CN114240833A - 基于优先级的工业相机缺陷分类方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法。适用于工业相机表面检测领域。本发明所采用的技术方案是:一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个并行处理的滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。所述图像滤波器组定义有256x256像素的背景参考滤波器、8x8像素点滤波器。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法。适用于工业相机表面检测领域。
背景技术
在工业相机表面检测应用中,经常会遇到对缺陷需要分类识别的情况,并且由于实际缺陷的形状和灰度千差万别,非常复杂,难以使用相对简单的模式进行分类。同时常规使用的后端离线式的处理方法也存在效率低,延时长,不能满足很多动态根据缺陷类型进行反馈的实时性需求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:针对上述存在的问题,提供一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法,以简单、快速而又有效的对缺陷进行分类。
本发明所采用的技术方案是:一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:
获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;
基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个并行处理的滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;
基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。
所述图像滤波器组定义有256x256像素的背景参考滤波器、8x8像素点滤波器。
所述图像滤波器组还定义有8x64像素的纵条状滤波器和64x8像素的横条状滤波器。
所述灰度阈值组包括-255~-180、-180~-80、-80~80、80~180和180~255;
当缺陷灰度位于-255~-180判定为非常暗的缺陷像素;-180~-80中为暗缺陷像素;-80~80为正常像素;80~180为亮缺陷像素;180~255为非常亮的缺陷像素。
一种基于优先级的工业相机缺陷分类装置,其特征在于:
缺陷获取模块,用于获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;
滤波器触发模块,用于基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个并行处理的滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;
缺陷类型判定模块,用于基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。
所述图像滤波器组定义有256x256像素的背景参考滤波器、8x8像素点滤波器。
所述图像滤波器组还定义有8x64像素的纵条状滤波器和64x8像素的横条状滤波器。
所述灰度阈值组包括-255~-180、-180~-80、-80~80、80~180和180~255;
当缺陷灰度位于-255~-180判定为非常暗的缺陷像素;-180~-80中为暗缺陷像素;-80~80为正常像素;80~180为亮缺陷像素;180~255为非常亮的缺陷像素。
一种存储介质,其上存储有能被处理器执行的计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被执行时实现所述基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
一种缺陷分类设备,具有存储器和处理器,存储器上存储有能被处理器执行的计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被执行时实现所述基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
本发明的有益效果是:本发明基于缺陷尺寸触发滤波器,并通过滤波器确定缺陷形状及灰度特征,并基于形状和灰度特征从缺陷类型速查表快速判定缺陷类型。
本发明通过采用二维的矩阵数组的来快速、高效地处理预定义缺陷归类,通过使用多通道(对应多个滤波器)处理和内置快速查找表(LUT)极大地提高了基于机器视觉的表面检测系统的实时缺陷分类能力。
附图说明
图1为实施例中快速查找表形成流程图。
图2为实施例的流程图。
具体实施方式
本实施例为一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法,具体包括以下步骤:
S1、获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;
S2、基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个并行处理的滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;
S3、基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。
本实施例预先定义一组图像滤波器组,这是从几何维度上对缺陷进行增强,单位为像素,本例定义一个背景参考滤波器(256x256)和一个点滤波器(8x8),然后可以定义多个具体的形状滤波器(根据具体的场景和要求),本例还定义一个纵条状滤波器(8x64)和横条状滤波器(64x8);
设定灰度阈值可以使系统忽略多数的灰度信息,减少数据处理量,在高速线扫系统检测策略中是一个关键的因素。本实施例对每一个滤波器分别设置一组灰度阈值组,常用的方法是以4个阈值将-255~+255个灰度等级(8位图像)划分位五个区间,如:-180<-80<80<180.这样在第一个区间(-255~-180)中的可以判定为非常暗的缺陷像素;(-180~-80)中的为暗缺陷像素;(-80~80)为可以接受的正常像素;(80~180)为亮缺陷像素;(180~255)为非常亮的缺陷像素。
本实施例在多个滤波器的阈值组之间设定优先级,当系统检测到一个缺陷,根据它的尺寸,可能触发在图像滤波器组中设置的多个滤波器,如果有多于一个滤波器阈值触发,优先级逻辑中设定的顺序就决定哪个滤波器先用于判断缺陷类型。通常的顺序如下:
·暗点=1
·亮点=2
·暗的纵向缺陷=3
·暗的横向缺陷=4
根据优先级设定好的滤波器阈值会组织成一个二维的缺陷类型速查表,并存入FPGA的内置存储中。
当相机采集的图像经二维滤波后,源图像进入FPGA中的滤波器处理流程,分别进入多个不同的滤波器管道,每个管道都是并行处理,FPGA对预处理图像通过对速查表的快速匹配确定对特定像素适用于哪个阈值组,从而快速判定缺陷类型。
本实施例还提供一种基于优先级的工业相机缺陷分类装置,包括缺陷获取模块、滤波器触发模块和缺陷类型判定模,其中缺陷获取模块用于获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;滤波器触发模块用于基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;缺陷类型判定模块用于基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的基于形状和灰度的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型。
本实施例还提供一种存储介质,其上存储有能被处理器执行的计算机程序,该计算机程序被执行时实现本例中基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
本实施例还提供一种缺陷分类设备,具有存储器和处理器,存储器上存储有能被处理器执行的计算机程序,该计算机程序被执行时实现本例中基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
Claims (10)
1.一种基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:
获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;
基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;
基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。
2.根据权利要求1所述的基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:所述图像滤波器组定义有256x256像素的背景参考滤波器、8x8像素点滤波器。
3.根据权利要求2所述的基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:所述图像滤波器组还定义有8x64像素的纵条状滤波器和64x8像素的横条状滤波器。
4.根据权利要求1所述的基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:所述灰度阈值组包括-255~-180、-180~-80、-80~80、80~180和180~255;
当缺陷灰度位于-255~-180判定为非常暗的缺陷像素;-180~-80中为暗缺陷像素;-80~80为正常像素;80~180为亮缺陷像素;180~255为非常亮的缺陷像素。
5.一种基于优先级的工业相机缺陷分类装置,其特征在于:
缺陷获取模块,用于获取从产品图像上识别出的缺陷,并确定缺陷的尺寸;
滤波器触发模块,用于基于缺陷的尺寸从预设的图像滤波器组中触发一个或多个滤波器,每个滤波器定义一个二维几何形状并设有一组灰度阈值组;
缺陷类型判定模块,用于基于缺陷所述触发滤波器的几何形状及该缺陷对应的灰度阈值范围,结合预设的缺陷类型速查表快速判定缺陷类型,其中缺陷类型速查表包括缺陷形状和灰度阈值组成的二维数据及相应的优先级。
6.根据权利要求5所述的基于优先级的工业相机缺陷分类装置,其特征在于:所述图像滤波器组定义有256x256像素的背景参考滤波器、8x8像素点滤波器。
7.根据权利要求6所述的基于优先级的工业相机缺陷分类装置,其特征在于:所述图像滤波器组还定义有8x64像素的纵条状滤波器和64x8像素的横条状滤波器。
8.根据权利要求5所述的基于优先级的工业相机缺陷分类方法,其特征在于:所述灰度阈值组包括-255~-180、-180~-80、-80~80、80~180和180~255;
当缺陷灰度位于-255~-180判定为非常暗的缺陷像素;-180~-80中为暗缺陷像素;-80~80为正常像素;80~180为亮缺陷像素;180~255为非常亮的缺陷像素。
9.一种存储介质,其上存储有能被处理器执行的计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被执行时实现权利要求1~4任意一项所述基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
10.一种缺陷分类设备,具有存储器和处理器,存储器上存储有能被处理器执行的计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被执行时实现权利要求1~4任意一项所述基于优先级的工业相机缺陷分类方法的步骤。
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