CN114354986B - 飞针测试机及其测试轴极性分配方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种飞针测试机及其测试轴极性分配方法。该方法包括:建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12,第一探针到第一待测点的移动路径L11,第二探针到第二待测点的移动路径L22;基于转换关系M12判断移动路径L11和移动路径L22之间是否存在干涉;若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。本发明提供的飞针测试机及其测试轴极性分配方法,其能够根据PCB板上的测试点与对应探针之间的位置及对应关系,来判断探针对应的测试轴测试过程中是否会发生干涉碰撞,并根据判断结果来分配测试轴的极性,以避免下针测试时测试轴发生干涉碰撞。
Description
技术领域
本发明是关于飞针测试技术领域,特别是关于一种飞针测试机及其测试轴极性分配方法。
背景技术
PCB板飞针测试机是用探针来取代针床,并使用多个由马达驱动的、能够快速移动的电气探针同器件的引脚进行接触并进行自动化测试。在测试过程中要求测试轴有高速度、高精度、测试范围广的特点。但是在现有技术中,由于PCB板测试点的空间分布问题,测试轴在高速运转中极易发生碰撞,一旦发生碰撞,将产生巨大的财产损失。
因此,针对上述技术问题,有必要提供一种飞针测试机及其测试轴极性分配方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种飞针测试机及其测试轴极性分配方法,其能够根据PCB板上的测试点与对应探针之间的位置及对应关系,来判断探针对应的测试轴在测试过程中是否会发生碰撞,并根据判断结果来分配测试轴的极性,以避免下针测试时测试轴发生干涉碰撞。
为实现上述目的,本发明提供的技术方案如下:
第一方面,本发明提供了一种飞针测试机的测试轴极性分配方法,用于PCB板测试,飞针测试机包括第一测试轴和第二测试轴,第一测试轴上设有第一探针和第一相机,第二测试轴上设有第二探针和第二相机,所述测试方法包括以下步骤:
建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12;建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1;建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2;在PCB板上选取第一待测点作为第一探针的测试点,并选取第二待测点作为第二探针的测试点;基于转换关系MP1获得第一探针到第一待测点的移动路径L11,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L22;基于转换关系M12判断移动路径L11和移动路径L22之间是否存在干涉;若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
在一个或多个实施方式中,所述建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12,包括:
将标定板固定于飞针测试机预定的位置上;建立标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1,及标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2;根据第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系,建立第一相机坐标系到第一探针坐标系的转换关系MC1,根据第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系,建立第二相机坐标系到第二探针坐标系的转换关系MC2;根据转换关系BC1和转换关系MC1建立标定板坐标系到第一探针坐标系的转换关系MB1,根据转换关系BC2和转换关系MC2建立标定板坐标系到第二探针坐标系的转换关系MB2;根据转换关系MB1和转换关系MB2,建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12。
在一个或多个实施方式中,所述建立标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1,及标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2,包括:
通过第一相机获取标定板的第一图像,识别定位第一图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1;通过第二相机获取标定板的第二图像,识别定位第二图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2。
在一个或多个实施方式中,所述建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1,包括:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系;将第一相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第一相机的像素坐标,并记录第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标;根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第一相机的像素坐标、第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标、及第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系,建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1。
在一个或多个实施方式中,所述建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2,包括:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系;将第二相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第二相机的像素坐标,并记录第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标;根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第二相机的像素坐标、第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标、及第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系,建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2。
在一个或多个实施方式中,所述基于转换关系MP1获得第一探针到第一待测点的移动路径L11,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L22,包括:
基于转换关系MP1获取第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L11;基于转换关系MP2获取第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L22。
在一个或多个实施方式中,所述若移动路径L1和移动路径L2之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试,包括:
若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,基于转换关系MP1获得第一探针到第二待测点的移动路径L12,基于转换关系MP2获得第二探针到第一待测点的移动路径L21;根据移动路径L12将第一探针移动至第二待测点处,并根据移动路径L21将第二探针移动至第一待测点处,进行下针测试。
在一个或多个实施方式中,所述基于转换关系MP1获得第一探针到第二待测点的移动路径L12,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L21,包括:
基于转换关系MP1获取第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L12;基于转换关系MP2获取第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L21。
在一个或多个实施方式中,所述测试方法还包括:
若移动路径L11和移动路径L22之间不存在干涉,则以第一待测点作为第一探针的测试点,并以第二待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
第二方面,本发明提供了一种飞针测试机,其包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行前述的飞针测试机的测试轴极性分配方法的步骤。
与现有技术相比,本发明提供的飞针测试机及其测试轴极性分配方法,其能够根据PCB板上的测试点与对应探针之间的位置及对应关系,来判断探针对应的测试轴测试过程中是否会发生干涉碰撞;若测试轴会发生干涉碰撞,则切换测试点与探针的对应关系,即重新分配测试轴的极性,将测试轴的极性互换后,再进行下针测试,以避免测试轴干涉碰撞;若测试轴不会发生干涉碰撞,则维持原有的测试点和探针的对应关系,即维持测试轴的极性,进行下针测试;该测试方法灵活可靠且易于实现。
附图说明
图1是本发明一实施方式中飞针测试机的测试轴极性分配方法的流程图;
图2是本发明一实施方式的飞针测试机的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的具体实施方式进行详细描述,但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
除非另有其它明确表示,否则在整个说明书和权利要求书中,术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分,而并未排除其它元件或其它组成部分。
请参照图1所示,为本发明一实施方式中的飞针测试机的测试轴极性分配方法的流程图。该测试方法可用于飞针测试机对PCB板的测试,该飞针测试机包括第一测试轴和第二测试轴,第一测试轴上设有第一探针和第一相机,第二测试轴上设有第二探针和第二相机。该飞针测试机测试包括以下步骤:
S1:建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12。
具体地,第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12可以通过以下方式建立:
将标定板固定于飞针测试机预定的位置上。该预定的位置可以是飞针测试机的待测PCB固定平台,也可以是其他飞针测试机上的其他位置,只要能够使第一相机和第二相机可顺利获取标定板的图像即可。
建立标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1,及标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2。具体步骤为:通过第一相机获取标定板的第一图像,识别定位第一图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1;通过第二相机获取标定板的第二图像,识别定位第二图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2。
根据第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系,建立第一相机坐标系到第一探针坐标系的转换关系MC1,根据第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系,建立第二相机坐标系到第二探针坐标系的转换关系MC2。在进行飞针测试时,同一测试轴上的相机和探针是随测试轴同步移动的,因此可以根据相机和探针在测试轴上的位置关系,来确定相机坐标系和探针坐标系间的转换关系。
根据转换关系BC1和转换关系MC1建立标定板坐标系到第一探针坐标系的转换关系MB1,根据转换关系BC2和转换关系MC2建立标定板坐标系到第二探针坐标系的转换关系MB2。
根据转换关系MB1和转换关系MB2,建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12。确定了标定板坐标系到第一探针坐标系的转换关系MB1和标定板坐标系到第二探针坐标系的转换关系MB2后,可以以标定板坐标系作为中间坐标系实现第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12的确定。
S2:建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1。
具体地,PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1可以通过以下方式建立:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系。在飞针测试机的系统中,通常会预先存储各种类型的PCB的坐标文件,可根据待测的PCB板的类型,在飞针测试机的系统中检索对应的坐标文件,根据该坐标文件可以得到PCB板上各标记点对应的机械坐标。
将第一相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第一相机的像素坐标,并记录第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标。
根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第一相机的像素坐标、第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标,可以建立PCB板坐标系和第一相机坐标系之间的转换关系,再结合第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系(即转换关系MC1),可以建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1。
在实际操作中,通常在PCB上选取三个标记点,通过三点法来构建PCB板坐标系。然后将第一相机分别移动至该三个标记点对应的拍照位置处,通过第一相机对该三个标记点进行拍摄,获取该三个标记点的图像,并记录第一相机拍摄该三个标记点时的机械坐标。再通过第一相机拍摄得到的该三个标记点的图像,计算该三个标记点在对应图像中的像素坐标。基于前述三个标记点的机械坐标、像素坐标、第一相机的拍照位置机械坐标,可以得到PCB板坐标系和第一相机坐标系间的转换关系,在根据第一相机坐标系到第一探针坐标系的转换关系MC1,可以计算得到PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1。
S3:建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2。
具体地,PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2可以通过以下方式建立:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系。在飞针测试机的系统中,通常会预先存储各种类型的PCB的坐标文件,可根据待测的PCB板的类型,在飞针测试机的系统中检索对应的坐标文件,根据该坐标文件可以得到PCB板上各标记点对应的机械坐标。
将第二相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第二相机的像素坐标,并记录第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标。
根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第二相机的像素坐标、第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标,可以建立PCB板坐标系和第二相机坐标系之间的转换关系,再结合第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系(即转换关系MC2),可以建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2。
在实际操作中,可以参考步骤S2中,PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1的建立方式,来实现转换关系MP2的建立,在此不再赘述。
S4:在PCB板上选取第一待测点作为第一探针的测试点,并选取第二待测点作为第二探针的测试点。
具体地,在步骤S4中第一待测点与第一探针的对应关系,及第二待测点与第二探针的对应关系,仅作为初步对应,并不一定为最终下针测试时的对应关系,待测点和探针间的最终对应关系需根据步骤S6的判断结果来确定。
S5:基于转换关系MP1获得第一探针到第一待测点的移动路径L11,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L22。
具体地,移动路径L11和移动路径L22可通过以下方式获得:
基于转换关系MP1获取第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L11;基于转换关系MP2获取第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L22。
S6:基于转换关系M12判断移动路径L11和移动路径L22之间是否存在干涉。
由于第一探针随第一测试轴同步移动,且第二探针随第二测试轴同步移动,因此,根据移动路径L11和移动路径L22之间的干涉关系,可以确定第一探针和第二探针分别沿移动路径L11和移动路径L22移动时,第一测试轴和第二测试轴是否会发生干涉、碰撞。
S7:若移动路径L11和移动路径L22之间不存在干涉,则以第一待测点作为第一探针的测试点,并以第二待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
若移动路径L11和移动路径L22之间不存在干涉,即表示以第一待测点作为第一探针的测试点,并以第二待测点作为第二探针的测试点进行下针测试时,第一测试轴和第二测试轴不会发生干涉、碰撞。此时,无需对测试轴的极性进行重新分配,可以将第一待测点确定为第一探针最终下针时的测试点,将第二待测点确定为第二探针最终下针时的测试点。
S8:若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,即表示以第一待测点作为第一探针的测试点,并以第二待测点作为第二探针的测试点进行下针测试时,第一测试轴和第二测试轴会发生干涉、碰撞。此时,可以对两个测试点与第一探针和第二探针的对应关系进行切换,即重新分配测试轴的极性,将第一测试轴和第二测试轴的极性互换,将第二待测点确定为第一探针最终下针时的测试点,并第一待测点确定为第二探针最终下针时的测试点,以避免下针测试时第一测试轴和第二测试轴发生干涉、碰撞。
具体地,第一测试点和第二测试点与第一探针和第二探针的对应关系进行切换后,需要重新确定第一探针和第二探针下针时的移动路径。即,确定第一探针到第二待测点的移动路径L12,第二探针到第一待测点的移动路径L21。
移动路径L12和移动路径L21的确定,可以基于转换关系MP1和转换关系MP2来实现。即,基于转换关系MP1获取第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L12;基于转换关系MP2获取第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L21。
移动路径L12和移动路径L21的确定也可以通过转换关系M12来实现。即,基于第二待测点在第二探针坐标系中的坐标及转换关系M12,获取第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L12;基于第一待测点在第一探针坐标系中的坐标及转换关系M12,获取第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L21。
如图2所示,本发明一实施方式还提供了一种飞针测试机2,该飞针测试机2包括处理器21、存储器22(例如非易失性存储器)、内存23和通信接口24,并且处理器21、存储器22、内存23和通信接口24经由总线25连接在一起。处理器21用于调用在存储器22中存储或编码的至少一个程序指令,以使得处理器21执行本说明书的各个实施方式中所描述的飞针测试机的测试轴极性分配方法的各种操作步骤和功能。
所述存储器22可以是计算机能够存取的任何可用介质或数据存储设备,包括但不限于磁性存储器(例如软盘、硬盘、磁带、磁光盘(MO)等)、光学存储器(例如CD、DVD、BD、HVD等)、以及半导体存储器(例如ROM、EPROM、EEPROM、非易失性存储器(NAND FLASH)、固态硬盘(SSD)等)。
综上所述,本发明提供的飞针测试机及其测试轴极性分配方法,其能够根据PCB板上的测试点与对应探针之间的位置及对应关系,来判断探针对应的测试轴测试过程中是否会发生干涉碰撞;若测试轴会发生干涉碰撞,则切换测试点与探针的对应关系,即重新分配测试轴的极性,将测试轴的极性互换后,再进行下针测试,以避免测试轴干涉碰撞;若测试轴不会发生干涉碰撞,则维持原有的测试点和探针的对应关系,即维持测试轴的极性,进行下针测试;该测试方法灵活可靠且易于实现。
前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式,并且很显然,根据上述教导,可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应用,从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。
Claims (10)
1.一种飞针测试机的测试轴极性分配方法,用于PCB板测试,飞针测试机包括第一测试轴和第二测试轴,第一测试轴上设有第一探针和第一相机,第二测试轴上设有第二探针和第二相机,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:
建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12;
建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1;
建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2;
在PCB板上选取第一待测点作为第一探针的测试点,并选取第二待测点作为第二探针的测试点;
基于转换关系MP1获得第一探针到第一待测点的移动路径L11,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L22;
基于转换关系M12判断移动路径L11和移动路径L22之间是否存在干涉;
若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
2.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12,包括:
将标定板固定于飞针测试机预定的位置上;
建立标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1,及标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2;
根据第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系,建立第一相机坐标系到第一探针坐标系的转换关系MC1,根据第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系,建立第二相机坐标系到第二探针坐标系的转换关系MC2;
根据转换关系BC1和转换关系MC1建立标定板坐标系到第一探针坐标系的转换关系MB1,根据转换关系BC2和转换关系MC2建立标定板坐标系到第二探针坐标系的转换关系MB2;
根据转换关系MB1和转换关系MB2,建立第一探针坐标系和第二探针坐标系之间的转换关系M12。
3.如权利要求2所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述建立标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1,及标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2,包括:
通过第一相机获取标定板的第一图像,识别定位第一图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第一相机坐标系的转换关系BC1;
通过第二相机获取标定板的第二图像,识别定位第二图像的中心坐标,根据标定板上各标记点之间的物理距离,计算得到标定板坐标系到第二相机坐标系的转换关系BC2。
4.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1,包括:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系;
将第一相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第一相机的像素坐标,并记录第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标;
根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第一相机的像素坐标、第一相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标、及第一相机和第一探针在第一测试轴上的位置关系,建立PCB板坐标系到第一探针机械坐标系的转换关系MP1。
5.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2,包括:
检索PCB板的坐标文件,在PCB板上选取多个标记点,根据该多个标记点的机械坐标建立PCB板坐标系;
将第二相机分别移动至与该多个标记点对应的拍照位置,获取该多个标记点的图像,计算该多个标记点基于第二相机的像素坐标,并记录第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标;
根据该多个标记点的机械坐标、该多个标记点基于第二相机的像素坐标、第二相机在该多个标记点对应的拍照位置处的机械坐标、及第二相机和第二探针在第二测试轴上的位置关系,建立PCB板坐标系到第二探针机械坐标系的转换关系MP2。
6.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述基于转换关系MP1获得第一探针到第一待测点的移动路径L11,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L22,包括:
基于转换关系MP1获取第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L11;
基于转换关系MP2获取第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L22。
7.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述若移动路径L1和移动路径L2之间存在干涉,则以第二待测点作为第一探针的测试点,并以第一待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试,包括:
若移动路径L11和移动路径L22之间存在干涉,基于转换关系MP1获得第一探针到第二待测点的移动路径L12,基于转换关系MP2获得第二探针到第一待测点的移动路径L21;
根据移动路径L12将第一探针移动至第二待测点处,并根据移动路径L21将第二探针移动至第一待测点处,进行下针测试。
8.如权利要求7所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述基于转换关系MP1获得第一探针到第二待测点的移动路径L12,基于转换关系MP2获得第二探针到第二待测点的移动路径L21,包括:
基于转换关系MP1获取第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,根据第二待测点在第一探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L12;
基于转换关系MP2获取第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,根据第一待测点在第二探针坐标系中的坐标,计算得到移动路径L21。
9.如权利要求1所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法,其特征在于,所述测试方法还包括:
若移动路径L11和移动路径L22之间不存在干涉,则以第一待测点作为第一探针的测试点,并以第二待测点作为第二探针的测试点,进行下针测试。
10.一种飞针测试机,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1~9中任一项所述的飞针测试机的测试轴极性分配方法的步骤。
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DE102006006255A1 (de) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Atg Test Systems Gmbh | Fingertester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten und Verfahren zum Prüfen unbestückter Leiterplatten mit einem Fingertester |
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---|---|---|---|---|
CN103377300A (zh) * | 2012-04-27 | 2013-10-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 探针校准路径模拟系统及方法 |
CN109175736A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-01-11 | 苏州新代数控设备有限公司 | 轨迹预先测高补偿系统 |
Non-Patent Citations (2)
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---|
大规模MCM基板互连探针测试和路径优化;许川佩等;《仪器仪表学报》;20060128(第01期);正文第9至13页 * |
飞针测试仪伺服系统的研究;刘光壮等;《桂林电子工业学院学报》;19961115(第04期);正文第60至65页 * |
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