CN114007062B - 一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该系统包括同步触发模块、光源控制模块、以及多个发光器件，其中：所述同步触发模块，用于向待测量相机和所述光源控制模块发送同步触发信号，以及获取所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后拍摄的包含多个发光器件的目标图像，以根据所述目标图像确定所述待测量相机的属性信息；所述光源控制模块，用于在接收到所述同步触发信号之后，在预设延迟时长之后，控制各个发光器件按照预设发光时长依次发光。

Description

一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质

技术领域

本公开涉及相机技术领域，具体而言，涉及一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

随着自动驾驶技术的发展，越来越多的摄像头接入到自动驾驶系统中，为了给每一帧目标图像打上精准的时间戳信息，需要知道每个相机精确的属性信息，比如相机的曝光时间等。因此，如何提高对相机的属性信息的测量精度成为了自动驾驶等领域中亟待解决的问题。

发明内容

本公开实施例至少提供一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质。

第一方面，本公开实施例提供了一种测量系统，包括同步触发模块、光源控制模块、以及多个发光器件，其中：

所述同步触发模块，用于向待测量相机和所述光源控制模块发送同步触发信号，以及获取所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后拍摄的包含多个发光器件的目标图像，以根据所述目标图像确定所述待测量相机的属性信息；

所述光源控制模块，用于在接收到所述同步触发信号之后，在预设延迟时长之后，控制各个发光器件按照预设发光时长依次发光。

这样，采用同步触发模块、光源控制模块、多个发光器件搭建了一个测量系统，通过光源控制模块在接收到同步触发模块发送的同步触发信号后，在预设延迟时长之后空间各个发光器件按照预设时间依次发光，使得可以通过添加的预设延迟时长，在一定程度上抵消待测量相机的曝光延迟对测量过程的影响，以提高发光器件的使用率；另一方面，由于添加了预设延迟时长，可以在设置阶段减少发光器件的发光时长，从而在基于所述发光时长计算所述待测量相机的属性信息时更为精确。

一种可能的实施方式中，所述待测量相机的属性信息包括曝光时长，和/或，触发时延，其中，所述触发时延为所述待测量相机接收到所述同步触发信息，到所述待测量相机的光学曝光中心开始曝光的时间。

一种可能的实施方式中，所述预设发光时长和所述预设延迟时长为使得所述多个发光器件满足发光条件的时长；

所述多个发光器件满足发光条件，包括：

所述待测相机拍摄的目标图像中，第一个发光的第一发光器件对应的序号标识的数值小于第一预设值；最后一个发光的第二发光器件对应的序号标识的数值大于第二预设值，其中，所述序号标识的数值用于表示发光器件的发光顺序。

这样，可以使得设置的发光时长和延迟时长更为合理，从而使得发光器件能够得到有效利用，使得当前的测量精度和测量量程符合待测量相机的属性信息，提高测量精度。

一种可能的实施方式中，所述测量系统还包括测量解析模块，用于：

获取所述目标图像；

对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长，和/或，触发时延。

一种可能的实施方式中，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长时，用于：

在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的曝光时长。

一种可能的实施方式中，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长时，用于：

在所述待测量相机的曝光方式为卷帘曝光的情况下，确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件的第一行像素坐标和最后一个发光的第二发光器件的第二行像素坐标；

基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、所述预设发光时长、第一行像素坐标和第二行像素坐标、以及预设的图像中相邻两行像素的开始曝光时间之差，确定所述待测量相机的曝光时长。

一种可能的实施方式中，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的触发时延时，用于；

确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件，以及所述目标图像的光学曝光中心的第三行像素坐标；

基于所述第一发光器件在所述目标图像上的第四行像素坐标、所述第一发光器件的序号标识、所述第三行像素坐标、所述待测量相机的理论曝光时长、预设的图像中相邻两行像素的开始曝光时间之差、所述曝光时长、所述预设延迟时长以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的触发时延。

一种可能的实施方式中，所述多个发光器件被部署在板状器件的目标平面上，所述目标平面上任意两个相邻的发光器件之间的距离相同，所述板状器件与所述待测量相机之间的距离满足预设拍摄要求，在拍摄所述目标图像时所述待测量相机的光学中心与所述目标平面的中心位置处垂直。

这样，能够确保相机拍摄得到的目标图像中发光器件是正的，避免因为发光器件倾斜导致的测量误差。

第二方面，本公开实施例还提供一种测量方法，包括：

接收同步触发信号；

在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量。

第三方面，本公开实施例还提供一种测量装置，包括：

接收模块，用于接收同步触发信号；

控制模块，用于在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量。

第四方面，本公开实施例还提供一种计算机设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当计算机设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行上述第二方面中的步骤。

第五方面，本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述第二方面中的步骤。

关于上述测量方法、装置、计算机设备及存储介质的效果描述参见上述测量系统的说明，这里不再赘述。

为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，此处的附图被并入说明书中并构成本说明书中的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本公开实施例所提供的一种测量系统的架构流程图；

图2示出了本公开实施例所提供的测量系统中，LED阵列板和光源控制模块的示意图；

图3示出了本公开实施例所提供的测量系统中，LED灯的控制时序图；

图4示出了本公开实施例所提供的测量系统中，测量场景的示意图；

图5示出了本公开实施例所提供的测量系统中，目标图像的示意图；

图6示出了本公开实施例所提供的测量系统中，图像传感器的一种曝光过程；

图7示出了本公开实施例所提供的测量系统中，图像传感器的另一种曝光过程；

图8示出了本公开实施例所提供的一种测量方法的流程图；

图9示出了本公开实施例所提供的一种测量装置的架构示意图；

图10示出了本公开实施例所提供的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本公开实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本公开的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本公开的范围，而是仅仅表示本公开的选定实施例。基于本公开的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

本文中术语“和/或”，仅仅是描述一种关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括A、B、C中的至少一种，可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。

经研究发现，随着自动驾驶技术的发展，越来越多的摄像头接入到自动驾驶系统中，为了给每一帧目标图像打上精准的时间戳信息，需要知道每个相机精确的属性信息，比如相机的曝光时间等。因此，如何提高对相机的属性信息的测量精度成为了自动驾驶等领域中亟待解决的问题。

基于上述研究，本公开提供了一种测量系统、方法、装置、计算机设备及存储介质，采用同步触发模块、光源控制模块、多个发光器件搭建了一个测量系统，通过光源控制模块在接收到同步触发模块发送的同步触发信号后，在预设延迟时长之后空间各个发光器件按照预设时间依次发光，使得可以通过添加的预设延迟时长，在一定程度上抵消待测量相机的曝光延迟对测量过程的影响，以提高发光器件的使用率；另一方面，由于添加了预设延迟时长，可以在设置阶段减少发光器件的发光时长，从而在基于所述发光时长计算所述待测量相机的属性信息时更为精确。

参见图1所示，为本公开实施例提供的测量系统的架构示意图，包括同步触发模块11、光源控制模块12、以及多个发光器件13，“同步触发模块11”下文中简称“同步触发模块”；“光源控制模块12”下文中简称“光源控制模块”；“发光器件13”下文中简称“发光器件”，其中：

所述同步触发模块，用于向待测量相机和所述光源控制模块发送同步触发信号，以及获取所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后拍摄的包含多个发光器件的目标图像，以根据所述目标图像确定所述待测量相机的属性信息；

所述光源控制模块，用于在接收到所述同步触发信号之后，在预设延迟时长之后，控制各个发光器件按照预设发光时长依次发光。

具体的，所述待测量相机的属性信息包括曝光时长，和/或，触发时延，其中，所述触发时延为所述待测量相机接收到所述同步触发信息，到所述待测量相机的光学曝光中心开始曝光的时间。

在实际测量中，所述多个发光器件可以被部署在板状器件的目标平面上，所述目标平面上任意两个相邻的发光器件之间的距离相同，所述板状器件与所述待测量相机之间的距离满足预设拍摄要求，在拍摄所述目标图像时所述待测量相机的光学中心与所述目标平面的中心位置处垂直。

具体的，所述拍摄要求可以是所述板状器件与所述待测量相机之间的距离处于可被所述待测量相机拍摄到的距离。这样，能够确保待测量相机拍摄得到的目标图像中发光器件是正的，避免因为发光器件倾斜导致的测量误差。

一种可能的实施方式中，所述预设发光时长和所述预设延迟时长为使得所述多个发光器件满足发光条件的时长；

所述多个发光器件满足发光条件，包括：

所述待测相机拍摄的目标图像中，第一个发光的第一发光器件对应的序号标识的数值小于第一预设值；最后一个发光的第二发光器件对应的序号标识的数值大于第二预设值，其中，所述序号标识的数值用于表示发光器件的发光顺序。

这里，在确定所述待测量相机的属性信息时，是通过所述多个发光器件的发光状态进行确定的，因此所述发光器件发光多长时间(即发光时长)以及何时开始发光(即延迟时长)，都影响着所述待测量相机的属性信息的确定，在衡量所述预设发光时长和所述预设延迟时长的是否合适时，可以通过发光器件的利用率进行衡量，所述发光器件的利用率越高，则所述预设发光时长和所述预设延迟时长的越合适，为了提高所述发光器件的利用率，可以为所述多个发光器件设置发光条件。

示例性的，以所述发光器件的数量为100、第一预设序号为3、第二预设序号为97为例，当所述目标图像中所述多个发光器件中第一发光器件的序号标识为2，最后一个发光的第二发光器件的序号标识为99时，可以确定当前的所述多个发光器件满足发光条件，即此时对应的预设发光时长和预设延迟时长设置满足要求。

实际应用中，所述目标图像中包含了可以表征所述待测量相机的属性信息的数据，因此在获取所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后拍摄的目标图像后，解析所述目标图像即可确定所述待测量相机的属性信息。

一种可能的实施方式中，所述系统还包括测量解析模块，用于：

获取所述目标图像；

对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长，和/或，触发时延。

这里，所述测量解析模块可以是具有一定计算能力的装置，通过运行预设的解析程序，即可完成对所述目标图像的解析，确定出所述待测量相机的曝光时长，和/或，触发时延。

一种可能的实施方式中，在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，可以通过以下步骤确定所述待测量相机的曝光时长：

基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的曝光时长。

这里，在所述全局曝光的曝光方式中，待测量相机的图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间不存在时间间隔，因此所述待测量相机的曝光时长，等于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数与所述预设发光时长的乘积。

示例性的，以所述第一目标个数为10，预设发光时长为1ms为例，可以得到在全局曝光的曝光方式下，所述待测量相机的曝光时长为10ms。

一种可能的实施方式中，在所述待测量相机的曝光方式为卷帘曝光的情况下，可以通过以下步骤确定所述待测量相机的曝光时长：

在所述待测量相机的曝光方式为卷帘曝光的情况下，确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件的第一行像素坐标和最后一个发光的第二发光器件的第二行像素坐标；

基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、所述预设发光时长、第一行像素坐标和第二行像素坐标、以及预设的图像中相邻两行像素的开始曝光时间之差，确定所述待测量相机的曝光时长。

这里，在所述卷帘曝光的曝光方式中，图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间存在时间间隔，想要清楚的表征所述目标图像的曝光时长，则需要确定曝光过程中有多少行像素点已经曝光。因此所述待测量相机的曝光时长等于，所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数与所述预设发光时长的乘积，减去第一行像素坐标和第二行像素坐标之差与预设的相邻两行像素的开始曝光时间之差的乘积。

示例性的，以所述第一目标个数为50、第一行像素坐标为100、第二行像素坐标为200、预设发光时长为1ms、相邻两行像素的开始曝光时间之差为0.1ms为例，可以得到在卷帘曝光的曝光方式下，所述待测量相机的曝光时长为50*1-(200-100)*0.1＝50-10＝40ms。

一种可能的实施方式中，在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，可以通过以下步骤确定所述待测量相机的触发时延：

确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件，以及所述目标图像的光学曝光中心的第三行像素坐标；

基于所述第一发光器件在所述目标图像上的第四行像素坐标、所述第一发光器件的序号标识、所述目标图像中发光的发光器件的第二目标个数、所述第三行像素坐标、所述预设延迟时长以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的触发时延。

这里，在所述全局曝光的曝光方式中，待测量相机的图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间不存在时间间隔，结合全局曝光的曝光过程可知，所述待测量相机的触发时延等于预设延迟时长、第一发光器件的序号标识与预设发光时长的乘积，以及曝光时长的一半，这三者相加之和。

示例性的，以所述预设延迟时长为1ms、第一发光器件的序号标识为100、预设发光时长为1ms、曝光时长为40ms为例，可以得到在全局曝光的曝光方式下，所述待测量相机的触发时延为1+100*1+40÷2＝121ms。

一种可能的实施方式中，在所述待测量相机的曝光方式为卷帘曝光的情况下，可以通过以下步骤确定所述待测量相机的触发时延：

确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件，以及所述目标图像的光学曝光中心的第三行像素坐标；

基于所述第一发光器件在所述目标图像上的第四行像素坐标、所述第一发光器件的序号标识、所述第三行像素坐标、预设的相邻两行像素的开始曝光时间之差、所述预设延迟时长以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的触发时延。

这里，在所述卷帘曝光的曝光方式中，待测量相机的图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间存在时间间隔，结合卷帘曝光的曝光过程可知，所述待测量相机的触发时延等于预设延迟时长、第一发光器件的序号标识与预设发光时长的乘积、第三行像素坐标和第四行像素坐标之差与预设的相邻两行像素的开始曝光时间之差的乘积，以及曝光时长的一半这四者相加之和。

示例性的，以所述预设延迟时长为1ms、第一发光器件的序号标识为100、预设发光时长为1ms、第二目标个数为80、第三行像素坐标为540、第四行像素坐标为200、相邻两行像素的开始曝光时间之差为1ms、曝光时长为40ms为例，可以得到在卷帘曝光的曝光方式下，所述待测量相机的触发时延为1+100*1+(540-200)*1+40÷2＝461ms。

下面将结合具体的实施场景，分别从部署发光器件的装置、测量场景布置及目标图像采集、目标图像解析三个方面对上述测量系统展开详细介绍。

一、部署发光器件的装置

以所述发光器件为发光二极管LED灯为例，多个LED灯可以构成一个LED阵列板，所述光源控制模块可以是部署于所述LED阵列板的背部的控制电路，包括现场可编程逻辑门阵列FPGA和地址驱动器，其中，所述FPGA用于通过所述地址驱动器，控制所述LED阵列板中的目标LED灯发光。

示例性的，所述LED阵列板和光源控制模块的示意图可以如图2所示，图2中，所述LED阵列板由1024个LED灯构成(32行和32列)，每个所述LED灯之间的间距相等；所述光源控制模块由一个FPGA、4个行地址驱动器以及4个列地址驱动器构成，其中，所述行地址驱动器的为8位输出的译码器(型号为74HC238)，4个行地址驱动器中的任一行地址驱动器通过3个输入端(比如H0、H1、H2，3位2进制最大能够表示8个数)和1个控制端(比如EH0，用于控制当前的行地址驱动器是否工作)控制对应的8行LED灯开始发光和结束发光，所述列地址驱动器的为8位输出的译码器(型号为74HC138)，4个列地址驱动器中的任一列地址驱动器通过3个输入端(比如V0、V1、V2，3位2进制最大能够表示8个数)和1个控制端(比如EV0，用于控制当前的列地址驱动器是否工作)控制对应的8列LED灯开始发光和结束发光，所述FPGA(型号为Spartan-7)通过向所述行地址驱动器和列地址驱动器发送控制信号，指示当前需要发光的目标LED灯开始发光。

这里，所述LED阵列板中的LED灯可以从左到右、从上到下依次被点亮，也即左上角的LED灯为第一个LED灯，右下角的LED灯为最后一个LED灯，所述LED灯的控制时序图可以如图3所示，图3中，在接收到同步触发信号FSYNC信号后，在预设延迟时长Tdelay之后，标号为LED0～LEDi的LED灯依次发光，每个LED灯的预设发光时长为tp。

具体的，所述FPGA在接收到所述FSYNC信号之后，可以启动Tdelay定时器进行定时，从而可以在预设延迟时长Tdelay之后控制所述LED阵列板上的第一个LED灯开始发光，在持续时间tp之后，控制下一个LED灯开始发光，直到最后一个LED灯发光。当接收到新的FSYNC信号之后，则可以按照上述步骤控制所述LED阵列板，重新从第一个LED灯开始发光。

实际应用中，由于加入了预设延迟时长Tdelay，在预设发光时长tp不变的情况下，使得相邻两个同步触发信号之间的时长更长，从而可以增加测量系统的量程(图中测量时间的公式为Tmeasure＝i×tp+Tdelay，相较于不使用Tdelay，增加了量程)。

此外，所述测量系统的测量精度也与所述预设发光时长tp相关，所述tp越小，则单个LED灯所能表示的测量值之间的间隔(即分辨率)也就越小，相应的精度也就越高，以所述tp为1ms和0.5ms为例，在tp为1ms的情况下，其所能表示的测量值之间的间隔为1ms，而在tp为0.5ms的情况下，其所能表示的测量值之间的间隔为0.5ms，由于分辨率更小，因此0.5ms的测量值间隔比1ms的测量值间隔的测量精度更高。

综上，可以得知tp在增大时，可以相应的提高所述测量系统的量程，但测量精度则会相应的降低；tp在减小时，可以相应的提高测量精度，但所述测量系统的量程则会相应的降低；添加Tdelay可以相应的提高所述测量系统的量程，但当添加的Tdelay过大时，可能会导致待测量相机拍摄得到的目标图像中没有LED灯发光(由于添加的Tdelay过长，导致直至待测量相机曝光结束，LED灯仍未开始发光)。

因此，需要为所述测量系统设置合适的tp和Tdelay，以使得整个测量系统能够兼顾测量量程和测量精度。

一种可能的实施方式中，可以根据以下步骤确定发光时长tp和延迟时长Tdelay：

(1)、根据默认的发光时长和延迟时长控制LED阵列板进行发光，并获取待测量相机拍摄的第一目标图像。

示例性的，所述默认的发光时长可以是1ms，默认的延迟时长可以为0。

(2)基于所述第一目标图像中，LED阵列板上LED灯的发光情况，确定所述默认的发光时长和/或延迟时长是否需要调整。

(3)在确定所述发光时长和/或延迟时长需要调整的情况下，根据所述第一目标图像中所述LED灯的发光情况，对所述发光时长和/或延迟时长进行调整。

这里，所述LED灯的发光情况可以包括多种情况，每种发光情况对应的调整方案如下所示：

情况a、LED灯都不发光。

这里，LED灯都不发光表示延迟时长设置过长，则可以确定当前的延迟时长需要减小。

情况b、LED灯都发光。

这里，LED灯都发光表示延迟时长设置合理，但发光时长设置较短，则可以确定当前的发光时长需要增大。

情况c、LED阵列板中间部分的LED灯发光(从中间开始发光，但最后多个LED灯不发光)。

这里，从中间开始发光表示延迟时长设置较短，确定当前的延迟时长需要增大；最后多个LED灯不发光，表示发光时长设置较长，则可以确定当前的发光时长需要减小。

情况d、LED阵列板中靠后部分的LED灯发光(从中间到最后一个LED灯都发光)。

这里，从中间开始发光表示延迟时长设置较短，确定当前的延迟时长需要增大；最后一个LED灯发光，表示发光时长设置较短，则可以确定当前的发光时长需要增大。

具体实施中，在根据所述第一目标图像中所述LED灯的发光情况，对所述发光时长和/或延迟时长进行调整时，可以按照上述调整方案以及预设的单次调整幅度对相应的发光时长和/或延迟时长进行调整。

示例性的，以默认的发光时长为1ms，默认的延迟时长为0，单次调整幅度为0.1ms为例(也可以针对发光时长和延迟时长分别设置单次调整幅度)，在确定当前的延迟时长需要增大时，可以将延迟时长从0增加为0.1ms。

(4)基于调整后的发光时长和延迟时长控制LED阵列板进行发光，并获取所述待测量相机拍摄的第二目标图像，重复执行上述步骤直至拍摄得到的目标图像满足预设条件。

这里，所述预设条件可以是在LED阵列板中，第一个发光的LED灯对应的序号标识小于第一预设序号(比如小于5，也即第一个发光的LED灯是所述LED阵列板中的前5个LED灯中的一个)，最后一个发光的LED灯对应的序号标识大于第二序号标识(比如在LED阵列板为1024个LED灯的情况下，大于1020，也即最后一个发光的LED灯是所述LED阵列板中的最后4个LED灯中的一个)。

一种可能的实施方式中，当所述发光时长和延迟时长都需要调整时，可以先调整其中的延迟时长，在所述延迟时长满足第一预设条件之后，再调节所述发光时长，当所述发光时长满足第二预设条件之后，即可确定当前的所述延迟时长和发光时长均满足预设条件。

示例性的，可以先调整延迟时长，以使第一个发光的LED灯对应的序号标识小于第一预设序号(比如小于5，也即第一个发光的LED灯是所述LED阵列板中的前5个LED灯中的一个)；然后，在调整延迟时长的基础上，调整发光时长，以使最后一个发光的LED灯对应的序号标识大于第二序号标识(比如在LED阵列板为1024个LED灯的情况下，大于1020，也即最后一个发光的LED灯是所述LED阵列板中的最后4个LED灯中的一个)。

这样，通过调节发光时长和/或延迟时长，使得所述LED阵列板上的LED灯得到有效利用，能够使得当前的测量精度和测量量程符合待测量相机的属性信息。

二、测量场景布置及目标图像采集

这里，测量场景的示意图可以如图4所示，LED阵列板垂直于水平面部署，待测量相机的光学中心垂直于所述LED阵列板进行部署，所述待测量相机与所述LED阵列板之间的距离小于所述待测量相机所能拍摄物体的最大距离，以确保所述LED阵列板能够完整的被所述待测量相机拍摄到，所述待测量相机与所述LED阵列板之间还设置有同步触发模块，所述同步触发模块能够运行图像连续采集程序，连续向所述待测量相机和所述LED阵列板同步发送同步触发信号，以指示所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后，对所述LED阵列板进行拍摄，并将拍摄得到的目标图像发送至所述同步触发模块。

进一步的，所述测量场景中还可以部署环境光测量装置(比如光电传感器等)以及环境光调节装置(比如聚光灯等)，通过所述环境光调节装置调节所述测量场景中的环境光亮度，并通过所述环境光测量装置测量出调节后的环境光亮度，可以得到多种环境光亮度的测量条件，从而可以获取所述待测量相机在不同环境光亮度的测量条件下的多张目标图像，以确定所述待测量相机在不同环境光条件下的属性信息。

三、目标图像解析

这里，在进行所述目标图像解析时，可以将所述同步触发模块中的所述目标图像发送至测量解析模块进行解析，所述测量解析模块可以是具有一定计算能力的装置，通过运行预设的解析程序，即可完成对所述目标图像的解析。

示例性的，所述目标图像可以如图5所示，图5中，所述LED阵列板上第一个发光的LED灯为第204颗LED灯(左上角第一颗LED灯的序号记为0，则第204颗LED灯的序号记为203)，其所对应的第一行像素坐标为224；所述LED阵列板上最后一个发光的LED灯为第493颗LED灯(左上角第一颗LED灯的序号记为0，则第493颗LED灯的序号记为492)，其所对应的第二行像素坐标为524。

具体的，根据各行像素点之间的开始曝光时间是否有时间间隔，可以曝光方式分为卷帘曝光(各行像素点之间的开始曝光时间有时间间隔)和全局曝光(各行像素点之间的开始曝光时间没有时间间隔)，下面将分别从卷帘曝光和全局曝光两种曝光方式对解析过程进行介绍：

(1)卷帘曝光

这里，在所述卷帘曝光的曝光方式中，图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间存在时间间隔，因此各行像素之间的行曝光时长不相同，想要清楚的表征所述目标图像的曝光时长，则需要确定曝光过程中有多少行像素点已经曝光。

示例性的，在所述曝光方式为卷帘曝光的情况下，待测量相机中图像传感器的曝光过程可以如图6所示，图6中每一行的行曝光时间相等，从图6中可以得到如下公式：

m*tp＝t0+t1(1)

t0＝(J-I)*1H(2)

其中，m为LED阵列板中发光的LED灯的个数，tp为每个LED灯的发光时长，t1为行曝光时间，t0为行偏移时间，J为最后一个被点亮的LED灯所对应的行像素坐标，I为第一个被点亮的LED灯所对应的行像素坐标，H为相邻两行像素的开始曝光时间之差。

具体的，第I行开始曝光到第J行结束曝光之间的时间等于t0+t1，也等于图5中第204颗LED灯至第493颗灯的总发光时长(也即m*tp)；其中，行偏移时间t0从第I行到第J行之间偏移的行数乘以相邻两行开始曝光时间之差，也即(J-I)*1H。

结合公式(1)和(2)即可得到如下公式：

t1＝m*tp-(J-I)*1H(3)

通过所述公式(3)，即可得到所述待测量相机在拍摄所述目标图像时的行曝光时间。

示例性的，以所述tp＝100us，1H＝29.6us为例，图5中m＝493-204+1＝290、I＝224、J＝524，将上述数据代入公式(3)可得图5所对应的目标图像在拍摄时的行曝光时间t1＝m*tp-(J-I)*1H＝290*100us-(524-224)*29.6us＝20.12ms。

此外，所述待测量相机的属性信息除了包含曝光时长外，还包括触发时延(所述待测量相机接收到所述同步触发信息后，到所述待测量相机的光学曝光中心开始曝光的时间)。

示例性的，在所述曝光方式为卷帘曝光的情况下，触发时延的示意图可以如图7所示，图7中每一行的行曝光时间相等，从图7中可以得到如下公式：

T1＝T0+▲t0+▲t1(4)

其中，T1为图像曝光中心时刻(也即从待测量相机接收到所述同步触发信息，到所述待测量相机的光学曝光中心开始曝光的时间)，以所述目标图像的像素点配置为1920×1080为例，T1即为第540行的中间曝光时刻；T0为第I行开始曝光的时刻，等于预设延迟时长Tdelay与第I行像素点对应的LED灯(即LED阵列板中第一个发光的LED灯，以图5中第一个发光的LED灯为第204颗LED灯为例，之前共有203颗LED灯已经发光)开始曝光时间之和；▲t0为第I行到第540行(所述光学曝光中心所在的行)开始曝光的偏移时间；▲t1为行曝光时间的1半，所述行曝光时间可以通过上述步骤得到(即行曝光时间t1＝20.12ms)。

根据上述分析可得：

T0＝Tdelay+203*tp(5)

▲t0＝(540-I)*1H(6)

▲t1＝t1÷2(7)

将上述公式(5)、(6)、(7)代入公式(4)可得：

T1＝Tdelay+203*tp+(540-I)*1H+t1÷2(8)

示例性的，以所述tp＝100us、1H＝29.6us、Tdelay＝2*tp＝200us为例，图5中I＝224，将上述数据代入公式(8)可得图5所对应的目标图像在拍摄时的触发时延T1＝(203+2)*100us+(540-224)*29.6us+10.06ms＝39.86ms。

(2)全局曝光

这里，在所述全局曝光的曝光方式中，图像传感器中相邻两行像素点之间的开始曝光时间不存在时间间隔，因此各行像素之间的行曝光时长相同，所述目标图像的曝光时长即为各行像素点的行曝光时长。

与上述公式(3)类似，在全局曝光情况下，所述目标图像的曝光时间的公式为：

t1＝m*tp(9)

与公式(3)相比，由于相邻两行像素的开始曝光时间之差H为0，因此(J-I)*1H也为0。

此外，由于所述相邻两行像素的开始曝光时间之差H为0，因此在确定所述触发时延时，公式为：

T1＝Tdelay+203*tp+t1÷2(10)

与公式(8)相比，由于相邻两行像素的开始曝光时间之差H为0，因此(540-I)*1H也为0。

参见图8所示，为本公开实施例提供的测量方法的流程图，所述方法包括S801～S802，其中：

S801：接收同步触发信号；

S802：在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量。

具体的，关于上述步骤的具体描述参见上文相关内容，在此不再赘述。

本公开实施例提供的测量系统和方法，采用同步触发模块、光源控制模块、多个发光器件搭建了一个测量系统，通过光源控制模块在接收到同步触发模块发送的同步触发信号后，在预设延迟时长之后空间各个发光器件按照预设时间依次发光，使得可以通过添加的预设延迟时长，在一定程度上抵消待测量相机的曝光延迟对测量过程的影响，以提高发光器件的使用率；另一方面，由于添加了预设延迟时长，可以在设置阶段减少发光器件的发光时长，从而在基于所述发光时长计算所述待测量相机的属性信息时更为精确。

本领域技术人员可以理解，在具体实施方式的上述方法中，各步骤的撰写顺序并不意味着严格的执行顺序而对实施过程构成任何限定，各步骤的具体执行顺序应当以其功能和可能的内在逻辑确定。

基于同一发明构思，本公开实施例中还提供了与测量方法对应的测量系统，由于本公开实施例中的系统解决问题的原理与本公开实施例上述测量方法相似，因此系统的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。

参照图9所示，为本公开实施例提供的一种测量装置的架构示意图，所述装置包括：接收模块901和控制模块902；其中，

接收模块901，用于接收同步触发信号；

控制模块902，用于在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量。

本公开实施例提供的测量装置，采用同步触发模块、光源控制模块、多个发光器件搭建了一个测量系统，通过光源控制模块在接收到同步触发模块发送的同步触发信号后，在预设延迟时长之后空间各个发光器件按照预设时间依次发光，使得可以通过添加的预设延迟时长，在一定程度上抵消待测量相机的曝光延迟对测量过程的影响，以提高发光器件的使用率；另一方面，由于添加了预设延迟时长，可以在设置阶段减少发光器件的发光时长，从而在基于所述发光时长计算所述待测量相机的属性信息时更为精确。

关于装置中的各模块的处理流程、以及各模块之间的交互流程的描述可以参照上述方法实施例中的相关说明，这里不再详述。

基于同一技术构思，本公开实施例还提供了一种计算机设备。参照图10所示，为本公开实施例提供的计算机设备1000的结构示意图，包括处理器1001、存储器1002、和总线1003。其中，存储器1002用于存储执行指令，包括内存10021和外部存储器10022；这里的内存10021也称内存储器，用于暂时存放处理器1001中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器10022交换的数据，处理器1001通过内存10021与外部存储器10022进行数据交换，当计算机设备1000运行时，处理器1001与存储器1002之间通过总线1003通信，使得处理器1001在执行以下指令：

接收同步触发信号；

在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量。

本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述方法实施例中所述的测量方法的步骤。其中，该存储介质可以是易失性或非易失的计算机可读取存储介质。

本公开实施例还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品承载有程序代码，所述程序代码包括的指令可用于执行上述方法实施例中所述的测量方法的步骤，具体可参见上述方法实施例，在此不再赘述。

其中，上述计算机程序产品可以具体通过硬件、软件或其结合的方式实现。在一个可选实施例中，所述计算机程序产品具体体现为计算机存储介质，在另一个可选实施例中，计算机程序产品具体体现为软件产品，例如软件开发包(Software Development Kit，SDK)等等。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和系统的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本公开所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、系统和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，系统或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本公开的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本公开各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本公开的具体实施方式，用以说明本公开的技术方案，而非对其限制，本公开的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本公开进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种测量系统，其特征在于，包括同步触发模块、光源控制模块、测量解析模块、以及多个发光器件，其中：

所述同步触发模块，用于向待测量相机和所述光源控制模块发送同步触发信号，以及获取所述待测量相机在接收到所述同步触发信号之后拍摄的包含多个发光器件的目标图像，以根据所述目标图像确定所述待测量相机的属性信息；其中，所述待测量相机的属性信息包括曝光时长；

所述光源控制模块，用于在接收到所述同步触发信号之后，在预设延迟时长之后，控制各个发光器件按照预设发光时长依次发光；

所述测量解析模块，用于获取所述目标图像；对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长；其中，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长时，用于：

在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的曝光时长。

2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述待测量相机的属性信息还包括触发时延，所述触发时延为所述待测量相机接收到所述同步触发信号，到所述待测量相机的光学曝光中心开始曝光的时间。

3.根据权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述预设发光时长和所述预设延迟时长为使得所述多个发光器件满足发光条件的时长；

所述多个发光器件满足发光条件，包括：

所述待测量相机拍摄的目标图像中，第一个发光的第一发光器件对应的序号标识的数值小于第一预设值；最后一个发光的第二发光器件对应的序号标识的数值大于第二预设值，其中，所述序号标识的数值用于表示发光器件的发光顺序。

4.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统还包括测量解析模块，还用于：

对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的触发时延。

5.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长时，用于：

在所述待测量相机的曝光方式为卷帘曝光的情况下，确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件的第一行像素坐标和最后一个发光的第二发光器件的第二行像素坐标；

基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、所述预设发光时长、第一行像素坐标和第二行像素坐标、以及预设的图像中相邻两行像素的开始曝光时间之差，确定所述待测量相机的曝光时长。

6.根据权利要求4所述的测量系统，其特征在于，所述测量解析模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的触发时延时，用于；

确定所述目标图像中，第一个发光的第一发光器件，以及所述目标图像的光学曝光中心的第三行像素坐标；

基于所述第一发光器件在所述目标图像上的第四行像素坐标、所述第一发光器件的序号标识、所述第三行像素坐标、所述待测量相机的理论曝光时长、预设的图像中相邻两行像素的开始曝光时间之差、所述曝光时长、所述预设延迟时长以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的触发时延。

7.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述多个发光器件被部署在板状器件的目标平面上，所述目标平面上任意两个相邻的发光器件之间的距离相同，所述板状器件与所述待测量相机之间的距离满足预设拍摄要求，在拍摄所述目标图像时所述待测量相机的光学中心与所述目标平面的中心位置处垂直。

8.一种测量方法，其特征在于，包括：

接收同步触发信号；

在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量；

对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长；其中，所述对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长，包括：在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的曝光时长。

9.一种测量装置，其特征在于，包括：

接收模块，用于接收同步触发信号；

控制模块，用于在预设延迟时长之后，控制多个发光器件按照预设发光时长依次进行发光，以使待测量相机在接收到所述同步触发信号后，拍摄包含所述多个发光器件的目标图像，所述包含所述多个发光器件的目标图像用于对所述待测量相机的属性信息进行测量；

确定模块，用于对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长；其中，所述确定模块，在对所述目标图像进行解析，确定所述待测量相机的曝光时长时，用于：在所述待测量相机的曝光方式为全局曝光的情况下，基于所述目标图像中发光的发光器件的第一目标个数、以及所述预设发光时长，确定所述待测量相机的曝光时长。

10.一种计算机设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当计算机设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如权利要求8所述的测量方法的步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如权利要求8所述的测量方法的步骤。