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CN113252708A - 光源系统和光学成像检测系统 - Google Patents

光源系统和光学成像检测系统 Download PDF

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CN113252708A CN202110463018.5A CN202110463018A CN113252708A CN 113252708 A CN113252708 A CN 113252708A CN 202110463018 A CN202110463018 A CN 202110463018A CN 113252708 A CN113252708 A CN 113252708A
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Abstract

本公开提供的光源系统和光学成像检测系统，采用环形多通道发光二极管(Light Emitting Diode,LED)光源组件，搭配光学凸透镜，可形成独特的光源系统，进而将该光源系统与图像采集装置搭配，可形成光学成像检测系统。将该光学成像检测系统应用于检测彩印隐形眼镜，可以避免彩印隐形眼镜印刷区的彩色印刷图案带来的干扰，将印刷区的缺陷特征在图像中显现，有利于提高产品缺陷的检测准确率和检测效率。

Description

光源系统和光学成像检测系统
技术领域
本公开涉及光学检测技术领域，具体涉及光源系统和光学成像检测系统。
背景技术
彩印隐形眼镜是通过彩色印刷技术和设备将带有颜色的花纹图案印刷在软性隐形眼镜的表面。通常情况下图案中心留出空白为镜片的光学区，与普通隐形眼镜功能一致。彩色印刷区的图案和花纹则起到美化的作用。
但如图1所示的现有光学成像图中，彩色印刷区的图案和花纹会将普通隐形眼镜中的部分区域的缺陷在光学成像系统中覆盖或重叠，通过机器视觉检测的彩印隐形眼镜彩色印刷区缺陷的检测难度相当高，进而影响了产品缺陷的检测准确率和检测效率。
发明内容
本公开提出了光源系统和光学成像检测系统。
第一方面，本公开提供了一种光源系统，该光源系统包括：环形光源组件；凸透镜，位于环形光源组件的发光侧，凸透镜用于聚焦环形光源组件发出的环形光束。
在一些可选的实施方式中，环形光源组件为环形多通道LED光源组件，环形多通道LED光源组件包括至少两个环形LED光源，每个环形LED光源对应一个通道。
在一些可选的实施方式中，环形多通道LED光源组件还包括：中心LED灯珠，环形多通道LED光源组件中各环形LED光源为以中心LED灯珠为中心依次排列，每个环形LED光源的LED灯珠之间串联连接。
在一些可选的实施方式中，环形多通道LED光源组件还包括：支撑结构，用于支撑中心LED灯珠和各环形LED光源。
在一些可选的实施方式中，支撑结构包括壳体和底座，壳体固定连接于底座上。
在一些可选的实施方式中，环形多通道LED光源组件还包括：多通道光源控制单元，电连接中心LED灯珠和各环形LED光源，多通道光源控制单元用于独立控制各环形LED光源对应的通道。
在一些可选的实施方式中，多通道LED光源组件还包括：光散射板，设于中心LED灯珠和至少两个环形LED光源上。
在一些可选的实施方式中，中心LED灯珠和各环形LED光源的每个LED灯珠为单色LED灯珠、紫外LED灯珠、红外LED灯珠或白光LED灯珠。
第二方面，本公开提供了一种光学成像检测系统，该光学成像检测系统包括：透明承载体、图像采集装置以及如第一方面的光源系统：透明承载体位于凸透镜的上方，透明承载体用于承载待被检测物体；图像采集装置位于透明承载体的上方。
在一些可选的实施方式中，被检测物体为彩印隐形眼镜。
为了解决现有光学成像图中，彩色印刷区的图案和花纹会将普通隐形眼镜中的部分区域的缺陷在光学成像系统中覆盖或重叠，通过机器视觉检测的彩印隐形眼镜彩色印刷区缺陷的检测难度相当高，影响了产品缺陷的检测准确率和检测效率的技术问题，本公开提供的光源系统和光学成像检测系统，采用环形多通道LED光源组件，搭配光学凸透镜，可形成独特的光源系统，进而将该光源系统与图像采集装置搭配，可形成光学成像检测系统。将该光学成像检测系统应用于检测彩印隐形眼镜，可以避免彩印隐形眼镜印刷区的彩色印刷图案带来的干扰，将印刷区的缺陷特征在图像中显现，有利于提高产品缺陷的检测准确率和检测效率。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本公开的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1是现有光学成像图；
图2是根据本公开实施例的光源系统的结构示意图；
图3是根据本公开实施例的环形多通道LED光源组件的第一结构示意图；
图4是根据本公开实施例的环形多通道LED光源组件的第二结构示意图；
图5是根据本公开实施例的光学成像检测系统的结构示意图；
图6是根据本公开实施例的光学成像检测系统得到的光学成像图。
符号说明：
1-环形光源组件，2-凸透镜，31-中心LED灯珠，32-第一环形LED光源，33-第二环形LED光源，34-第三环形LED光源，35-支撑结构，351-壳体，352-底座，36-光源控制电缆接口，37-光散射板，4-透明承载体，5-被检测物体，6-图像采集装置。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本公开作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明的描述中，需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
图2示出了根据本公开实施例的光源系统的示意图。如图2所示，本实施例中的光源系统包括环形光源组件1和凸透镜2。其中，凸透镜2可以位于环形光源组件1的发光侧。
在本实施例中，环形光源组件1可以用于发出环形光源。凸透镜2可以用于聚焦环形光源组件1发出的环形光束，形成环形聚焦光源。凸透镜2可以是球面凸透镜，也可以是非球面凸透镜。
在本实施例中，环形光源组件1和凸透镜2可以自下而上依次设置于机架(图1未示出)上。环形光源组件1和凸透镜2可以间隔预设距离。上述预设距离可以根据实际需求设置，本实施例对此不做限定。
请参考图3和图4，图3示出了根据本公开实施例的环形多通道LED光源组件的第一结构示意图。图4示出了根据本公开实施例的环形多通道LED光源组件的第二结构示意图。
在一些可选的实施方式中，如图3和图4所示，环形光源组件1可以为环形多通道LED光源组件。环形多通道LED光源组件可以包括至少两个环形LED光源。每个环形LED光源可以对应一个通道。
这里，环形多通道LED光源组件具有体积小、功耗低和发热量低等优点。
在一些可选的实施方式中，如图4所示，环形多通道LED光源组件还可以包括中心LED灯珠31。环形多通道LED光源组件中各环形LED光源为以中心LED灯珠31为中心依次排列。每个环形LED光源的LED灯珠之间串联连接。
这里，如图4示例出四通道LED光源组件。四通道LED光源组件包括中心LED灯珠31、第一环形LED光源32、第二环形LED光源33以及第三环形LED光源34，可以分别对应四个不同通道中相应通道。
这里，每个环形LED光源的LED灯珠之间串联连接，即每个环形LED光源的LED灯珠可以实现同时调整。
在一些可选的实施方式中，如图3所示，环形多通道LED光源组件还可以包括支撑结构35。支撑结构35用于支撑中心LED灯珠31和各环形LED光源。
在一些可选的实施方式中，如图3所示，支撑结构35可以包括壳体351和底座352。壳体351可以固定连接于底座352上。
在一些可选的实施方式中，环形多通道LED光源组件还可以包括多通道光源控制单元(图3未示出)。多通道光源控制单元可以电连接中心LED灯珠31和各环形LED光源。多通道光源控制单元可以用于独立控制各环形LED光源对应的通道。
这里，多通道光源控制单元可以独立设置各环形LED光源的光强等参数，还可以独立控制各环形LED光源的开关，实现光源参数的自动化调节。
在一些可选的实施方式中，如图3所示，多通道LED光源组件还可以包括光散射板37。光散射板37可以设于中心LED灯珠31和至少两个环形LED光源上。
这里，光散射板37可以将LED点光源进行扩散，使环形LED光源所构成的光场进一步均匀化。
在一些可选的实施方式中，中心LED灯珠31和各环形LED光源的每个LED灯珠可以为单色LED灯珠、紫外LED灯珠、红外LED灯珠或白光LED灯珠。
在一些可选的实施方式中，多通道LED光源组件还可以包括光源控制电缆接口36。
请参考图5，图示出了根据本公开实施例的光学成像检测系统的结构示意图。本实施例中的光学成像检测系统包括透明承载体4、图像采集装置6以及如图2所示的光源系统。其中，透明承载体4可以位于凸透镜2的上方。
在本实施例中，透明承载体4可以用于承载待被检测物体5。图像采集装置6可以采集被检测物体5的图像。图像采集装置6可以位于透明承载体4的上方。光源系统、透明承载体4以及图像采集装置6可以自下而上依次设置于机架(图5未示出)上。光源系统(环形光源组件1和凸透镜2)、透明承载体4以及图像采集装置6之间可以间隔预设距离。上述预设距离可以根据实际需求设置，本实施例对此不做限定。
在一些可选的实施方式中，被检测物体5可以为彩印隐形眼镜。
请参考图6，图6示出了根据本公开实施例的光学成像检测系统得到的光学成像图。
如图6所示的光学成像图，可以将彩印隐形眼镜印刷区的缺陷特征在图像中显现出来。具体地，若彩印隐形眼镜没有缺陷，由于彩印隐形眼镜各处都很光滑均匀，所得图像也是均匀的。若彩印隐形眼镜有缺陷，由于缺陷破坏了彩色隐形眼镜的光学均匀性，在缺陷处会产生较强烈的光散射，从而在图像中呈现亮斑或暗斑等。
如图6所示的光学成像图，可以是本公开提供的光学成像检测系统调整为暗场照明方式所得到的。由于图像采集装置6安装于被检测物体5(彩印隐形眼镜)的正上方，这样光源系统的光不直接进入图像采集装置6的镜头，所以图像采集装置6采集到的图像因光通量不足而呈黑色，形成暗场成像。而彩印隐形眼镜上的缺陷，会对光产生散射作用，散射光并不具有特定的方向性，它更多地通过散射使光线向各个方向散射出去。那些被缺陷向上散射的光就进入图像采集装置6的镜头，在图像上形成亮点、亮斑或亮线，从而使彩色隐形眼镜上的缺陷得到显现。
本公开提供的光源系统和光学成像检测系统，采用环形光源组件1(例如环形多通道LED光源组件)，搭配光学凸透镜2，可形成独特的光源系统，进而将该光源系统与图像采集装置6搭配，可形成光学成像检测系统。将该光学成像检测系统应用于检测彩印隐形眼镜，可以避免彩印隐形眼镜印刷区的彩色印刷图案带来的干扰，将印刷区的缺陷特征在图像中显现，有利于提高产品缺陷的检测准确率和检测效率。
以上描述仅为本公开的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (10)

1.一种光源系统，其特征在于，包括：
环形光源组件；
凸透镜，位于所述环形光源组件的发光侧，所述凸透镜用于聚焦所述环形光源组件发出的环形光束。
2.根据权利要求1所述的光源系统，其特征在于，所述环形光源组件为环形多通道LED光源组件，所述环形多通道LED光源组件包括至少两个环形LED光源，每个所述环形LED光源对应一个通道。
3.根据权利要求2所述的光源系统，其特征在于，所述环形多通道LED光源组件还包括：
中心LED灯珠，所述环形多通道LED光源组件中各所述环形LED光源为以所述中心LED灯珠为中心依次排列，每个所述环形LED光源的LED灯珠之间串联连接。
4.根据权利要求3所述的光源系统，其特征在于，所述环形多通道LED光源组件还包括：
支撑结构，用于支撑所述中心LED灯珠和各所述环形LED光源。
5.根据权利要求4所述的光源系统，其特征在于，所述支撑结构包括壳体和底座，所述壳体固定连接于所述底座上。
6.根据权利要求3所述的光源系统，其特征在于，所述环形多通道LED光源组件还包括：
多通道光源控制单元，电连接所述中心LED灯珠和各所述环形LED光源，所述多通道光源控制单元用于独立控制各所述环形LED光源对应的通道。
7.根据权利要求3所述的光源系统，其特征在于，所述环形多通道LED光源组件还包括：
光散射板，设于所述中心LED灯珠和所述至少两个环形LED光源上。
8.根据权利要求3所述的光源系统，其特征在于，所述中心LED灯珠和各所述环形LED光源的每个LED灯珠为单色LED灯珠、紫外LED灯珠、红外LED灯珠或白光LED灯珠。
9.一种光学成像检测系统，其特征在于，包括透明承载体、图像采集装置以及如权利要求1-8任一项所述的光源系统：
所述透明承载体位于所述凸透镜的上方，所述透明承载体用于承载待被检测物体；
所述图像采集装置位于所述透明承载体的上方。
10.根据权利要求9所述的光学成像检测系统，其特征在于，所述被检测物体为彩印隐形眼镜。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114486902A (zh) * 2021-12-03 2022-05-13 平方和(北京)科技有限公司 质量检测系统和方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324450A (ja) * 2000-03-06 2001-11-22 View Engineering Inc 異なる投射角で焦点を合わせた光で物体を照明する方法とシステム及びこれに用いられる多色光源
JP2003057611A (ja) * 2001-08-13 2003-02-26 San Contact Lens:Kk コンタクトレンズ検査装置
EP2131174A2 (en) * 2008-06-05 2009-12-09 CooperVision International Holding Company, LP Multi-imaging automated inspection methods and systems for wet ophtalmic lenses
CN103344563A (zh) * 2013-06-07 2013-10-09 上海大学 一种自适应调色调光机器视觉光源检测装置及方法
JP2014240763A (ja) * 2013-06-11 2014-12-25 Nok株式会社 ワーク表面欠陥検査装置
CN105115989A (zh) * 2015-10-09 2015-12-02 南京爱丁堡环保科技有限公司 一种隐形眼镜缺陷的自动检测设备及检测方法
WO2016071708A1 (en) * 2014-11-07 2016-05-12 Shelton Machines Limited Apparatus and method for inspecting contact lenses
JP2019109302A (ja) * 2017-12-15 2019-07-04 三星電子株式会社Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ． 照明光学系、光学検査装置及び光学顕微鏡
CN111123686A (zh) * 2020-01-09 2020-05-08 广州市心鉴智控科技有限公司 透光柱型镜片检测装置及其检测方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1123414A (ja) * 1997-07-03 1999-01-29 Toshiba Eng Co Ltd 光透過球面形状体の外観検査装置
CN101464419A (zh) * 2007-12-18 2009-06-24 由田新技股份有限公司 曲面镜片检测系统
TWI395942B (zh) * 2008-02-22 2013-05-11 Utechzone Co Ltd A light source device for detecting a curved lens, and a detector using the light source device
JP2016133332A (ja) * 2015-01-16 2016-07-25 凸版印刷株式会社 照明装置及び検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324450A (ja) * 2000-03-06 2001-11-22 View Engineering Inc 異なる投射角で焦点を合わせた光で物体を照明する方法とシステム及びこれに用いられる多色光源
JP2003057611A (ja) * 2001-08-13 2003-02-26 San Contact Lens:Kk コンタクトレンズ検査装置
EP2131174A2 (en) * 2008-06-05 2009-12-09 CooperVision International Holding Company, LP Multi-imaging automated inspection methods and systems for wet ophtalmic lenses
CN103344563A (zh) * 2013-06-07 2013-10-09 上海大学 一种自适应调色调光机器视觉光源检测装置及方法
JP2014240763A (ja) * 2013-06-11 2014-12-25 Nok株式会社 ワーク表面欠陥検査装置
WO2016071708A1 (en) * 2014-11-07 2016-05-12 Shelton Machines Limited Apparatus and method for inspecting contact lenses
CN105115989A (zh) * 2015-10-09 2015-12-02 南京爱丁堡环保科技有限公司 一种隐形眼镜缺陷的自动检测设备及检测方法
JP2019109302A (ja) * 2017-12-15 2019-07-04 三星電子株式会社Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ． 照明光学系、光学検査装置及び光学顕微鏡
CN111123686A (zh) * 2020-01-09 2020-05-08 广州市心鉴智控科技有限公司 透光柱型镜片检测装置及其检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114486902A (zh) * 2021-12-03 2022-05-13 平方和(北京)科技有限公司 质量检测系统和方法
CN114486902B (zh) * 2021-12-03 2024-02-06 平方和(北京)科技有限公司 质量检测系统和方法

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