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CN114791685B - 显示模组及其显示方法 - Google Patents

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CN114791685B
CN114791685B CN202110104360.6A CN202110104360A CN114791685B CN 114791685 B CN114791685 B CN 114791685B CN 202110104360 A CN202110104360 A CN 202110104360A CN 114791685 B CN114791685 B CN 114791685B
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Abstract

本公开提供了一种显示模组及其显示方法。该显示模组，包括显示液晶面板、调光液晶面板和背光模组；所述显示液晶面板，包括多个用于显示的子像素；所述调光液晶面板，设置在所述显示液晶面板和所述背光模组之间，包括多个调光部，所述调光部与所述子像素对应设置且用于调节背光模组的出射光线经过所述调光部的透过率；其中，所述调光液晶面板上设置感温单元，所述感温单元响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号，以使所述显示模组基于所述信号调节显示参数。

Description

显示模组及其显示方法
技术领域
本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示模组及其显示方法。
背景技术
随着市场高端显示需求的增加，高亮度、高对比度、高分辨率显示产品受到广大消费者欢迎。在传媒、设计等行业，所使用的显示设备性能往往比家用显示设备高出数倍。
一种叠屏显示技术是将两张面板叠加，其中，主面板用于形成视觉颜色刺激，次面板用于精细控制背光亮度。这种设计带来的视觉体验为超高对比度，可为使用者保留较佳的暗态细节。
但是，在这种叠屏技术中，由于叠加了面板，使得光线透过率受到影响，为了提高显示亮度，通常背光模组的亮度需要提高，导致背光功率上升、模组温升较大等问题。而模组高温易导致液晶特性、色阻变化等问题，进而导致画面显示品质下降。
发明内容
有鉴于此，本公开的目的在于提出一种显示模组及其显示方法。
基于上述目的，本公开第一方面，提供了一种显示模组，包括显示液晶面板、调光液晶面板和背光模组；
所述显示液晶面板，包括多个用于显示的子像素；
所述调光液晶面板，设置在所述显示液晶面板和所述背光模组之间，包括多个调光部，所述调光部与所述子像素对应设置且用于调节背光模组的出射光线经过所述调光部的透过率；
其中，所述调光液晶面板上设置感温单元，所述感温单元响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号，以使所述显示模组基于所述信号调节显示参数。
本公开第二方面，提供了一种应用于第一方面的显示模组的显示方法，包括：
响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号；以及
基于所述信号调节显示参数。
从上面所述可以看出，本公开提供的显示模组及其显示方法，通过在调光液晶面板上设置感温单元来随时检测调光液晶面板的温度并生成与所述温度相关的信号，从而可以基于该信号对显示模组的显示参数进行调节，进而提升了显示画面质量。
附图说明
为了更清楚地说明本公开或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1A示出了本公开实施例提供的显示模组的模块结构示意图；
图1B示出了本公开实施例提供的显示模组的层叠结构示意图；
图2A示出了TFT的源漏电流与温度的关系；
图2B示出了根据本公开实施例的调光液晶面板上的TFT排布示意图；
图2C示出了根据本公开实施例的调光液晶面板的示例性电路布线示意图；
图2D示出了根据本公开实施例的调光液晶面板的示例性电路布线示意图；
图2E示出了根据本公开实施例的调光液晶面板的示例性等效电路示意图；
图2F示出了根据本公开实施例的示例性控制单元的电路结构示意图；
图2G示出了根据本公开实施例的用于感温的薄膜晶体管阵列的编码处理示意图；
图3A示出了本公开实施例提供的示例性方法的流程示意图；
图3B示出了根据本公开实施例的一种示例性方法的流程示意图；
图3C示出了根据本公开实施例的另一种示例性方法的流程示意图；
图3D示出了根据本公开实施例的示例性TFT分布示意图。
具体实施方式
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。
需要说明的是，除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
叠屏技术的一个示例是京东方的叠屏显示技术(BOE dual cell，简称BD cell)。在诸如BD cell此类超高分辨率、超高对比度的液晶显示设备中，为获得良好的显示效果，可能需要采取牺牲透过率、开口率等措施，从而一般会匹配超高亮度的背光模组。而超高亮度的背光模组，易带来背光模组功率上升、背光模组温升较大等问题。透过率的降低及显示亮度的要求，使得叠屏显示设备的背光模组的亮度可能达到了100000尼特(nit)，背光模组的功率超过300W，致使背光功率密度可能达到1000W/m2。尽管设计人员可能会对背光模组采取强制对流等散热措施，但是背光模组结构的复杂性以及热源分布等因素易导致系统热阻与热功率无法匹配，屏幕表面温度可能还是容易超过50℃。最终，长时间处于高温使用状态下，背光模组的高温可能导致液晶特性、色阻变化，受液晶、彩膜温度特性的影响，进而致使画面显示品质下降。
高温导致的显示品质下降其中一项是色坐标偏移，亦即在画面中呈现色点漂移现象。BD Cell的背光模组中光源LED结温可能超过100℃、屏表温可能超过50℃。在如此高的使用温度下，液晶特性及彩膜色阻易发生变化，致使相同画面、不同温度下色点漂移。
色坐标补偿作为一种改善因温升导致显示品质下降的优化方法，其实现简单，成本低廉。一种色坐标补偿方案为标定稳定状态下色点，在系统中预置固定取值的补偿值。该方案控制系统传递函数单一，不需要额外增加传感器(sensor)侦测系统变量，但存在一定局限性。这种补偿手段是基于稳定状态温度已知，且补偿数据不需动态调整的使用场合。然而从开机到稳定状态过程中温度为变量，其系统响应并非定值，尽管在特定画面稳定状态下，色点处于设计值，但在稳定过程中，使用者容易察觉到画面渐变或阶跃变化，因此并不能满足高性能专业显示器需求。
鉴于此，本公开提供了一种显示模组及其显示方法。该显示模组包括显示液晶面板、调光液晶面板和背光模组；所述显示液晶面板，包括多个用于显示的子像素；所述调光液晶面板，设置在所述显示液晶面板和所述背光模组之间，包括多个调光部，所述调光部与所述子像素对应设置且用于调节背光模组的出射光线经过所述调光部的透过率；其中，所述调光液晶面板上设置感温单元，所述感温单元响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号，以使所述显示模组基于所述信号调节显示参数。本公开提供的显示模组及其显示方法，通过在调光液晶面板上设置感温单元来随时检测调光液晶面板的温度并生成与所述温度相关的信号，从而可以基于该信号对显示模组的显示参数(例如，色坐标)进行调节，进而提升了显示画面质量。
图1A示出了本公开实施例提供的显示模组的模块结构示意图。如图1A所示，显示模组100可以包括显示液晶面板102、调光液晶面板104、背光模组106、控制单元108和存储单元110。图1B示出了本公开实施例提供的显示模组的层叠结构示意图。如图2B所示，显示液晶面板102、调光液晶面板104和背光模组106依次层叠设置。
显示液晶面板102，可以包括多个用于显示的子像素，例如，红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素等。
背光模组106，可以基于背光源发出的光线形成面状的出射光线1062，并将出射光线1062射向调光液晶面板104。
调光液晶面板104，设置在显示液晶面板102和背光模组106之间，包括多个调光部1042，调光部1042与子像素对应设置且用于调节背光模组106的出射光线1062经过调光部1042的透过率。在一些实施例中，调光部1042可以是与子像素一一对应，或者与调光部1042的所在区域对应的多个子像素相对应。
调光液晶面板104上可以设置感温单元1044，感温单元1044响应于所述调光液晶面板104的温度(或温度变化)以生成与该温度相关的信号(例如，电信号)，以使显示模组100可以基于该信号调节自身的显示参数。
通过在调光液晶面板104上设置感温单元1044来随时检测调光液晶面板104的温度(或温度变化)并生成与所述温度相关的信号，从而可以基于该信号对显示模组的显示参数(例如，色坐标)进行调节，进而提升了显示画面质量。同时，由于感温单元1044设置在调光液晶面板104上，而调光液晶面板104设置在显示液晶面板102和背光模组106之间，亦即，一方面，相对于设置在显示液晶面板102上，设置在调光液晶面板104上的感温单元1044更靠近相当于热源的背光模组106，另一方面，相对于设置在背光模组106上，设置在调光液晶面板104上的感温单元1044更靠近受温度影响较为明显的显示液晶面板102，使得设置在调光液晶面板104上的感温单元1044能够有效测量屏表温度，进而保证画面品质。
可以理解的是，感温单元1044中感应温度的器件可以是任意的可以感测温度并生成与该温度相关的信号的器件，例如，温度传感器、热电偶、热电阻、热敏电阻，等等。显示参数可以是对温度比较敏感的显示参数，例如，色坐标。
经本公开发明人拆屏对薄膜晶体管的(TFT)的温度特性开展研究发现，TFT的源漏电流对温度具备敏感性，如图2A所示，TFT的源漏电流与温度基本呈线性关系。鉴于此，可以在感温单元1044中设置感温TFT并利用该感温TFT来感测温度并生成与该温度相关的信号(例如，源漏电流)，所述控制单元108则可根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数，并利用所述补偿显示参数调节所述显示模组的显示参数。由于TFT的源漏电流与温度基本呈线性关系，该电学特性为感温TFT的标定提供了便利，保证了系统控制可靠性。并且，由于调光液晶面板104本身为不带彩膜结构的TFT阵列结构，新增感温TFT不需额外增加新材质、新设计，只需占用调光液晶面板104上的少量TFT，即可作为感温TFT，方案实现难度小。
图2B示出了根据本公开实施例的调光液晶面板上的TFT排布示意图。如图2B所示，调光液晶面板104上包括普通TFT(用于实现调光的TFT)1046以及感温TFT1048，感温TFT1048的外形及刻蚀结构可以与普通TFT1046基本相同。根据不同需求，亦可根据实际效果调整感温TFT1048的大小，例如，在三个子像素(DOT)对应的区域形成一个感温TFT1048。
图2C示出了根据本公开实施例的调光液晶面板104a的示例性电路布线示意图。在一些实施例中，所述薄膜晶体管(例如，感温TFT1048)的数量为多个，且阵列分布在所述调光液晶面板104上。这样，通过采集分布在调光液晶面板104上的用于感温的多个薄膜晶体管的信号，从而可以获得调光液晶面板104上的温度分布情况，能够更好地进行显示参数的调整。
如图2C所示，在一些实施例中，为了简化调光液晶面板104的布线同时保证调光液晶面板104的开口率，可以令薄膜晶体管1048的栅极连接普通TFT1046(或称驱动晶体管)的栅线，进而与普通TFT共用扫描信号，由共用的扫描信号驱动薄膜晶体管1048实现开启或关断动作。
在一些实施例中，如图2C所示，为保证感温TFT1048a的漏极电压为恒定值，同一列的所述薄膜晶体管(例如，感温TFT1048a)可以共用输入信号线(例如，信号线1050a)，并且该输入信号线1050a独立于普通薄膜晶体管(例如，TFT1046a)的输入信号线。相对于已有的普通薄膜晶体管(例如，TFT1046a)的输入信号线，同一列的感温TFT1048a只需增加一根输入信号线即可，这样可以节约用于感温的多个薄膜晶体管的走线，简化电路板布线。
图2D示出了根据本公开实施例的调光液晶面板104b的示例性电路布线示意图。如图2D所示，在一些实施例中，同一列的所述薄膜晶体管(例如，感温TFT1048b)除了可以共用输入信号线(例如，信号线1050b)，还可以共用输出信号线(例如，信号线1052b)，相对于已有的普通薄膜晶体管(例如，TFT1046b)的输出信号线，同一列的感温TFT1048b只需增加一根输出信号线即可，这样可以节约用于感温的多个薄膜晶体管的走线，简化电路板布线。需要说明的是，在同一列的感温TFT1048b共用输出信号线的情形下，为了保证信号的读取，需要对输出信号线进行分时复用，以利用不同时间节点读取对应的感温TFT1048b的输出信号。
在一些实施例中，如图2C或图2D所示，控制单元108可以包括设置在所述调光液晶面板104a或104b上的多个覆晶薄膜1054a或1054b(Chip On Film，简称COF)，所述薄膜晶体管(例如，感温TFT1048b)设置在相邻所述覆晶薄膜的间隔的中线(例如，图2C的中线1056a，或者，图2D的中线1056b)的位于显示区域内的延长线(例如，图2C的延长线1058a，或，图2D的延长线1058b)上，所述薄膜晶体管的输入信号线(例如，信号线1050a或1050b)和/或输出信号线(例如，信号线1052b)为所述覆晶薄膜的空置走线(dummy lead)。
通过将感温TFT设置在相邻所述覆晶薄膜的间隔的中线的位于显示区域内的延长线上，使得感温TFT的信号线(例如，图2C的信号线1050a或1050b，或者，图2D的信号线1052b)可以更靠近覆晶薄膜的空置走线(dummy lead)，进而当利用覆晶薄膜的空置走线形成薄膜晶体管的输入信号线和/或输出信号线时，可以更好地布线，避免与普通TFT的信号线交叠而带来电容平衡问题。这种设计也可以保证本公开的改进对调光液晶面板104的线路布线影响更小。
图2E示出了根据本公开实施例的调光液晶面板的示例性等效电路示意图。如图2E所示，在一些实施例中，所述感温单元1044还可以包括采样电阻Rf，所述采样电阻Rf串联在所述薄膜晶体管1048和第一电压端(例如，可以是参考电压端或接地端)之间，采样电阻Rf用于拉高薄膜晶体管1048的源极电位，使得所述采样电阻Rf和薄膜晶体管1048之间的节点电压Vout与所述薄膜晶体管1048的源漏电流相关联，可作为温度侦测信号；所述控制单元108，被配置为：根据所述节点电压Vout确定所述显示模组100的补偿显示参数。可选地，采用电阻Rf可以是高精度采样电阻。
相对普通OC TFT阵列而言，单列sensor TFT需增加Vin供电线、Vout数据线，但由于Sub-cell并非提供视觉刺激主要面板，因此在Sub-cell增加少量走线对画面显示效果影响较小。
图2F示出了根据本公开实施例的示例性控制单元的电路结构示意图。针对侦测电压信号可靠性需求，如图2F所示，控制单元108，还可以包括信号放大电路1082、计数器1084和信号保持电路1086。信号放大电路1082、计数器1084和信号保持电路1086可以设置在用于信号传输的电路板(可以称为XPCB)上。
信号放大电路1082，与所述采样电阻Rf和薄膜晶体管1048之间的节点电耦接，被配置为：放大所述节点电压Vout以得到容易识别、带载能力强的放大信号；在一些实施例中，信号放大电路1082可以是电压跟随器。
计数器1084，被配置为：根据扫描时钟信号Scan CLK确定采样时间，以使所述采样时间下所述节点电压Vout为高电平信号。在一些实施例中，节点电压Vout属于周期为一次遍历扫描周期的方波信号，为保证每个薄膜晶体管的适当采样，采样频率需与遍历扫描频率呈分频关系，本实施例使用计数器1084保证其分频关系。计数器1084可以接收扫描时钟信号Scan CLK，由扫描频率及扫描行数、分频关系确定采样时间，确保采样时间节点为节点电压Vout的高电平状态。
信号保持电路1086，分别与所述信号放大电路1082和计数器1084电耦接，被配置为：根据所述采样时间对所述放大信号进行采样以得到采样信号Vsample，并保持所述采样信号Vsample至所述计数器1084的下一采样周期。
在得到采样信号Vsample后，控制单元108可以根据所述采样信号Vsample检索存储单元110中的补偿显示参数查找表(例如，色坐标调节查找表(Adjust ChromaticityCoordinate Table，简称ACC Table))以获取补偿显示参数(例如，RGB补偿值)，根据补偿显示参数可以相应补偿显示液晶面板的RGB参数以调整显示画面。
因实际测量时，单个TFT1048的采样信号为周期性方波信号，而采样信号由信号保持电路1086(例如可以是锁存器)所保持，因此同列TFT1048的信号可采用分时复用的方式来获取，以减小板内走线需求。图2G示出了根据本公开实施例的用于感温的薄膜晶体管阵列的编码处理示意图。如图2G所示，在一些实施例中，阵列分布的TFT1048采集的信号可以通过分时复用总线传输至控制单元108，可以由编码地址确定对应的TFT1048在调光液晶面板104上的位置。
本公开实施例提供的显示模组，利用TFT源漏电流的温度特性，在调光液晶面板(sub-cell)上阵列分布TFT用于侦测不同点位温度，所侦测到的信号经信号处理及对应与查找表的拓扑关系，获取画面色坐标补偿值并可以由FPGA补偿至显示液晶面板，可有效改善因温度带来的色坐标偏移、画面不均等问题。本公开实施例提供的显示模组，还可以通过侦测、放大、标定赋予特殊功能的TFT中的源-漏电信号，作为系统温度控制反馈信号，从而实现闭环控制。
本公开实施例提供的显示模组，用于感温的TFT处于设置在调光液晶面板的玻璃基板(Open Cell，简称OC)上，贴近显示液晶面板及其上的彩膜，这样的测温方式，系统误差链较短，测量更为准确，更能反应当前屏表温度真实状态。并且，调光液晶面板(sub-cell)本身为不带彩膜的TFT阵列结构，使用本公开实施例的方案不需额外增加新材质、新设计，只需占用少量晶体管及COF dummy lead，即可作为温度感应的部件，方案实现难度小。同时，分布式温度感应TFT可精确捕获不同空间位置屏表温，为局部色坐标补偿提供便利，尤其适用于因区域调光(Local Dimming)造成屏表温度不均的应用场合。此外，温度数据可随使用状态实时监测，并通过查找ACC Table匹配当前RBG补偿值，可以自适应调整画面色坐标，为动态补偿方案。
图3A示出了本公开实施例提供的示例性方法的流程示意图。
如图3A所示，显示方法200，应用于前述显示模组100的任一实施例或实施例的排列组合。该方法200包括以下步骤。
在步骤202，可以响应于所述调光液晶面板(例如，图1A的调光液晶面板104)的温度(或温度变化)以生成与所述温度相关的信号。
在一些实施例中，所述调光液晶面板上设置的感温单元(例如，图1A的感温单元104)可以包括薄膜晶体管(例如，图2B的TFT1048)，与所述温度相关的信号可以是所述薄膜晶体管的源漏电流，步骤202则可以进一步包括：响应于所述调光液晶面板的温度以生成所述薄膜晶体管的源漏电流。
在步骤204，可以基于所述信号调节显示参数。
在一些实施例中，与所述温度相关的信号可以是所述薄膜晶体管的源漏电流，步骤204则可以进一步包括：根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数；以及，利用所述补偿显示参数调节所述显示模组的显示参数。
在一些实施例中，所述感温单元还包括采样电阻(例如，图2E的采用电阻Rf)，所述采样电阻串联在所述薄膜晶体管和第一电压端之间，所述采样电阻和薄膜晶体管之间的节点电压(例如，图2E的电压Vout)与所述源漏电流相关联；根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数则可以进一步包括：根据所述节点电压确定所述显示模组的补偿显示参数。
在一些实施例中，根据所述节点电压确定所述显示模组的补偿显示参数，可以进一步包括：
放大所述节点电压(例如，图2F的电压Vout)以得到放大信号；
根据扫描时钟信号(例如，图2F的扫描时钟信号Scan CLK)确定采样时间，以使所述采样时间下所述节点电压为高电平信号；
根据所述采样时间对所述放大信号进行采样以得到采样信号(例如，图2F的采样信号Vsample)，并保持所述采样信号至下一采样周期；
根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表(例如，图2F的补偿显示参数查找表1102)，以获取所述补偿显示参数。
在一些实施例中，所述补偿显示参数可以是色坐标的RGB补偿参数。需要说明的是，这里的RGB补偿参数可以是针对红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素分别进行补偿的灰阶电压，因为灰阶电压不同，相应子像素的亮度不同，通过调整不同颜色的子像素的亮度，进而可以实现色坐标的调整。
在一些实施例中，所述薄膜晶体管的数量为多个，且阵列分布在所述调光液晶面板上；步骤202则可以进一步包括：对于同一列的所述薄膜晶体管，采用分时复用方式，获取各所述薄膜晶体管的所述信号。
根据工程所需及实现难易程度，基于多个感温单元的多点同步控制的温度侦测实施方式可分为分区控制及不分区控制两种实现方式。分布于Sub-cell(例如，图1A的调光液晶面板104)上的感温TFT(例如，图2C的TFT1048a)用于采集不同位置的温度数据，不同工程实例中感温TFT数量可根据显示尺寸大小、温度场来确定。为方便对算法进行描述，可以将所述sensor TFT数量定义为n，并对所有感温TFT进行编号，编号顺序自1至n。
在感温TFT使用状态时间序列中，相应感温TFT所处状态由x(i，t)表示，i为感温TFT的编号，t为采样时间。本实施例以感温TFT的栅极由显示扫描信号控制，故显示设备表面温度应由同一扫描周期下的不同感温TFT的实际信号共同决定，即x(i，T)，T为扫描周期。
图3B示出了根据本公开实施例的一种示例性方法的流程示意图。如图3B所示，在不分区补偿控制实施例中，根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数的步骤300，可以具体包括以下步骤。
在步骤302，可以计算多个所述薄膜晶体管的采样信号的加权平均值。
扫描信号周期T内遍历所有感温TFT并输出相应的与温度相关的采样信号。
在第T扫描周期采集到的采样信号x(i，T)经加权后生成与温度相关的加权平均值，即：
其中，ki表示各感温TFT的采样信号的权重，可以由设计人员预先设定形成权重表。根据显示模组尺寸的大小，权重的设置方式可以是不同的。例如，显示模组尺寸较小，温度分布较为均匀时，则可令ki＝1，(i＝1，2，…，n)，即表示采样信号取均值。针对屏幕表面温度梯度较大的情况，可以由开发人员先测定实际使用温度及显示画面水平对应关系后，再确定各感温TFT的采样信号的权重，例如，可以是温度较高的部位对应的感温TFT的采样信号的权重更大。
在步骤304，可以利用所述加权平均值检索所述补偿显示参数查找表(例如，图2F的补偿显示参数查找表1102)，以获取所述补偿显示参数，并可以由补偿电路输出补偿显示参数，以调整色坐标漂移。
由于自然界热对流表现为底部热源热传导形成热气体，热气体自然上升与高处冷气体热交换，形成的冷空气自然下沉再次与热源发生热传导，其循环过程在散热系统中表现为温度梯度与重力方向相同。因此在屏表面温度并非处处相等，若以单一标定值补偿画面，易导致画面均一性问题。
同时，叠屏技术使用可以区域调光(Local dimming)的背光，随显示画面变化，背光的局部功耗不同，发热量不同。尤其在显示动态画面时，局部温升无法达到稳定状态，因此可能带来局部色偏问题。
鉴于此，在一些实施例中采用分区补偿控制方法来实现显示补偿。图3C示出了根据本公开实施例的另一种示例性方法的流程示意图。如图3C所示，在分区控制实施例中，根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数的步骤400，可以具体包括以下步骤。
所述分区补偿控制方法可以是根据采集到的第T扫描周期的采样信号x(i，T)以生成补偿分布图(Map)的方法。本实施例中感温TFT分布于二维平面且其位置已知，因此可以将感温TFT编码变换为二维方向坐标值。图3D示出了根据本公开实施例的示例性TFT分布示意图。其中，TFT分布包括u、v方向，黑色块表示感温TFT，白色块表示普通TFT，采集到的第T扫描周期的采样信号x(i，T)可表示为x’(u,v,T)。因本公开实施例中感温TFT分布于调光液晶面板104(sub-cell)上，相应地，sub-cell中的所有TFT均可以获得相应坐标编码。
有限的温度测量点需要表征整个显示区域内温度场状态，则需要由有限的温度测量点计算获取非测量点温度。集合上述建立的坐标编码及特定感温TFT的采样信号，问题可转换为二维曲面拟合问题。
因显示设备数据处理能力通常较差，且数据处理精度不需太高，因此要求算法空间、时间复杂度必须满足处理能力。本实施例中侦测到的温度信号需要转换为色坐标补偿值，而若采用先利用感温TFT的采样信号处理得到显示模组的温度分布数据，然后基于温度分布情况再确定平面内每个位置(包含感温TFT和普通TFT的位置)的补偿值的方式，将需对每个位置计算补偿数值(例如，可能需要对每个TFT对应位置的子像素通过查表得到一个补偿值，这需要多次查表)，其算法空间、时间复杂度较高，对设备算力要求较高。因此本实施例使用先计算感温TFT对应位置的补偿值，再通过拟合计算的方式确定普通TFT对应位置的补偿值的方法。
在步骤402，可以根据多个所述薄膜晶体管的采样信号检索所述补偿显示参数查找表(例如，图2F的补偿显示参数查找表1102)，以获取多个预补偿显示参数。
在本步骤中，可以基于各感温TFT的采样信号x’(u,v,T)，经查表获得各感温TFT在扫描周期T内对应的色坐标补偿值为O(u,v)。
考虑到显示模组的算力限制，本实施例的拟合算法应易于实现。现有二维拟合算法较多，虽然部分算法计算精度较高，但算力要求高、实现复杂。因此本实施例使用二元二次多项式拟合。这样，在步骤404，可以采用二元二次多项式拟合所述预补偿显示参数，得到分布于显示模组的显示区域的所述补偿显示参数，其中多项式系数采用最小二乘法确定。
本步骤中，对于O(u,v)可用以下计算公式表示。
O(u，v)＝a0+a1u+a2v+a3u2+a4uv+a5v2
由前一步骤得到的预补偿显示参数经最小二乘法即可确定上式的多项式系数，最终根据普通TFT的坐标位置得到分布于显示模组的显示区域的所述补偿显示参数，亦即显示区域内各个位置对应的补偿显示参数，亦可称为补偿Map，将补偿Map补偿于显示画面，即可纠正因温度导致的画面色坐标漂移问题。
这样，通过分布式测量屏表温度，进而拟合得到补偿Map，可控制局部画面色坐标。
下面简要介绍本公开实施例的显示方法的一个示例性工作过程。
显示器开始工作，时钟信号提供扫描频率，栅线(GATE)逐行扫描。当扫描至感温TFT所在行时，感温TFT开启，感温TFT侦测其所在位置的温度并形成相应源漏电流I，源漏电流I经过采样电阻Rf转换为电压信号Vout。计数器接收扫描时钟信号，由预设计数次数确定采样周期得到采样信号Vsample并保持至下一采样周期。Vsample输入控制单元108(可包括FPGA)，并由预设Vsample-ACC table拓扑关系确定需要补偿的RGB值；控制单元108反馈补偿值至显示模组将因温度导致的色偏画面调整至正确色坐标；补偿动作反馈计数器并使计数器清零。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本公开的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本公开的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。
另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本公开难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本公开难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本公开的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本公开的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本公开。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。
尽管已经结合了本公开的具体实施例对本公开进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。
本公开旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本公开的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种显示模组，包括显示液晶面板、调光液晶面板和背光模组；
所述显示液晶面板，包括多个用于显示的子像素；
所述调光液晶面板，设置在所述显示液晶面板和所述背光模组之间，包括多个调光部，所述调光部与所述子像素对应设置且用于调节背光模组的出射光线经过所述调光部的透过率；
其中，所述调光液晶面板上设置感温单元，所述感温单元响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号，以使所述显示模组基于所述信号调节显示参数，所述显示参数包括色坐标。
2.根据权利要求1所述的显示模组，其中，所述感温单元包括薄膜晶体管，所述与所述温度相关的信号为所述薄膜晶体管的源漏电流，所述显示模组还包括控制单元，被配置为：
根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数；
利用所述补偿显示参数调节所述显示模组的显示参数。
3.根据权利要求2所述的显示模组，其中，所述感温单元还包括采样电阻，所述采样电阻串联在所述薄膜晶体管和第一电压端之间，所述采样电阻和薄膜晶体管之间的节点电压与所述源漏电流相关联；所述控制单元，被配置为：根据所述节点电压确定所述显示模组的补偿显示参数。
4.根据权利要求3所述的显示模组，其中，所述控制单元，包括：
信号放大电路，与所述采样电阻和薄膜晶体管之间的节点电耦接，被配置为：放大所述节点电压以得到放大信号；
计数器，被配置为：根据扫描时钟信号确定采样时间，以使所述采样时间下所述节点电压为高电平信号；
信号保持电路，分别与所述信号放大电路和计数器电耦接，被配置为：根据所述采样时间对所述放大信号进行采样以得到采样信号，并保持所述采样信号至所述计数器的下一采样周期。
5.根据权利要求4所述的显示模组，还包括存储单元，被配置为存储补偿显示参数查找表，所述控制单元，与所述存储单元电耦接，并被配置为：
根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数。
6.根据权利要求2所述的显示模组，其中，所述薄膜晶体管的数量为多个，且阵列分布在所述调光液晶面板上，其中，同一列的所述薄膜晶体管共用输入信号线。
7.根据权利要求6所述的显示模组，其中，所述控制单元包括设置在所述调光液晶面板上的多个覆晶薄膜，所述薄膜晶体管设置在相邻所述覆晶薄膜的间隔的中线的位于显示区域内的延长线上，所述薄膜晶体管的输入信号线和/或输出信号线为所述覆晶薄膜的空置走线。
8.根据权利要求1-7任一项所述的显示模组，其中，所述显示参数为色坐标。
9.一种应用于权利要求1所述的显示模组的显示方法，包括：
响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号；以及
基于所述信号调节显示参数。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述感温单元包括薄膜晶体管，所述与所述温度相关的信号为所述薄膜晶体管的源漏电流，响应于所述调光液晶面板的温度以生成与所述温度相关的信号，包括：响应于所述调光液晶面板的温度以生成所述薄膜晶体管的源漏电流；
基于所述信号调节显示参数，包括：根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数；以及，利用所述补偿显示参数调节所述显示模组的显示参数。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述感温单元还包括采样电阻，所述采样电阻串联在所述薄膜晶体管和第一电压端之间，所述采样电阻和薄膜晶体管之间的节点电压与所述源漏电流相关联；根据所述薄膜晶体管的源漏电流确定所述显示模组的补偿显示参数，包括：根据所述节点电压确定所述显示模组的补偿显示参数。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，根据所述节点电压确定所述显示模组的补偿显示参数，包括：
放大所述节点电压以得到放大信号；
根据扫描时钟信号确定采样时间，以使所述采样时间下所述节点电压为高电平信号；
根据所述采样时间对所述放大信号进行采样以得到采样信号，并保持所述采样信号至下一采样周期；
根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述薄膜晶体管的数量为多个，且阵列分布在所述调光液晶面板上；基于所述信号调节显示参数，包括：
对于同一列的所述薄膜晶体管，采用分时复用方式，获取各所述薄膜晶体管的所述信号。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数，包括：
计算多个所述薄膜晶体管的采样信号的加权平均值；
利用所述加权平均值检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数。
15.根据权利要求13所述的方法，其中，根据所述采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取所述补偿显示参数，包括：
根据多个所述薄膜晶体管的采样信号检索所述补偿显示参数查找表，以获取多个预补偿显示参数；
采用二元二次多项式拟合所述预补偿显示参数，得到分布于显示模组的显示区域的所述补偿显示参数，其中多项式系数采用最小二乘法确定。
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