CN114047458A - 一种显示面板、显示面板的vt测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板、显示面板的VT测试方法和显示装置。该显示面板包括：多个呈阵列排布的子像素和多个呈阵列排布的指纹识别单元；多条数据线，一条数据线与一行或一列子像素连接；测试电路包括多个第一开关单元和多条第一测试线，第一开关单元的控制端与第一控制信号端连接，第一开关单元的第一端与指纹识别单元的输出端连接，第一开关单元的第二端与至少一条第一测试线的第一端连接，第一测试线的第二端与至少一条数据线连接。测试时根据显示画面测试指纹识别单元。本发明实施例实现了在显示面板邦定集成电路芯片之前进行指纹识别单元测试。避免显示面板需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。

Description

一种显示面板、显示面板的VT测试方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板、显示面板的VT测试方法和显示装置。

背景技术

现有技术中，对于屏内光感电路的检测方式，采用了在显示屏上Bonding(邦定)集成电路芯片后进行屏内光感电路检测的方式。通过这种方式检测出显示屏的屏内光感电路有问题，以致于由于光感电路故障需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。造成了很大程度上的浪费，也导致了生产成本较高。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板、显示面板的VT测试方法和显示装置，用以实现在显示面板邦定集成电路芯片之前进行指纹识别单元测试。避免因为指纹识别单元存在问题导致显示面板需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。解决了集成电路芯片浪费问题，同时也降低了生产成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个呈阵列排布的子像素和多个呈阵列排布的指纹识别单元；

多条数据线，一条所述数据线与一行或一列所述子像素连接；

测试电路，所述测试电路包括多个第一开关单元和多条第一测试线，所述第一开关单元的控制端与第一控制信号端连接，所述第一开关单元的第一端与所述指纹识别单元的输出端连接，所述第一开关单元的第二端与至少一条所述第一测试线的第一端连接，所述第一测试线的第二端与至少一条所述数据线连接；

在所述指纹识别单元的测试阶段，对所述指纹识别单元施加光照信号，所述第一控制信号端控制所述第一开关单元导通，所述指纹识别单元输出的电压信号通过所述第一测试线传输至对应的所述数据线，根据所述显示面板的显示画面测试所述指纹识别单元。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的VT测试方法，适用于上述任一种显示面板，所述VT测试方法包括：

对指纹识别单元施加光照信号；

第一控制信号端控制第一开关单元导通，指纹识别单元输出的电压信号通过第一测试线传输至对应的数据线；

根据所述显示面板的显示画面测试所述指纹识别单元。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述任一种显示面板。

本发明实施例中，显示面板包括：多个呈阵列排布的子像素和多个呈阵列排布的指纹识别单元；多条数据线，一条数据线与一行或一列子像素连接；测试电路，测试电路包括多个第一开关单元和多条第一测试线，第一开关单元的控制端与第一控制信号端连接，第一开关单元的第一端与指纹识别单元的输出端连接，第一开关单元的第二端与至少一条第一测试线的第一端连接，第一测试线的第二端与至少一条数据线连接；在指纹识别单元的测试阶段，对指纹识别单元施加光照信号，第一控制信号端控制第一开关单元导通，指纹识别单元输出的电压信号通过第一测试线传输至对应的数据线，根据显示面板的显示画面测试指纹识别单元。从而能够根据显示面板的显示画面直观的判断指纹识别单元是否正常工作。实现了在显示面板邦定集成电路芯片之前进行指纹识别单元测试。避免因为指纹识别单元存在问题导致显示面板需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。解决了集成电路芯片浪费问题，同时也降低了生产成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的部分电路原理图；

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图；

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图；

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图；

图6为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图；

图7为本发明实施例提供的一种显示面板的VT测试方法流程图；

图8为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。需要注意的是，本发明实施例所描述的“上”、“下”、“左”、“右”等方位词是以附图所示的角度来进行描述的，不应理解为对本发明实施例的限定。此外在上下文中，还需要理解的是，当提到一个元件被形成在另一个元件“上”或“下”时，其不仅能够直接形成在另一个元件“上”或者“下”，也可以通过中间元件间接形成在另一元件“上”或者“下”。术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在现有技术中，对于光感指纹识别显示面板的检测往往包括显示面板可视化测试(VT测试)和指纹识别单元测试。对于指纹识别单元测试，需要在用于处理指纹识别单元输出信号的集成电路芯片邦定到显示面板后，对显示面板进行照射等操作，并接收经集成电路芯片处理的指纹识辨信号。以此判断显示面板的指纹识别单元的好坏，从而检出指纹识别单元无法使用的显示面板并报废。但是，由于用于处理指纹识别单元输出信号的集成电路芯片已经邦定到显示面板上，因此集成电路芯片会连同报废的显示面板一并被废弃。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的部分电路原理图，参考图1。针对现有技术中存在的问题，本发明实施例提出了一种显示面板，包括：

多个呈阵列排布的子像素和多个呈阵列排布的指纹识别单元；

多条数据线1，一条数据线1与一行或一列子像素连接；

测试电路，测试电路包括多个第一开关单元2和多条第一测试线3，第一开关单元2的控制端与第一控制信号端VTSSSW连接，第一开关单元2的第一端与指纹识别单元4的输出端连接，第一开关单元2的第二端与至少一条第一测试线3的第一端连接，第一测试线3的第二端与至少一条数据线1连接；

在指纹识别单元的测试阶段，对指纹识别单元4施加光照信号，第一控制信号端VTSSSW控制第一开关单元2导通，指纹识别单元4输出的电压信号通过第一测试线3传输至对应的数据线1，根据显示面板的显示画面测试指纹识别单元4。

其中，指纹识别单元4可以设置于子像素之间，指纹识别单元4的数量可以多于子像素的数量，可以少于子像素的数量，也可以与子像素的数量一致。当指纹识别单元4少于子像素的数量时，指纹识别单元4之间可以间隔多个子像素。指纹识别单元4可以分布在显示面板的全部区域，也可以分布在显示面板的特定区域。指纹识别单元4可以是任意一种指纹识别单元，本发明实施例不针对指纹识别单元的具体结构进行限定。第一开关单元2可以是任意一种开关管，例如可以是薄膜晶体管、三极管或MOS管等晶体管。

在指纹识别单元的测试阶段，通过外部设备对指纹识别单元4施加光照信号，指纹识别单元4根据被施加的光照信号的强度得到对应的电压信号，第一控制信号端VTSSSW控制第一开关单元2导通，指纹识别单元4输出的电压信号通过第一开关单元2和第一测试线3传输至与第一测试线3的第二端连接的数据线1，由数据线1传递到与数据线1连接的子像素，子像素根据接收到的指纹识别单元4输出的电压信号的电压确定发光亮度。因此可以根据显示面板对应区域的发光亮度来确定对应指纹识别单元4是否处于正常工作状态。可以通过调节光照信号的强度，将指纹识别单元4输出的电压信号调节到指纹识别单元4能够输出的电压信号最高值和电压信号最低值之间的某一范围。此时显示面板对应区域的发光亮度应当为预期亮度范围。如果显示面板对应区域的发光亮度处于预期亮度范围，则说明指纹识别单元4工作正常。指纹识别单元4在正常工作状态下，光敏二极管的阻值随着光照信号的强度变化而变化，光敏二极管的阻值越高则指纹识别单元输出的电压越高。因此指纹识别单元4在正常工作状态下，通过调节光照信号的强度，可以将指纹识别单元输出的电压信号控制在电压信号最高值和电压信号最低值之间(不包括电压信号最高值和电压信号最低值)的某一预期电压范围内。因此指纹识别单元4在正常工作状态下，显示面板对应区域的发光亮度应当为预期亮度范围。如果因指纹识别单元4内部电路故障，导致显示面板对应区域的发光亮度高于或者低于预期亮度范围，则说明指纹识别单元4工作不正常。指纹识别单元4的内部电路故障可以是短路或者断路。当指纹识别单元4的电源端VDD与指纹识别单元4的输出端之间短路时，指纹识别单元4输出的电压信号的电压最高，子像素在最高电压信号下所呈现出的发光亮度最高。当指纹识别单元4的接地端与指纹识别单元4的输出端之间短路时，指纹识别单元4输出的电压信号的电压最低，子像素在最低电压信号下所呈现出的发光亮度最低甚至不发光。当指纹识别单元4的电源端VDD与指纹识别单元4的输出端之间断路时，指纹识别单元4输出的电压信号的电压最低，子像素在最低电压信号下所呈现出的发光亮度最低甚至不发光。当指纹识别单元4的接地端与指纹识别单元4的输出端之间断路时，指纹识别单元4输出的电压信号的电压最高，子像素在最高电压信号下所呈现出的发光亮度最高。因此，指纹识别单元4工作不正常时，显示面板对应区域的发光亮度不会处于预期亮度范围内。通过这种直观的表示方式进行指纹识别单元工作状态的确定，不仅可以简便的判断出指纹识别单元4的工作状态，降低指纹识别单元工作状态的判别难度，提高检视人员的工作效率。这种检测方式可以在邦定指纹识别单元的集成电路芯片之前进行，还可以避免因为指纹识别单元存在问题导致显示面板需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。解决了集成电路芯片浪费问题，同时也降低了生产成本。

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图，参考图2。可选的，数据线1包括间隔设置的第一数据线11和第二数据线12；

第一测试线3的第二端与至少一条第一数据线11或第二数据线12连接。

其中，第一测试线3的第二端可以仅和至少一条第一数据线11连接，也可以仅和至少一条第二数据线12连接。

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图，参考图3。进一步的，子像素包括多种出光颜色的子像素，与同一数据线连接的子像素的出光颜色相同；

第一测试线3的第二端与多条相邻的第一数据线11连接，且不同第一数据线11对应的子像素的出光颜色不同；或者

第一测试线3的第二端与多条相邻的第二数据线12连接，且不同第二数据线12对应的子像素的出光颜色不同。

其中，子像素可以包括红光子像素R、绿光子像素G和蓝光子像素B。数据线1可以连接多个红光子像素，或者通过数据线1连接多个绿光子像素，还可以通过数据线1连接多个蓝光子像素。第一数据线11可以根据连接的子像素颜色依次循环排列，例如第一数据线11的排列方式可以是以红光子像素第一数据线11、蓝光子像素第一数据线11和绿光子像素第一数据线11的顺序循环排布。第一测试线3的第二端可以和相邻的上述三种第一数据线11中的多条相连接，且不会有相同种类的第一数据线11连接到同一第一测试线3的第二端上。例如，可以将一个第一测试线3的第二端分别和相邻的红光子像素第一数据线11、蓝光子像素第一数据线11和绿光子像素第一数据线11相连接。当指纹识别单元4输出的电压信号通过第一测试线3传输到红光子像素第一数据线11、蓝光子像素第一数据线11和绿光子像素第一数据线11时，三种发光颜色的子像素会同时发出亮度与指纹识别单元4输出的电压信号相对应的光，由于相邻的红光子像素第一数据线11、蓝光子像素第一数据线11和绿光子像素第一数据线11之间的距离较近，因此显示面板的实际出光效果相当于红光子像素、蓝光子像素和蓝光子像素组合而成的像素发出白光。白光的亮度，也就是光线的灰度与指纹识别单元4输出的电压信号相对应。通过识别特定像素的灰度，就可以辨别出指纹识别单元4是否正常工作，进而降低辨别指纹识别单元是否正常工作的难度。第一测试线3的第二端与多条相邻的第二数据线12连接的技术方案与第一测试线3的第二端与多条相邻的第一数据线11连接的技术方案具有相同的设计构思，因此本文不再对第一测试线3的第二端与多条相邻的第二数据线12连接的技术方案进行赘述。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图，参考图4。进一步的，还包括多个第二开关单元5，第一测试线3的第二端通过第二开关单元与第一数据线11连接，或者第一测试线3的第二端通过第二开关单元与第二数据线12连接。

其中，第二开关单元可以是任意一种开关管，例如可以是薄膜晶体管、三极管或MOS管等晶体管。第二开关单元可以根据需要导通与第二开关单元相对应的第一数据线11或第二数据线12。例如可以通过与第二开关单元的控制端相连接的多个数据线控制信号端CKHR、CKHG和CKHB对第二开关单元的导通和关断进行控制。在指纹识别单元的测试阶段，可以通过控制第二开关单元的开启或关断来选通部分或全部第一数据线11，或选通部分或全部第二数据线12。例如，只需开启绿光子像素第一数据线11即可对指纹识别单元4进行测试时，可以仅开通与绿光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元，关闭与红光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元和与蓝光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元。通过绿光子像素的发光亮度判断指纹识别单元4是否正常工作。如果需要通过显示面板的灰度对指纹识别单元4进行判断时，可以同时开启与红光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元，与绿光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元和与蓝光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元。三种出光颜色的子像素混合出白光，通过显示面板对应区域的灰度判断指纹识别单元4是否正常工作。在对显示面板的子像素进行显示测试时，可以根据测试需要选取特定颜色的子像素进行显示测试。例如，可以分别打开与红光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元、与绿光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元和与蓝光子像素第一数据线11相连接的第二开关单元，使显示面板分别显示红色、绿色和蓝色。以分别检测各色子像素是否工作正常。由此可见，通过设置第二开关单元，提高了指纹识别单元的测试阶段和子像素显示测试阶段的测试灵活性。

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图，参考图5。可选的，测试电路还包括多个第三开关单元6、第四开关单元7和多条第二测试线8；

第三开关单元6的控制端与第二控制信号端VTDOSW连接，第三开关单元6的第一端与第一显示测试端DO连接，第三开关单元6的第二端与第一测试线3的第一端连接；

第四开关单元7的控制端与第三控制信号端VTDESW连接，第四开关单元7的第一端与第二显示测试端DE连接，第四开关单元7的第二端与第二测试线8的第一端连接，第二测试线8的第二端与至少一条数据线1连接；

其中，第一测试线3与第二测试线8连接的数据线1不同。

其中，第三开关单元6或第四开关单元7可以是任意一种开关管，例如可以是薄膜晶体管、三极管或MOS管等晶体管。第三开关单元6用于控制第一测试线3和第一显示测试端DO之间的导通和关断，第四开关单元7用于控制第二测试线8和第二显示测试端DE之间的导通和关断。第一显示测试端DO用于向第一测试线3提供第一显示测试信号，第二显示测试端DE用于向第二测试线8提供第二显示测试信号。第一测试线3和第二测试线8通过数据线向子像素提供显示测试信号，子像素根据显示测试信号确定子像素的发光亮度。

继续参考图5。进一步的，在指纹识别单元的测试阶段，第三控制信号端VTDESW控制第四开关单元7导通，第二显示测试端DE输出的测试电压信号通过第二测试线8传输至对应的数据线1。

其中，第四开关单元7导通后，与第二测试信号线连接的数据线1能够收到来自第二显示测试端DE输出的测试电压信号。在进行指纹识别单元的测试时，可以将与第一测试信号线连接的数据线1上的子像素与第二测试信号线连接的数据线1上的子像素进行对比。由于测试电压信号是已知且可控的，因此可以根据上述对比的对比结果直观的判断指纹识别单元4是否存在异常，进一步方便了指纹识别单元4的判断。

继续参考图5。进一步的，第一测试线3与奇数条数据线1连接，第二测试线8与偶数条数据线1连接；

在与奇数条数据线1连接的子像素的显示测试阶段，第一显示测试端DO输出第一显示测试信号，第二控制信号端VTDOSW控制第三开关单元6导通，第一显示测试信号通过第一测试线3传输至奇数条数据线1；

在与偶数条数据线1连接的子像素的显示测试阶段，第二显示测试端DE输出第二显示测试信号，第三控制信号端VTDESW控制第四开关单元7导通，第二显示测试信号通过第二测试线8传输至偶数条数据线1。

其中，在显示面板的子像素显示测试阶段中，可以使第一显示测试端DO输出的第一显示测试信号通过第三开关单元6和第一测试线3以及奇数条数据线1传输至奇数子像素。使第二显示测试端DE输出的第二显示测试信号通过第四开关单元7和第二测试线8以及偶数条数据线1传输至偶数子像素。从而实现显示面板的子像素显示测试。本发明实施例的技术方案不仅能够实现指纹识别单元的测试，还能够实现显示面板的子像素显示测试。简化了指纹识别显示面板的测试流程。

图6为本发明实施例提供的另一种显示面板的部分电路原理图，参考图6。可选的，第一开关单元2的第二端与n条第一测试线3的第一端连接，n为小于或等于3的正整数。

其中，第一开关单元2的第二端可与1至3条第一测试线3的第一端连接。第一开关单元2的第二端连接第一测试线3的具体条数可以根据实际需要确定。

图7为本发明实施例提供的一种显示面板的VT测试方法流程图，参考图7。本发明实施例还提供了一种显示面板的VT测试方法，适用于上述任一种显示面板，VT测试方法包括：

S1：对指纹识别单元施加光照信号；

S2：第一控制信号端控制第一开关单元导通，指纹识别单元输出的电压信号通过第一测试线传输至对应的数据线；

S3：根据显示面板的显示画面测试指纹识别单元。

其中，在指纹识别单元的测试阶段，通过外部设备对指纹识别单元施加光照信号，指纹识别单元根据被施加的光照信号的强度得到对应的电压信号，第一控制信号端控制第一开关单元导通，指纹识别单元输出的电压信号通过第一开关单元和第一测试线传输至与第一测试线的第二端连接的数据线，由数据线传递到数据线上的子像素，子像素根据接收到的指纹识别单元输出的电压信号的电压发出对应亮度的光。因此可以根据显示面板对应区域的发光亮度来确定对应指纹识别单元是否处于正常工作状态。可以通过调节光照信号的强度，将指纹识别单元输出的电压信号调节到指纹识别单元能够输出的电压信号最高值和电压信号最低值之间。此时显示面板对应区域的发光亮度应当为预期亮度范围。如果显示面板对应区域的发光亮度处于预期亮度范围，则说明指纹识别单元工作正常。如果因指纹识别单元内部电路故障，导致显示面板对应区域的发光亮度高于或者低于预期亮度范围，则说明指纹识别单元工作不正常。通过这种直观的表示方式进行指纹识别单元工作状态的确定，不仅可以简便的判断出指纹识别单元的工作状态，降低指纹识别单元工作状态的判别难度，提高检视人员的工作效率。还可以避免因为指纹识别单元存在问题导致显示面板需要报废时，只能连同被邦定在屏幕上的集成电路芯片一并废弃。解决了集成电路芯片浪费问题，同时也降低了生产成本。

进一步的，测试电路还包括多个第三开关单元、第四开关单元和多条第二测试线；

在指纹识别单元的测试阶段，第三控制信号端控制第四开关单元导通，第二显示测试端输出的测试电压信号通过第二测试线传输至对应的数据线。

其中，第四开关单元导通后，与第二测试信号线连接的数据线能够收到来自第二显示测试端输出的测试电压信号。在进行指纹识别单元的测试时，可以将与第一测试信号线连接的数据线上的子像素与第二测试信号线连接的数据线上的子像素进行对比。由于测试电压信号是已知且可控的，因此可以通过调节测试电压信号以达到调节与第一测试信号线连接的数据线上的子像素的参考亮度或参考灰度的目的。进而根据与第一测试信号线连接的数据线上的子像素的亮度或灰度判断指纹识别单元输出的电压信号是否正常，以此确定指纹识别单元是否处于正常工作状态。本发明实施例的技术效果在于，能够根据上述对比的对比结果直观的判断指纹识别单元是否存在异常，进一步方便了指纹识别单元的判断。

进一步的，第二显示测试端输出的测试电压信号包括8级灰阶对应的电压信号。

其中，由于第二显示测试端输出的测试电压信号包括8级灰阶对应的电压信号，因此显示面板上由第二显示测试端提供数据信号的子像素组成的像素的灰阶包括8级灰阶，且该像素的灰阶与第二显示测试端输出的测试电压信号对应。因此可以以显示面板上由第二显示测试端提供数据信号的显示区域作为参考，用来与由指纹识别单元输出的电压信号作为数据信号的显示区域进行对比。可以根据需要调节作为参考的显示区域的灰阶，根据作为参考的显示区域的灰阶判断由指纹识别单元输出的电压信号作为数据信号的显示区域的灰阶是否处于正常范围，直观的判断出指纹识别单元是否能够正常工作。

进一步的，第一测试线与奇数条数据线连接，第二测试线与偶数条数据线连接；

在与奇数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，第一显示测试端输出第一显示测试信号，第二控制信号端控制第三开关单元导通，第一显示测试信号通过第一测试线传输至奇数条数据线；

在与偶数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，第二显示测试端输出第二显示测试信号，第三控制信号端控制第四开关单元导通，第二显示测试信号通过第二测试线传输至偶数条数据线。

其中，在显示面板的子像素显示测试阶段中，可以使第一显示测试端输出的第一显示测试信号通过第三开关单元和第一测试线以及奇数条数据线传输至奇数子像素。使第二显示测试端输出的第二显示测试信号通过第四开关单元和第二测试线以及偶数条数据线传输至偶数子像素。从而实现显示面板的子像素显示测试。本发明实施例的技术方案不仅能够实现指纹识别单元的测试，还能够实现显示面板的子像素显示测试。简化了指纹识别显示面板的测试流程。

图8为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，参考图8。本发明实施例还公开了一种显示装置20，包括上述任一种显示面板21。

其中，由于显示装置使用了本发明实施例中的任一种显示面板。因此显示装置具有与显示面板相对应的有益效果。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多个呈阵列排布的子像素和多个呈阵列排布的指纹识别单元；

多条数据线，一条所述数据线与一行或一列所述子像素连接；

测试电路，所述测试电路包括多个第一开关单元和多条第一测试线，所述第一开关单元的控制端与第一控制信号端连接，所述第一开关单元的第一端与所述指纹识别单元的输出端连接，所述第一开关单元的第二端与至少一条所述第一测试线的第一端连接，所述第一测试线的第二端与至少一条所述数据线连接；

在所述指纹识别单元的测试阶段，对所述指纹识别单元施加光照信号，所述第一控制信号端控制所述第一开关单元导通，所述指纹识别单元输出的电压信号通过所述第一测试线传输至对应的所述数据线，根据所述显示面板的显示画面测试所述指纹识别单元。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述数据线包括间隔设置的第一数据线和第二数据线；

所述第一测试线的第二端与至少一条所述第一数据线或所述第二数据线连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述子像素包括多种出光颜色的子像素，与同一所述数据线连接的所述子像素的出光颜色相同；

所述第一测试线的第二端与多条相邻的所述第一数据线连接，且不同所述第一数据线对应的所述子像素的出光颜色不同；或者

所述第一测试线的第二端与多条相邻的所述第二数据线连接，且不同所述第二数据线对应的所述子像素的出光颜色不同。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，还包括多个第二开关单元，所述第一测试线的第二端通过所述第二开关单元与所述第一数据线连接，或者所述第一测试线的第二端通过所述第二开关单元与所述第二数据线连接。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路还包括多个第三开关单元、第四开关单元和多条第二测试线；

所述第三开关单元的控制端与第二控制信号端连接，所述第三开关单元的第一端与第一显示测试端连接，所述第三开关单元的第二端与所述第一测试线的第一端连接；

所述第四开关单元的控制端与第三控制信号端连接，所述第四开关单元的第一端与第二显示测试端连接，所述第四开关单元的第二端与所述第二测试线的第一端连接，所述第二测试线的第二端与至少一条所述数据线连接；

其中，所述第一测试线与所述第二测试线连接的所述数据线不同。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，在所述指纹识别单元的测试阶段，所述第三控制信号端控制所述第四开关单元导通，所述第二显示测试端输出的测试电压信号通过所述第二测试线传输至对应的数据线。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第一测试线与奇数条数据线连接，所述第二测试线与偶数条数据线连接；

在与所述奇数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，所述第一显示测试端输出第一显示测试信号，所述第二控制信号端控制所述第三开关单元导通，所述第一显示测试信号通过所述第一测试线传输至所述奇数条数据线；

在与所述偶数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，所述第二显示测试端输出第二显示测试信号，所述第三控制信号端控制所述第四开关单元导通，所述第二显示测试信号通过所述第二测试线传输至所述偶数条数据线。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关单元的第二端与n条所述第一测试线的第一端连接，n为小于或等于3的正整数。

9.一种显示面板的VT测试方法，其特征在于，适用于测试权利要求1～8任一所述的显示面板，所述VT测试方法包括：

对指纹识别单元施加光照信号；

第一控制信号端控制第一开关单元导通，指纹识别单元输出的电压信号通过第一测试线传输至对应的数据线；

根据所述显示面板的显示画面测试所述指纹识别单元。

10.根据权利要求9所述的显示面板的VT测试方法，其特征在于，测试电路还包括多个第三开关单元、第四开关单元和多条第二测试线；

在所述指纹识别单元的测试阶段，第三控制信号端控制所述第四开关单元导通，第二显示测试端输出的测试电压信号通过所述第二测试线传输至对应的数据线。

11.根据权利要求10所述的显示面板的VT测试方法，其特征在于，所述第二显示测试端输出的测试电压信号包括8级灰阶对应的电压信号。

12.根据权利要求10所述的显示面板的VT测试方法，其特征在于，所述第一测试线与奇数条数据线连接，所述第二测试线与偶数条数据线连接；

在与所述奇数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，第一显示测试端输出第一显示测试信号，第二控制信号端控制所述第三开关单元导通，所述第一显示测试信号通过所述第一测试线传输至所述奇数条数据线；

在与所述偶数条数据线连接的子像素的显示测试阶段，第二显示测试端输出第二显示测试信号，所述第三控制信号端控制所述第四开关单元导通，所述第二显示测试信号通过所述第二测试线传输至所述偶数条数据线。

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1～8任一所述的显示面板。

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