因为没有扎稳连接器或者滑针造成识别为漏贴件情况。因此需对测试过程进行分析。如果漏贴件，则除对角四根探针外别的探针都会扎到焊盘测试探针仍能进行正常测试，故检测模式应在测试模式前。

通过获取测试请求，在对待测产品进行测试前，开启测试针模，测试是否存在漏贴元器件，从而避免了待测产品在因漏贴元器件且通过电测的情况下，该待测产品被错误识别为合格产品的问题。

S202、基于测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求。

在步骤S202中，上述电流检测请求用于使检测探针输入电流检测是否存在元器件。

通过开启测试针模，并生成电流检测请求，通过电流测试是否存在漏贴元器件，从而避免了待测产品在因漏贴元器件且通过电测的情况下，该待测产品被错误识别为合格产品的问题。

S203、基于电流检测请求，采用检测探针对待测产品进行元器件检测，得到检测结果。

在步骤S203中，上述元器件是指连接器。

S204、若检测结果为所述待测产品存在元器件，则采用测试探针对所述待测产品进行测试。

在步骤S204中，由于此过程可能产生误判，即某些探针没有扎稳的情况，为减少误判概率，此四根检测探针只有全部显示开路的情况才判断为无连接器，有一根检测探针测试通过也判断为有连接器，可大大减少误判几率，如果需要进一步降低几率，可以加入时效性，在一个极短周期内检测为均为开路才判定为此处无连接器。

S205、若检测结果为所述待测产品不存在元器件，则所述待测产品不合格。

在步骤S205中，如果检测探针检测出元器件漏贴则直接判定该待测产品为瑕疵品，无需进行后续柔板线路检测。

在本实施例中，通过获取测试请求；基于测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求；基于电流检测请求，采用探针模块中的每一根测试探针进行电流检测，得到每一根测试探针对应的检测结果，其中，电流检测为检测是否存在预设测试的元器件；当所有检测结果为不存在元器件时，则确定漏贴元器件，否则，确定测试通过。通过四根检测探针先输入电流检测，如果没有连接器则不进入测试，由于此过程可能产生误判，即某些探针没有扎稳的情况，为减少误判概率，此四根检测探针只有全部显示开路的情况才判断为无连接器，有一根探针测试通过也判断为有连接器，可大大减少误判几率，如果需要进一步降低几率，可以加入时效性，在一个极短周期内检测为均为开路才判定为此处无连接器。实现了在电测阶段检测柔性电路板是否漏贴元器件，具有结构简单，成本较低，使用维护方便，稳定性高的优点，并从而避免了柔性电路板在因漏贴元器件且通过电测的情况下，该柔性电路板被错误识别为合格产品的问题。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

本申请还提供了另一种实施方式，即提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有界面显示程序，所述界面显示程序可被至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如上述的测试方法的步骤。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。

显然，以上所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本申请的较佳实施例，但并不限制本申请的专利范围。本申请可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本申请专利保护范围之内。

Claims (9)

1.一种测试针模，其特征在于，所述测试针模包括探针模块、针模组件和针模主体，所述针模组件包括第一针模、第三针模、第四针模和第五针模，所述针模主体为第二针模，其中：

所述第一针模通过弹力模块与所述第二针模连接，且位于所述第二针模上方，用于承载和定位待测产品；

所述第二针模分别连接所述第一针模和所述第三针模，且位于所述第三针模上方，所述第二针模与所述第三针模通过支撑柱连接，用于对所述测试探针进行固定；

所述第四针模与所述第五针模连接，用于安装转接模块；

当所述测试针模工作时，所述探针模块贯穿所述第三针模、所述第二针模和所述第一针模，用于测试所述待测产品和检测所述待测产品的元器件是否漏贴。

2.如权利要求1所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括盖板、所述待测产品包括连接器，所述第一针模还包括产品定位槽和连接器定位槽，其中：

所述盖板位于所述连接器上方，用于压住所述连接器，并使所述待测产品放入所述第一针模的产品定位槽中进行固定；

所述第一针模的连接器定位槽用于定位所述待测产品连接器的测试位置。

3.如权利要求2所述的测试针模，其特征在于，所述盖板包括扭簧和销钉，其中：

所述盖板绕着所述销钉转动，所述扭簧提供压力；

基于所述压力，所述盖板压住所述连接器，并使所述待测产品的连接器放入所述第一针模的连接器定位槽中进行定位和固定。

4.如权利要求1所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括直线轴承销钉、直线轴承、活动铜套，其中：

所述直线轴承销钉安装在所述第一针模上，所述直线轴承安装在所述第二针模上，所述第一针模和所述第二针模通过所述直线轴承和所述直线轴承销钉进行上下运动；

所述活动铜套安装在所述第一针模上，用于锁定所述第二针模并结合所述弹力模块以弹力限制所述第一针模和所述第二针模的距离，使得所述第一针模和所述第二针模在预设距离范围中上下运动。

5.如权利要求1所述的测试针模，其特征在于，所述测试针模还包括优力胶压线块、针套，其中：

所述针套安装在所述第四针模和所述第五针模上，用于固定针模线；

所述优力胶压线块安装在所述第五针模上，用于压住所述针模线，防止所述针模线影响测试。

6.如权利要求1至5任一项所述的测试针模，其特征在于，所述测试探针从所述第三针模的背面针孔放入，延伸至所述第一针模；

在所述测试针模工作启动时，所述测试探针位于所述第一针模的针孔内，对所述第一针模的表面进行施压，使得所述第一针模和所述第二针模的浮动距离减少，从而使所述测试探针从所述第一针模的针孔伸出并扎在所述待测产品对应的测试部位。

7.如权利要求6所述的测试针模，其特征在于，所述探针模块包括第一探针、第二探针，所述连接器包括左端PIN脚和右端PIN脚，其中，所述第一探针包括至少六根测试探针，所述第二探针包括至少四根检测探针；

采用至少三根所述测试探针与所述连接器的左端PIN脚连接，同时，采用至少三根所述测试探针与所述连接器的右端PIN脚连接，所述左端PIN脚和所述右端PIN脚连接所述待测产品内部线路的接地点，用于保证测试的稳定性；

采用至少两根所述检测探针与所述连接器PIN脚左上端和左下端连接，同时，采用至少两根所述检测探针与所述连接器PIN脚右上端和右下端连接，用于检测所述待测产品是否存在元器件。

8.一种测试方法，所述测试方法应用在权利要求1至7所述的任一项测试针模上，其特征在于，所述测试方法包括：

获取测试请求；

基于所述测试请求，开启测试针模，并生成电流检测请求；

基于所述电流检测请求，采用检测探针对待测产品进行元器件检测，得到检测结果；

若所述检测结果为所述待测产品存在元器件，则采用测试探针对所述待测产品进行测试；

若所述检测结果为所述待测产品不存在元器件，则所述待测产品不合格。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8所述的测试方法。

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